JPH11509629A - ダイヤモンドの検査 - Google Patents

ダイヤモンドの検査

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JPH11509629A
JPH11509629A JP9506452A JP50645297A JPH11509629A JP H11509629 A JPH11509629 A JP H11509629A JP 9506452 A JP9506452 A JP 9506452A JP 50645297 A JP50645297 A JP 50645297A JP H11509629 A JPH11509629 A JP H11509629A
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マーク ウェルボーン,クリストファー
フィリップ スミス,マーティン
ゴードン チャーターズ スミス,ジェームズ
マーティン スペア,ポール
モーリス マルティノ,フィリップ
クーパー,マーティン
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ゲルザン エスタブリッシュメント
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Abstract

(57)【要約】 ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを試験するために、それは発光の放射を引き起こす高エネルギーの紫外線放射で照射され、ダイヤモンドの異なる領域により生成された発光強度が測定され、比較される。一実施例において積分格納装置(15)が使用され、ダイヤモンド(13)が回転可能な台(14)上に搭載される。

Description

【発明の詳細な説明】 ダイヤモンドの検査発明の背景 本発明は、天然ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有 するか否かを検査する方法と装置に関する。これは、ダイヤモンドが完全な天然 のものか否かまたはその一部がCVDダイヤモンド物質であるか否かを試験する ことにおいて、そしてもし存在するならばかかる物質のありかを見つけることに おいても特に重要である。 合成ダイヤモンド物質は、その後例えばラウンド ブリリアント カットに組 み込まれる未カッティングの若しくは部分処理された天然ダイヤモンド上に堆積 される。更に、合成ダイヤモンド物質の被膜は宝石の加工の後に完全に仕上がっ たブリリアントカットの宝石上に堆積される。合成ダイヤモンドの層の厚さはと ても薄いが(5ミクロンから10ミクロンまでの範囲内が可能)、本発明はより 薄い層を検出するためにも使用される。 ダイヤモンドの価値はその重量に一部依存する。従って、仕上がった製品の重 量を増やすためにダイヤモンドのカッティングの前後に、合成ダイヤモンド物質 が天然宝石ダイヤモンド上に堆積される。 しかし、ダイヤモンドの価値はまた、その真正さ及び希少さの質にあり、完全 に天然の(即ち、採掘された)生成物であるという事実にある。従って、合成ダ イヤモンド物質の堆積により大きくされていないダイヤモンドはそうされたダイ ヤモンド以上の価値を有する。 長年にわたり、多数のダイヤモンド物質の合成方法が開発されて きた。これらの方法の一つは、気体から基板上への合成ダイヤモンド(この記載 中ではCVDダイヤモンド物質を称す)の堆積を含む低圧技術である化学蒸着( CVD)技術である。物理蒸着等の他の技術が提案されているが、CVDは合成 ダイヤモンドがダイヤモンド上に堆積される最も好ましい方法である。CVD若 しくは同様のダイヤモンド物質の堆積により人工的に大きくされたダイヤモンド は、この記載中”CVD/天然ダイヤモンドダブレット”と称される。 CVDダイヤモンド物質はダイヤモンドではない基板若しくはダイヤモンドの 基板の上に堆積される。後者の場合、CVDダイヤモンド物質はダイヤモンド基 板の構造を複製できる(”ホモエピタキシャル成長”と称される)。製造された CVD/天然ダイヤモンドダブレットは、外見上、密度や他の通常の物理的性質 が完全に天然の宝石と同一になりえて、かかるCVD/天然ダイヤモンドダブレ ットの識別については課題がある。 ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを試 験する方法及び装置を提供することが本発明の目的である。 装置は単純であって高価でなく、比較的に熟練されてない人によって操作の実 施がされるのが望ましい。その方法と装置は研究室の宝石学分析の訓練を受けて いない熟練の宝石工により確実且つ矛盾無く操作されうる必要がある。その方法 と装置は一度に数多くの宝石をスクリーニングするのに適する必要があり、自動 化に適する必要がある。 