KR102214091B1 - 포고핀의 플런저 및 그 플런저를 구비한 포고핀 - Google Patents

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Abstract

포고핀의 플런저는, 테스트 대상과 접촉하는 부분인 헤드부; 및 상기 헤드부와 연결된 기둥 형상의 제 1 기둥부;를 포함하되, 상기 제 1 기둥부는, 상기 플런저의 길이 방향과 직각을 이루는 정면도 상에서, 관통하는 홀이 형성된 것을 특징으로 한다.

Description

포고핀의 플런저 및 그 플런저를 구비한 포고핀{PLUNGER OF POGO PIN AND POGO PIN HAVING THE PLUNGER}
본 발명은 포고핀의 플런저 및 그 플런저를 구비한 포고핀에 관한 것이다.
도 1a 및 도 1b는 각각, 종래의 포고핀(100) 및 그 플런저(130)를 나타낸다.
도 1a 및 도 1b로부터 알 수 있는 바와 같이 일반적으로 포고핀(100)은, 몸체(110), 스프링(120) 및 플런저(130)를 포함하여 구성된다.
몸체(110)는 배럴(Barrel)이라도 불리우며, 스프링(120)과 플런저(130)를 고정하는 역할과 전류를 통전시키는 역할을 한다. 즉, 테스트 대상과 플런저(130)가 접촉이 되면, 플런저(130)로부터 몸체(110)로 전류가 흐르게 된다. 즉, 몸체(110)의 말단은 테스터에 연결되고, 플런저(130)의 말단의 헤드부(131)는 테스트 대상인 반도체 칩, 2차 전지 및 PCB 등에 연결될 수 있다.
스프링(120)은 압축 및 복원되는 과정을 통해 플런저(130)를 동작시키게 된다.
플런저(130)는 테스트 대상과 접촉하기 위한 헤드부(131)를 구비한다. 헤드부(131)에 압력이 가해지면, 플런저(130)는 스프링(120)을 압축시키게 된다.
포고핀(100)은 테스트 대상과 테스터 사이에서 전류 및 신호를 전달하는 역할을 한다. 따라서, 포고핀(100)의 저항이 커지면 전류 및 신호의 전달이 제대로 이루어지지 않아, 정확한 양품과 불량품의 판단에 어려움이 따르게 된다.
포고핀(100)의 저항은 크게 2가지 종류를 들 수 있다. 하나는 테스트 대상과 헤드부(131) 사이의 저항이고, 다른 하나는 플런저(130)와 몸체(110) 사이에서 발생하는 저항이다. 아울러, 포고핀(100)의 저항은 접촉하는 지점에서 발생되므로 접촉 저항이라고도 하는 데, 이 접촉 저항 및 그 편차를 최소화할 필요가 있다.
본 발명은 전술한 바와 같은 기술적 과제를 해결하는 데 목적이 있는 발명으로서, 포고핀의 접촉 저항을 감소시킬 수 있는 포고핀의 플런저 및 그 플런저를 구비한 포고핀을 제공하는 것에 그 목적이 있다.
본 발명의 포고핀의 플런저는, 테스트 대상과 접촉하는 부분인 헤드부; 및 상기 헤드부와 연결된 기둥 형상의 제 1 기둥부;를 포함하되, 상기 제 1 기둥부는, 상기 플런저의 길이 방향과 직각을 이루는 정면도 상에서, 관통하는 홀이 형성된 것을 특징으로 한다.
아울러, 상기 제 1 기둥부의 상기 홀은, 상기 정면도 상에서의 형상이 타원형인 것이 바람직하다.
또한, 상기 정면도부터 90도를 회전한 방향의 측면도 상에서, 상기 제 1 기둥부의 상기 홀은, 점진적으로 너비가 감소하는 제 1 부분; 상기 제 1 부분과 연결된 제 2 부분; 및 상기 제 2 부분과 연결되어 점진적으로 너비가 증가하는 제 3 부분;을 구비한 것을 특징으로 한다. 아울러, 상기 정면도 상에서, 상기 제 2 부분은, 상기 제 1 기둥부의 상기 홀이 형성되지 않은 부분의 너비 보다 돌출된 띠 형상인 것이 바람직하다.
