RU99118579A - Покрытия, способы и устройство для уменьшения отражения от оптических подложек - Google Patents

Покрытия, способы и устройство для уменьшения отражения от оптических подложек

Info

Publication number
RU99118579A
RU99118579A RU99118579/28A RU99118579A RU99118579A RU 99118579 A RU99118579 A RU 99118579A RU 99118579/28 A RU99118579/28 A RU 99118579/28A RU 99118579 A RU99118579 A RU 99118579A RU 99118579 A RU99118579 A RU 99118579A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
thickness
substrate
layer
deposition
light beam
Prior art date
Application number
RU99118579/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2204153C2 (ru
Inventor
Питер Д. ХААЛАНД
Б. Винсент МАККОЙ
Original Assignee
Питер Д. ХААЛАНД
Б. Винсент МАККОЙ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Питер Д. ХААЛАНД, Б. Винсент МАККОЙ filed Critical Питер Д. ХААЛАНД
Publication of RU99118579A publication Critical patent/RU99118579A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2204153C2 publication Critical patent/RU2204153C2/ru

Links

Claims (9)

1. Прозрачное или полупрозрачное изделие с покрытием, имеющее воспринимаемый коэффициент отражения FAR, в котором
F = ∫∫ S(λ,θ)R(λ,θ)dλdθ,
где λ - длина волны;
θ - угол падения;
S(λ,θ) - функция чувствительности человека от длины волны и угла падения;
R(λ,θ) - среднее значение коэффициентов отражения для р- и s-поляризации,
и содержащее: оптическую подложку, и один или несколько слоев просветляющего покрытия, нанесенного по меньшей мере на часть оптической подложки, причем толщину одного или нескольких слоев выбирают так, чтобы воспринимаемый коэффициент отражения FAR изделия с нанесенным покрытием был минимальным.
2. Изделие с покрытием по п.1, отличающееся тем, что по меньшей мере один слой просветляющего материала содержит фторуглеродную пленку.
3. Устройство для осаждения просветляющей пленки на оптическую подложку, содержащее: камеру реактора для приема оптической подложки, плазменный генератор, связанный с камерой реактора и адаптированный для ввода плазмы в камеру реактора, и оптический контрольно-измерительный прибор, расположенный в непосредственной близости с камерой реактора, адаптированный для управления толщиной просветляющей пленки.
4. Устройство по п.3, отличающееся тем, что оптический контрольно-измерительный прибор содержит: источник излучения поляризованного светового пучка для направления пучка поляризованного света с выбранной длиной волны или полосой пропускания на подложку при выбранном угле падения, фотоприемник для измерения интенсивности отраженной части поляризованного светового пучка, направленного из подложки, и микропроцессор, связанный с фотоприемником и одним или более расходным клапаном, нагнетательным клапаном и источником питания, при этом микропроцессор позволяет управлять одним или более расходным клапаном, нагнетательным клапаном и источником питания в соответствии с интенсивностью отраженной части поляризованного светового пучка, обнаруженного с помощью фотоприемника.
5. Устройство по п.3, отличающееся тем, что микропроцессор программируется на: (A) определение толщины просветляющей пленки из интенсивности отраженной части поляризованного светового пучка, (B) управление расходным клапаном для выборочного разрешения или ограничения потока одного или нескольких веществ предшественника, подаваемых в плазменный генератор, и (С) управление скоростью осаждения одного или нескольких веществ предшественника с помощью управления одним или более расходным клапаном, нагнетательным клапаном и источником электрической мощности.
6. Способ осаждения просветляющего покрытия на оптическую подложку, содержащий этапы: инициализируют осаждение слоя по меньшей мере одного просветляющего материала на подложку, осуществляют оптический контроль за толщиной слоя в ходе его осаждения, и завершают осаждение, когда слой достигает необходимой толщины.
7. Способ по п.6, отличающийся тем, что толщину слоя контролируют оптическим способом посредством: отражения поляризованного светового пучка, имеющего выбранную интенсивность и выбранную длину волны или ширину полосы пропускания, от поверхности подложки, на которую был осажден слой материала при выбранном угле падения, обнаружения интенсивности отраженной части поляризованного светового луча, и определения толщины слоя из интенсивности отраженной части светового пучка.
8. Способ по п.6, отличающийся тем, что дополнительно содержит следующие этапы: генерируют плазму рядом с подложкой, инициализируют поток ионизированного первого материала в плазме для осаждения на подложку и образования первого слоя, осуществляют оптический контроль толщины первого слоя в ходе осаждения, завершают поток первого материала в случае, когда первый слой достигает первой необходимой толщины, инициализируют поток второго материала в плазме для осаждения на подложку и образования второго слоя, осуществляют оптический контроль толщины второго слоя в ходе осаждения, и завершают осаждение второго материала в случае, когда второй слой достигает второй необходимой толщины.
9. Способ по п.6, отличающийся тем, что необходимую толщину вычисляют с помощью минимизации воспринимаемого коэффициента отражения F
F = ∫∫ S(λ,θ)R(λ,θ)dλdθ,
где S(λ,θ) - функция чувствительности человека, и R(λ,θ) - усредненные коэффициенты отражения для р- и s-поляризации во всем заданном диапазоне длин волн λ и углов θ.
10. Способ по п. 9, отличающийся тем, что S(λ,θ) имеет статистическим способом определенное среднее значение.
RU99118579/28A 1997-01-27 1997-12-12 Покрытия, способы и устройство для уменьшения отражения от оптических подложек RU2204153C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US3723997P 1997-01-27 1997-01-27
US60/037,239 1997-01-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU99118579A true RU99118579A (ru) 2001-07-20
RU2204153C2 RU2204153C2 (ru) 2003-05-10

