SE527896C2 - Optisk testanordning för biologiska prover, samt en microarray till anordningen och metoden för dess användning - Google Patents

Description

2 hybridisera med probmolekylerna i fläckarna. test belyses mikroarraystödplattan med en exciterande ljuskälla och positionen och intensiteten av det emitterade fluorescerande ljuset detekteras. Färgen pä den använda fluoroforen fungerar som en markör som indikerar att en reaktion har ägt rum mellan màlmolekyler i provet och probmolekyler i fläckarna. De optiska organen för belysning av stödplattan och detektering av ljuset som emitteras från stödplattan kan inkludera en mikroarrayscan- ner eller en mikroarray-bildkamera (eng. imager).

En scanner kan innefatta en smalbandig exciterande ljuskälla, exempelvis en laser, och exempelvis en fotomultiplikator (eng.

PMT, Photo Multiplier Tube) för detektering av emitterat ljus.

En bildkamera innefattar en bredbandig exciterande ljuskälla, exempelvis en xenonlampa, vàglängdsfilter för att åstadkomma monokromatiskt ljus och en detektor för emitterat ljus, exempelvis en CCD-kamera (Charged-Coupled Device).

I mikroarrayteknik finns det flera fördelar med att använda po- lymeriska objektglas vid tillverkning av mikroarraystödplattor istället för objektglas av glas. En av fördelarna är att polyme- riska objektglas har en högre ytsilanolgruppsdensitet än objekt- glas av glas, vilket ökar antalet reaktionsgrupper som deltar i objektglasets provbindningsprocess, vilket resulterar i att bindningsplatserna har en större yttäckning. Dessutom uppvisar polymerer ett flertal egenskaper och är enklare att modifiera för att därigenom àstadkomma en högre bindningskapacitet. Den icke-specifika bindningen är också vanligtvis lägre pä polymeriska objektglas än pà objektglas av glas. Dessutom är en högre immobiliseringsgrad möjlig pä polymeriska objektglas, även utan UV-tvärbindningar eller blockering och kräver ingen förhybridisering.

En nackdel med användning av polymeriska objektglas är dock att en högre backgrundssignal uppträder beroende pà autofluorescens jämfört med användning av objektglas av glas. 10 15 20 25 30 35 Förut känd teknik inom området mikroarraystödplattor framgår ex- empelvis av WO Ol/94032, som beskriver ytförstoring av en stöd- platta genom att förse den med pyramidiska eller koniska för- djupningar, àstadkommande en ökad tillgänglig yta för provet.

Som konsekvens av detta kan ett ökat antal bindningsplatser åstadkommas, vilket ökar signal/brusförhållandet.

Genom ytförstorande mönster erhålls enkelt en ökning av den tillgängliga ytan med två eller tre gånger i jämförelse med plana stödplattor.

Eftersom det finns ett behov av ytterligare förbättringar av mikroarray-baserade optiska tester (assayer) är ett syfte med denna uppfinning av åstadkomma en förbättrad polymerisk mikoarraystödplatta för att ge optiska tester en ytterligare förbättrad prestanda jämfört med förut känd teknik, exempelvis med avseende på signal/brusförhàllandet.

SAMMANFATTNING AV UPPFINNINGEN Ovannämnda syfte ästadkoms genom en polymerisk mikroarray- stödplatta för ett optiskt testarrangemang, såväl som genom det optiska testarrangemanget innefattande en polymerisk mikro- arraystödplatta och genom förfarandet att bilda mikrostruk- tursegenskaper på en polymerisk mikroarraystödplatta för ett op- tiskt testarrangemang, enligt de bifogade patentkraven, vilka härmed införlivas i sin helhet.

Den polymeriska mikroarraystödplattan för ett optiskt test- arrangemang innefattar optiska organ för detektering av ljus emitterat från mikroarraystödplattan. Stödplattan är försedd med mikrostruktursegenskaper innefattande ett ytförstorande mönster, och mönstret innefattar skåror som har ett utvalt djup (d), så att summan av nämnda utvalda djup (d) och variationerna av stöd- plattans tjocklek (th) huvudsakligen överensstämmer med fokallängden för nämnda optiska organ. 10 15 20 25 30 (fl 'D \l CO \C> ON Skàrorna kan ha en utvald snedställningsvinkel (d) i förhållande till stödplattsytan, snedställningsvinkeln (d) utvald för att ge stödplattsytan en önskad reflektivitet.

