SU377738A1 - Описание изобретения - Google Patents
Описание изобретенияInfo
- Publication number
- SU377738A1 SU377738A1 SU1489702A SU1489702A SU377738A1 SU 377738 A1 SU377738 A1 SU 377738A1 SU 1489702 A SU1489702 A SU 1489702A SU 1489702 A SU1489702 A SU 1489702A SU 377738 A1 SU377738 A1 SU 377738A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- output
- memory
- counter
- test
- controlled
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к области автоматизированных систем контрол и может быть применено при контроле больших интегральных схем (БИС) и сверхбольших интегральных схем (СБИС) на МОП-структурах.
Известны системы автоматического контрол больших интегральных схем, содержаш;ие генератор тактовой частоты, управл ющую вычислительную машину, соединенную с многоканальным амплитудным дискриминатором, запоминаюшим устройством, счетчиком адреса пам ти, регистром выходной тестовой комбинации , соединенным с многоканальным амплитудным дискриминатором, который соединен с выходом контролируемой большой интегральной схемы, вход которой соединен с выходом запоминаюшего устройства, соединенного со счетчиком адреса пам ти.
Однако дл контрол больших интегральных схем на МОП-структурах с динамической логикой требуютс быстродействующие управл ющие цифровые вычислительные машины (ЦВМ) с большим объемом .пам ти, которые могут обеспечить подачу на схему входных тестовых комбинаций и сн тие выходных сигналов с контролируемой схемы с частотой, превышаюшей определенную величину дл динамических схем. Кроме того, в известных системах отсутствует возможность контрол и
анализа результатов каждой произвольно выбранной тестовой комбинации.
С целью сокращени объема пам ти быстродействующего запоминающего устройства входных тестовых комбинаций, а также обеспечени возможности контрол и исследовани выходных сигналов любой тестовой комбинации в предлагаемую систему введены регистр адреса контролируемой комбинации,
вход которого соединен с управл ющей вычислительной мащиной, схема сравнени , входы которой соединены с регистром адреса контролируемой комбинации и счетчиком адреса пам ти, а выход с многоканальным амплитудным дискриминатором, счетчик числа повторений тестовых комбинаций, выход которого соединен со счетчиком адреса пам ти и запоминающим устройством, два элемента «И, входы одного из которых соединены с запоминающим устройством, управл ющей вычис лительной мащиной и выходом счетчика числа повторений тестовых комбинаций, а выход соединен со входами записи счетчика числа повторений тестовых комбинаций, входы другого
элемента «И соединены с генератором тактовой частоты, ВЫХОДОМ схемы сравнени и выходом управл ющей вычислительной машины, а выходы соединены с контролируемой большой интегральной схемой и счетным входом
счетчика числа повторений тестовых комбинаций .
На чертеже дана блок-схема иредлагаемой системы автоматического контрол больших интегральных схем.
Унравл юща вычислительна машина (УВМ) 1 .передает в счетчик 2 адреса нам ти (САП) начальный адрес чейки запоминающего устройства (ЗУ) 3, в которой хранитс перва тестова комбинаци дл контролируемого типа схем. В регистр 4 адреса контролируемой тестовой комбинации записываетс адрес тестовой комбинации, на которой требует1с зафиксировать выходные сигналы контролируемой схемы. В регист,р 5 выходной тестовой комбинации из ЗУ выходных тестовых комбинаций, вход щего в состав УВМ / поступает выходна тестова комбинаци , соответствующа выходным сигналам контролируемой схемы 6 на указанном в регистре 4 номере тестовой комбинации. Регистр 5 соединен с многоканальным амплитудным дискриминатором 7 дл задани порога.каждого канала дискриминатора.
На ЗУ 3 из УВМ поступает импульс запроса. В каждой чейке ЗУ 3 выделен р д разр дов, в последних записываетс число циклов тактового генератора, в течение которых на провер емую схему должна подаватьс данна тестова комбинаци сходных воздействий. При считывании чейки ЗУ 3 на входы контролируемой схемы 6 подаютс входные воздействи , а число циклов, в течение которых данные воздействи должны подаватьс на контролируемую схему, переписываютс в обратном коде в счетчик 8 числа повторений тестовых комбинаций через элемент «И 9. На счетный вход счетчика 8 подаютс импульсы с тактового генератора 10 через элемент «И //.
При заполнении счетчика 8 числа повторений наращиваетс на «I счетчик 2, запрашиваетс ЗУ 3 по -следующему адресу и открываетс элемент «И 9 дл записи в счетчик 8 числа повторений следующей тестовой комбинации . На требуемом номере цикла (при равенстве адресов в счетчике 2 и регистре 4) схема сравнени 12 запрещает прохождение тактовых импульсов на счетчик 8, закрыва
элемент «И 11, и подает стробирующий импульс на дискриминатор 7.