Family

ID=21893233

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU99118579/28A RU2204153C2 (ru) 1997-01-27 1997-12-12 Покрытия, способы и устройство для уменьшения отражения от оптических подложек

Country Status (15)

Country Link
US (4) US6096371A (ru)
EP (1) EP1012635B1 (ru)
JP (1) JP2001509910A (ru)
KR (1) KR100495338B1 (ru)
CN (1) CN1131441C (ru)
AU (1) AU733162B2 (ru)
BR (1) BR9714213A (ru)
CA (1) CA2279425A1 (ru)
DE (1) DE69735727T2 (ru)
ES (1) ES2263184T3 (ru)
HK (1) HK1025152A1 (ru)
IL (1) IL131090A (ru)
RU (1) RU2204153C2 (ru)
TW (2) TW400437B (ru)
WO (1) WO1998033077A2 (ru)

Families Citing this family (73)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6172812B1 (en) 1997-01-27 2001-01-09 Peter D. Haaland Anti-reflection coatings and coated articles
US6432471B1 (en) * 1998-11-09 2002-08-13 Massachusetts Institute Of Technology Method for generating an anti-reflection coating for a laser diode
US6503373B2 (en) * 2000-01-13 2003-01-07 Ingersoll-Rand Company Method of applying a coating by physical vapor deposition
AU2001233290A1 (en) * 2000-02-22 2001-09-03 Brewer Science, Inc. Organic polymeric antireflective coatings deposited by chemical vapor deposition
US6936405B2 (en) * 2000-02-22 2005-08-30 Brewer Science Inc. Organic polymeric antireflective coatings deposited by chemical vapor deposition
FR2806076B1 (fr) * 2000-03-08 2002-09-20 Saint Gobain Vitrage Substrat transparent revetu d'une couche polymere
EP1176434B1 (en) * 2000-07-27 2006-09-06 Asahi Glass Company Ltd. Substrate provided with antireflection films and its production method
DE20013791U1 (de) 2000-08-10 2000-11-23 Dippmann Christian Medizinische Spiegel, insbesondere hochreflektierende Dentalspiegel, mit Frontbeschichtung
US20030054117A1 (en) * 2001-02-02 2003-03-20 Brewer Science, Inc. Polymeric antireflective coatings deposited by plasma enhanced chemical vapor deposition
US7132219B2 (en) * 2001-02-02 2006-11-07 Brewer Science Inc. Polymeric antireflective coatings deposited by plasma enhanced chemical vapor deposition
US6797139B2 (en) * 2001-03-19 2004-09-28 Applera Corporation Detection cell for guiding excitation light therein and method for using same
KR100409040B1 (ko) * 2001-06-13 2003-12-11 부진효 티오펜 유도체의 플라즈마 보조 화학 기상 증착에 의한유기 고분자 박막의 제조방법
CA2408113C (en) 2001-10-25 2005-10-04 Hoya Corporation Optical element having antireflection film
US6880612B2 (en) 2002-02-06 2005-04-19 Andersen Corporation Reduced visibility insect screen
US6763875B2 (en) 2002-02-06 2004-07-20 Andersen Corporation Reduced visibility insect screen
US20040005416A1 (en) * 2002-07-03 2004-01-08 Cosmos Vacuum Technology Corporation Method for making an anti-reflection coating on a substrate for the production of a polarizer
US20040046969A1 (en) * 2002-09-10 2004-03-11 Honeywell International Inc. System and method for monitoring thin film deposition on optical substrates
US7108775B2 (en) * 2002-11-08 2006-09-19 Applera Corporation Apparatus and method for confining eluted samples in electrophoresis systems