Skárorna kan ha raka eller rundade kanter, och kan ha åstadkom- mits i mer än en riktning pà stödplattsytan.

Avståndet mellan de enskilda skârorna kan vara konstant eller variera över stödplattsytan.

Stödplattans mikrostrukturegenskaper kan dessutom innefatta ett extra skikt utvalt för att ge stödplattan en önskad transparens eller reflektivitet. Det extra skiktet kan vara av ett metal- liskt, ett halvledande eller av ett dielektriskt material, och kan vara beläget ovanpå substratet eller i substratets botten.

Stödplattans mikrostruktursegenskaper kan dessutom innefatta en dielektrisk spegel belägen ovanpå substratet eller i substratets botten.

Stödplattans mikrostruktursegenskaper kan dessutom innefatta ett diffraktivt gitter överlagrat pà åtminstone en del av stödplat- tans ytförstorande mönster.

Stödplattans mikrostruktursegenskaper kan dessutom innefatta ljusabsorberande pigment.

I förfarandet för bildande av mikrostruktursegenskaper, innefat- tande skàror, i en polymerisk mikroarraystödplatta för ett op- tiskt testarrangemang, har skàrorna ett djup (d) och en sned- ställningsvnkel (d) och stödplattan har en tjocklek (th). Det optiska testarrangemanget innefattar optiska organ med en viss fokallängd. Skàrornas djup väljes så att skàrdjupet (d) och 10 15 20 25 30 35 Cr: 3 -l OO \C> cyr .§.§§u¿.§¿_¿ 5 O II II variationerna i stödplattans tjocklek (th) huvudsakligen överensstämmer med det optiska organets fokallängd.

Skàrornas snedställningsvinkel (a) i förhållande till stöd- plattsytan kan väljas för att ge stödplattsytan en önskad reflektivitet.

Andra särdrag och ytterligare fördelar med uppfinningen kommer att framgå av följande beskrivning och av de icke-begränsande exemplen, såväl som av de bifogade patentkraven.

KORT BESKRIVNING AV RITNINGARNA Denna uppfinning kommer nu att beskrivas mer detaljerat och med hänvisning till exemplen och till ritningarna, av vilka: Figur 1 illustrerar ett objektglas som bildar en mikroarray- stödplatta innefattande V-formade skåror med utvalt djup och snedställningsvinkel i förhållande till stödplattsytan, och figur 2 illustrerar ett scannande optiskt testarrangemang inne- fattande en mikroarraystödplatta.

BESKRIVNING AV UPPFINNINGEN Termerna och uttrycken som används i beskrivningen och i patent- kraven är avsedda att ha den betydelse som vanligtvis används av fackmannen.

I enlighet med denna uppfinning àstadkoms förbättrad prestanda med en polymerisk mikroarraystödplatta i optiska tester genom att utvalda mikrostruktursegenskaper införlivas i den polyme- riska mikroarraystödplattan.

Uppfinningskonceptet är att förbättra prestandan, exempelvis öka signal/brusförhàllandet, med en mikroarraystödplatta i ett op- tiskt testarrangemang som innefattar optiska organ, genom styr- 10 15 20 25 30 35 5'“7 896 vara: :°a: :axx :u“w I-Jäf: ii ::.:..i šüfiââ * : z z la. .Il z oro. 00 'øø- .uø. 6 ning av amplitudförändringar (dvs. intensiteten) och/eller frekvensen (våglängden) av absorberat, reflekterat eller trans- mitterat ljus. Detta àstadkoms genom att mikroarraystödplattan förses med mikrostruktursegenskaper innefattande skåror som har ett djup anpassat till fokallängden av de optiska organen i testarrangemanget, såväl som till variationerna av stödplattans tjocklek.

Denna uppfinning kan tillämpas exempelvis i fluorescens- eller fosforescensbindningstester, och den polymeriska mikroarray- stödplattans utvalda mikrostruktursegenskaper har förmåga att påverka testprestandan på olika sätt. Mikroarraystödplattan innefattar ett substrat försett med en kemiskt modifierad ytbeläggning, och substratet är tillverkat av ett polymeriskt objektglas. Stödplattstjockleken varierar över stödplattsytan, och tjockleksvariationen är vanligtvis mindre än 15-20 mikrometer, beroende pä objektglaskvalitén. Mikrostruktur- egenskaperna enligt uppfinningen ökar exciteringskapaciteten jämfört med plana stödplattor beroende pà en ökning av antalet fotoner i ytbeläggningen där de fluorescenta eller fosforescenta markörerna är belägna. När markörerna är fluorescenta ökar stödplattans emitteringskapacitet beroende pà en ökning av antalet fotoner som emitteras från den fluorescenta färgen och som när det optiska detekteringssystemet, och en brusreducering àstadkoms genom att oönskad bakgrundsfluorescens undviks genom reducering av fotonantalet som när in i och ut ur stödplatts- substratet.