아울러, 본 발명의 포고핀의 플런저는, 상기 포고핀의 몸체에 일부가 삽입되되, 상기 포고핀을 이용한 테스트 시, 상기 제 2 부분은 상기 몸체와 접촉하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 플런저는, 상기 제 1 기둥부와 연결된 기둥 형상의 제 2 기둥부;를 더 포함하되, 상기 홀은, 상기 제 1 기둥부를, 상기 헤드부와 연결되는 제 1 영역; 상기 제 1 영역과 연결되는 제 2 영역; 및 상기 제 2 영역 및 상기 제 2 기둥부와 연결되는 제 3 영역;으로, 상기 제 1 기둥부의 길이 방향으로 3 등분한 경우, 상기 제 3 영역에 형성된 것을 특징으로 한다.
본 발명의 포고핀의 플런저 및 그 플런저를 구비한 포고핀에 따르면, 포고핀의 접촉 저항을 감소시킬 수 있다.
도 1a 및 도 1b는 각각, 종래의 포고핀의 설명도 및 그 플런저의 도면.
도 2a 및 도 2b는 각각, 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 포고핀의 설명도 및 그 플런저의 도면.
도 3은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 포고핀의 플런저의 홀 주변의 확대도.
도 4는 종래의 포고핀의 몸체와 플런저의 접촉 부분에 관한 설명도.
도 5는 본 발명의 포고핀의 몸체와 플런저의 접촉 부분에 관한 설명도.
이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 실시예에 따른 포고핀의 플런저 및 그 플런저를 구비한 포고핀에 대해 상세히 설명하기로 한다.
본 발명의 하기의 실시예는 본 발명을 구체화하기 위한 것일 뿐 본 발명의 권리 범위를 제한하거나 한정하는 것이 아님은 물론이다. 본 발명의 상세한 설명 및 실시예로부터 본 발명이 속하는 기술 분야의 전문가가 용이하게 유추할 수 있는 것은 본 발명의 권리 범위에 속하는 것으로 해석된다.
먼저, 도 2a 및 도 2b는 각각 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 포고핀(200) 및 그 플런저(230)를 나타낸다.
도 2a 및 도 2b로부터 알 수 있는 바와 같이 본 발명의 포고핀(200)은, 몸체(210), 스프링(220) 및 플런저(230)를 포함하여 구성된다.
몸체(210)는 배럴(Barrel)이라도 불리우며, 스프링(220)과 플런저(230)를 고정하는 역할과 전류를 통전시키는 역할을 한다. 즉, 테스트 대상과 플런저(230)가 접촉이 되면, 플런저(230)로부터 몸체(210)로 전류가 흐르게 된다. 즉, 몸체(210)의 말단은 테스터에 연결되고, 플런저(230)의 말단의 헤드부(231)는 테스트 대상인 반도체 칩, 2차 전지 및 PCB 등에 연결될 수 있다.
스프링(220)은 압축 및 복원되는 과정을 통해 플런저(230)를 동작시키게 된다.
플런저(230)는 테스트 대상과 접촉하기 위한 헤드부(231)를 구비한다. 헤드부(231)에 압력이 가해지면, 플런저(230)는 스프링(220)을 압축시키게 된다.
본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 플런저(230)는, 헤드부(231), 제 1 기둥부(232), 제 2 기둥부(233) 및 스프링 결합부(234)를 포함하여 구성된다.
헤드부(231)는 테스트 대상과 접촉하는 부분으로, 다수의 탐침(P)을 구비하고 있다. 아울러, 제 1 기둥부(232)는 헤드부(231)와 연결된 기둥 형상의 부분이다.
제 2 기둥부(233)는, 제 1 기둥부(232)에 연결되며, 제 1 기둥부(232)와는 단차를 갖는 기둥 형상인 것을 특징으로 한다. 구체적으로 제 2 기둥부(233)의 직경은 제 1 기둥부(232)의 직경보다 작은 것이 바람직하다.
스프링 결합부(234)는, 제 2 기둥부(233)와 연결되며, 말단 부분이 원뿔 형상으로 스프링(220)이 결합되게 된다.
하기에 제 1 기둥부(232)의 특징에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.
제 1 기둥부(232)는, 플런저(230)의 길이 방향과 직각을 이루는 정면도 상에서, 관통하는 홀(H)이 형성된 것을 특징으로 한다.