英国特許出願第9404309.8号は、ダイヤモンドが電子若しくは高エネ ルギーの紫外線放射により発光するようにされ、得られた発光(ルミネセンス) のパターンが表面の合成ダイヤモンドの領域を検出するために観測される、ダイ ヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを決定する 方法を開示す る。好ましくは、全ダイヤモンドが照射され、パターンは拡大手段を通して若し くはCCDカメラによりスクリーン上で目視により観測される。 本発明は、各領域は発光の放射を励起若しくは刺激するために高エネルギーの 放射を用いてその領域を照射することにより観測されるよう、ダイヤモンドの表 面の多数の領域を観測し、発光の強度を評価することよりなる、ダイヤモンドが その上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを試験する方法を提供 する。 本発明は更に、搭載手段と、該搭載手段に可動的に搭載されたダイヤモンドの 支持体と、発光の放射を励起若しくは刺激するために高エネルギーの放射を用い て該支持体に支持されたダイヤモンドを照射する手段と、該支持体に搭載された ダイヤモンドが照射される時に生成された発光の強度に依存する信号を与える手 段とからなる、ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有す るか否かを試験する装置を提供する。搭載手段に対して該支持体を駆動する手段 が設けられる。その搭載手段は該照射手段に対して固定される。 本発明は更に、ダイヤモンドのための支持体を有する積分格納装置と、該支持 体に搭載されたダイヤモンドの領域を照射する手段と、該積分格納装置中のダイ ヤモンドが照射される時に生成される該積分格納装置中の発光の光束強度に依存 する信号を与える手段とからなる、ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイ ヤモンドの層を有するか否かを試験する装置を提供する。ダイヤモンドの支持体 は該積分格納装置に対して可動であり駆動手段により駆動される。 発明者は、ダイヤモンドの異なる領域の発光における実質的な違いの探索が合 成ダイヤモンド物質の表面層の在り処を見出す特に単純な方法を提供することを 発見した。画像形成若しくは操作者による複雑な画像の目視による解釈は、英国 特許出願第9404309.8号と同様に必要とされない。 発光(ルミネセンス)により、それを引き起こす照射する放射と一般に異なる 波長からなる発せられた放射が意味される。 発光強度は測定されることが好ましい。好ましくは、各領域からの発光の強度 に依存する信号が生成される。更に、ダイヤモンドの表面は照射する放射のビー ムにより走査され、一の領域と次のとの間の発光強度における有意な変化が検出 される。 ダイヤモンドは適当な波長の紫外線照射により照射される。実質的に全ての天 然ダイヤモンドは225nm以下の波長の放射で照射される場合に発光を放射す る。従って、225nmより小さい若しくはほぼ等しい波長の放射を使用するこ とが好ましい。照射する放射は実質的に単色であるか、又は波長の範囲幅若しく は組からなる。 ダイヤモンドの表面領域のみ優勢に照射され、発光放射が引き起こされること が好ましい。これは、合成ダイヤモンド物質の層が相対的に薄いからである。照 射する放射が合成ダイヤモンド物質の薄層の厚さよりはるかに先の深さまで侵入 する場合、発光は下にある天然ダイヤモンド物質から生成されえ、合成ダイヤモ ンド層からの発光を混同若しくは圧倒する。 この理由のためにまた、ダイヤモンドは、全ての型のダイヤモンドによってと ても強く吸収される225nmより小さい若しくはほぼ等しい波長の放射を用い て照射される。このことは英国特許出願第9404309.8号に詳細に記載さ れている。 照射する放射は225nmより大きい波長の放射を含みうる。225nmより 大きい波長の一定の放射域は異なる型のダイヤモンドにおいて異なる吸収特性を 有する。従って、かかる放射は理論的に研究された層を貫きえて、結果を混同し うるダイヤモンドの他の領域での発光放射を引き起こす。225nmよりもはる かに大きい波長の照射する放射は発光放射と混同される。225nmよりも大き い波長の放射は、問題の領域から離れたダイヤモンドの部分からの発光が発光観 測におけるコントラストを圧倒若しくは減少しないよ うに、十分に低い強度であるべきことが望ましい。好ましくは照射エネルギーの 少なくとも50%が225nmより小さい波長にある。しかし、好ましくは22 5nmより大きい波長の放射は適当なフィルターにより実質的に除去される必要 がある。 ダイヤモンドは更に適当なエネルギーの電子ビームを用いて照射されうるが、 その時その装置は複雑である。 照射する放射は観測可能な発光を発生するのに十分な強度のものである必要が ある。 照射する放射は適当な手段、例えばレーザ若しくは他のソースにより発生され うる。