TW200301592A - Apparatus and method for interfacing electronic packages with a circuit board - Google Patents

Apparatus and method for interfacing electronic packages with a circuit board Download PDF

Info

Publication number
TW200301592A
TW200301592A TW091137394A TW91137394A TW200301592A TW 200301592 A TW200301592 A TW 200301592A TW 091137394 A TW091137394 A TW 091137394A TW 91137394 A TW91137394 A TW 91137394A TW 200301592 A TW200301592 A TW 200301592A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
cylinder
contact
item
socket
electrical contact
Prior art date
Application number
TW091137394A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI264155B (en
Inventor
John M Winter
Larre H Nelson
John C Bergeron
Original Assignee
Rika Electronics Internat Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rika Electronics Internat Inc filed Critical Rika Electronics Internat Inc
Publication of TW200301592A publication Critical patent/TW200301592A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI264155B publication Critical patent/TWI264155B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441Details
    • G01R1/0466Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/22Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2421Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)

Description

A7 200301592 _ Β7 五、發明說明(/ ) 請案之交互參考資料 本案在美國法典第35條第U9(e)節之規定下,主張 旱有美國臨時申請案號60/342,228(申請曰為2〇〇1年12 月27曰)之益處。 【發明領域】 本發明一般而言係關於使用於測試例如積體電路之電 子封裝之設備,尤有關裝設於插座中,用以當作界面來連 接電子封裝與測試設備之接觸探針。 【發明背景】 15 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 20 一般而言,在測試例如積體電路(IC)封裝之電子封裝 』間係將1C封裝可移除地裝設於插座中,而插座係依 序地衣叹於電路基板(通常被稱為受測裝置(dut)或載板) ^ °這些插座安裝個別接觸探針,用以將受測裝置之每個 端子電連接至DUT板上之-條個別電路路徑。冊了板係 依序地電連接至電腦化測試設備。隨著時間的經過,與電 ^ 封裝連接之探針柱塞之接觸尖端易於變成受到來自⑼ ^式之封裝之端子之黏焊劑的污染。傳統上,當接觸尖端 受到污染時1要置換掉這些接觸探針。 =針丢掉,或者,以具有長預期壽命之剩餘構造 ,而t,藉由將接觸尖端置放於適當的腐敍劑洗務号 :刷:接觸尖端,可將受污染的接觸探針回收再利用二 /洗與刷洗過程亦會從接觸尖端移除錢金 壓 周圍之黏焊劑,而且其是勞力密集的 推壓 針之内部作業之污毕。 T導致在接觸探