При необходимости исследовани выходных сигналов следующей тестовой комбинации указанный цикл повтор етс .
Предмет изобретени
Система автоматического контрол больших
интегральных схем, содержаща гене ратор тактовой частоты, управл ющую вычислительную машину, соединенную с многоканальным амплитудным дискриминатором, запоминающим устройством, счетчиком адреса пам ти,
регистром выходной тестовой комбинации, соединенным с многоканальным амплитудным дискриминатором, который соединен с выходом контролируемой большой интегральной схемы, вход которой соединен с выходом запоминающего устройства, соединенного со счетчиком адреса пам ти, отличающа с тем, что, с целью уменьшени объема запоминающих устройств и обеспечени возможности контрол выходных сигналов дл любой тестовой комбинации, в состав устройства введены регистр адреса контролируемой комбинации , вход которого соединен с управл ющей вычислительной мащиной, схема сравнени , входы которой соединены с регистром адреса
контролируемой комбинации и счетчиком адреса пам ти, а ВЫХОД:-с многОканальным амплитудным дискриминатором, счетчик числа повторений тестовых комбинаций, выход которого соединен со счетчиком адреса пам ти и
запоминающим устройством, два элемента «И, входы одного из которых соединены с запоминающим устройством, управл ющей вычислительной машиной и выходом счетчика числа повторений тестовых комбинаций, а выход соединен со входами записи счетчика числа повторений тестовых комбинаций, входы другого элемента «И соединены с генератором тактовой частоты, выходом -схемы сравнени и выходом упра-вл ющей вычислительной
машины, а выходы соединены с контролируемой большой интегральной схемой и счетным входом счетчика числа повторений тестовых комбинаций.
Ц
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1489702A SU377738A1 (ru) | 1970-11-06 | 1970-11-06 | Описание изобретения |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1489702A SU377738A1 (ru) | 1970-11-06 | 1970-11-06 | Описание изобретения |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU377738A1 true SU377738A1 (ru) | 1973-04-17 |
Family
ID=20459428
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1489702A SU377738A1 (ru) | 1970-11-06 | 1970-11-06 | Описание изобретения |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU377738A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU216173U1 (ru) * | 2022-06-08 | 2023-01-19 | Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники" | Тестовое устройство для выявления эффектов изменения электрофизических параметров в слоях СБИС |
-
1970
- 1970-11-06 SU SU1489702A patent/SU377738A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU216173U1 (ru) * | 2022-06-08 | 2023-01-19 | Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники" | Тестовое устройство для выявления эффектов изменения электрофизических параметров в слоях СБИС |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5717694A (en) | Fail analysis device for semiconductor memory test system | |
US3892955A (en) | Program controlled testing system | |
US4415861A (en) | Programmable pulse generator | |
KR930022092A (ko) | 히트의 주파수/시간 프로파일을 결정하는 방법과 그 방법을 실행하는 장치 | |
SU377738A1 (ru) | Описание изобретения | |
US4549283A (en) | Digital time delay circuit with high speed and large delay capacity | |
SU809350A1 (ru) | Запоминающее устройство | |
SU1003151A1 (ru) | Запоминающее устройство с контролем информации при записи | |
SU1149312A1 (ru) | Устройство дл контрол микросхем оперативной пам ти | |
JP2923810B2 (ja) | Icテスターのタイミング発生回路 | |
RU2010313C1 (ru) | Устройство для регистрации сигналов неисправности | |
SU1084901A1 (ru) | Устройство дл контрол блоков пам ти | |
SU1608657A1 (ru) | Преобразователь код-веро тность | |
SU748303A1 (ru) | Устройство функционального контрол интегральных схем с функцией пам ти | |
KR930001896Y1 (ko) | 다중펄스 입력 적산시스템 | |
SU1485313A1 (ru) | Устройство для контроля блоков памяти | |
RU2015581C1 (ru) | Устройство для контроля памяти | |
SU404080A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАИБОЛЬШЕЙ РАЗНОСТИ | |
SU1001111A1 (ru) | Анализатор длительностей выбросов случайных процессов | |
SU647643A1 (ru) | Измеритель интервалов времени | |
SU964653A1 (ru) | Статистический анализатор | |
SU922876A1 (ru) | Устройство для контроля блоков памяти 1 | |
SU1108511A1 (ru) | Запоминающее устройство с самоконтролем | |
SU384131A1 (ru) | Устройство для накопления и обработки информации | |
SU1160433A1 (ru) | Коррел ционный измеритель времени запаздывани |