Således tjänar denna uppfinning till att öka signal/brusför- hällandet i optiska tester genom användning av utvalda mikrostruktursegenskaper innefattande ytförstorande mönster som àstadkoms i den polymeriska mikroarraystödplattan, mikro- strukturegenskaperna utvalda och anpassade för att åstadkomma en önskad effekt pà testarrangemangets optiska egenskaper, vars optiska egenskaper kan beskrivas i termer av geometrisk optik och/eller fysikalisk optik. Geometrisk optik behandlar ljusfort- 10 15 20 25 30 35 LH '> *J æ: \Cr ON plantningen som ett stràlfenomenï medan fysikalisk optik, à andra sidan, använder de elektromagnetiska vàgornas vàgnatur. I geometrisk optik går ljusvägen längs stràlar, medan diffraktionsfenomen och interferensfenomen är närvarande i fysi- kalisk optik. I geometrisk optik är ljusvàglängden betydligt kortare än storleken pà ytans mikrostruktursegenskaper, medan ljusvàglängden i fysikalisk optik överensstämmer med storleken pá ytans mikrostruktursegenskaper.

I denna uppfinning innefattar de optiska organen företrädesvis en mikroarray-scanner, som kan inkludera konfokal optik som en- dast tar emot ljus emitterat inom den objektiva linsens fokallängd, exempelvis genom blockering av oönskat ljus med hjälp av en fokuseringsöppning (eng. pinhole), vilket därigenom reducerar det detekterade bruset.

Figur 2 avser att illustrera en utföringsform av ett scannande fluorescenstestarrangemang 2, innefattande en mikroarray- stödplatta 1 och optiska organ 3, 4, 6. De optiska organen innefattar en laser 3 för att rikta exciterande ljus mot mikroarraystödplattan, en fotomultiplikator (PMT) 4 för detekte- ring av ljus emitterat från mikroarraystödplattans bindnings- platser och en fokuseringsöppning 6 för brusreducering.

Den uppfunna mikroarraystödplattans mikrostruktursegenskaper in- nefattar skåror som har ett utvalt djup i förhållande till de optiska organens fokallängd och till stödplattans tjock- leksvariation. Skàrorna kan ha raka eller rundade kanter, och kan exempelvis vara V-formade, sinusformade, triangulär-, trapets- eller binärformade. Skàrorna kan också vara struktu- rerade i mer än en riktning på stödplattan. Exempelvis kan pyramidformade skåror bildas av två intilliggande, V-formade skåror, strukturerade med 90° vinkel mellan nämnda skärors riktningar. 10 15 20 25 30 35 (TI -) <1 \C> ON ooo oo» o . q o o o o oooo o oo o o o o o o o I o o o u v o o o o oo ao o o o o o o ooo o v o o o o 8 Avstàndet mellan de enskilda skårorna kan vara konstant eller kan varieras över stödplattsytan. Skàrstorleken är betydligt större än våglängden på det exciterande ljuset, och en skàra kan i typfallet ha ett djup pà mellan 5 och 10 mikrometer, och kan ha en snedställningsvinkel pà exempelvis 55°, beroende pà de op- tiska organen och på stödplattans önskade geometriska optiska egenskaper.

Figur 1 illustrerar en sidovy av en utföringsform av den upp- funna mikroarraystödplatta 1 med en tjocklek th. Mikro- arraystödplattan är försedd med mikrostruktursegenskaper innefattande ett ytförstorande mönster 5, mönstret innefattande V-skåror som har ett utvalt djup, d, och en snedställningsvnkel, d, i förhållande till stödplattsytan. Stödplattsytan kan ha en area pà exempelvis 25 mm x 75 mm, och objektglasplanheten medför vissa variationer i tjockleken över stödplattans yta, nämnda va- riationer vanligtvis mindre än 15-20 mikrometer.