本紙張尺度適用中國S^5i^S)A4^ (210 15 20 200301592 五、發明說明(2) 【發明之概述] 改目的係提供能克服上述習知技術限制之-種 ==觸探針。本發明之另-目的係供應能使接 大 *易也維持在優於習知技術之 一種接觸探針。本發明之…1㈣作狀恕之 # m ^ ^ r- 的係為提供一種插座與 _。'上之接㈣針,其能廉價地維持於最佳運作狀 簡°之&據本發明之較佳實施例,-種愈測試電子 :裝(例如積體電路)結合使用之插座係具有:個基底構 =其具有複數個隔開之孔,這些孔垂直延伸通過該基底 構件,亚以對應於電子封裝之端子陣列之圖案配置。電性 接觸探針組件係容納在每個孔中,該組件包含—個圓筒, 其乃由導電材料所組成並具有一個第一封閉端,第一封閉 端具有-個下電性接觸尖端,該接觸尖端延伸超過基底構 件之下表面’用以與上面裝設有插座之電路板上之接觸焊 墊作電Hip接。以於其一端具有延長部分之上部柱塞之型 式存在的另一個上部接觸尖端,係可滑動並可移除地容納 7圓筒之開放第二端巾,並具有形成選定接_造之第二 端上部柱基係可向内滑動螺旋彈簧之推壓以抵抗,並可 ✓月動且了被移離圓甸。在所選擇的實施例中,可移除式上 邛柱塞係在上部柱塞之延長部分與選定接觸構造之間形成 有向外放射延伸之環狀棚架。此插座較佳是具有裝設於基 底構件上之保持器構件,而保持器構件具有與基底構件中 之重直延伸孔對準之複數個垂直延伸孔,並於其每個孔中 I Η· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(2ΐθ χ 297公釐) 裝 訂 A7 200301592 五、發明說明(3) ,有彳τ止表面’藉以藉由啣接各個環狀棚架而限制柱塞從 圓筒之第二端向外移動。保持器構件之移開可使工作人員 輕易地移除任何或所有的上部柱塞以供置換及/或清洗 用。 ( 依據數個實施例,一個構件係配置於各個上部接觸尖 端與螺旋彈簧之間之每個圓筒中。較佳是形成絕緣構件與 在塞之相互啣接表面,俾能使橫向力量施加至接觸尖端, 以將延長部分推壓成與圓筒具有良好之電性接觸。 、,在數個較佳實施例中,螺旋彈簧係容納於圓筒之内, 亚位於圓筒之相向的兩側之接觸尖端之間。在一個較佳實 施例中’螺旋彈黃係配置於圓筒之外部表面周圍外部,且 藉由俺圓筒之苐-端產生變形,並藉由按下導致圓筒向外 鼓起之接觸尖端之過大尺寸之插入部分,使得彈菁之一端 15 20 被保持於定位。所選擇的螺旋彈普係具有少於鼓起部分之 直控之内徑,俾能在將彈箐押入超過鼓起部分時,使其能 被保持於確實之位置。 —本發明之額外目的與特徵將部分提出於以下之說明内 谷’而-部分將是從說明内容可顯而易見地推論的。利用 =的申凊專利範圍所詳細點出之手段、組合與方法,即 可實現與獲得本發明之目的與優點。 【圖式之簡單說明】 明來Γ入Γ並構成說明書之一部份之附圖,係用以配合說 優點與原理,其1 心說明本發明之目的、 I__ 5 本紙張尺度家標^^;格(2ΐ〇χ297公爱^ 200301592 A7 B7 五、發明說明(4) " -- 上圖1係為習知技術之插座之分解剖面圖,卩及使用於 該插座中之習知技術接觸探針之正視圖 圖1⑷係為顯不於圖i之習知技術接觸探針之放大剖 面圖; 5 _ 2係為依據本發明之—較佳實施例所製造之插座與 使用於該插座中之接觸探針之分解剖面圖; 圖2(a)係為依據本發明之顯示於圖2之接觸探針之類 似於圖1(a)之放大視圖;以及 圖2(b)-2(g)係為類似於圖2(勾但是具有縮小規模之視 10圖,其顯示依據本發明之較佳實施例所製造之另一種接觸 探針。 【發明之詳細說明】 圖1顯不安裝於電路板4上之一般習知技術的插座 1〇〇之分解部分。具有端子之球柵陣列(BGA)之電子封裝 15 1係容納於插座之可垂直移動構件100b之座l〇〇a上,其 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 中焊球端子2被設置於對準裝設於插座中之各個接觸柱塞 或大端102c。亦請參考圖i(a),習知技術之接觸探針1〇2 具有大致之圓柱形導電圓筒102a,其具有相向的兩側, δ亥兩側设有開口部1 〇2b,使得接觸柱塞1 〇2c延伸通過其 20中。接觸柱塞包含可滑動地容納於圓筒i〇2a之孔中 的本體部分102d,但具有大於開口部i〇2b之外徑。柱塞 之内端形成供螺旋彈簧102e使用之彈簧座,而延長圓柱 形部分102f延伸貫通開口部i〇2b並於其自由末端設有選 定之接觸構造102g。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 200301592 A7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
200301592 五、發明說明(ο 上述之習知技術限制。最佳顯示於圖2⑷之接觸探針20 包含:大致呈圓柱形之導電圓筒20a,其具有第—選定直 控之中間彈簧容納孔部分20b;第—封閉端20c;以及第 二縮小直徑之開放端2Gd,其具有小於第—選定直徑之第 5二敎直徑。開放端2Gd較佳是具有延長之直孔部分以作 為供待抓时之柱基使用之承載表面。在圖2⑷之接觸探針 中,第-端20c-餘具有外端2〇i之第一靜態接觸尖端2〇e 關閉,外端20i形成選定接觸構造(例如略圓的凸部洲 用以與基板4上之接觸焊塾(未顯示)★接。圓的凸部充分 ⑴運用一般相當昂貴的電路板4之有用壽命。第一接觸尖端 心形成凸緣2〇g,以在圓筒2〇a之孔中形成干涉配合。 第一接觸尖端20e之内端係作為螺旋彈簀2〇h之座。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 20 以導電材料之柱塞之型式存在的第二接觸尖端2〇m, 係具有選定直徑的延長圓柱形部分2〇n,直徑的選定依據 15係選擇成能使部分20n接近並可滑動地容納於開放端观 之孔中。