US20040192129A1 (en) * 2003-03-31 2004-09-30 Mcgregor Gordon L. Insect screen with improved optical properties
US20040198115A1 (en) * 2003-03-31 2004-10-07 Mcgregor Gordon L. Insect screen with improved optical properties
US20040203303A1 (en) * 2003-03-31 2004-10-14 Mcgregor Gordon L. Durable insect screen with improved optical properties
US7018713B2 (en) * 2003-04-02 2006-03-28 3M Innovative Properties Company Flexible high-temperature ultrabarrier
TW573444B (en) * 2003-04-22 2004-01-21 Ind Tech Res Inst Substrate having organic and inorganic functional package
US7604866B2 (en) * 2003-06-18 2009-10-20 Asahi Kasei Kabushiki Kaisha Antireflection film
US20100129548A1 (en) * 2003-06-27 2010-05-27 Sundew Technologies, Llc Ald apparatus and method
ATE468421T1 (de) * 2003-06-27 2010-06-15 Sundew Technologies Llc Vorrichtung und verfahren zur steuerung des dampfdrucks einer chemikalienquelle
WO2005012950A2 (en) * 2003-07-28 2005-02-10 Vampire Optical Coatings, Inc. High refractive index layers
US7794831B2 (en) * 2003-07-28 2010-09-14 Vampire Optical Coating, Inc. Anti-reflective coating
DE102004020245A1 (de) * 2004-04-22 2005-12-22 Schott Ag Organisches, elektro-optisches Element mit erhöhter Auskoppeleffizienz
DE102004056965A1 (de) * 2004-11-25 2006-06-08 Rodenstock Gmbh Verbesserung der Haftung von hydrophoben Beschichtungen auf Brillengläsern
JP2007005381A (ja) * 2005-06-21 2007-01-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd プラズマエッチング方法、及びプラズマエッチング装置
US7534836B2 (en) * 2005-07-01 2009-05-19 Bausch & Lomb Incorporated Biomedical devices
US7354779B2 (en) * 2006-03-10 2008-04-08 International Business Machines Corporation Topography compensated film application methods
US20080160215A1 (en) * 2006-12-28 2008-07-03 Ball Aerospace & Technologies Corp. Contamination Resistant Surfaces
CN101573468B (zh) * 2006-12-29 2013-10-30 3M创新有限公司 制备无机或无机/有机复合膜的方法
GB0703300D0 (en) * 2007-02-21 2007-03-28 Optical Reference Systems Ltd Semiconductor Growth Control Method and Apparatus
US20090169751A1 (en) * 2007-12-27 2009-07-02 Exatec Llc Multi-Pass Vacuum Coating Systems
JP2011508062A (ja) 2007-12-28 2011-03-10 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 可撓性封入フィルムシステム
ES2302661B1 (es) * 2008-02-14 2009-10-29 Indo Internacional S.A. Lente de base polimerica que comprende una capa endurecedora, una multicapa interferencial y una capa dura intercalada entre ambas, y procedimiento de fabricacion correspondiente.
KR20110033210A (ko) * 2008-06-30 2011-03-30 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 무기 또는 무기/유기 혼성 장벽 필름 제조 방법
US8023250B2 (en) * 2008-09-12 2011-09-20 Avx Corporation Substrate for use in wet capacitors
CN102481767A (zh) * 2009-08-10 2012-05-30 美国圣戈班性能塑料公司 氟聚合物/微粒填充的保护性片材
JP5313862B2 (ja) * 2009-12-25 2013-10-09 株式会社日立製作所 2次元光切断法による寸法測定方法および装置
JP5523382B2 (ja) * 2010-03-19 2014-06-18 富士フイルム株式会社 ガスバリアフィルムの製造方法及びガスバリアフィルム
WO2011139856A2 (en) 2010-04-29 2011-11-10 Battelle Memorial Institute High refractive index composition
US20170031525A1 (en) 2010-05-14 2017-02-02 Racing Optics, Inc. Touch screen shield