照射する放射は適当な手段により宝石上に導かれる。しかし、通常の光学 装置による短波長紫外線放射の減衰は高程度であり、短い紫外波長で高い透過性 を有する光学装置を使用することが好ましい。 180nmより短い波長の照射は通常のUV光学装置及び空気中の酸素により 減衰され、装置により効果的にフィルター除去される。 好ましくは、放射はダイヤモンド上に焦点が合わせられる。より好ましくは、 放射はダイヤモンドの全存在表面領域より小さいダイヤモンドの領域上に焦点が 合わせられる。最も好ましくは、放射は小さいスポットに焦点が合わせられ、ダ イヤモンドの表面上を走査される。 英国特許出願第9404309.8号に詳細に記載されているように、225 nmより小さい波長の放射はダイヤモンドの表面領域でほとんど吸収される。こ のことは、与えられた領域が照射される時に観測される発光が照射された領域の 表面の構成にほとんど依存するという点で本発明における助けとなる。 ダイヤモンド(天然若しくは合成)の多様な型で観測された発光放射域は広い 範囲内にあり、一般にスペクトルの可視部にある。比較的狭い領域若しくは比較 的広い領域にある発光の強度への信号依存性が与えられる。後者の場合、照射の 放射を除去するためにカッ ト−オフフィルターが設けられる。 天然ダイヤモンド上に堆積された合成ダイヤモンド層は、その発光がダイヤモ ンドの天然部分の発光と異なる色であり、又はより重要には、ダイヤモンドの天 然部分の発光に対して異なる強度のものである場合、識別可能である。従って、 多数の領域が試験され、ダイヤモンドの異なる領域によって生成される発光強度 における有為な差異(例えば、およそ80%、好ましくは50%の強度の、若し くはより高いものより低い信号)はCVD/天然ダイヤモンドダブレットを示す 。発光強度における差異は合成ダイヤモンドの層中では生じえない。本発明は有 用なガイドを提供する。しかし、更なる試験が有益である。 異なる領域での発光の差異を検出するために二三の領域(多分二つのみ)を試 験するのみで十分である。しかし、好ましくは多数の領域が観測される。 本発明の方法における放射の強度は目視により評価される。この場合、手段は 観測者から危険な紫外線放射を取り除くため設けられる必要がある。発光が目視 により評価される場合、照射する放射が問題の領域に制限され他の領域の照射が 回避されうるとすると、照射された領域の画像を形成する必要はない。その場合 、ダイヤモンドよりむしろ発光は実際に観測される。 好ましくは、観測された放射は照射する放射を含まない。少量の照射する放射 が、それが発光を圧倒しない場合、観測された放射中で許容される。 発光放射された放射は何れか適当な手段により検出される。例えば、ダイヤモ ンドから検出器へと発光放射された放射を導くために配置されるビームスピリッ ターが照射する放射の部分に設置される。照射する放射をファルター除去するた めのフィルターが検出器用に設けられる。 更に、ダイヤモンドは積分格納装置中に置かれ、ダイヤモンドの 領域が照射する放射により照射される。積分格納装置は、与えられた領域が照射 される時に積分格納装置中で生成された発光強度に依存する信号を与える検出器 が備えられる。検出器は照射する放射をフィルター除去するフィルターを含む。 好ましくは、積分格納装置は積分球から成る。 積分格納装置が使用される場合、問題のダイヤモンドの領域は照射されて実質 的に他の領域はない必要がある。 ダイヤモンドは、例えばダイヤモンドと放射ソースとの間の開口部により生成 される制限された寸法のビームを使用して照射される。 好ましくは、ダイヤモンドの単一領域は一度に照射され、多数のかかる領域は 連続して照射される。しかし、ダイヤモンドの異なる多数の領域は独立に一斉に 照射され、信号は設けられた各領域それぞれにより生成された発光の強度に依存 し、連続的若しくは同時に観測結果が実質的に比較される。 ダイヤモンドは、ダイヤモンドの他の部分からの光の混入を減じるために、問 題の領域が開口部と接するように設置される。この配置は、ビームスピリッター が検出器への発光通過のための照射経路中に設けられる場合に特に適する。 制限されたビームは変化可能な寸法のもの又は固定された寸法のものである。 それは、加工されるダイヤモンドの切り子面若しくは切り込面の一部のサイズに 対応する。好ましくは、制限されたビームはダイヤモンドの最大寸法より小さい か、又はこれが可能なようにサイズの調整が可能である。開口部は1−15mm 径のサイズのものであり、好ましくは5−10mmである。最高の結果のために サイズの調整が可能な絞り開口部が設けられる。 より好ましくは、ビームは1ミクロン−1mm、好ましくは5−100ミクロ ン径のサイズの小さなスポットに焦点を合わされ、好ましくはダイヤモンド上を 走査される。 ダイヤモンドから発する放射はフィルターを通って検出器へ通さ れる。