部分20η具有自由末端,其可能形成有斜面,亦 Ρ工作面20ρ形成除了與部分2〇η之縱轴線夹成川度 以外之角度’俾能使由螺旋彈簧2〇h所推壓之球狀構件2〇k 將變形或旋轉力量置放於部分2〇n i,這可%致在柱塞 2〇m與圓筒20a之間之增進的電性連接。柱塞2〇瓜之對 側係具有選定的電性接觸構造2〇Γ,用以與各個電子封裝 端子啣接。放射狀向外延伸環狀的棚架2〇s,係形成於電 性接觸構造2 0 Γ與延長料2 〇 n之令間,藉以形成凸緣2 〇 ( 以協同保持在待探討之插座中之表面。吾人應可理, 8 200301592 15 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 20 A7 B7 =::的’當使用較大直徑之圓筒 可以延續至偏斜端面2〇p。 之外徑 再次參考圖2,插座1〇具有 =:Γ:構件10a具有電子封㈣部分: 的較大直部的較小直徑㈣,以及第二或下部 邙柱夷20 e 1〇f ’用以容納並保持可移開的上 孔⑽係延續於令間板構件⑽之上部,而 這些孔延續至下_二尺並寸=^^ 分-之下部構件—表面二:== Γ面=向長度係能使探針2°可在凸部2°f延伸超過; 表面20h之位置與位於矣 r 且縱向移動—段距離: 置之間輕微 接觸力量至各個基板4之接觸尖端-之 各種電子封裝,包含圖1之BGA封 腳端子之圖2之封裝r。舉例而言, 將由對應於圖2之圖衣!之起^ ^插槿座中’可動的構件1 〇 〇 b 件所 保持A板構件1Ga的保持器板構 、。關於具有向下延伸接腳之電子封裝丨,,如圖2 麼Γ=電子封裝Γ係容納於座10d且端子接聊2,被向下 而第、蛀—接觸尖端2〇111啣接時’彈簧鳥會受到壓縮,
本紙張尺度適财_家辟(CNS)A4驗(21〇 X 297公釐) 200301592 五、發明說明(§) 15 20 當上部柱塞之接觸構造2〇r 積不受期望數量之黏焊劑殘留物時,二;封裝累 哭構件i〇a,Iθ 稽由矛夕除上部的保持 口口構件10a彳輕易地移除柱塞2〇m 新的接觸尖端插入,並可在栝 、了輕易地將 保持哭槿# Μ 、 最小的停機時間内置換 二先、'樂借a。然後,可將被移除之接觸尖端拋棄,戈 : 先亚準備以供在需要時配置於另一 : =插座移開_板。然後,可以利 離線”的方式卸載、清洗並重新裝載個別的柱塞。板之 圖2(b)-2(g)顯示依據本發明所製 ⑽躲人二 觸尖端^與中間彈簧容納部分 。 觸尖端與彈簧容納部分之表面,係作為供螺 以盘上ϋ·、^ Γ 係具有開放端咖,用 的二 實施例中相同的方式容納可移除且可滑動 的上口ρ柱基20m。如於圖2所+十士虫 W… 於圖2所不之本實施例中,接觸探針 取好疋裝㈣插座中,其允許接觸探針之—此縱 動經由螺旋彈簧20h以提供適當的 : 接觸焊墊上。 里牡UU1扳之 一圖2⑷之修改型接觸探針24具有類似於圖2⑷之第 係==24e,但具有縮小直徑部分24g。接觸尖端24e 係'動地插人至各個圓筒243之下開放端中接著 ==成:圓筒24a之壁面中,以限制第一接觸尖端A 縮小直⑨B 24g之兩個縱端相對於摯爪24u之滑動動 作。關於此種修改’可將接觸探針24之圓筒不動地裝 變 裝 訂 爪 24e 設 I____ 10 本紙張尺度適用中國國家標準(循)八4規格(21G X 297公幻- 200301592 A7 B7 15 20 五、發明說明(?) ,插座中’而仍然經由螺旋彈簣雇提供適當的接觸力 ^ 〇 圖2(d)所示之接觸探針26之第一接觸尖端2^係類 似於圖2(c),然而縮小直徑部分26g之縱向延伸只長到足 以使圓筒26a之壁面中的摯爪施固定地抓取圓筒之第_ 端中的第-接觸尖端26e。於本實施例中,所欲與接觸探 針一起使用之插座較佳是將形成有接觸探針容納孔,這些 容納孔允許接觸探針之縱向移動的程度(如同在圖2實: 例中)以斟酌給接觸尖端26e適當的接觸力量。第二接觸 大鈿上邛柱塞26m係形成有容納在開口部20d中之圓 形遠側自由端26p,其與中間構件2讣之斜面2处2共同 作用。一般圓錐形部分26k 1係作為螺旋彈簧2〇h之上座。 圖2(e)顯示類似於圖2⑷之接觸探針28,但具;:有相 當短的長度且較大直徑的圓筒28a。又,第二接觸尖端、 上部柱塞28m係設有直接與螺旋彈箐28h界接之斜面 28p。向外延伸凸緣28t、圓筒開口部分2以、第一接觸尖 端28e、外接觸尖端部281、接觸構造2訐以及螺旋彈簧2讣 全部都被製造成能配合接觸探針之增加直徑的圓筒。 圖2⑴之接觸探針30具有圓筒3〇a,此圓筒3〇a設有 縮小直徑的開口部之圓筒3(^之第一端,第一接觸尖端或 下邛柱塞30e之本體係滑動容納通過此縮小直徑的開口 部。下部柱塞30e係設有中央設置的孔3〇v經由本體部分 向下進入延伸離開圓筒之外側部分3〇ι。第二接觸尖端、 上部柱塞3Gm係形成由向下、向外載頭圓錐形表面_, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公爱) 裝 訂 200301592 五、發明說明(/〇) 其係在與保持器板構件 1。之構件降起使用時作為尺寸的孔之插座 具有滑動容納在圓筒30a之開為口=:。