SU377738A1 - Описание изобретения - Google Patents

Описание изобретения

Info

Publication number
SU377738A1
SU377738A1 SU1489702A SU1489702A SU377738A1 SU 377738 A1 SU377738 A1 SU 377738A1 SU 1489702 A SU1489702 A SU 1489702A SU 1489702 A SU1489702 A SU 1489702A SU 377738 A1 SU377738 A1 SU 377738A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
output
memory
counter
test
controlled
Prior art date
Application number
SU1489702A
Other languages
English (en)
Inventor
Д. И. Ажоткин М. С. Кушуль Ю. И. Шендерович А. Е. Видуецкий В. М. Вальков
Original Assignee
Авторы изобретени витель
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Авторы изобретени витель filed Critical Авторы изобретени витель
Priority to SU1489702A priority Critical patent/SU377738A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU377738A1 publication Critical patent/SU377738A1/ru

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к области автоматизированных систем контрол  и может быть применено при контроле больших интегральных схем (БИС) и сверхбольших интегральных схем (СБИС) на МОП-структурах.
Известны системы автоматического контрол  больших интегральных схем, содержаш;ие генератор тактовой частоты, управл ющую вычислительную машину, соединенную с многоканальным амплитудным дискриминатором, запоминаюшим устройством, счетчиком адреса пам ти, регистром выходной тестовой комбинации , соединенным с многоканальным амплитудным дискриминатором, который соединен с выходом контролируемой большой интегральной схемы, вход которой соединен с выходом запоминаюшего устройства, соединенного со счетчиком адреса пам ти.
Однако дл  контрол  больших интегральных схем на МОП-структурах с динамической логикой требуютс  быстродействующие управл ющие цифровые вычислительные машины (ЦВМ) с большим объемом .пам ти, которые могут обеспечить подачу на схему входных тестовых комбинаций и сн тие выходных сигналов с контролируемой схемы с частотой, превышаюшей определенную величину дл  динамических схем. Кроме того, в известных системах отсутствует возможность контрол  и
анализа результатов каждой произвольно выбранной тестовой комбинации.
С целью сокращени  объема пам ти быстродействующего запоминающего устройства входных тестовых комбинаций, а также обеспечени  возможности контрол  и исследовани  выходных сигналов любой тестовой комбинации в предлагаемую систему введены регистр адреса контролируемой комбинации,
вход которого соединен с управл ющей вычислительной мащиной, схема сравнени , входы которой соединены с регистром адреса контролируемой комбинации и счетчиком адреса пам ти, а выход с многоканальным амплитудным дискриминатором, счетчик числа повторений тестовых комбинаций, выход которого соединен со счетчиком адреса пам ти и запоминающим устройством, два элемента «И, входы одного из которых соединены с запоминающим устройством, управл ющей вычис лительной мащиной и выходом счетчика числа повторений тестовых комбинаций, а выход соединен со входами записи счетчика числа повторений тестовых комбинаций, входы другого
элемента «И соединены с генератором тактовой частоты, ВЫХОДОМ схемы сравнени  и выходом управл ющей вычислительной машины, а выходы соединены с контролируемой большой интегральной схемой и счетным входом
счетчика числа повторений тестовых комбинаций .
На чертеже дана блок-схема иредлагаемой системы автоматического контрол  больших интегральных схем.
Унравл юща  вычислительна  машина (УВМ) 1 .передает в счетчик 2 адреса нам ти (САП) начальный адрес  чейки запоминающего устройства (ЗУ) 3, в которой хранитс  перва  тестова  комбинаци  дл  контролируемого типа схем. В регистр 4 адреса контролируемой тестовой комбинации записываетс  адрес тестовой комбинации, на которой требует1с  зафиксировать выходные сигналы контролируемой схемы. В регист,р 5 выходной тестовой комбинации из ЗУ выходных тестовых комбинаций, вход щего в состав УВМ / поступает выходна  тестова  комбинаци , соответствующа  выходным сигналам контролируемой схемы 6 на указанном в регистре 4 номере тестовой комбинации. Регистр 5 соединен с многоканальным амплитудным дискриминатором 7 дл  задани  порога.каждого канала дискриминатора.
На ЗУ 3 из УВМ поступает импульс запроса. В каждой  чейке ЗУ 3 выделен р д разр дов, в последних записываетс  число циклов тактового генератора, в течение которых на провер емую схему должна подаватьс  данна  тестова  комбинаци  сходных воздействий. При считывании  чейки ЗУ 3 на входы контролируемой схемы 6 подаютс  входные воздействи , а число циклов, в течение которых данные воздействи  должны подаватьс  на контролируемую схему, переписываютс  в обратном коде в счетчик 8 числа повторений тестовых комбинаций через элемент «И 9. На счетный вход счетчика 8 подаютс  импульсы с тактового генератора 10 через элемент «И //.
При заполнении счетчика 8 числа повторений наращиваетс  на «I счетчик 2, запрашиваетс  ЗУ 3 по -следующему адресу и открываетс  элемент «И 9 дл  записи в счетчик 8 числа повторений следующей тестовой комбинации . На требуемом номере цикла (при равенстве адресов в счетчике 2 и регистре 4) схема сравнени  12 запрещает прохождение тактовых импульсов на счетчик 8, закрыва 
элемент «И 11, и подает стробирующий импульс на дискриминатор 7.
При необходимости исследовани  выходных сигналов следующей тестовой комбинации указанный цикл повтор етс .
Предмет изобретени 
Система автоматического контрол  больших
интегральных схем, содержаща  гене ратор тактовой частоты, управл ющую вычислительную машину, соединенную с многоканальным амплитудным дискриминатором, запоминающим устройством, счетчиком адреса пам ти,
регистром выходной тестовой комбинации, соединенным с многоканальным амплитудным дискриминатором, который соединен с выходом контролируемой большой интегральной схемы, вход которой соединен с выходом запоминающего устройства, соединенного со счетчиком адреса пам ти, отличающа с  тем, что, с целью уменьшени  объема запоминающих устройств и обеспечени  возможности контрол  выходных сигналов дл  любой тестовой комбинации, в состав устройства введены регистр адреса контролируемой комбинации , вход которого соединен с управл ющей вычислительной мащиной, схема сравнени , входы которой соединены с регистром адреса
контролируемой комбинации и счетчиком адреса пам ти, а ВЫХОД:-с многОканальным амплитудным дискриминатором, счетчик числа повторений тестовых комбинаций, выход которого соединен со счетчиком адреса пам ти и
запоминающим устройством, два элемента «И, входы одного из которых соединены с запоминающим устройством, управл ющей вычислительной машиной и выходом счетчика числа повторений тестовых комбинаций, а выход соединен со входами записи счетчика числа повторений тестовых комбинаций, входы другого элемента «И соединены с генератором тактовой частоты, выходом -схемы сравнени  и выходом упра-вл ющей вычислительной
машины, а выходы соединены с контролируемой большой интегральной схемой и счетным входом счетчика числа повторений тестовых комбинаций.
Ц
SU1489702A 1970-11-06 1970-11-06 Описание изобретения SU377738A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1489702A SU377738A1 (ru) 1970-11-06 1970-11-06 Описание изобретения