好ましくは、フィルターは照射する放射をフィルター除去するカット−オ フフィルターである。別のさらなるフィルターが選択された発光領域を通すため に設けられる。例えば、それぞれが異なる波長の光を通す多数の交換可能なフィ ルターが使用されうる。 ビームはダイヤモンドの表面上を走査される(即ち、連続的若しくはほぼ連続 的に移動される)ことが好ましい。ビームの走査手段はダイヤモンドに対してビ ームを移動する手段の形態で設けられる。例えば、ダイヤモンドは放射のビーム と一致しない軸の回りを回転される。好ましくは、その軸は放射のビームと垂直 である。手段が、例えば放射のビームに垂直な二つの方向において、ダイヤモン ドを放射のビームに対して直線的に移動するために設けられる。 ダイヤモンドにより発せられる放射の強度が所定の値を超える量により変化す る場合、信号を与える手段が設けられる。これはダイヤモンドが連続的に走査さ れる場合特に有用である。それは表面構成の変化が素早く識別されるようにする 。例えば、信号を与える手段は、放射の強度に依存する信号を与える手段と、放 射の強度が与えられた量で変化する場合に変化信号を与える信号発生手段とから なる。例えば、変化信号は、測定された放射の強度が5%、好ましくは10%よ り多く、より好ましくは20%より大きく変化する場合に与えられる。 信号発生手段は、放射の強度が所定の時間期間内で所定量が変化する場合にの み変化信号が与えられるようにタイマーからなる。信号が与えられる前に信号が 変化すべき時間期間及び/又は量を変更するための手段が設けられる。 本発明の一の実施例において、発光強度が測定される間、ダイヤモンドは回転 可能な台に設置されて連続的に回転される。より高い若しくは低い強度のはるか にブロードなパルスにより追随されたノイズのある若しくは調節されたDC信号 (ダイヤモンドの構成における天然発生のわずかな局所的差異、並びに内部の反 射及び屈折に よりもたらされる発光強度の変化)はCVD/天然ダイヤモンドダブレットを示 す。 好ましくは、ダイヤモンドは統計的に改善された読み取りを与えるように統計 的に組み合わされる多数の読み取りを与えるために多数回回転される。 本発明は好ましくは発光、即ち電子ビーム若しくは高エネルギーの紫外線放射 を用いて照射されるときにダイヤモンドの領域により効果的に瞬時に生成される 発光と共に使用される。 本発明の装置は好ましくは遮光箱中に封入される。これは外部ソースからの放 射が検出器に到達することを排除し、潜在的に有害な高エネルギーの紫外線放射 が漏れて皮膚や目への損傷を引き起こすことを防ぐためである。 本発明は添付の図面に関する例のみにより更に記載される。 図1は第一実施例に従い、本発明を実施する装置の模式図である。 図2は第二実施例に従い本発明を実施する装置の模式図である。 図3は得られた信号出力のダイヤグラムを示す。図面の詳細な説明 図1の1のように一般に設計された装置において、ダイヤモンド2は回転可能 で短波紫外光及び可視光に対して透明である台3の中若しくは上に搭載される。 ダイヤモンドは225nmより短い波長の紫外線放射により照射される。放射は ソース4(キセノンフラッシュランプ、重水素ランプ若しくは紫外レーザ等)に より発生される。照射する放射は観測される発光のコントラストを改善するため に可視放射を除去するカット−オフフィルター5を通ってフィルターリングされ る。放射はレンズ6によりダイヤモンドの小さな領域上に焦点が合わせられる。 ダイヤモンドの小さな領域は発光放射するようにされ、照射された領域の局所的 な構成に依存する強度と色の発光を発生する。この発光の一部は、225nmよ り短い波長 の放射を除去するためのフィルター9を有するレンズシステム8を通って発光を 通過させるビームスピリッター7に向かって照射の方向にそって逆に通過し、そ の発光は光電子増倍管10上に焦点が合わせられる。光電子増倍管10は、発生 する発光に依存する信号を表示するためにプロセッサー11及びモニター12に 接続される。 本発明の方法の好ましい実施例において、ダイヤモンドの多数の領域は回転可 能な台3に対してダイヤモンドを固定し、放射の接点がダイヤモンドの表面上を 移動するように装置の残りの部分に対してその台(及びダイヤモンド)を回転さ せることにより照射される。台もまた、宝石の全高さが繰り返しの回転により走 査可能であるように、ビームに対し及び回転軸に対し垂直な方向に可動である。 図1に示されたダイヤモンド2はダイヤモンドの台の上にCVD合成ダイヤモ ンド物質の層を有するCVD/ダイヤモンドダブレットである。ダイヤモンド2 が回転されるに従いモニター12上に表示された光電子増倍管10からの信号は 、異なる強度の発光をもたらす宝石の合成部分の上を照射する放射の焦点が移動 するに従い、より低い(若しくはより高い)ノイズのあるDC信号への比較的ブ ロードな下落によって追随される、照射する放射が宝石の天然部分上を通過する 場合の”ノイズのあるDC”信号である。 ”ノイズ”はダイヤモンドの構成における小さな局所的な変化、外部及び内部 の反射および屈折等による。 図1の装置は発光の色を検出することは意図されないが、検出器の前に多数の 交換可能な色付きフィルターを設けることにより変更してもよい。 図1に用いられた光学装置はSpindler & Hoyerにより製造されたもの等のUV 透過光学装置である。 図2は本発明の第二実施例に従う方法を実施する模式的な装置を示す。その装 置において、CVD/天然ダイヤモンドダブレットであるダイヤモンド13は図 1に示された台3と同様の回転可能な台 上に搭載される。台とダイヤモンドは可視範囲で良好な反射を持つ物質で裏打ち される積分球15の内部に設置される。ダイヤモンドは紫外ソース16を使用し て照射される。ソースからの光は225nmより高い波長の光を除去するフィル ター17を通り、レンズ18によりダイヤモンド13の表面上若しくは表面近く に焦点あわせされる。照射する放射は225nmより短い波長のものであり、従 って発光放射を引き起こす。発光波長(s)での光の発光の光束密度を検出する 装置は光電子増倍管19の形態で設けられる。フィルター20は照射する放射を フィルター除去するために設けられ、バッフル21は光電子増倍管19へと通過 する放射その球の中の発光の光束密度の典型となることを可能とするために積分 球15中に設けられる。プロセッサー22及びモニター23は光電子増倍管19 により生成された信号を示すために設けられる。 ダイヤモンド13がCVD/天然ダイヤモンドダブレットである場合、台14 とダイヤモンド13が回転される時に光電子増倍管19により生成される信号は 図1のモニターにより示されたものと同様である。 図3は、図2若しくは1の光電子増倍管19若しくは10によりそれぞれ生成 された信号をより詳細に示す。ダイヤモンドの天然の変化による信号の変動は、 変動が強度においてより低く、回転角のより狭い範囲に広がる合成ダイヤモンド の層による信号の変化と異なる。 別の実施例において、プロセッサー22若しくは11は光電子増倍管19若し くは10からの受容信号の変化の速度を測定するためにプログラムされる。プロ セッサー11若しくは22は台3若しくは14を回転する手段にそれぞれ接続さ れる。時間に関する又は台3若しくは14の位置に関する信号の変化の速度は測 定される。処理手段11若しくは22は、光電子増倍管10若しくは19からの 信号の変化の速度が与えられた値を超える場合に信号を与えるよう にプログラムされる。信号は、例えばダイヤモンドの発光における”ジャンプ” が検出されたことを示すためのモニター12若しくは23上にその後示される。 発光におけるかかる”ジャンプ”は合成ダイヤモンド層の存在と相関しうる。 上述された本発明はあくまで例示であり、改良は本発明の思想の範囲内でなさ れうる。本発明はまた、ここに記載若しくは暗に示された又は図中に示され若し くは暗に示された何れかの固有の特徴、或いは係る特徴又はかかる特徴若しくは 組合せの一般化の組み合わせからなる。
【手続補正書】特許法第184条の8第1項 【提出日】1997年7月23日 【補正内容】 きた。これらの方法の一つは、気体から基板上への合成ダイヤモンド(この記載 中ではCVDダイヤモンド物質を称す)の堆積を含む低圧技術である化学蒸着( CVD)技術である。物理蒸着等の他の技術が提案されているが、CVDは合成 ダイヤモンドがダイヤモンド上に堆積される最も好ましい方法である。CVD若 しくは同様のダイヤモンド物質の堆積により人工的に大きくされたダイヤモンド は、この記載中”CVD/天然ダイヤモンドダブレット”と称される。 CVDダイヤモンド物質はダイヤモンドではない基板若しくはダイヤモンドの 基板の上に堆積される。後者の場合、CVDダイヤモンド物質はダイヤモンド基 板の構造を複製できる(”ホモエピタキシャル成長”と称される)。製造された CVD/天然ダイヤモンドダブレットは、外見上、密度や他の通常の物理的性質 が完全に天然の宝石と同一になりえて、かかるCVD/天然ダイヤモンドダブレ ットの識別については課題がある。 ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを試 験する方法及び装置を提供することが本発明の目的である。 装置は単純であって高価でなく、比較的に熟練されてない人によって操作の実 施がされるのが望ましい。その方法と装置は研究室の宝石学分析の訓練を受けて いない熟練の宝石工により確実且つ矛盾無く操作されうる必要がある。その方法 と装置は一度に数多くの宝石をスクリーニングするのに適する必要があり、自動 化に適する必要がある。 