上部…^ 及延伸進人孔3Gv t之延f、㉝丨吉之本體部分,以 端30m之本體部分延伸至以二^周圍’並從接觸尖 ^ , 、狎至形成於下部柱塞30e上之彈簧 ;:接:探針可設有各種接觸構造,例如數個先前實施例 之早-平^尖端部分20f或者—種具有如顯示於圖 3〇f之複數個尖頭部分之型式。 圓之接觸探針32具有形成有相反開放端之 固同32a。苐-接觸尖端仏具有一般圓柱形之第一插入 20 部分-其形成有配置於縱向位置(最好是於其内端之中間 於32w處)之擴大直徑部分32g與向外放射延伸凸緣切。 畲接觸尖端32e被返進入圓筒之下開放端以形成圓筒壁面 5中之鼓起部,用以將第一接觸尖端固定安裝至圓筒時,需 要選擇部分32g之直徑以向外挪開圓筒32a之壁面。螺旋 彈簧32h具有選定之小於圓冑32a之鼓起部分32χ之外徑 1内徑,並被容納在圓筒32a之外部表面周圍。在接觸尖 端插入之前,接觸尖端32e之末端32w係形咸有略小於 圓筒32a之直徑的直徑,插入部分係以逐漸增加的直徑從 末端32b推拔到達擴大直徑部分32g以幫助接觸尖端 圓筒中。插入部分係被迫進入圓筒,最好是直到圓筒達到 接觸凸緣32t為止。然後,將螺旋彈簧32h置於圓筒 上面’而其下端被迫在圓筒之鼓起部分32χ上面,藉以將 12 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公釐) 200301592 五、發明說明(//) 螺方疋彈簧3 2 h固定至此組件。 第二接觸尖端、上部可移除知 來邱八π ^ a ^ 和除柱塞32m具有延長圓柱 开…咖,其具有選定成可滑動容納在圓筒32a之孔之 上端中之直徑,而凸緣32t之下表面係作為螺旋彈菁送 之隹簧座。憑藉著螺旋彈簧32h被固定至組件之事實,接 觸探針組件32尤其符合組合之成本效因為不需要分 離保持器以將螺旋彈簧維持於組件中,所以這會導致在移 開接觸尖端32m供清洗/或置換時之有利構造。 雖然已說明關於本發明之某個較佳實施例,但熟習本 項技蟄者將明白各種變化與修改。因此,鑒於習知技術, 吾人意圖儘可能寬闊解釋以下申請專利範圍以包含所有這 種變化,與修改。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公釐) 200301592 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明(/2) 【圖式之代號說明】 1〜電子封裝 2〜焊球端子 4〜電路板 5 l〇a〜保持器構件 l〇c〜下板構件 10e〜孔 l〇g〜擴大直徑部分 10k〜孔部分 ίο 20a〜圓筒 20c〜封閉端 20e〜接觸尖端 20g〜凸緣 2 0 i〜外端 15 20m〜柱塞 2 0 p〜工作面 20s〜棚架 22〜探針 22b〜中間彈簧容納部 2〇 22e〜接觸尖端 24a〜圓筒 24g〜縮小直徑部分 26〜接觸探針 26e〜接觸尖端 Γ〜電子封裝 2’〜端子接腳 10〜插座 10b〜中間板構件 10d〜座 10f〜孔 一 10h〜下表面 20〜探針 20b〜中間彈簧容納孔部分 20d〜開放端 20f〜凸部 20h〜彈簧 20k〜球狀構件 2On〜延長部分 20r〜接觸構造 2 01〜凸緣 22a〜圓筒 分 2 2d〜開放端 _ 24〜接觸探針 24e〜接觸尖端 24u〜摯爪 26a〜圓筒 26g〜縮小直徑部分 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x297公釐) 200301592 A7 B7 五、發明說明(/3) 15 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 20 26k〜中間構件 26k2〜斜面 26p〜自由端 28〜接觸探針 28d〜圓筒開口部分 28f〜接觸構造 28i〜外接觸尖端部 28p〜斜面 30〜接觸探針 3 0 d〜開口部 30g〜縱向延伸桿部分 30i〜夕卜側部分 30t〜截頭圓錐形表面 32〜接觸探針 3 2b〜末端 32g〜擴大直徑部分 32m〜接觸尖端 32t〜凸緣 32X〜鼓起部分 100a〜座 100c〜下部構件 100e〜開口部 102〜探針 102b〜開口部 26kl〜圓錐形部分 26m〜上部柱塞 26u〜摯爪 28a〜圓筒 28e〜接觸尖端 28h〜螺旋彈簧 28m〜上部柱塞 2 81〜向外延伸凸緣 30a〜圓筒 30e〜下部柱塞 30h〜彈簧 30m〜接觸尖端
30v〜孑L 32a〜圓筒 32e〜接觸尖端 32h〜螺旋彈簧 32η〜延長圓柱形部分 32w〜末端 100〜插座 _ 100b〜可垂直移動構件 100d〜接觸探針容納孔 100f〜中間構件 102a〜圓筒 102c〜柱塞 15 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) A7 200301592 B7 五、發明說明(/4) 102d〜本體部分 102e〜彈簧 102f〜延長圓柱形部分 102g〜接觸構造 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製
6 IX 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公釐)

