RU98103246A

RU98103246A - Проверка алмаза

Info

Publication number: RU98103246A
Application number: RU98103246/28A
Authority: RU
Inventors: Марк Велборн Кристофер; Филлип Смит Мартин; Гордон Чартес Смит Джеймс; Мартин Спир Пол; Морис Мартино Филип; Купер Мартин
Original assignee: Джерсан Эстаблишмент
Priority date: 1995-07-24
Filing date: 1996-07-22
Publication date: 2000-04-20

Claims

1. Способ проверки наличия на природном алмазе нанесенного на него слоя синтетического алмаза, включающий облучение алмаза излучением высокой энергии для возбуждения эмиссии люминесценции алмазом, сканирование для раздельного определения люминесценции, эмитируемой различными зонами поверхности алмаза, и определение наличия существенных изменений в люминесценции от одной зоны к другой для определения наличия слоя синтетического алмаза, нанесенного на алмаз.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что алмаз облучают излучением, содержащим излучение с длиной волны менее 225 нм.

3. Способ по п.1 или 2, отличающийся тем, что образуют сигналы, зависящие от люминесценции, эмитируемой соответствующими различными зонами.

4. Способ по п.3, отличающийся тем, что сигналы зависят от интенсивности люминесценции.

5. Способ по п.3 или 4, отличающийся тем, что автоматически обнаруживают различия в отдельных сигналах люминесценции и создают индикаторный сигнал для автоматической классификации алмаза как имеющего слой нанесенного на него слоя синтетического алмаза, если различия превышают заданное значение.

6. Способ по п.5, отличающийся тем, что индикаторный сигнал генерируют, если интенсивность люминесценции от одной зоны к другой изменяется на заданную величину в течение заданного периода времени.

7. Способ по одному из пп.1 - 4, отличающийся тем, что наличие существенного изменения в люминесценции от одной зоны к другой определяют глазом.

8. Способ по одному из предшествующих пунктов, отличающийся тем, что сканирование осуществляют посредством облучения алмаза лучом, который меньше чем алмаз, так что облучают только зону лицевой поверхности алмаза, и посредством относительного перемещения алмаза и луча, так что луч последовательно облучает различные зоны алмаза.

9. Способ по п.8, отличающийся тем, что луч неподвижен и перемещают алмаз.

10. Способ по п.8, отличающийся тем, что луч неподвижен и вращают алмаз.

11. Способ по одному из пп.8 - 10, отличающийся тем, что алмаз установлен внутри интегрирующей оболочки.

12. Способ по одному из предшествующих пунктов, отличающийся тем, что алмаз облучают лучом, образующим пятно с поперечным размером 2 - 100 мкм.

13. Устройство для проверки наличия нанесенного на алмаз слоя синтетического алмаза, содержащее: опору для установки алмаза; средства для облучения алмаза, установленного на опору, излучением высокой энергии для возбуждения эмиссии люминесценции алмазом; сканирующие средства для обеспечения получения раздельных сигналов, зависящих от люминесценции, эмитируемой множеством соответствующих различных зон поверхности алмаза; и средства для индикации на основе указанных сигналов наличия нанесенного на алмаз слоя синтетического алмаза.

14. Устройство по п.13, отличающееся тем, что предусмотрено средство для облучения алмаза излучением, содержащим излучение с длиной волны менее 225 нм.

15. Устройство по п.13 или 14, отличающееся тем, что сигналы зависят от интенсивности люминесценции.

16. Устройство по одному из пп.13 - 15, содержащее средства для автоматического обнаружения различий в раздельных сигналах люминесценции и для генерирования индикаторного сигнала для автоматической классификации алмаза на наличие нанесенного на него слоя синтетического алмаза, если различия превысили заданного значение.

17. Устройство по п.16, отличающееся тем, что генерирующее средство генерирует индикаторный сигнал, если интенсивность люминесценции изменяется от одной зоны к другой на заданную величину в течение заданного периода времени.

18. Устройство по одному из пп.13 - 17, отличающееся тем, что предусмотрено облучающее средство для облучения алмаза лучом, который меньше, чем алмаз, так что облучению подвергается только зона лицевой поверхности алмаза, и сканирующее средство обеспечивает относительное перемещение алмаза и луча, так что луч последовательно облучает различные зоны алмаза.

19. Устройство по п.18, отличающееся тем, что предусмотрены облучающие средства для облучения алмаза неподвижным лучом и средства для перемещения опоры.

20. Устройство по п.18, отличающееся тем, что предусмотрены облучающие средства для облучения алмаза неподвижным лучом и средства для вращения опоры.

21. Устройство по одному из пп.8 - 10, отличающееся тем, что опора алмаза находится в интегрирующей оболочке.

22. Устройство по одному из пп.13 - 21, отличающееся тем, что предусмотрено облучающее средство для облучения алмаза лучом, создающим на алмазе пятно с поперечным размером 5 - 100 мкм.

23. Способ проверки наличия нанесенного на природный алмаз слоя синтетического алмаза, по существу, как здесь описано со ссылкой на фиг.1 и фиг.2 прилагаемых чертежей.

24. Устройство для проверки наличия нанесенного на природный алмаз слоя синтетического алмаза, по существу, как здесь описано со ссылкой на фиг.1 и фиг.2 прилагаемых чертежей.