KR970705750A - 다이아몬드 시험 장치 및 방법(examining a diamond) - Google Patents

다이아몬드 시험 장치 및 방법(examining a diamond)

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KR970705750A
KR970705750A KR1019970701462A KR19970701462A KR970705750A KR 970705750 A KR970705750 A KR 970705750A KR 1019970701462 A KR1019970701462 A KR 1019970701462A KR 19970701462 A KR19970701462 A KR 19970701462A KR 970705750 A KR970705750 A KR 970705750A
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KR
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diamond
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KR1019970701462A
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마틴 스미스.
재임스 스미스.
마틴 쿠퍼.
필립. 모리스 마티노이.
크리스토퍼. 마크 웰번.
Original Assignee
롤프샌트스키, 워너스키웨이터
게르산 에스타블리쉬멘트
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Publication date
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/87—Investigating jewels

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

다이아몬드(4)가 자체상에 적층된 합성 다이아몬드층을 가지고 있는가 또는 그렇지 않는가를 시험하기 위해서, 상기 다이아몬드를 보유하는 광속구(2) 내의 대체로 230nm 내지 320nm 범위의 파장의 방사선의 복사속밀도를 측정함으로써 보석의 천연 부분의 표면적이 측정된다.

Description

다이아몬드 시험 장치 및 방법(EXAMINING A DIAMOND)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 다이아몬드를 시험하기 위한 본 발명에 따른 장치를 개략적으로 도시하는 도면.

Claims (14)

  1. 다이아몬드가 자체상에 적층된 다이아몬드층을 가지고 있는가 또는 그렇지 않는가를 시험하기 위한 방법에 있어서, 대체로 230nm 내지 320nm 범위의 파장의 방사선을 포함하는 방사선으로 다이아몬드를 조사하는 단계, 대체로 230nm 내지 320nm 범위의 파장의 방사선을 강하게 흡수하는 다이아몬드 구역의 표면적을 다이아몬드의 총 표면적과 비교하는 단계, 및 첫번째로 언급한 지역이 총 표면적과 다른 경우 합성 다이아몬드층의 존재를 추론하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 다이아몬드를 광속체 내에 위치시키는 단계, 방사선이 다이아몬드를 때리기 전에 상기 광속체의 표면을 때리도록 상기 광속체의 내부를 조사하는 단계, 및 첫번째로 언급한 방사선을 강하게 흡수하는 다이아몬드 구역의 표면적에 종속하는 신호를 주도록, 상기 광속체 내에서 230nm 내지 320nm 범위의 파장의 방사선 선속을 감지하는 단계를 포함하는 방법.
  3. 청구항 2에 있어서, 대체로 230nm 이하의 파장으로 되어 있는 다른 방사선으로 상기 광속체의 내부를 조사하는 단계, 다이아몬드의 총 표면적에 종속하는 두번째 신호를 주도록, 상기 다른 방사선의 광속체 내의 선속을 감지하는 단계, 및 상기 첫번째 신호와 두번째 신호를 비교하는 단계를 포함하는 방법.
  4. 청구항 2 또는 청구항 3에 있어서, 상기 첫번째로 언급한 방사선을 강하게 흡수하는 다이아몬드 구역의 표면적에 종속하는 신호를 주도록, 상기 다이아몬드가 광속체 내에 있을 때 대체로 230nm 내지 320nm 범위의 파장의 방사선 선속을 나타내는 신호와 상기 광속체 내에 다이아몬드가 없을 때 광속체 내의 상기 방사선 선속에 종속하는 신호를 결합하는 단계를 포함하는 방법.
  5. 청구항 4에 있어서, 상기 다이아몬드의 총 표면적에 종속하는 신호를 주도록, 상기 다이아몬드가 광속체 내에 있을 때 상기 광속체 내의 다른 방사선의 선속에 종속하는 신호와 상기 광속체 내에 다이아몬드가 없을 때 광속체 내의 다른 방사선의 선속에 종속하는 신호를 결합하는 단계를 포함하는 방법.
  6. 상기 항들 중 임의의 항에 있어서, 자동적으로 수행되게 되는 방법.
  7. 다이아몬드가 자체상에 적층된 합성 다이아몬드층을 가지고 있는가 또는 그렇지 않는가를 시험하기 위한 장치에 있어서, 대체로 230nm 내지 320nm 범위의 파장이 방사선을 강하게 흡수하는 다이아몬드 구역의 표면적에 종속하는 신호를 주기 위한 장치, 및 상기 첫번째로 언급한 방사선을 강하게 흡수하지 않는 합성 다이아몬드층의 존재를 검출하도록, 상기 신호를 다이아몬드의 총 표면적과 비교되게 하기 위한 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  8. 청구항 7에 있어서, 합성 다이아몬드층이 존재하는가를 지시하는 신호를 주기 위하여, 상기 첫번째로 언급한 신호 및 상기 다이아몬드의 지역을 나타내는 신호가 입력되게 되는 장치를 포함하는 장치.
  9. 청구항 7 또는 청구항 8에 있어서, 다이아몬드를 감싸기 위한 광속체, 상기 다이아몬드를 때리기 전에 상기 광속체의 표면을 때리도록, 자외선 방사선으로 상기 광속체의 내부를 조사하기 위한 장치, 및 상기 첫번째로 언급한 방사선을 강하게 흡수하는 다이아몬드 구역의 표면적에 종속하는 신호를 주도록, 상기 광속체내의 대체로 230nm 내지 320nm 범위의 파장의 방사선 선속을 감지하기 위한 장치를 포함하는 장치.
  10. 청구항 9에 있어서, 상기 다이아몬드가 상기 광속체 내에 있을 때 약 230nm 이하의 파장의 방사선 선속을 감지하기 위한 장치를 포함하며, 상기 다이아몬드의 총 표면적을 나타내는 다른 신호를 제공하기 위한 장치, 및 상기 첫번째로 언급한 신호와 상기 다른 신호를 비교하기 위한 장치를 포함하는 장치.
  11. 청구항 10에 있어서, 대체로 230nm 내지 320nm 범위의 파장의 방사선을 선속 을 나타내는 신호를 주기 위한 장치가, 자체 상에 입사하는 방사선의 세기를 나타내는 신호를 주기 위한 장치, 및 대체로 230nm 내지 320nm 범위의 파장의 방사선 또는 약 230nm 이하의 파장의 방사선을 검출기로 선택적으로 투과시키기 위한 변경 가능한 필터 장치를 포함하는 장치.
  12. 청구항 내지 청구항 11중 임의의 항에 있어서, 청구항 1 내지 청구항 6중 임의의 항의 방법을 수행하도록 되어 있는 장치.
  13. 다이아몬드가 자체상에 적층된 합성 다이아몬드층을 가지고 있는가 또는 그렇지 않은가를 시험하는 방법에 있어서, 대체로 첨부 도면을 참조로 하여 상술한 바와 같은 방법.
  14. 다이아몬드가 자체상에 적층된 합성 다이아몬드층을 가지고 있는가 또는 그렇지 않은가를 시험하는 방법에 있어서, 대체로 첨부 도면을 참조로 하여 상술한 바와 같은 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970701462A 1994-09-07 1995-09-05 다이아몬드 시험 장치 및 방법(examining a diamond) KR970705750A (ko)

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