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1489702A SU377738A1 (ru) 1970-11-06 1970-11-06 Описание изобретения

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU377738A1 true SU377738A1 (ru) 1973-04-17

Family

ID=20459428

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1489702A SU377738A1 (ru) 1970-11-06 1970-11-06 Описание изобретения

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU377738A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU216173U1 (ru) * 2022-06-08 2023-01-19 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники" Тестовое устройство для выявления эффектов изменения электрофизических параметров в слоях СБИС

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU216173U1 (ru) * 2022-06-08 2023-01-19 Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники" Тестовое устройство для выявления эффектов изменения электрофизических параметров в слоях СБИС

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5717694A (en) Fail analysis device for semiconductor memory test system
US3892955A (en) Program controlled testing system
US4415861A (en) Programmable pulse generator
KR930022092A (ko) 히트의 주파수/시간 프로파일을 결정하는 방법과 그 방법을 실행하는 장치
SU377738A1 (ru) Описание изобретения
US4549283A (en) Digital time delay circuit with high speed and large delay capacity
SU809350A1 (ru) Запоминающее устройство
SU1003151A1 (ru) Запоминающее устройство с контролем информации при записи
SU1149312A1 (ru) Устройство дл контрол микросхем оперативной пам ти
JP2923810B2 (ja) Icテスターのタイミング発生回路
RU2010313C1 (ru) Устройство для регистрации сигналов неисправности
SU1084901A1 (ru) Устройство дл контрол блоков пам ти
SU1608657A1 (ru) Преобразователь код-веро тность
SU748303A1 (ru) Устройство функционального контрол интегральных схем с функцией пам ти
KR930001896Y1 (ko) 다중펄스 입력 적산시스템
SU1485313A1 (ru) Устройство для контроля блоков памяти
RU2015581C1 (ru) Устройство для контроля памяти
SU404080A1 (ru) УСТРОЙСТВО дл ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАИБОЛЬШЕЙ РАЗНОСТИ
SU1001111A1 (ru) Анализатор длительностей выбросов случайных процессов
SU647643A1 (ru) Измеритель интервалов времени
SU964653A1 (ru) Статистический анализатор
SU922876A1 (ru) Устройство для контроля блоков памяти 1
SU1108511A1 (ru) Запоминающее устройство с самоконтролем
SU384131A1 (ru) Устройство для накопления и обработки информации
SU1160433A1 (ru) Коррел ционный измеритель времени запаздывани