Mikroarraystödplattan kan tillverkas med olika metoder, och fö- reträdesvis genom polymer-replikering av en master-struktur ex- empelvis genom injektionsformning, gjutning eller prágling. Mas- terstrukturen av skaran görs vanligtvis av kisel eller glas, ex- empelvis genom kemisk vàt- eller torretsning, genom fotoresist- litografi eller genom mekanisk linjering (exempelvis genom slip- ning eller svarvning).

I enlighet med en första utföringsform av uppfinningen innefat- tar stödplattans mikrostruktursegenskaper ett ytförstorande mönster, exempelvis V-formade skàror, skárdjupet anpassat till fokallängden av testarrangemangets optiska organ, sá att summan av skärornas utvalda djup, d, och tjockleksvariationen av stödplattan huvudsakligen överensstämmer med fokallängden.

Enligt ett utföringsexempel är skårorna pyramidformade och skà- rornas masterstruktur anisotropiskt etsad i (100) kisel, vilket resulterar i en snedställningsvinkel på 55°. Om de optiska orga- nens fokallängd är 20-30 mikrometer och stödplatts-objektglas- 10 15 20 25 30 35 kvalitén begränsar variationerna i stödplattstjockleken ti 15 mikrometer väljes skàrdjupet till 5-10 mikrometer i detta utföringsexempel. Därigenom ligger summan av skàrdjupet och tjockleksvariationen över stödplatts-objektglasytan gott och väl inom fokallängden, huvudsakligen överensstämmande med nämna fokallängd. Som resultat ökar signalen genom förstoringen av arean av stödplattsytan som orsakas av skàrorna, vilket resulterar i fler bindningsplatser och som konsekvens av detta en högre fluorescenssignal. Pä samma gång sänks brussignalen beroende pà det faktum att volymen av autofluorescent material reduceras inom fokallängden. Skàrstrukturen resulterar också i ett ökat hydrofobiskt uppträdande, eftersom vätningsvinkeln är större för en strukturerad polymer än för en plan polymer, vilket underlättar tryckning av mikroarrayer med hög fläckdensitet pá stödplattan.

Skàrornas snedställningsvinkel i en stödplatta kommer att pà- verka ingàngsvinkeln pà ljuset som faller in mot stödplattan och ändra stödplattans ytreflektion beroende pà Brewster-egenskaper.

Ytreflektionen kan därför styras genom val av en lämplig sned- ställningsvinkel för skáran, med hänsyn till stödplattsmateria- lets brytningsindex. Exempelvis reflekteras ungefär 4 % av cir- kulàrpolariserat ljus som faller in mot en plan polymerisk yta om polymeren har ett brytningsindex pà 1.5, och ungefär 17 % reflekteras om ingàngsvinkeln på det infallande ljuset är 70 grader, dvs. reflektiviteten fyrdubblas. Den ökade ytreflektivi- teten kombinerat med skàrorna kommer att underlätta för det in- fallande ljuset att reflekteras åtminstone tvâ gånger mot ytan och som en konsekvens av detta exciteras fluoroforer pà två olika ställen.

Genom att välja en lämplig snedställningsvinkel för skårorna med hänsyn till de optiska konstanterna för både substratet och yt- beläggningsmaterialet kan riktningen av det spegelreflekterade ljuset från ytan ändras för att säkerställa att riktningen för det emitterade ljusets optiska väg inte följer det exciterande 10 15 20 25 30 35 01 hå *J OG \0 0\ rule oømfi ul o 0 _ U__! u; n 001000 I I 001000 0 1 I 00 00 Inca Û O »mac imon 0 0 I n Q s O 10 ' ljusets optiska väg. Detta år fördelaktigt eftersom exciterings- energin är betydligt större än emitteringsenergin och detekto- rerna i mikroarrayscannern således kan mättas om de optiska vä- garna överensstämmer med varandra.