Claims (1)

  1. 200301592 A8 B8
    •種供具有複數個端子之電子封裝用的插座,苴包 含: /、 一個基底構件,由電性絕緣材料所組成,並具有延伸 在其上表面與下表面之間的複數個隔開之孔; 5 複數個電性接觸探針組件,一個探針組件係容納在每 個孔中母個探針組件包含:一個大體上之管狀圓筒,其 乃由導電材料所組成且具有第一與第二相反端,該第一端 具=電性接觸構造,該第二端是開放端;一個接觸尖端, =其第一端具有可滑動地容納在圓筒之開放端中之延長部 10 ^ ’接帛尖端之第二端具有選定之接觸構造;—個螺旋彈 簧,裝設於該組件_並把向外力量施加在該接觸尖端上, 該接觸·尖端可向内部滑動進入圓筒中以抵抗螺旋彈簣之推 個保持器構件 15 經 濟 部 智 慧 財 產 局 員 工 消 費 合 作 社 印 製 20 ,,,裝設於該基底構件丄,故侏符器構 件具有延伸在其上表面與下表面之間並與該基底構件中 士個孔對準之複數個孔,該等孔至少是部份由可與該接觸 穴端之對應停止表㈣接的停止表面所界定,用以限制該 接觸尖端之向外移動,藉以使該保持器構件之移開允許該 等接觸尖端在被黏焊劑殘留物等等污染之時容|移開。/ 式接請專利範圍帛1項所述之插座,其中該可移除 式接觸大為之該對應停止表面’係為一種形成於 =。選定接觸構造之間之徑向 '向外延伸的棚; 3.如申凊專利範圍第i項所述之插座,其令每個圓筒
    200301592 A8 B8 C8 D8
    申請專利範 Π!二端具有形成有選定直徑之延長管狀部分,並作為 各”之該第—端之承載表面。 ^如中請專利範圍帛3項所述之插座,其中該螺旋彈 財每個圓筒之孔中,並更包含可滑動地容納在該 杜,與该螺旋彈簧之間的每個圓筒中之-個非導電構 ’该非導電構件具有大於該延長管狀部分之該 之外徑。 \且让 t月專利範圍第1項所述之插座,其中每個圓筒 之该苐一端之該接觸構造係與該圓筒一體形成。 ^如中請專利範圍帛i項所述之插座,其中每個圓筒 二、一端係形成有開口部,導電插塞係容納在該第一端 亥開σ部中亚封閉該第―端之該開口部,而該電性接觸 構造係形成於延伸離開該第一端之該開口部之該插塞之一 部份上。 15 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 7·^請專利範圍帛6項所述之插座,其中該圓筒係 形成^近該圓筒之該第—端之鼓起部分,而該螺旋彈菁 係被安置在該圓筒之外部表面,該螺旋彈簧於未受力 時具有略小於該圓筒之非鼓起部分之外徑之内徑。又 8. 如申請專利範圍第2項所述之插座,更包含該插座 之弟一停止表面,以供與每個圓筒之表面啣接用。 9. 一種電性接觸探針組件,包含·· -個大體上呈圓柱形之管狀圓筒,其乃由導電材料所 組成並具有第一與第二相反端,該第一端是封閉端並具有 選定接觸構造,該圓筒之該第二端具有開口部; 18 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱) 15 20 200301592 六、申請專利範圍 長第-端,有容納在該圓筒之該開口部令之延 -個螺旋彈簧’裝設於該组件中,用 該接觸尖端以幫助驅策該接觸尖:二=力1施加至 端係可滑動進入該圓^ 知離開该®筒,該接觸尖 滑動移離該圓筒。 ""抵抗該螺旋彈菁之推力並可 ΙΟ.如申請專利範圍第9項所 件,其中該圓筒之#m Λ,、 電性接觸探針組 部分,該開係形成有延長、縮小直徑管狀 表面之孔部分作為該接觸尖端之該延長部分之承载 更二申第10項所述之電性接觸探針_ 該縮小直動配置在該圓^ 置在兮圓心::之5亥孔之外周邊,而該螺旋彈簧係配 置在同之该第一端與該非導電構件之間的該圓筒中。 件,盆^構第11項所述之電性接觸探針組 /、τ 4構件在構造上大體上為球形。 件申請專利範圍第11項所述之電性接觸探針址 =令言亥非導電構件大體上為圓柱形,並具有一條縱轴 各’-個形成螺旋彈簧座之第一端,具有大於讓延長 =分之直徑之外徑之—個中間部分以及—個第二端,第二 端具有位於並非垂直於該縱軸線之平面之表面。 "·如申請專利範圍帛9項所述之電性接觸探針組 件,其中該圓筒之該第一端是封閉的,而位於該第一山、、 該接觸構造係與該圓筒一體形成。 端之 19 本紙張尺度適财_家標準(CNS)A4規格⑽χ Μ7公髮) 裝 訂 200301592
    15 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 20 15. 如申請專利範圍第9項所述之電性接觸探針组 件,其中該圓筒之該第-端係形成有-個開口部,一個導 電插塞係容納在該第—端之該開口部中並封閉該第一端之 该開口部’而位於該第一端之該電性接觸構造係 插塞之一部份上。 人 16. 如申明專利範圍第9項所述之電性接觸探針組 件’其中-個徑向、向外延伸環狀棚架係形成於該接觸尖 端mp刀與该接觸構造之間的該接觸尖端上。 17‘一種電性接觸探針組件,包含:-個大體上圓柱形管狀圓筒,由導電材料所組成並且 有第:與第二相反端,至少一端具有—個開口部; 势-與第二接觸尖端,配置於各個第一與第二端,該 等接觸尖端具有選定接觸構造,該等接觸尖端之至少一個 具有一個彈簧座; 該第二接觸尖端具有可滑動且可移除地容納在該至少 一端之該開口部中之圓柱形部分;以及 一個螺旋彈簧,裝設於該組件_,該螺旋彈簧具有一 端,其乃與朝離開該圓筒之方向推壓該至少一接觸尖端之 該彈簧座_接。 18 ·如申明專利範圍第17項所述之電性接觸探針組 其中該螺旋彈簧係配置在該圓筒之外表面周圍。 19·如申請專利範圍第17項所述之電性接觸探針組 其中該螺旋彈簧係配置在該圓筒之内。 20· —種電性接觸探針之組裝方法,該電性接觸探針 件 件 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公釐) 200301592 A8 B8 C8
    200301592 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8__ 六、申請專利範圍 直徑部分; 將該第一插入部分插入該孔中,直到該圓筒之該一端 與該向外延伸凸緣鄰接為止,俾能使該圓筒之該鼓起部分 之該最大直徑位於該一端之内側;以及 5 強迫該螺旋彈簧之該一端移動該鼓起部分,俾能使該 螺旋彈簧之該一端與該向外延伸凸緣鄰接。 2 2 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210x297公釐)
TW091137394A 2001-12-27 2002-12-26 Apparatus and method for interfacing electronic packages with a circuit board TWI264155B (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US34222801P 2001-12-27 2001-12-27
US10/151,060 US6685492B2 (en) 2001-12-27 2002-05-17 Sockets for testing electronic packages having contact probes with contact tips easily maintainable in optimum operational condition