홀(H)은, 제 1 기둥부(232)를 헤드부(231)와 연결되는 제 1 영역; 제 1 영역과 연결되는 제 2 영역; 및 제 2 영역 및 제 2 기둥부(233)와 연결되는 제 3 영역;으로, 제 1 기둥부(232)의 길이 방향으로 3 등분한 경우, 제 3 영역에 형성되는 것이 바람직하다.
구체적으로, 홀(H)의 중심의 높이로부터 헤드부(231)와 연결되는 제 1 기둥부(232)의 말단 사이의 높이는, 제 1 기둥부(232)의 전체 높이의 5분의 4 이상인 것이 바람직하다. 즉, 홀(H)은, 제 1 기둥부(232)의 제 2 기둥부(233)와 연결되는말단에 형성된 것을 특징으로 한다.
도 3은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 플런저(230)의 홀(H) 주변의 확대도를 나타낸다.
홀(H)은, 정면도 상에서의 형상이 타원형을 나타낸다. 또한, 정면도부터 90도를 회전한 방향의 측면도 상에서, 홀(H)은, 점진적으로 너비가 감소하는 제 1 부분(H1); 제 1 부분(H1)과 연결된 제 2 부분(H2); 및 제 2 부분(H2)과 연결되어 점진적으로 너비가 증가하는 제 3 부분(H2);을 구비한 것을 특징으로 한다. 아울러, 측면도에서 제 2 부분(H2)의 너비는 일정하게 유지된다.
정면도 상에서, 제 2 부분(H2)은, 제 1 기둥부(232)의 홀(H)이 형성된 부분의 상측과 하측 부분의 제 1 기둥부(232)의 너비 보다 돌출된 형상인 것을 특징으로 한다. 구체적으로, 정면도 상에서, 제 2 부분(H2)은, 타원형의 외부를 감싸는 폭이 좁은 곡선의 띠 형상인 것이 바람직하다. 즉, 홀(H)이 형성되지 않은 제 1 기둥부(232)의 원통형 단면의 직경 보다, 제 2 부분(H2)의 너비는 정면도 상에서 더 길다. 플런저(230)가, 포고핀(200)의 몸체(210)에 일부가 삽입되어 포고핀(200)을 이용한 테스트 시, 제 2 부분(H2)이 몸체(210)와 접촉하게 된다.
상술한 바와 같은 홀(H)의 형상에 의해 제 1 기둥부(232)의 홀(H) 부분은 텐션(Tension)을 갖게 된다. 즉, 제 1 기둥부(232)의 홀(H) 부분은, 스프링과 유사한 탄성력을 구비하게 된다. 아울러, 홀(H)의 위치를 제 1 기둥부(232)의 하단에 배치하여, 탄성력을 구비한 홀(H)의 탄성력의 발휘를 최대화하였다.
정리하자면, 제 1 기둥부(232)는, 플런저의 길이 방향에 따라, 원통형의 제 1 원통 부분(R1); 제 1 원통 부분(R1)과 연결되고, 관통하는 홀(H)이 형성된 홀 부분(R2); 및 홀 부분(R2)과 연결되고, 원통형의 제 2 원통 부분(R3);을 포함한다.
아울러, 홀(H)의 외부 둘레 부분의 일부분은, 플런저(230)의 길이 방향과 직각을 이루는 정면도 상에서, 제 1 원통 부분(R1)과 제 2 원통 부분(R3)의 너비 보다 돌출된 띠 형상인 것을 특징으로 한다.
또한, 플런저(230)는, 포고핀(200)의 몸체(210)에 일부가 삽입되되, 포고핀(200)을 이용한 테스트 시, 돌출된 띠 형상인 홀(H)의 외부 둘레 부분이 몸체(210)와 접촉하게 된다.
도 4는 종래의 포고핀(100)의 몸체(110)와 플런저(130)의 접촉 부분에 관한 설명도를 나타낸다.
도 4로부터 알 수 있는 바와 같이, 종래의 포고핀(100)의 몸체(110)와 플런저(130)의 접촉 부분은, 스프링 결합부(134) 및 제 1 기둥부(132)의 말단 부분에 생기게 된다. 이 종래의 포고핀(100)의 몸체(110)와 플런저(130)의 접촉 부분은, 포고핀(100)에 의한 테스트 시 헤드부(131)와 테스트 대상 사이의 작용하는 힘 및 그 힘의 방향에 따라 가변적일 수 있다.
