SU530485A1 - Контактное устройство - Google Patents

Контактное устройство

Info

Publication number
SU530485A1
SU530485A1 SU2142789A SU2142789A SU530485A1 SU 530485 A1 SU530485 A1 SU 530485A1 SU 2142789 A SU2142789 A SU 2142789A SU 2142789 A SU2142789 A SU 2142789A SU 530485 A1 SU530485 A1 SU 530485A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
probe
contact device
probes
intersection
cavity
Prior art date
Application number
SU2142789A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Васильевич Николаев
Анатолий Владимирович Ярош
Николай Сергеевич Колядко
Геннадий Иосифович Володько
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6495
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6495 filed Critical Предприятие П/Я Р-6495
Priority to SU2142789A priority Critical patent/SU530485A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU530485A1 publication Critical patent/SU530485A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к технологическому оборудованию радиоэлектронной промышленности и может быть использовано дл  ФОНДОВОГО контрол  и измерени  статически и динамических параметров структур интегральных микросхем и полупроводниковых приборов.
Известны контактные устройства, содержащие диэлектрическое основание, гибкие Г-образные зоны, закрепленные в зондодержател х с возможностью перемещени  по трем координатам, и механизм регулировки в виде винтов с шариками.
Однако после настройки зондов в извест ных устройствах не обеспечиваетс  стабиль ность положени  зондов по координате Ъ в процессе работы ввиду отсутстви  их жесткой фиксации по высоте, и, кроме того, сложна сама настройка ввиду использовани  нескольких элементов.
Цель изобретени  - упрощение настройки зондов при сохранении надежности работы.
Это достигаетс  тем, что в предлагаемом контактном устройстве каждый зонд размещен в полости зондодержател , обра-
зованной пересечением двух соосных конусов и заполненной легкоплавким веществом, например сплавом олово-никель.
На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство , вид сбоку ; на фиг. 2 - то же, вид сверху J на фиг 3 - узел I на фиг, 1,
Контактное устройство содержит диэлeкj- трическое основание 1 с токопровод щими зондодержател ми 2, в полости 3 которых, образованной пересечением двух соосных конусов и заполненной легкоплавким вещест вом, например сплавом олово-никель, размещены зонды 4.
Настройка зондов 4 осуществл етс  следующим образом.
При тепловом воздействии на зондодержатель 2 легкоплавкое вещество плавитс . При этом зонд получает свободу перемещени  по трем координатам относительно линии пересечени  двух конусов, охватывающей зонд по периметру, за счет чего обеспечиваетс  возможность настройки зонда на контактный вывод микросхемы. При затвердении вещест ва , заполн ющего полость 3, обеспечиваетс 
SU2142789A 1975-06-10 1975-06-10 Контактное устройство SU530485A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2142789A SU530485A1 (ru) 1975-06-10 1975-06-10 Контактное устройство

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2142789A SU530485A1 (ru) 1975-06-10 1975-06-10 Контактное устройство

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU530485A1 true SU530485A1 (ru) 1976-09-30

Family

ID=20622219

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2142789A SU530485A1 (ru) 1975-06-10 1975-06-10 Контактное устройство

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU530485A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
BE794202A (fr) Liaison fusible pour circuit integre sur substrat semi-conducteur pour memoires
BR7705488A (pt) Dispositivo semicondutor
SU530485A1 (ru) Контактное устройство
CH334734A (fr) Dispositif permettant de régler la position d'une électrode d'une machine à usiner par électro-érosion
JPS5230162A (en) Semiconductor device
KR880004326A (ko) 프로우브(Probe)장치
JPS5440082A (en) Semiconductor test device
JPS52141591A (en) Process of semiconductor device
JPS536574A (en) Spring contact probe needle used for checking jig of semiconductor* hybric ic or the like
JPS51118968A (en) Electron beam exposure device
JPS51121267A (en) Semiconductor wafer measuring device
JPS53144682A (en) Testing method of semiconductor devices
JPS5244178A (en) Semiconductor integrated circuit device
JPS5375870A (en) Semiconductor device measuring jig
GB1552543A (en) Integrated circuit semiconductor dynamic memory device
JPS5240972A (en) Packaging construction of semiconductor device
JPS53120372A (en) Electrode structure of semiconductor integrated circuit
JPS5629341A (en) Measurement of properties of semiconductor device
JPS5316586A (en) Semiconductor device
KR950021437U (ko) 반도체 웨이퍼 테스트용 프로버의 프로브 팁 높이 조절장치
JPS5671948A (en) Ic chip
JPS53119682A (en) Measuring method of semiconductor integrated circuit
JPH03159253A (ja) 半導体装置
JPS51114084A (en) Semiconductor device
JPS53168A (en) Measuring equipment for striking time of string instruments