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200301592A true TW200301592A (en) 2003-07-01
TWI264155B TWI264155B (en) 2006-10-11

Family

ID=26848289

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW091137394A TWI264155B (en) 2001-12-27 2002-12-26 Apparatus and method for interfacing electronic packages with a circuit board

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6685492B2 (zh)
JP (1) JP2006504226A (zh)
KR (1) KR20040068988A (zh)
AU (1) AU2002324585A1 (zh)
TW (1) TWI264155B (zh)
WO (1) WO2003058769A1 (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI383153B (zh) * 2007-04-19 2013-01-21 Nhk Spring Co Ltd 導電性觸頭及導電性觸頭單元
CN103050807A (zh) * 2011-10-12 2013-04-17 苹果公司 弹簧支承接触件
CN103534877A (zh) * 2011-04-14 2014-01-22 罗森伯格高频技术有限及两合公司 插入式连接器
US9431742B2 (en) 2012-06-10 2016-08-30 Apple Inc. Spring loaded contacts having sloped backside with retention guide
TWI687694B (zh) * 2017-10-19 2020-03-11 日商日本麥克隆尼股份有限公司 電性連接裝置
US11437747B2 (en) 2020-09-25 2022-09-06 Apple Inc. Spring-loaded contacts having capsule intermediate object
US11942722B2 (en) 2020-09-25 2024-03-26 Apple Inc. Magnetic circuit for magnetic connector

Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE60315813T2 (de) * 2002-03-05 2008-05-21 Rika Denshi America, Inc., Attleboro Vorrichtung für eine schnittstelle zwischen elektronischen gehäusen und testgeräten
US6844749B2 (en) * 2002-07-18 2005-01-18 Aries Electronics, Inc. Integrated circuit test probe
JP3768183B2 (ja) * 2002-10-28 2006-04-19 山一電機株式会社 狭ピッチicパッケージ用icソケット
TW563929U (en) * 2002-12-24 2003-11-21 Molex Inc Press connection terminal
KR100546361B1 (ko) * 2003-08-08 2006-01-26 삼성전자주식회사 반도체 소자 검사장치의 포고 핀 및 그 운용방법
TWI239695B (en) * 2003-08-11 2005-09-11 Speed Tech Corp Matrix connector
CN2682638Y (zh) * 2003-11-20 2005-03-02 上海莫仕连接器有限公司 压接式导电端子
CN2682639Y (zh) * 2003-11-20 2005-03-02 上海莫仕连接器有限公司 压接式导电端子
KR20050059417A (ko) * 2003-12-12 2005-06-20 스미토모덴키고교가부시키가이샤 소용돌이 단자와 그 제조방법
DE102004033864A1 (de) * 2004-07-13 2006-02-16 Era-Contact Gmbh Elektrischer Druckkontakt
US7411405B2 (en) * 2004-11-03 2008-08-12 Panduit Corp. Method and apparatus for reliable network cable connectivity
US7790987B2 (en) * 2005-04-27 2010-09-07 Sony Computer Entertainment Inc. Methods and apparatus for interconnecting a ball grid array to a printed circuit board
US7298153B2 (en) * 2005-05-25 2007-11-20 Interconnect Devices, Inc. Eccentric offset Kelvin probe
US7402051B1 (en) * 2005-11-10 2008-07-22 Antares Advanced Test Technologies, Inc. Interconnect assembly for testing integrated circuit packages
US7545159B2 (en) * 2006-06-01 2009-06-09 Rika Denshi America, Inc. Electrical test probes with a contact element, methods of making and using the same
CN100517874C (zh) * 2006-06-28 2009-07-22 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 导电端子
US20080009148A1 (en) * 2006-07-07 2008-01-10 Glenn Goodman Guided pin and plunger
US20080143367A1 (en) * 2006-12-14 2008-06-19 Scott Chabineau-Lovgren Compliant electrical contact having maximized the internal spring volume
US7479794B2 (en) * 2007-02-28 2009-01-20 Sv Probe Pte Ltd Spring loaded probe pin assembly
US7847191B2 (en) 2007-11-06 2010-12-07 Xerox Corporation Electrical component, manufacturing system and method
TWM337870U (en) * 2007-12-03 2008-08-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
WO2009102029A1 (ja) * 2008-02-14 2009-08-20 Nhk Spring Co., Ltd. コンタクトプローブおよびプローブユニット
US7597588B1 (en) * 2008-05-21 2009-10-06 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Coax connector with spring contacts
TWI367330B (en) * 2008-05-22 2012-07-01 King Yuan Electronics Co Ltd Probe socket, and probe card
US20100194419A1 (en) * 2009-02-05 2010-08-05 Chan Edward K Multi-contact probe assembly
JP5782261B2 (ja) * 2011-01-17 2015-09-24 株式会社ヨコオ ソケット
JP5280511B2 (ja) 2011-09-05 2013-09-04 株式会社島野製作所 接触端子
JP5523416B2 (ja) * 2011-09-07 2014-06-18 茂治郎 清水 通電用コネクター
CN103018625A (zh) * 2011-09-21 2013-04-03 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 连接器检测装置
JP5933728B2 (ja) * 2012-09-14 2016-06-15 日本発條株式会社 パワーモジュール用接続端子およびパワーモジュール用接続端子群
US9674943B2 (en) * 2012-12-06 2017-06-06 Intel Corporation Actuation mechanisms for electrical interconnections
KR101331525B1 (ko) * 2012-12-10 2013-11-20 리노공업주식회사 프로브 장치
TWI514686B (zh) 2013-01-28 2015-12-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 電連接器及電連接器端子
EP2962365A1 (en) * 2013-02-27 2016-01-06 ABB Technology AG Programming connector
US11067601B2 (en) * 2013-03-08 2021-07-20 Donald DeMille High accuracy electrical test interconnection device and method for electrical circuit board testing
JP6029511B2 (ja) * 2013-03-28 2016-11-24 株式会社エンプラス 電気接触子、電気接触子の製造方法および電気部品用ソケット
JP5985447B2 (ja) * 2013-08-21 2016-09-06 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
JP6553472B2 (ja) * 2015-09-30 2019-07-31 株式会社ヨコオ コンタクタ
US20170146568A1 (en) * 2015-11-19 2017-05-25 WinWay Tech. Co., Ltd. Electronic test equipment
JP6556612B2 (ja) * 2015-12-04 2019-08-07 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置の製造方法
US10608354B2 (en) * 2017-03-23 2020-03-31 Verily Life Sciences Llc Implantable connector with two electrical components
US10367279B2 (en) * 2017-10-26 2019-07-30 Xilinx, Inc. Pusher pin having a non-electrically conductive portion
KR102013176B1 (ko) * 2019-06-13 2019-08-22 주식회사 제네드 교체 가능한 싱글타입 프로브 핀
CN112510434A (zh) * 2019-09-16 2021-03-16 康普技术有限责任公司 具有轴向浮动的内接触部的同轴连接器
KR102214091B1 (ko) * 2020-03-20 2021-02-09 주식회사 메가터치 포고핀의 플런저 및 그 플런저를 구비한 포고핀
JP2022079959A (ja) * 2020-11-17 2022-05-27 山一電機株式会社 検査用ソケット
US11569601B2 (en) * 2021-03-11 2023-01-31 Enplas Corporation Socket and inspection socket