JP2013152425A (ja) * 2011-12-28 2013-08-08 Tamron Co Ltd 反射防止膜及び光学素子
RU2490222C1 (ru) * 2012-01-27 2013-08-20 Открытое акционерное общество "Производственное объединение "Новосибирский приборостроительный завод" (ОАО "ПО "НПЗ") Способ нанесения просветляющего покрытия
CN103936297B (zh) * 2014-05-04 2016-01-20 江南大学 一种超双疏增透玻璃表面层及其制备方法
DE102014008369A1 (de) * 2014-06-05 2015-12-17 Rosenberger-Osi Gmbh & Co. Ohg Endflächenbeschichtung eines Wellenleiters
US9295297B2 (en) 2014-06-17 2016-03-29 Racing Optics, Inc. Adhesive mountable stack of removable layers
CN105268110B (zh) * 2014-06-19 2018-03-13 昆山科技大学 黄疸光疗装置
US20180049656A1 (en) * 2015-03-23 2018-02-22 Koninklijke Philips N.V. Optical vital signs sensor
CN106684205B (zh) * 2015-11-06 2018-05-29 上海空间电源研究所 一种多结太阳电池减反射膜及其制备方法
FR3045033B1 (fr) 2015-12-09 2020-12-11 Saint Gobain Procede et installation pour l'obtention d'un vitrage colore
WO2018125015A1 (en) * 2016-12-30 2018-07-05 Turkiye Sise Ve Cam Fabrikalari Anonim Sirketi A technique for the production of a transparent conductive oxide film by a roller coating technique
WO2018136259A1 (en) * 2017-01-17 2018-07-26 The Penn State Research Foundation Broadband and omnidirectional polymer antireflection coatings
RU2685887C1 (ru) * 2018-05-07 2019-04-23 Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов" (ФГУП "ВИАМ") Антибликовый экран на основе силикатного стекла, антибликовое и антибликовое электрообогревное покрытия для него
US11585962B2 (en) * 2018-10-19 2023-02-21 Racing Optics, Inc. Transparent covering having anti-reflective coatings
US11846788B2 (en) 2019-02-01 2023-12-19 Racing Optics, Inc. Thermoform windshield stack with integrated formable mold
CN113453882B (zh) 2019-02-01 2024-03-15 锐思凌光学有限责任公司 具有集成可成形模具的热成形挡风玻璃堆叠
US10935709B2 (en) * 2019-03-05 2021-03-02 High Performance Optics, Inc. Methods and devices for reducing actual and perceived glare
CN110184588A (zh) * 2019-05-13 2019-08-30 江苏新唯尊光学眼镜有限公司 一种具有多层减反射膜镜片的镀膜工艺
US11364715B2 (en) 2019-05-21 2022-06-21 Racing Optics, Inc. Polymer safety glazing for vehicles
US11648723B2 (en) 2019-12-03 2023-05-16 Racing Optics, Inc. Method and apparatus for reducing non-normal incidence distortion in glazing films
US11548356B2 (en) 2020-03-10 2023-01-10 Racing Optics, Inc. Protective barrier for safety glazing
US11490667B1 (en) 2021-06-08 2022-11-08 Racing Optics, Inc. Low haze UV blocking removable lens stack
US11307329B1 (en) 2021-07-27 2022-04-19 Racing Optics, Inc. Low reflectance removable lens stack
US11709296B2 (en) 2021-07-27 2023-07-25 Racing Optics, Inc. Low reflectance removable lens stack
WO2023218284A1 (en) * 2022-05-08 2023-11-16 Bagira Systems Ltd. Portable gaming console
US11933943B2 (en) 2022-06-06 2024-03-19 Laminated Film Llc Stack of sterile peelable lenses with low creep
US11808952B1 (en) 2022-09-26 2023-11-07 Racing Optics, Inc. Low static optical removable lens stack
WO2024155532A1 (en) * 2023-01-17 2024-07-25 University Of Rochester Multilayer optical thin films with continuously varying refractive index