英国特許第2 275 788A号は、ダイヤモンドが電子若しくは高エネル ギーの紫外線放射により発光するようにされ、得られた発光(ルミネセンス)の パターンが表面の合成ダイヤモンドの領域を検出するために観測される、ダイヤ モンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを決定する方 法を開示す 本発明はまた、ダイヤモンドを支持する支持体と;ダイヤモンドによる発光の 放射を励起するために、該支持体に支持されたダイヤモンドを高エネルギーの放 射で照射する手段と;該ダイヤモンド表面の複数のそれぞれ異なる領域により発 せられる発光に依存する別々信号を提供する走査手段と;該ダイヤモンドがその 上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを該信号に基づき示す手段 とからなる、天然ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有 するか否かを試験する装置を提供する。照射手段が、ダイヤモンドの対向する表 面の領域のみが照射されるようにダイヤモンドより小さい固定されたビームでダ イヤモンドを照射するものであることが好ましい場合、走査手段はそのビームが 連続的にダイヤモンドの異なる領域を照射するようにダイヤモンドとそのビーム との間の相対的な動きをもたらしうる。走査手段は、固定されたビームを有し、 全装置の搭載手段に対して支持体を駆動若しくは移動する手段を提供することに より実施されえ、照射手段は搭載手段に対して固定される。 発明者は、ダイヤモンドの異なる領域の発光における実質的な違いの探索が合 成ダイヤモンド物質の表面層の在り処を見出す特に単純な方法を提供することを 発見した。画像形成若しくは操作者による複雑な画像の目視による解釈は、英国 特許第2 275 788A号と同様に必要とされない。 この理由のためにまた、ダイヤモンドは、全ての型のダイヤモンドによってと ても強く吸収される225nmより小さい若しくはほぼ等しい波長の放射を用い て照射される。このことは英国特許第2 275 788A号に詳細に記載され ている。 照射する放射は225nmより大きい波長の放射を含みうる。225nmより 大きい波長の一定の放射域は異なる型のダイヤモンドにおいて異なる吸収特性を 有する。従って、かかる放射は理論的に研究された層を貫きえて、結果を混同し うるダイヤモンドの他の領域での発光放射を引き起こす。225nmよりもはる かに大きい波長の照射する放射は発光放射と混同される。225nmよりも大き い波長の放射は、問題の領域から離れたダイヤモンドの部分からの発光が発光観 測におけるコントラストを圧倒若しくは減少しないように、十分に低い強度であ るべきことが望ましい。好ましくは照射エネルギーの少なくとも50%が225 nmより小さい波長にある。しかし、好ましくは225nmより大きい波長の放 射は適当なフィルターにより実質的に除去される必要がある。 ダイヤモンドは更に適当なエネルギーの電子ビームを用いて照射されうるが、 その時その装置は複雑である。 照射する放射は観測可能な発光を発生するのに十分な強度のものである必要が ある。 照射する放射は適当な手段、例えばレーザ若しくは他のソースにより発生され うる。照射する放射は適当な手段により宝石上に導かれる。しかし、通常の光学 装置による短波長紫外線放射の減衰は高程度であり、短い紫外波長で高い透過性 を有する光学装置を使用することが好ましい。 180nmより短い波長の照射は通常のUV光学装置及び空気中の酸素により 減衰され、装置により効果的にフィルター除去される。 好ましくは、放射はダイヤモンド上に焦点が合わせられる。より好ましくは、 放射はダイヤモンドの全存在表面領域より小さいダイ ヤモンドの領域上に焦点が合わせられる。最も好ましくは、放射は小さいスポッ トに焦点が合わせられ、ダイヤモンドの表面上を走査される。 英国特許第2 275 788A号に詳細に記載されているように、225n mより小さい波長の放射はダイヤモンドの表面領域でほとんど吸収される。この ことは、与えられた領域が照射される時に観測される発光が照射された領域の表 面の構成にほとんど依存するという点で本発明における助けとなる。 ダイヤモンド(天然若しくは合成)の多様な型で観測された発光放射域は広い 範囲内にあり、一般にスペクトルの可視部にある。比較的狭い領域若しくは比較 的広い領域にある発光の強度への信号依存性が与えられる。後者の場合、照射の 放射を除去するためにカッ にプログラムされる。信号は、例えばダイヤモンドの発光における”ジャンプ” が検出されたことを示すためのモニター12若しくは23上にその後示される。 発光におけるかかる”ジャンプ”は合成ダイヤモンド層の存在と相関しうる。 上述された本発明はあくまで例示であり、改良は本発明の思想の範囲内でなさ れうる。 請求の範囲 1.ダイヤモンドからの発光の放射を励起するために高エネルギーの放射でダ イヤモンドを照射し、該ダイヤモンド表面の複数の異なる領域により発せられた 発光を別々に感知するために走査し、該ダイヤモンド上に堆積された合成ダイヤ モンドの層の有無を決めるために、一の領域から別の領域への発光における実質 的な変化の有無を決めることからなる、天然ダイヤモンドがその上に堆積された 合成ダイヤモンドの層を有するか否かを試験する方法。 