이렇게 가변적인 접촉 부분에 의해 포고핀(100) 내부의 접촉 저항이 커져서 테스터 내부에서 설정된 접촉 저항값을 벗어나는 문제로 인해, 테스트 대상의 수율이 감소할 수 있다.
도 5는 각각, 본 발명의 포고핀(200)의 몸체(210)와 플런저(230)의 접촉 부분에 관한 설명도를 나타낸다.
도 5로부터 알 수 있는 바와 같이, 본 발명의 포고핀(200)의 몸체(210)와 플런저(230)의 접촉 부분은, 종래와 유사하게 스프링 결합부(234) 및 제 1 기둥부(232)의 말단 부분에 생기게 된다. 아울러, 본 발명에서는, 포고핀(200)의 몸체(210)와 플런저(230)의 접촉 부분으로서 제 1 기둥부(232)의 제 2 부분(H2)이 추가되게 된다. 이 제 2 부분(H2)은 포고핀(200)에 의한 테스트 시 헤드부(231)와 테스트 대상 사이의 작용하는 힘 및 그 힘의 방향과 상관없이 고정적이고 안정적으로 접촉되는 부분이다.
즉, 포고핀(200)에 의한 테스트 시 제 2 부분(H2)에 의해 몸체(210)와 플런저(230)는 항상 접점을 유지하게 된다. 고정적 접촉 부분에 의해 포고핀(200) 내부의 접촉 저항이 감소하여 테스터 내부에서 설정된 접촉 저항값을 벗어나는 문제를 줄일 수 있고, 테스트 대상의 수율을 증가시킬 수 있다. 따라서, 다수의 포고핀(200) 사이의 접촉 저항값의 편차를 줄이고, 접촉 저항값을 감소시켜, 효율적인 테스트 환경을 구현할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 포고핀(200)의 플런저(230) 및 그 플런저(230)를 구비한 포고핀(200)에 따르면, 포고핀(200)의 접촉 저항을 감소시킬 수 있음을 알 수 있다.
100, 200 : 포고핀
110, 210 : 몸체 120, 220 : 스프링
130, 230 : 플런저 131, 231 : 헤드부
132, 232 : 제 1 기둥부 133, 233 : 제 2 기둥부
134, 234 : 스프링 결합부
P : 탐침 H : 홀

Claims (10)

  1. 포고핀의 플런저에 있어서,
    테스트 대상과 접촉하는 부분인 헤드부; 및
    상기 헤드부와 연결된 기둥 형상의 제 1 기둥부;를 포함하되,
    상기 제 1 기둥부는, 상기 플런저의 길이 방향과 직각을 이루는 정면도 상에서 관통하는 홀이 형성되고,
    상기 정면도부터 90도를 회전한 방향의 측면도 상에서, 상기 제 1 기둥부의 상기 홀은, 점진적으로 너비가 감소하는 제 1 부분; 상기 제 1 부분과 연결된 제 2 부분; 및 상기 제 2 부분과 연결되어 점진적으로 너비가 증가하는 제 3 부분;을 구비한 것을 특징으로 하는 플런저.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제 1 기둥부의 상기 홀은,
    상기 정면도 상에서의 형상이 타원형인 것을 특징으로 하는 플런저.
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 정면도 상에서, 상기 제 2 부분은,
    상기 제 1 기둥부의 상기 홀이 형성되지 않은 부분의 너비 보다 돌출된 띠 형상인 것을 특징으로 하는 플런저.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 플런저는, 상기 포고핀의 몸체에 일부가 삽입되되,
    상기 포고핀을 이용한 테스트 시, 상기 제 2 부분은 상기 몸체와 접촉하는 것을 특징으로 하는 플런저.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 플런저는,
    상기 제 1 기둥부와 연결된 기둥 형상의 제 2 기둥부;를 더 포함하되,
    상기 홀은,
    상기 제 1 기둥부를, 상기 헤드부와 연결되는 제 1 영역; 상기 제 1 영역과 연결되는 제 2 영역; 및 상기 제 2 영역 및 상기 제 2 기둥부와 연결되는 제 3 영역;으로, 상기 제 1 기둥부의 길이 방향으로 3 등분한 경우, 상기 제 3 영역에 형성된 것을 특징으로 하는 플런저.