Family Cites Families (64)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3356522A (en) * 1964-02-10 1967-12-05 Mc Donnell Douglas Corp Polycarbonate film containing an antireflection coating
JPS53306B2 (ru) * 1973-10-16 1978-01-07
US3892490A (en) * 1974-03-06 1975-07-01 Minolta Camera Kk Monitoring system for coating a substrate
US4058638A (en) * 1974-12-19 1977-11-15 Texas Instruments Incorporated Method of optical thin film coating
AT354127B (de) * 1975-10-20 1979-12-27 Ver Staaten Von Amerika Nation Verfahren zum niederschlagen eines reflex- mildernden belages auf einem kunstharz-substrat und gemaess diesem verfahren mit einem reflex- mildernden belag versehene kunstharz-linse
US4096315A (en) * 1976-12-15 1978-06-20 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Process for producing a well-adhered durable optical coating on an optical plastic substrate
CH625054A5 (ru) * 1976-12-27 1981-08-31 Balzers Hochvakuum
US4166784A (en) * 1978-04-28 1979-09-04 Applied Films Lab, Inc. Feedback control for vacuum deposition apparatus
CH634424A5 (fr) * 1978-08-18 1983-01-31 Nat Res Dev Procede et appareil de detection et de commande de depot d'une pellicule fine.
GB2064987B (en) * 1979-11-14 1983-11-30 Toray Industries Process for producing transparent shaped article having enhanced anti-reflective effect
JPS5726702A (en) * 1980-07-25 1982-02-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method and device for measuring film thickness
JPS5872103A (ja) * 1981-10-26 1983-04-30 Seiko Epson Corp 合成樹脂製レンズ
DE3275661D1 (en) * 1982-12-22 1987-04-16 Ibm Improved anti-reflection coating for visual display screens
JPH0642003B2 (ja) * 1983-09-20 1994-06-01 オリンパス光学工業株式会社 光学部品の反射防止膜とその形成方法
JPS60163901A (ja) * 1984-02-04 1985-08-26 Japan Synthetic Rubber Co Ltd プラズマ重合処理方法
DE3413019A1 (de) * 1984-04-06 1985-10-17 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Verfahren zum aufbringen einer duennen, transparenten schicht auf der oberflaeche optischer elemente
US4676646A (en) * 1985-10-15 1987-06-30 Energy Conversion Devices, Inc. Method and apparatus for controlling thickness of a layer of an optical data storage device by measuring an optical property of the layer
CH670318A5 (ru) * 1985-10-22 1989-05-31 Satis Vacuum Ag
US4837044A (en) * 1987-01-23 1989-06-06 Itt Research Institute Rugate optical filter systems
US5053244A (en) * 1987-02-21 1991-10-01 Leybold Aktiengesellschaft Process for depositing silicon oxide on a substrate
US4842941A (en) * 1987-04-06 1989-06-27 General Electric Company Method for forming abrasion-resistant polycarbonate articles, and articles of manufacture produced thereby
FR2614317B1 (fr) * 1987-04-22 1989-07-13 Air Liquide Procede de protection de substrat polymerique par depot par plasma de composes du type oxynitrure de silicium et dispositif pour sa mise en oeuvre.
US4815962A (en) * 1987-12-11 1989-03-28 Polaroid Corporation Process for coating synthetic optical substrates
US5225057A (en) * 1988-02-08 1993-07-06 Optical Coating Laboratory, Inc. Process for depositing optical films on both planar and non-planar substrates
JPH01238601A (ja) * 1988-03-18 1989-09-22 Kuraray Co Ltd 反射防止用フイルター
US5181142A (en) * 1988-06-10 1993-01-19 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Plastic lens and method of forming an anti-reflecting layer on a plastic lens
US4906844A (en) * 1988-08-12 1990-03-06 Rockwell International Corporation Phase sensitive optical monitor for thin film deposition
US5264724A (en) * 1989-02-13 1993-11-23 The University Of Arkansas Silicon nitride for application as the gate dielectric in MOS devices
US5181141A (en) * 1989-03-31 1993-01-19 Hoya Corporation Anti-reflection optical element
US5246782A (en) * 1990-12-10 1993-09-21 The Dow Chemical Company Laminates of polymers having perfluorocyclobutane rings and polymers containing perfluorocyclobutane rings
US5009920A (en) * 1990-03-30 1991-04-23 Honeywell Inc. Method for applying optical interference coating
JPH04191701A (ja) * 1990-11-26 1992-07-10 Akifumi Nishikawa 反射防止光学材料およびその製造法
US5171414A (en) * 1990-12-10 1992-12-15 Ford Motor Company Method of making transparent anti-reflective coating
US5178955A (en) * 1990-12-17 1993-01-12 Allied-Signal Inc. Polymeric anti-reflection coatings and coated articles
US5225244A (en) * 1990-12-17 1993-07-06 Allied-Signal Inc. Polymeric anti-reflection coatings and coated articles
FR2680583B1 (fr) * 1991-08-22 1993-10-08 Commissariat A Energie Atomique Materiau presentant des proprietes antireflet, hydrophobes et de resistance a l'abrasion et procede de depot d'une couche antireflet, hydrophobe et resistante a l'abrasion sur un substrat.
JPH0597478A (ja) * 1991-10-04 1993-04-20 Nippon Sheet Glass Co Ltd 撥水性ガラス物品およびその製造方法
WO1994002832A1 (en) * 1992-07-15 1994-02-03 On-Line Technologies, Inc. Method and apparatus for monitoring layer processing
WO1994019709A1 (en) * 1993-02-19 1994-09-01 Photran Corporation A light attenuating anti-reflection coating including electrically conductive layers
US5443941A (en) * 1993-03-01 1995-08-22 National Semiconductor Corporation Plasma polymer antireflective coating
JP3770625B2 (ja) * 1993-03-12 2006-04-26 旭硝子株式会社 反射防止層を有する光学物品
US5354575A (en) * 1993-04-16 1994-10-11 University Of Maryland Ellipsometric approach to anti-reflection coatings of semiconductor laser amplifiers
US5911856A (en) * 1993-09-03 1999-06-15 Canon Kabushiki Kaisha Method for forming thin film
DE4338040C2 (de) * 1993-11-08 1997-01-30 Leybold Ag Vorrichtung zum Beschichten von Brillengläsern im Vakuum und Betriebsverfahren hierfür
US5494697A (en) * 1993-11-15 1996-02-27 At&T Corp. Process for fabricating a device using an ellipsometric technique
DE4407909C3 (de) * 1994-03-09 2003-05-15 Unaxis Deutschland Holding Verfahren und Vorrichtung zum kontinuierlichen oder quasi-kontinuierlichen Beschichten von Brillengläsern
JPH0817743A (ja) * 1994-06-29 1996-01-19 Sony Corp Cvd装置およびこれを用いた成膜方法
US5425964A (en) * 1994-07-22 1995-06-20 Rockwell International Corporation Deposition of multiple layer thin films using a broadband spectral monitor
US5580606A (en) * 1995-10-06 1996-12-03 Singapore Institute Of Standards Etc. Method for forming interference anti-reflective coatings by plasma surface modification
US5772861A (en) * 1995-10-16 1998-06-30 Viratec Thin Films, Inc. System for evaluating thin film coatings
US5728456A (en) * 1996-02-01 1998-03-17 Optical Coating Laboratory, Inc. Methods and apparatus for providing an absorbing, broad band, low brightness, antireflection coating
JP3739478B2 (ja) * 1996-03-25 2006-01-25 株式会社アルバック 反射防止多層膜とその成膜方法並びにその成膜装置
US5789040A (en) * 1997-05-21 1998-08-04 Optical Coating Laboratory, Inc. Methods and apparatus for simultaneous multi-sided coating of optical thin film designs using dual-frequency plasma-enhanced chemical vapor deposition
US6738099B2 (en) 2001-02-16 2004-05-18 Tektronix, Inc. Robust camera motion estimation for video sequences
US20060028562A1 (en) 2004-08-09 2006-02-09 Martin Schmitz Fast area-selected filtering for pixel-noise and analog artifacts reduction
US8750645B2 (en) * 2009-12-10 2014-06-10 Microsoft Corporation Generating a composite image from video frames
WO2012064106A2 (en) 2010-11-12 2012-05-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for video stabilization by compensating for view direction of camera
US20120148216A1 (en) * 2010-12-14 2012-06-14 Qualcomm Incorporated Self-editing video recording
US20130021488A1 (en) 2011-07-20 2013-01-24 Broadcom Corporation Adjusting Image Capture Device Settings
GB201116566D0 (en) * 2011-09-26 2011-11-09 Skype Ltd Video stabilisation
US9300871B2 (en) 2012-06-08 2016-03-29 Apple Inc. Stationary camera detection and virtual tripod transition for video stabilization
EP2680568B1 (en) 2012-06-25 2016-05-25 ST-Ericsson SA Video stabilisation with deblurring
US10638047B2 (en) * 2015-12-16 2020-04-28 Gopro, Inc. Dynamic synchronization of frame rate to a detected cadence in a time lapse image sequence
US10469749B1 (en) * 2018-05-01 2019-11-05 Ambarella, Inc. Temporal filter with criteria setting maximum amount of temporal blend

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU99118579A (ru) Покрытия, способы и устройство для уменьшения отражения от оптических подложек
CN100374882C (zh) 高折射率涂覆光管理膜
RU2324763C2 (ru) Просветляющее покрытие для линз, имеющее малые внутренние напряжения и ультранизкую остаточную отражающую способность
US5398133A (en) High endurance near-infrared optical window
EP1249717A2 (en) Antireflection coating and optical element using the same
CA2254650A1 (en) Sputtering method and apparatus with optical monitoring
Larruquert et al. Far ultraviolet optical properties of MgF2 films deposited by ion-beam sputtering and their application as protective coatings for Al
US5414506A (en) Method of measuring refractive index of thin film and refractive index measuring apparatus therefor
US20080118760A1 (en) Method For Producing A Radiation-Absorbing Optical Element And Corresponding Radiation Absorbing Optical Element
JP3614575B2 (ja) 光学的素子又は装置、これらの製造方法、及びその製造装置
US5100233A (en) Refractive index monitor for deposition of gradient-index films
CA1056328A (en) Plastic lens antireflection coating
EP0466598B1 (fr) Procédé et installation de dépôt de couches antireflet et de contrôle de leur épaisseur
US6402905B1 (en) System and method for controlling deposition thickness using a mask with a shadow that varies along a radius of a substrate
JPH08315432A (ja) 光情報記録媒体の製造装置及び製造方法
JP3497236B2 (ja) 高精度光学部品用反射防止膜
JPH11162954A (ja) 光学的手段による薄膜測定方法及び装置並びに成膜装置
JPS559543A (en) Antireflecting film formation control unit
US8059338B2 (en) Method and apparatus for coating a curved surface
Devasahayam et al. In-Situ Optical Thickness Control of Ion Beam Deposited Coatings for the Telecommunication Industry
Callard et al. New method for in situ control of Bragg reflector fabrication
RU2158897C1 (ru) Способ контроля толщины пленки в процессе ее нанесения и устройство для его реализации
Ghosh et al. Broad Band Antireflection Coating on Zinc Selenide from 2 to 12 µm Wavelength Region
WO2006047314A2 (en) Optical element with an opaque chrome coating having an aperture and method of making same
Martin et al. Reflective coatings for large‐area solar concentrators