2.該ダイヤモンドは225nmより短い波長の放射からなる放射で照射され る請求項1記載の方法。 3.該それぞれの異なる領域により発せられた発光に依存する別々信号が提供 される請求項1又は2に記載の方法。 4.該信号は発光強度に依存する請求項3記載の方法。 5.該別々の発光信号における差が自動的に検出され、該差異が所定の値を超 える場合に、その上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するとして指示信号 が該ダイヤモンドを自動的に分類する請求項3又は4に記載の方法。 6.一の領域から別の領域への発光の強度が所定の期間内に所定量だけ変化す る場合に該指示信号が発生される請求項5記載の方法。 7.一の領域から別の領域への発光における実質的な変化の有無は目により決 められる請求項1乃至4のうち何れか一項記載の方法。 8.該走査は、該ダイヤモンドの対向する表面の領域のみが照射されるように 該ダイヤモンドより小さいビームで該ダイヤモンドを照射し、該ビームが該ダイ ヤモンドの異なる領域を順次照射するように該ダイヤモンドと該ビームとの間の 相対的な移動をもたらすことにより実施される前記請求項のうち何れか一項記載 の方法。 9.該ビームは固定され、該ダイヤモンドが移動される請求項8記載の方法。 10.該ビームは固定され、該ダイヤモンドが回転される請求項 8記載の発明。 11.該ダイヤモンドは積分格納装置内で支持される請求項8乃至10のうち 何れか一項記載の方法。 12.該ダイヤモンドは、5から100ミクロン径であるスポットを提供する ビームで照射される前記請求項のうち何れか一項記載の方法。 13.ダイヤモンドを支持する支持体と; ダイヤモンドによる発光の放射を励起するために、該支持体に支持されたダイ ヤモンドを高エネルギーの放射で照射する手段と; 該ダイヤモンド表面の複数のそれぞれ異なる領域により発せられる発光に依存 する別々の信号を提供する走査手段と; 該ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを 該信号に基づき示す手段とからなる、天然ダイヤモンドがその上に堆積された合 成ダイヤモンドの層を有するか否かを試験する装置。 14.該照射手段は該ダイヤモンドを225nmより短い波長の放射からなる 放射で照射する請求項13記載の装置。 15.該信号は発光強度に依存する請求項13又は14記載の方法。 16.該別々の発光信号における差異を自動的に検出し、該差異が所定の値を 超える場合に、その上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するとして該ダイ ヤモンドを自動的に分類するために指示信号を発生する手段を含む請求項13乃 至15のうち何れか一項記載の装置。 17.該発生手段は一の領域から別の領域への発光の強度が所定の期間内に所 定量だけ変化する場合に該指示信号を発生する請求項16記載の装置。 18.該照射手段は該ダイヤモンドの対向する表面の領域のみが照射されるよ うに該ダイヤモンドより小さいビームで該ダイヤモン ドを照射するものであり、該走査手段は該ビームが該ダイヤモンドの異なる領域 を連続的に照射するように該ダイヤモンドと該ビームとの間の相対的な移動をも たらす請求項13乃至17のうち何れか一項記載の装置。 19.該照射手段は固定されたビームで該ダイヤモンドを照射するものであり 、該支持体を移動させる手段が設けられている請求項18記載の装置。 20.該照射手段は固定されたビームで該ダイヤモンドを照射するものであり 、該支持体を回転するために手段が設けられる請求項18記載の装置。 21.該ダイヤモンド支持体は積分格納装置内にある請求項8乃至10のうち 何れか一項記載の装置。 22.該照射手段は該ダイヤモンドを5から100ミクロン径である該ダイヤ モンド上のスポットを提供するビームで照射する請求項13乃至21のうち何れ か一項記載の装置。 23.実質的に添付の図面の図1若しくは図2に関してここで記載されたよう に、天然ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否 かを試験する方法。 24.実質的に添付の図面の図1若しくは図2に関してここで記載されたよう に、天然ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否 かを試験する装置。 【手続補正書】特許法第184条の8第1項 【提出日】1997年8月5日 【補正内容】 る。好ましくは、全ダイヤモンドが照射され、パターンは拡大手段を通して若し くはCCDカメラによりスクリーン上で目視により観測される。 