  7. 포고핀의 플런저에 있어서,
    테스트 대상과 접촉하는 부분인 헤드부; 및
    상기 헤드부와 연결된 기둥 형상의 제 1 기둥부;를 포함하되,
    상기 제 1 기둥부는, 상기 플런저의 길이 방향에 따라,
    원통형의 제 1 원통 부분;
    상기 제 1 원통 부분과 연결되고, 관통하는 홀이 형성된 홀 부분; 및
    상기 홀 부분과 연결되고, 원통형의 제 2 원통 부분;을 포함하는 것을 특징으로 하는 플런저.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 플런저의 길이 방향과 직각을 이루는 정면도 상에서, 상기 홀의 외부 둘레 부분의 일부분은,
    상기 제 1 원통 부분 및 상기 제 2 원통 부분의 너비 보다 돌출된 띠 형상인 것을 특징으로 하는 플런저.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 플런저는, 상기 포고핀의 몸체에 일부가 삽입되되,
    상기 포고핀을 이용한 테스트 시, 상기 돌출된 띠 형상인 홀의 외부 둘레 부분 상기 몸체와 접촉하는 것을 특징으로 하는 플런저.
  10. 제1항, 제2항, 제4항, 제5항, 제6항, 제7항, 제8항 및 제9항 중 어느 한 항의 플런저를 구비한 포고핀.
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Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030218472A1 (en) * 2002-03-05 2003-11-27 Rika Electronics International, Inc. Apparatus for interfacing electronic packages and test equipment
KR20040068988A (ko) * 2001-12-27 2004-08-02 리카 일렉트로닉스 인터내셔널, 인크. 회로 기판과 전자 패키지 사이에 인터페이스를 형성하기위한 장치 및 방법
KR20070075699A (ko) * 2006-01-16 2007-07-24 리노공업주식회사 검사용 탐침 장치
JP2009002845A (ja) * 2007-06-22 2009-01-08 Micronics Japan Co Ltd 接触子及び接続装置
KR20090096272A (ko) * 2008-03-06 2009-09-10 리노공업주식회사 켈빈 테스트용 소켓
KR20110127010A (ko) * 2010-05-18 2011-11-24 김철진 반도체 디바이스 테스트용 포고핀
KR20150126352A (ko) * 2013-03-07 2015-11-11 가부시키가이샤 산케이 엔지니아링구 컨택트 핀
KR101729069B1 (ko) * 2015-11-13 2017-05-02 주식회사 새한마이크로텍 방열구가 형성된 배럴을 구비한 프로브
KR20170086881A (ko) * 2016-01-19 2017-07-27 임경숙 슬라이딩 유동이 가능한 전기적 특성 검사핀 및 이를 갖는 검사 유니트
KR20190011294A (ko) * 2019-01-10 2019-02-01 주식회사 아이에스시 포고핀용 탐침부재, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 포고핀

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040068988A (ko) * 2001-12-27 2004-08-02 리카 일렉트로닉스 인터내셔널, 인크. 회로 기판과 전자 패키지 사이에 인터페이스를 형성하기위한 장치 및 방법
US20030218472A1 (en) * 2002-03-05 2003-11-27 Rika Electronics International, Inc. Apparatus for interfacing electronic packages and test equipment
KR20070075699A (ko) * 2006-01-16 2007-07-24 리노공업주식회사 검사용 탐침 장치
JP2009002845A (ja) * 2007-06-22 2009-01-08 Micronics Japan Co Ltd 接触子及び接続装置
KR20090096272A (ko) * 2008-03-06 2009-09-10 리노공업주식회사 켈빈 테스트용 소켓
KR20110127010A (ko) * 2010-05-18 2011-11-24 김철진 반도체 디바이스 테스트용 포고핀
KR20150126352A (ko) * 2013-03-07 2015-11-11 가부시키가이샤 산케이 엔지니아링구 컨택트 핀
KR101729069B1 (ko) * 2015-11-13 2017-05-02 주식회사 새한마이크로텍 방열구가 형성된 배럴을 구비한 프로브
KR20170086881A (ko) * 2016-01-19 2017-07-27 임경숙 슬라이딩 유동이 가능한 전기적 특성 검사핀 및 이를 갖는 검사 유니트
KR20190011294A (ko) * 2019-01-10 2019-02-01 주식회사 아이에스시 포고핀용 탐침부재, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 포고핀

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