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3435168A (en) 1968-03-28 1969-03-25 Pylon Co Inc Electrical contact
US4321532A (en) * 1978-03-16 1982-03-23 Luna L Jack Repairable spring probe assembly
US4397519A (en) * 1981-05-12 1983-08-09 Pylon Company, Inc. Electrical contact construction
US5084673A (en) * 1989-06-15 1992-01-28 Nhk Spring Co., Ltd. Electric contact probe
JPH0782028B2 (ja) 1990-07-30 1995-09-06 日本発条株式会社 導電性接触子
US5521519A (en) * 1992-07-30 1996-05-28 International Business Machines Corporation Spring probe with piloted and headed contact and method of tip formation
US6046597A (en) * 1995-10-04 2000-04-04 Oz Technologies, Inc. Test socket for an IC device
JP3634074B2 (ja) * 1996-06-28 2005-03-30 日本発条株式会社 導電性接触子
US6204680B1 (en) 1997-04-15 2001-03-20 Delaware Capital Formation, Inc. Test socket
US6084421A (en) * 1997-04-15 2000-07-04 Delaware Capital Formation, Inc. Test socket
AU9473198A (en) * 1998-01-05 1999-07-26 Rika Electronics International, Inc. Coaxial contact assembly apparatus
JP2003526874A (ja) 1998-11-25 2003-09-09 リカ エレクトロニクス インターナショナル インコーポレイテッド 電気接触装置
US6377059B2 (en) * 1999-02-19 2002-04-23 Delaware Capital Formation, Inc. Crown shaped contact barrel configuration for spring probe
US6464511B1 (en) * 1999-11-17 2002-10-15 Advantest Corporation IC socket and IC tester
US6424166B1 (en) * 2000-07-14 2002-07-23 David W. Henry Probe and test socket assembly
JP3443687B2 (ja) * 2001-02-19 2003-09-08 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI383153B (zh) * 2007-04-19 2013-01-21 Nhk Spring Co Ltd 導電性觸頭及導電性觸頭單元
CN103534877B (zh) * 2011-04-14 2016-04-06 罗森伯格高频技术有限及两合公司 插入式连接器
CN103534877A (zh) * 2011-04-14 2014-01-22 罗森伯格高频技术有限及两合公司 插入式连接器
TWI621307B (zh) * 2011-10-12 2018-04-11 蘋果公司 彈簧負載接觸器
US9780475B2 (en) 2011-10-12 2017-10-03 Apple Inc. Spring-loaded contacts
CN103050807A (zh) * 2011-10-12 2013-04-17 苹果公司 弹簧支承接触件
TWI641187B (zh) * 2011-10-12 2018-11-11 美商蘋果公司 彈簧負載接觸器
US10312623B2 (en) 2011-10-12 2019-06-04 Apple Inc. Spring-loaded contacts
US9431742B2 (en) 2012-06-10 2016-08-30 Apple Inc. Spring loaded contacts having sloped backside with retention guide
TWI687694B (zh) * 2017-10-19 2020-03-11 日商日本麥克隆尼股份有限公司 電性連接裝置
US11249109B2 (en) 2017-10-19 2022-02-15 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Electric connection device
US11437747B2 (en) 2020-09-25 2022-09-06 Apple Inc. Spring-loaded contacts having capsule intermediate object
US11942722B2 (en) 2020-09-25 2024-03-26 Apple Inc. Magnetic circuit for magnetic connector

Also Published As

Publication number Publication date
TWI264155B (en) 2006-10-11
AU2002324585A1 (en) 2003-07-24
JP2006504226A (ja) 2006-02-02
US20030124895A1 (en) 2003-07-03
US6685492B2 (en) 2004-02-03
WO2003058769A1 (en) 2003-07-17
KR20040068988A (ko) 2004-08-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW200301592A (en) Apparatus and method for interfacing electronic packages with a circuit board
KR100734296B1 (ko) 자체 클리닝 기능이 있는 검사장치용 소켓핀 및 이를포함하는 검사장치
TWI262314B (en) Apparatus for interfacing electronic packages and test equipment
CN102859370B (zh) 检查用探针及检查用夹具
JP6515003B2 (ja) インターフェース装置、インターフェースユニット、プローブ装置及び接続方法
JP6328925B2 (ja) コンタクトプローブ及び電気部品用ソケット
TW201140069A (en) Terminal for flat test probe
JP2020521986A (ja) インピーダンス制御テストソケット
CN109638499B (zh) 电连接装置
JP2014021054A (ja) コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット
TW201102660A (en) Testing probe
KR20120082734A (ko) 프로브
WO2017208690A1 (ja) 接触導電治具、及び検査装置
US20080100325A1 (en) Integrated circuit test probe with hollow tubular contact configuration
JP2011038831A (ja) 基板検査用治具および基板検査方法
CN106716145A (zh) 测试装置用的接触探针
JP2006292456A (ja) 半導体装置の検査装置および検査方法
JP2013008628A (ja) 半導体装置の検査用ソケット
JP2014127407A (ja) 電気接触子及び電気部品用ソケット
JP5345598B2 (ja) 検査治具及び接触子
JP2007116085A (ja) 電子部品試験装置
JP2012073213A5 (zh)
JP5391130B2 (ja) プローブカードの検査装置
KR101398550B1 (ko) 컨택트 프로브 및 그 제조방법
JP2009178821A (ja) 研磨装置、研磨材を備えた回路基板試験装置、及び研磨工程を備えた回路基板製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees