JP2001074657A - 光計測方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光計測方法および装置において、測定対象と
なる検体以外から発生した蛍光の検出器への入射を低減
し、検体から発生する蛍光を高いＳ／Ｎ比で検出できる
ようにする。 【解決手段】 レーザ光源４０から発生した励起光Ｌｅ
の照射によって検体スポットＫｓｐから発生する蛍光Ｋ
ｅを、第１集光レンズ５１により平行光束とし、この平
行光束の中央部の光束を中央光束遮光板６０により遮光
し、平行光束の周辺部の光束のみを第２集光レンズ５２
によりピンホールＰｈに集光し、このピンホールＰｈを
通過した蛍光を検出器７０によって検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光計測方法および
装置に関し、詳細には励起光の照射により、蛍光色素で
標識された検体等から発生する蛍光を検出する光計測方
法および装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、遺伝子工学分野における技術が急
速に発展し、１０万個にも及ぶと考えられているヒトゲ
ノムの塩基配列を解読することを１つの目的とするヒト
ゲノムプロジェクトが展開されている。

【０００３】一方、各種遺伝子疾患に影響を与えている
ＤＮＡに関する研究も進んでおり、その１つの方法とし
てマイクロアレイ技術が注目されている。

【０００４】このマイクロアレイ技術は、既に解読され
ている多数の異なるｃＤＮＡ（特異的結合物質の一例）
を基板となるスライドガラス上の１．８×１．８（ｃ
ｍ）の範囲にドットサイズ５０〜１５０（μｍ）のスポ
ットとして約６４００個並べたマイクロアレイと称する
もの、またはｃＤＮＡをナイロンメンブレンフィルタ上
の８×１２（ｃｍ）、７×５（ｃｍ）または２２×２２
（ｃｍ）の範囲にドットサイズ約０．５〜１（ｍｍ）の
スポットとしてそれぞれ５８８個、５０００個、２７０
００個並べたマクロアレイと称するもの、あるいは合成
オリゴヌクレオチドをシリコン基板上の１．２８×１．
２８（ｃｍ）の範囲にドットサイズ５０（μｍ）のスポ
ットとして約６４０００個並べたＤＮＡチップと称する
もの等を用いた技術である（上記マイクロアレイ、マク
ロアレイおよびＤＮＡチップ等を相称して本件では「Ｄ
ＮＡアレイ」と称することとする。）。

【０００５】すなわち、蛍光色素ａで標識された健常者
の細胞から取り出したＤＮＡの検体Ａをピペット等でこ
のＤＮＡアレイ上の各ｃＤＮＡに滴下して、検体Ａとｃ
ＤＮＡとをハイブリダイズさせる。このハイブリタイズ
の処理の後にＤＮＡアレイは所定の溶液で処理され、ｃ
ＤＮＡとハイブリタイズされなかった検体Ａは各スポッ
トから除去され、ｃＤＮＡとハイブリタイズされた検体
Ａは各スポットに残される。そして、上記処理が施され
たＤＮＡアレイ上の各検体のスポット（以後検体スポッ
トと呼ぶ）に、蛍光色素ａを励起する励起光Ｌａを相対
的に走査して、この励起光Ｌａの照射により発生した蛍
光の検出結果を表す標識信号を得る。

【０００６】上記と同様の処理を、蛍光色素ｂで標識さ
れた遺伝子疾患を有する者の細胞から取り出したＤＮＡ
の検体Ｂに関しても行い、励起光Ｌｂの照射により発生
した蛍光の検出結果を表す標識信号を得、各検体スポッ
ト毎に検体Ａの各検体スポットから得られた標識信号と
検体Ｂの各検体スポットから得られた標識信号との比の
値を求める。

【０００７】これらの標識信号の比の値は、異常のある
ＤＮＡが滴下された検体スポットほど大きくなる（ある
いは小さくなる）ことから、各検体スポットにおける標
識信号の比の値が大きい方から順に例えば５０箇所分の
標識信号の比の値を、その信号が得られた検体スポット
と対応付ける表として読み取り、この表に基づいて異常
のあるＤＮＡが特定される。

【０００８】なお、担体上の各検体スポットから発せら
れる蛍光を検出する光学系には空間分解能が高く焦点深
度が浅い共焦点光学系が多く用いられているので、共焦
点光学系の焦点位置に一致させたＤＮＡアレイ上の検体
スポットへの励起光の照射により検体スポットから発せ
られた蛍光を前記共焦点光学系の他方の焦点位置に配設
されたピンホールを通過させて検出することにより、上
記検体スポット以外の位置で発生した蛍光等のノイズを
除去することができる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＤＮＡ
アレイ上の各検体スポットの厚さは１ミクロン以下と非
常に薄く、励起光が照射されると検体スポットのみなら
ず、検体スポットと密着してこの検体スポットを保持し
ている担体にも強い励起光が照射され、この励起光が照
射された担体を形成する成分からも蛍光が発生すること
がある。この、測定対象ではない担体から発生した蛍光
は、検体スポットから発生する蛍光の光路とほぼ等しい
光路を進むので、ピンホールによっても十分に除くこと
ができず、検出スポットから発生した蛍光と共に検出器
に入射し検出されてしまうことになる。

【００１０】すなわち、本来の測定対象である検体スポ
ットから発生した蛍光に、担体から発生した測定対象で
はない蛍光が混入し、多くのノイズを含む蛍光となり、
このノイズを多く含む蛍光が検出されると、各検体スポ
ットから発生する蛍光の強度を高い精度で検出すること
が困難になる。

【００１１】なお、この種の課題はＤＮＡアレイの技術
に限らず、励起光が照射された検出対象となる被検物
（以下総称して検体という）の１点から発せられる蛍光
のみを測定対象とする他の光計測装置にも共通する課題
である。

【００１２】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
のであり、測定対象となる検体以外から発生した蛍光の
検出器への入射を低減し、検出される蛍光のＳ／Ｎ比を
高めることにより、信頼性の高い計測結果を得ることが
できる光計測方法および装置を提供することを目的とす
るものである。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明の光計測方法は、
蛍光色素で標識された検体等に励起光を照射し、この励
起光の照射により検体等から発生した蛍光を平行光束と
し、この平行光束の中央部の光束を遮光または分散させ
て、平行光束の周辺部のみを直進させた後ピンホールに
集光し、ピンホールを通過した蛍光を検出することを特
徴とするものである。

【００１４】本発明の光計測装置は、蛍光色素で標識さ
れた検体等に励起光を照射する照射手段と、該励起光の
照射により前記検体から発生した蛍光を平行光束とする
第１の光学部材と、該平行光束の中央部の光束を遮光ま
たは分散させて、該平行光束の周辺部のみを直進させる
手段と、前記平行光束の周辺部を集光する第２の光学部
材と、該集光された前記光束の集光点に配設されたピン
ホールと、該ピンホールを通過した前記蛍光を検出する
検出器とを備えたことを特徴とするものである前記平行
光束の周辺部のみを直進させる手段は、平行光束の中央
部の強度を減衰させる遮光部材、分散させる凸レンズま
たは凹レンズ、あるいは光拡散板等の光学部材とするこ
とができ、さらにこれらの手段は、第２の光学部材と一
体化したり交換可能としたりすることができる。

【００１５】

【発明の効果】本発明の光計測方法および装置によれ
ば、励起光の照射により、担体に付着させた検体スポッ
トから発生した蛍光を第１の光学部材により平行光束と
し、この平行光束の中央部の光束を屈折または分散させ
て平行光束の光路から除き、周辺部の光束のみを第２の
光学部材に入射させ集光させてピンホールを通過させる
ことにより蛍光を検出するので、検体スポットの前後に
配された担体等から発生する測定対象外の蛍光がノイズ
として検出される割合を少なくすることができる。

【００１６】すなわち、上記ピンホールの径が理想的に
極めて小さければこのピンホールを通過することができ
る光束は、検体スポットから発光し、光軸に平行に進み
第２の光学部材の焦点位置に配されたピンホールに収束
する光だけであるからノイズはないが、実際のピンホー
ルには製作上の機械的誤差および組み立て上の位置決め
誤差等があるので、極端にピンホール径を小さくする
と、検体スポットから発生する測定対象となる蛍光もピ
ンホールによってカットされてしまう。ところが、ピン
ホールＰｈの前後に収束する光束の中で、担体から発生
する光は入射角度が浅い光束（光軸と成す角度が小さい
光束）なので、第１と第２の光学部材との間に光束の中
央部を遮光する手段を配設すれば、主に上記入射角度が
浅い光を遮光できるので、検体スポットから発生しピン
ホールＰｈを通過する蛍光の強度の減少に比して、担体
から発生しピンホールＰｈを通過する、入射角度が浅
い、測定対象外の蛍光の強度が大きく減少し、検出され
る蛍光の強度に占める検体スポットから発生する蛍光の
割合が相対的に大きくなる。従って、本来の測定対象で
ある検体スポットから発生する蛍光を高Ｓ／Ｎ比で検出
することができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明の光計測方法を実施
する光計測装置を適用したＤＮＡアレイ読取装置の具体
的な実施の形態について図を参照して説明する。

【００１８】図１は、本発明の実施の形態であるＤＮＡ
アレイ読取装置を示す斜視図、図２は図１に示したＤＮ
Ａアレイ読取装置による読取対象となるＤＮＡアレイ試
験片１０の斜視図、図３は図２のＩ−Ｉ位置における断
面図である。

【００１９】ＤＮＡアレイ試験片１０は、スライドガラ
スからなる坦体１１の表面Ｂａに、複数の既知のｃＤＮ
Ａ（特異的結合物質の一例）と蛍光色素で標識されたＤ
ＮＡとをハイブリタイズさせ、所定の溶液で処理された
検体スポット（以下検体スポットＫｓｐと呼ぶ）をマト
リクス状に配置したものであり、坦体１１の厚さは１ｍ
ｍ程度であり、坦体１１上に配置される検体スポットＫ
ｓｐの厚さは１μｍ以下、スポット径は３０〜１００μ
ｍ、各スポットの間隔は３００μｍ程度となっている。

【００２０】ＤＮＡアレイ読取装置１００は、図１に示
すようにレーザ光源４０から発せられた励起光Ｌｅをダ
イクロイックミラー５４により反射させてＤＮＡアレイ
試験片１０に配された検体スポットに第１集光レンズ５
１を通して照射し、該励起光の照射により検体スポット
から発生した蛍光Ｋｅを、共焦点光学系を形成する第１
集光レンズ５１および第２集光レンズ５２を介して検出
器７０に入射させ検出する構成となっている。

【００２１】ＤＮＡアレイ試験片１０の下方に配置され
た共焦点光学系の光軸上には第１集光レンズ５１、ダイ
クロイックミラー５４、中央部に光を遮光する領域を備
えた中央光束遮光板６０、第２集光レンズ５２、ピンホ
ール板５３およびフォトマルチプライヤからなる検出器
７０がこの順に配設され、第２集光レンズ５２側の焦点
にはピンホール板５３のピンホールＰｈが、また第１集
光レンズ５１側の焦点にはＤＮＡアレイ試験片１０上の
検体スポットＫｓｐが一致するように配置されており、
さらにピンホールＰｈを通過した蛍光を受光する位置に
検出器７０が配置されている。

【００２２】なお、中央光束遮光板６０は、図４（ａ）
の平面図、および図４（ｂ）の側面図に示されるように
平板ガラス６１の中央部に黒アルマイト処理をした円盤
６２を接着したものであり、第１集光レンズ５１と第２
集光レンズ５２との間に配設され、第１集光レンズ５１
から第２集光レンズ５２に向う光束の中央部を遮光し周
辺部の光束のみを通過させる。また、上記ダイクロイッ
クミラー５４は検体から発せられる蛍光Ｋｅを透過させ
励起光Ｌｅを反射させる波長特性を備えている。

【００２３】検体スポットＫｓｐを励起させる波長領域
の励起光Ｌｅを平行光束として射出するレーザ光源４０
は、この射出された平行光束が、ダイクロイックミラー
５４によって検体スポット側に反射され共焦点光学系の
光軸に同軸となるように配設されている。

【００２４】ＤＮＡアレイ試験片１０が載置されるステ
ージ３０には、ステージ３０をＸ−Ｙの方向（図１参
照）に２次元状に可動させるステッピングモータ２１、
２２が配設され、これらのステッピングモータ２１、２
２には共焦点光学系を形成する第１集光レンズ５１側の
焦点に検体スポットＫｓｐを順次移送するように各所定
の位置を入力する座標コントローラ８０が接続されてい
る。

【００２５】ここで、座標コントローラ８０により第１
および第２のステッピングモータ２１，２２に対して入
力される所定の位置とは、ＤＮＡアレイ試験片１０にお
けるマトリクス状の全ての検体スポットＫｓｐの位置を
意味する。

【００２６】次にＤＮＡアレイ読取装置の作用について
説明する。まず始めにＤＮＡアレイ試験片１０が、ステ
ージ３０上の決められた位置に載置される。このとき、
ＤＮＡアレイ試験片１０上の検体スポットの各位置を、
ステージ３０上のＸ軸方向およびＹ軸方向の座標に対応
付けるように各検体スポットの位置の座標を座標コント
ローラ８０に記憶させる。各ステッピングモータ２１，
２２は、座標コントローラ８０に記憶された座標に基づ
いて、ＤＮＡアレイ試験片１０上の最初の検体スポット
Ｋｓｐ（１，１）の位置に励起光Ｌｅが照射されるよう
に、ステージ３０をＸ−Ｙ平面内に移動させ位置決めす
る。

【００２７】ステージ３０のセッティングが完了すると
励起光Ｌｅがレーザ光源４０から射出され、ダイクロイ
ックミラー５４により反射され第１集光レンズ５１によ
って検体スポットＫｓｐ（１，１）上に集光され、励起
光Ｌｅが照射された検体スポットＫｓｐ（１，１）から
発生した蛍光Ｋｅは、第１集光レンズ５１によって平行
光束とされダイクロイックミラー５４を透過する（この
とき蛍光Ｋｅに混入する励起光Ｌｅはダイクロイックミ
ラー５４によって反射され検出器に向かう光路から除去
される）。ダイクロイックミラー５４を透過した平行光
束は中央光束遮光板６０によって中央部の光束が遮光さ
れ周辺部の光束のみが第２集光レンズ５２によって集光
されピンホールＰｈを通過して検出器７０に入射し、検
出器７０によってその強度が検出され外部の処理装置２
００に出力される。

【００２８】外部の処理装置２００には、座標コントロ
ーラ８０から出力された検体スポットＫｓｐ（１，１）
の位置と検出器７０から出力された蛍光の強度値とが入
力され対応づけられて記憶される。

【００２９】ここで、中央光束遮光板に関する作用の詳
細を説明する。図５（ａ）〜（ｃ）に示すようにＤＮＡ
アレイ読取装置の光学系を簡略化し、共焦点光学系９０
を第１集光レンズ９１と第２集光レンズ９２によって形
成する。この共焦点光学系の光軸をＺ軸とし、第１集光
レンズ９１側の焦点位置をＺｐおよび第２集光レンズ９
２側の焦点位置をＺｑとしてピンホールＰｈ１をＺｑの
位置に一致させるようにピンホール板９３を配設する。

【００３０】図５（ｂ）に示すようにＺｐに点光源Ｔｇ
を配置すると、点光源Ｔｇから発せられる光Ｌｉは第１
集光レンズ９１によって平行光束とされ、この平行光束
は集光Ｎ１レンズによってピンホールＰｈ１に集光され
てピンホールＰｈ１を通過する。

【００３１】次に点光源ＴｇをＺ軸に沿って点Ｚｐの位
置から−の方向のに移動し図５（ａ）に示すようにＺｐ
-1の位置に移動すると、点光源Ｔｇから発せられた光Ｌ
ｉは集光Ｍ１レンズによって平行光束とはならずに収束
する光束となり第２集光レンズ９２によってピンホール
Ｐｈ１のＺ軸方向マイナス側の点Ｚｑ-1に集光されピン
ホールＰｈ１を通過する。このとき点Ｚｑ-1に集光され
る光Ｌｉの中で入射角度が浅い光束（光軸と成す角度が
小さい光束）のみが選択的にピンホールＰｈ１を通過す
るので、点Ｚｐ-1から発生し第１集光レンズ９１および
第２集光レンズ９２を経由してピンホールＰｈ１通過す
る光束の径は細くなり、開口角も小さくなる。

【００３２】また反対に、点光源ＴｇをＺ軸に沿ってＺ
ｐの位置から＋の方向に移動し、図５（ｃ）に示すよう
にＺｐ+1の位置に移動すると、点光源Ｔｇから発せられ
た光Ｌｉは集光Ｍ１レンズによって発散する光束となり
集光Ｎ１レンズによってピンホールＰｈ１のＺ軸方向プ
ラス側の点Ｚｑ+1に集光される。このとき上記と同様に
点Ｚｑ+1に集光される光Ｌｉの中で入射角度が浅い光束
（光軸と成す角度が小さい光束）のみが選択的にピンホ
ールＰｈ１を通過するので、点Ｚｐ+1から発生し第１集
光レンズ９１および第２集光レンズ９２を経由してピン
ホールＰｈ１を通過する光束の径は細くなり、開口角も
小さくなる。

【００３３】上記点光源Ｔｇの位置とピンホールＰｈ１
を通過する光Ｌｉの強度との関係は、図５（ｄ）の曲線
ＫＲ（ｚ）に示すような深度応答曲線となり、点光源Ｔ
ｇの位置がＺｏから離れるに従いその強度が減少し、点
光源Ｔｇの位置をＺ軸のマイナスの方向に移動させた場
合の方がプラス方向に移動させた場合に比してピンホー
ルに入射する光量がより大きく減少する。

【００３４】ここで、図６（ａ）〜（ｃ）に示すように
上記共焦点光学系９０の第１集光レンズ９１と第２集光
レンズ９２との間に中央光束遮光板９５を配設すると、
中央部の光束は遮光され周辺部の光束のみがピンホール
を通過するようになる。従って、点光源ＴｇがＺｐ、Ｚ
ｐ+1、Ｚｐ-1のどの位置にあっても中央光束遮光板９５
が配設されていない場合より検出される蛍光の強度値が
減少するが、その減少の割合は点光源Ｔｇの位置によっ
て異なり、図６（ｄ）の深度応答曲線ＫＳ（ｚ）に示す
ように点光源Ｔｇの位置をＺ軸のマイナスの方向に移動
させた場合の方がプラス方向に移動させた場合に比して
ピンホールに入射する光量がより極端に減少する。

【００３５】すなわち、図７に示すようにＺｐから発生
する測定対象となる蛍光ｖと、Ｚｐ以外の位置から発生
するノイズとなる蛍光ｗとが同時に発生するような場合
には、ピンホールＰｈ１を通過する全強度（蛍光ｖの強
度＋蛍光ｗの強度）に含まれる測定対象となる蛍光ｖの
強度の割合は、中央光束遮光板９５が配設された場合の
方が大きくなり、測定対象となる蛍光ｖをより高いＳ／
Ｎ比で検出することができる。特に焦点位置ＺｐのＺ軸
方向マイナス側から発生するノイズとなる蛍光Ｗを遮断
する効果は極めて高い。

【００３６】上記のことをＤＮＡアレイ読取装置に対応
させて説明する。図８に示すように、レーザ光源４０か
ら射出された励起光Ｌｅはダイクロイックミラー５４に
よって反射され第１集光レンズ５１によって担体１１に
保持された検体スポットＫｓｐに集光されるが、一部の
励起光Ｌｅは検体スポットＫｓｐを透過して担体の内部
も照射する。励起光Ｌｅが照射された検体スポットＫｓ
ｐ近傍の担体、例えば点Ｐからは測定対象ではないノイ
ズとなる蛍光ｗ（以後、担体蛍光ｗと呼ぶ）が発生し、
検体スポットＫｓｐから発生した測定対象となる蛍光ｖ
（以後、検体蛍光ｖと呼ぶ）と共に第１集光レンズ５１
によって概略平行光束とされダイクロイックミラー５４
を透過する。ダイクロイックミラー５４を透過した検体
蛍光ｖと担体蛍光ｗは第２集光レンズ５２によって集光
されピンホールＰｈを通過し検出器７０によってその強
度が検出される。このときノイズとなる担体蛍光ｗの光
量の多くはピンホール板５３によって検出器７０への入
射が阻止されるが光軸Ｚ上の検体スポットＫｓｐの後方
に位置する担体から発生し光軸に沿った光路を進む担体
蛍光ｗはピンホールＰｈを通過しノイズとして検出され
る。ここで、中央光束遮光板６０を第１集光レンズ５１
と第２集光レンズ５２の間に挿入すると、前記のように
ノイズとなる担体蛍光ｗの強度を測定対象である検体蛍
光ｖの強度より大きな割合で減少させることができるの
で検出器７０で検出される蛍光の強度に含まれるノイズ
の割合は減少する。

【００３７】最初の検体スポットＫｓｐ（１，１）にお
ける計測が終了すると、座標コントローラ８０から次の
計測位置がステッピングモータ２１，２２に入力され、
検体スポットＫｓｐ（２，１）に励起光Ｌｅが照射され
るようにＤＮＡアレイ試験片１０は移動される。そして
この検体スポットＫｓｐ（２，１）に励起光Ｌｅが照射
され、最初の検体スポットＫｓｐ（１，１）を計測した
ときと同様の計測が行われ、その結果は前記と同様に外
部の処理装置２００に記憶される。なお、上記計測にお
いては各検体スポットＫｓｐから発生する蛍光の相対的
な強度を検出すればよいので、検出される蛍光の強度の
絶対値が中央光束遮光板の挿入によって減少しても計測
精度を劣化させることはない。

【００３８】以上の操作を繰り返すことにより、ＤＮＡ
アレイ試験片１０上の全ての検体スポットＫｓｐを計測
し、処理装置２００にこれらの全ての検体スポットＫｓ
ｐの位置と検体スポットから発生した蛍光の強度の値と
が対応付けられて記憶される。さらに蛍光色素ｂで標識
されたＤＮＡの検体ＢとｃＤＮＡとをハイブリダイズさ
せ所定の溶液で処理されたＤＮＡアレイ試験片に関して
も同様の計測が行われ、これらの対応関係に基づいて、
周知のようにＤＮＡ発現解析等が行われる。

【００３９】また、中央光束遮光板６０の中央の遮光領
域は、光が完全に遮光されなくても透過光量を減衰させ
る領域であればよく、金属薄膜を蒸着したもの、あるい
は光を拡散するように粗面加工したもの等であってもよ
い。また、その構造は、例えば図９（ａ）に示すように
リング６３の中央部の遮光板６２を３本の支柱６４で支
持する等の構造であってもよい。

【００４０】また、中央光束遮光板６０は、図９
（ｂ）、（ｃ）に示すように平板ガラス６１の中央に凸
部もしくは凹部を設け、ピンホールＰｈに向う光を途中
で屈折させ、分散させて光路から除外する遮光領域を備
えた光学部材とすることもできる。

【００４１】また、中央光束遮光板６０を交換可能に配
設することにより、中央部の遮光領域の大きさを変える
等、各計測内容に適した検出形態を整えることによりさ
らにＳ／Ｎ比の高い検出を行うことができる。

【００４２】また、図９（ｄ）に示すように第２集光レ
ンズ５２の中央部に凸部を設ける等、前記の遮光手段を
第２集光レンズ５２の中央部に一体に形成することによ
り上記と同等の効果を得ることができる。

【００４３】上記のように本発明による光計測方法およ
び装置によれば、測定対象となる検体以外から発生した
蛍光の検出器への入射を低減し、検出される蛍光のＳ／
Ｎ比を高めることにより、信頼性の高い計測結果を得る
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のＤＮＡアレイ読取装置の一実施形態を
示す図

【図２】ＤＮＡアレイ読取装置に使用されるＤＮＡアレ
イ試験片を示す図

【図３】ＤＮＡアレイ試験の断面図

【図４】中央光束遮光板の構造を示す図

【図５】検体スポットの前後から発生しピンホールに入
射する蛍光の光路を説明する図

【図６】検体スポットの前後から発生しピンホールに入
射する蛍光の強度を減衰させる効果を説明する図

【図７】中央光束遮光板の有無による測定対象外の蛍光
の混入割合の差を説明する図

【図８】測定対象外の蛍光の検出光路への混入を減少さ
せる説明図

【図９】中央光束遮光板の例

【符号の説明】

１０ ＤＮＡアレイ試験片 １１ 坦体 ２１ ステッピングモータ ２２ ステッピングモータ ３０ ステージ ４０ レーザ光源 ５１ 第１集光レンズ ５２ 第２集光レンズ ５３ ピンホール板 ５４ ダイクロイックミラー ６０ 中央光束遮光板 ７０ 検出器 ８０ 座標コントローラ １００ ＤＮＡアレイ読取装置 Ｌｅ 励起光 Ｋｅ 蛍光 Ｋｓｐ 検体スポット Ｐｈ ピンホール

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G043 AA03 BA16 CA03 DA02 DA05 EA01 FA01 GA04 GB01 GB02 GB05 HA01 HA09 HA15 JA03 KA09 LA01 MA01 NA06 2G054 AA03 BB07 CA22 CD01 CE02 EA03 EB01 FA12 FA17 FA20 FA33 FB01 GA04 GA05 GB02 GE02 JA02 JA05 JA10

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 蛍光色素で標識された検体に励起光を照
   射し、該励起光の照射により前記検体から発生した蛍光
   を平行光束とし、該平行光束の中央部の光束を遮光また
   は分散させて、該平行光束の周辺部のみを直進させた後
   ピンホールに集光し、該ピンホールを通過した前記蛍光
   を検出することを特徴とする光計測方法。
2. 【請求項２】 蛍光色素で標識された検体等に励起光を
   照射する照射手段と、該励起光の照射により前記検体か
   ら発生した蛍光を平行光束とする第１の光学部材と、該
   平行光束の中央部の光束を遮光または分散させて、該平
   行光束の周辺部のみを直進させる手段と、前記平行光束
   の周辺部を集光する第２の光学部材と、該集光された前
   記光束の集光点に配設されたピンホールと、該ピンホー
   ルを通過した前記蛍光を検出する検出器とを備えたこと
   を特徴とする光計測装置。
3. 【請求項３】 前記平行光束の周辺部のみを直進させる
   手段が、前記平行光束の中央部の光束を減衰させる遮光
   部材であることを特徴とする請求項２記載の光計測装
   置。
4. 【請求項４】 前記平行光束の周辺部のみを直進させる
   手段が、前記平行光束の中央部の光束を分散させる光学
   部材であることを特徴とする請求項２または３記載の光
   計測装置。
5. 【請求項５】 前記平行光束の周辺部のみを直進させる
   手段が、前記第２の光学部材と一体になっているもので
   あることを特徴とする請求項２から４のいずれか１項記
   載の光計測装置。
6. 【請求項６】 前記平行光束の周辺部のみを直進させる
   手段が、交換可能であることを特徴とする請求項２から
   ５のいずれか１項記載の光計測装置。