I enlighet med en andra utföringsform av uppfinningen kan man öka stödplattsprestandan ytterligare genom att åstadkomma ett reflekterande skikt gjort av ett metalliskt, halvledande eller dielektriskt material. För synligt ljus är ett skikt av silver, platina, palladium eller guld fördelaktigt. Skikttjockleken an- passas företrädesvis till stödplattans önskade transparens, och skiktet kan vara beläget på stödplattssubstratets övre yta eller i stödplattans botten. Exempelvis transmitterar ett 20 nm tjockt guldskikt ca. 50% of det röda ljuset. En fördel med ett extra metallskikt är att ytkemin år enklare att utföra pà ett metall- skikt än på en polymer yta. En ytterligare fördel är möjligheten att utnyttja skiktets semi-transmitterande egenskaper, dvs. ge- nom att använda den absorption av vissa våglängdsband som sker i metaller, halvledare och i dielektrikum för att få siktet att transmittera vissa våglängder och reflektera andra våglängder.

I enlighet med en tredje utföringsform av uppfinningen är stöd- plattan försedd med en dielektrisk spegel innefattande en inter- ferensskiktsstruktur bestående av flera skikt. Skikten kan vara en kvarts våglängd tjocka, innefattande alternerande oxider, ex- empelvis kiseldioxid eller titandioxid, med förhàllandvis lågt respektive högt brytningsindex. Den dielektriska spegeln kan vara belägen pà stödplattssubstratets övre yta eller på stöd- plattans botten. Genom interferensskiktsstrukturen kan reflekti- viteten styras i vissa våglängdsband, vilket åstadkommer en våglängdsfiltrering. Genom en ökad ytreflektivitet reduceras bruset som beror på bakgrundsfluorescensen, eftersom mindre ljus transmitteras in i stödplattssubstratet och exciterar auto- fluorescens i detta. 10 15 20 25 30 35 11 I enlighet med en fjärde utföringsform av denna uppfinni_, ar stödplattan försedd med ett diffraktivt skikt överlagrat pà skä- rorna. Höjden av de diffraktiva gitterskårorna och avståndet mellan individuella skåror i gitterstrukturen är lika med ana- lysljusvåglängden, dvs. flera hundra nanometer. Genom det diff- raktiva gittret àstadkoms en ytterligare ökad ytförstoring, så- väl som en möjlighet att reflektera/transmittera utvalda våg- längder i bestämda riktningar. Det diffraktiva gittret kan också innefatta en anti-reflekterande struktur anpassad att reducera ytreflektionen av det infallande, exciterande ljuset eller en reflektionsförstärkande struktur anpassad att öka ytreflektio- nen. Det diffraktiva gittret kan bildas exempelvis genom elektronstrålelitografi, och gittrets skårstruktur kan exempelvis vara sinusformad, triangulär, trapetsformad eller binärformad. Gitterskàrorna kan ha raka eller runda kanter och avståndet mellan individuella gitterskåror kan vara konstant eller varieras i gittret.

I enlighet med en femte utföringsform av uppfinningen är stöd- plattssubstratsabsorptionen anpassad till de exciterande och/eller emitterade våglängderna från den exciterande ljuskäl- lan i syfte att göra materialet “optiskt svart”. Ett sätt att åstadkomma detta är att färga in polymerer med små ljusabsorbe- rande pigment, så att substratet bli fullständigt svart, dvs högabsorberande, för den aktuella våglängden.

I enlighet med en sjätte utföringsform av uppfinningen utformas stödplattan för att antingen transmittera eller absorbera det exciterande ljusets våglängd och att absorbera våglängden fràn de använda fluoroforerna. Därigenom kan autofluoresensen hindras från att emitteras från stödplattan och bidra till bruset.

Uppfinningen är inte begränsad till de utföringsformer som beskriv i figurerna, utan kan varieras fritt inom patentkravens skyddsomfàng.

Claims (1)

1. 0 15 20 25 30 35 CT! ßq “\1 CI) \C) CT\ o o n o o nu canon u han o PATENTKRAV l. Polymerisk mikroarraystödplatta (1) för ett optiskt testarrangemang (2), nämnda arrangemang innefattande optiska organ med en viss fokallängd för detektering av ljus emitterat från stödplattan (1), stödplattans tjocklek (th) varierande över dess yta med ett visst tjockleks- variationsvärde, stödplattan (1) försedd med utvalda mikrostruktursegenskaper innefattande ett ytförstorande mönster (5), kännetecknad av att nämnda ytförstorande mönster (5) innefattar skåror som har ett utvalt djup (d) anpassat till de optiska organens fokallängd och till stödplattans tjockleksvariationsvärde så att summan av nämnda utvalda djup (d) och nämnda tjockleksvariationsvärde huvudsakligen överensstämmer med nämnda fokallângd. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt patentkravet 1, kännetecknad av att skàrorna har en utvald sned- ställningsvinkel (a) i förhållande till stödplattsytan, nämnda utvalda snedställningsvinkel (a) anpassad till brytningsindex för materialet i stödplattan för att ge stödplattsytan en önskad reflektivitet. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt patentkravet 1 eller 2, kännetecknad av att åtminstone nägra av skàrorna har raka kanter. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt något av patentkraven 1-3, kännetecknad av att åtminstone nägra av skàrorna är rundade. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt något av patentkraven 1-4, kännetecknad av att stödplattsytan är försedd med skåror i mer än en riktning. 10 15 20 25 30 35 10. ll. 12. 13. 13 Polymerisk mikroarraystödplatta enligt något av patentkraven 1-5, kännetecknad av att avståndet mellan de enskilda skårorna är konstant över stödplattans yta. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt något av patentkraven 1-5, kännetecknad av att avståndet mellan de enskilda skårorna varierar över stödplattans yta. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt något av patentkraven 1-7, kännetecknad av att stödplattans mikrostruktursegenskaper dessutom innefattar ett extra skikt. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt patentkravet 8, kännetecknad av att det extra skiktets tjocklek är valt för att ge stödplattan en önskad transparens. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt patentkravet 8, kânnetecknad av att det extra skiktets tjocklek är valt för att ge stödplattan en önskad reflektivitet. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt något av patentkraven 1-10, kännetecknad av att stödplattans mikrostruktursegenskaper dessutom innefattar en dielektrisk spegel. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt något av patentkraven 1-11, kännetecknad av att stödplattans mikrostruktursegenskaper dessutom innefattar ett diffraktivt gitter överlagrat på åtminstone en del av stödplattans ytförstorande mönster. Polymerisk mikroarraystödplatta enligt något av patentkraven 1-11, kännetecknad av att nämnda stödplatta är försedd med ljusabsorberande pigment. 10 15 20 25 30 35 14. 15 16. U1 53 \J OD %3 O\ 14 Optiskt testarrangemang (2) innefattande en polymerisk mikroarraystödplatta (1) och optiska organ med en viss fokallängd för detektering av ljus emitterat från nämnda mikroarraystödplatta (1), stödplattans tjocklek (th) varierande över dess yta med ett visst tjockleks- variationsvärde, stödplattan (1) försedd med mikro- strukturegenskaper innefattande ett ytförstorande mönster (5), kännetecknad av att nämnda ytförstorande mönster (5) innefattar skàror som har ett utvalt djup (d) som är anpassat till de optiska organens fokallängd och till stödplattans tjockleksvariationsvärde så att summan av nämnda utvalda djup (d) och nämnda tjockleksvariationsvärde huvudsakligen överensstämmer med nämnda fokallängd. .Optiskt testarrangemang (2) innefattande en polymerisk mikroarraystödplatta enligt patentkravet 14, kännetecknad av att skàrorna har en utvald snedställningsvinkel (d) i förhållande till stödplattsytan, nämnda utvalda sned- ställningsvinkel (a) anpassad till brytningsindex för materialet i stödplattan för att ge stödplattsytan en önskad reflektivitet. Förfarande för att bilda mikrostruktursegenskaper innefattande skåror i en polymerisk mikroarraystödplatta (1) i ett optiskt testarrangemang (2) innefattande optiska organ med en viss fokallàngd för detektering av ljus emitterat från nämnda stödplatta, stödplattans tjocklek (th) varierande över dess yta med ett visst tjockleks- variationsvärde, kännetecknat av anpassning av djupet (d) av nämnda skåror till nämnda fokallängd och till nämnda tjockleksvariationsvärde så att summan av det utvalda djupet och av tjockleksvariationsvärdet huvudsakligen överensstämmer med de optiska organens fokallängd. 10 |_4 ~J 5 2 7 8 9 6 ïïïëš EIEE. (E53 ïï"ï ' I II. I I I 15 E.. E .: 0-0.. g o: .'E. O zon. ut' . .OQ- .inc .:'....c....._...a.. _... :_ ..._ ..._ ___... " Fuiial. anus c 114.312 yqtcutkiaíêt 15 , kâïlnêtêCkïlåt ä? anpassning av skàrornas snedställningsvinkel (a) i förhållande till stödplattsytan till brytningsindex för materialet i stödplattan för att ge stödplattsytan en önskad reflektivitet.