英国特許第2 275 788A号の開示部分は天然ダイヤモンドがその上に 堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを試験することに関する。ダイ ヤモンドは好ましくは陰極線若しくは電子ビームで照射され、合成ダイヤモンド 層はその特別な成長域により識別されるが、これはかなりの技術を要する。 欧州特許出願第0425426A号は、それぞれの宝石を他の宝石から見分け るための宝石(特にダイヤモンド)を見分ける方法を開示する。即ち、それは与 えられた宝石の”指紋”を提供する。宝石は発光を引き起こされ、多数の所定の 波長での発光レベルが測定される。 英国特許第2293236A号は、天然ダイヤモンドがその上に堆積された合 成ダイヤモンドの層を有するか否かを試験するために積分球と波長230nmか ら320nmの紫外線放射の使用を開示し、ダイヤモンドは積分球内の融合シリ カ棚上に載せられ、そのテーブルを通して照射される。発明 本発明は、ダイヤモンドからの発光の放射を励起するために高エネルギーの放 射でダイヤモンドを照射し、ダイヤモンド表面の複数の異なる領域により発せら れた発光を別々に感知するために走査し、ダイヤモンド上に堆積された合成ダイ ヤモンドの層の有無を決めるために、一の領域から別の領域への発光における実 質的な変化の有無を決めることからなる、天然ダイヤモンドがその上に堆積され た合成ダイヤモンドの層を有するか否かを試験する方法を提供する。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 スミス,ジェームズ ゴードン チャータ ーズ イギリス国,バッキンガムシャー エイチ ピー13 7エーエイチ,ハイウィコム,グ ラインズウッド 5番 (72)発明者 スペア,ポール マーティン イギリス国,バークシャー エスエル6 6ディーゼット,メイデンヘッド,ポート ロック・ロード 70番 (72)発明者 マルティノ,フィリップ モーリス イギリス国,バークシャー エスエル6 9ビーティー,リトルウィックグリーン, リトルウィックエンド(番地なし) (72)発明者 クーパー,マーティン イギリス国,バッキンガムシャー エスエ ル7 2アールイー,マーロー,テリント ンヒル 37番

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.各領域は発光放射を励起若しくは刺激するために高エネルギーの放射を用 いてその領域を照射することにより観測されるよう、ダイヤモンドの表面の多数 の領域を観測し、発光の強度を評価することよりなる、ダイヤモンドがその上に 堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを試験する方法。 2.該ダイヤモンドは225nmより短い波長の放射で照射される請求項1記 載の方法。 3.発光の強度に依存する信号が生成される請求項1又は2に記載の方法。 4.ダイヤモンドの異なる領域により生成される発光強度の差異を検出する段 階と、該差異が所定値を超える場合にその上に堆積された合成ダイヤモンドの層 を有するとして該ダイヤモンドを分類する段階とから更になる前記請求項のうち の何れか一項に記載の方法。 5.ダイヤモンドが照射される間にダイヤモンドを走査する段階と、複数の発 光強度の読み取りを提供するために該ダイヤモンドが走査されるに従い該ダイヤ モンドにより生成された発光の強度を測定する段階とから更になる前記請求項の うちの何れか一項に記載の方法。 6.搭載手段と、支持体が該搭載手段に対して可動に搭載されるダイヤモンド の支持体と、発光放射を刺激するために高エネルギーの放射を用いて該支持体に 支持されたダイヤモンドを照射する手段と、該支持体に搭載されたダイヤモンド が照射される時に生成された発光の強度に依存する信号を与える手段とからなる 、ダイヤモンドがその上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを試 験する装置。 7.積分格納装置と、該積分格納装置内のダイヤモンドの支持体と、該積分格 納装置内で支持されたダイヤモンドを発光照射を刺激する高エネルギーの放射で 照射する手段と、該積分格納装置中のダ イヤモンドが照射される時に生成される該積分格納装置中の発光の発光光束強度 に依存する信号を与える手段とからなる、ダイヤモンドがその上に堆積された合 成ダイヤモンドの層を有するか否かを試験する装置。 8.該ダイヤモンドの異なる領域が該照射手段で照射されるよう、該支持体は 、該積分格納装置に対して固定された搭載手段上に可動に搭載される請求項7記 載の装置。 9.駆動手段は支持体を移動するために設けられる請求項6又は8記載の装置 。 10.該照射手段は225nmより短い波長の放射を含む放射で該ダイヤモン ドを照射するものである請求項6乃至9のうちの何れか一項に記載の装置。 11.照射する放射は該支持手段に支持されるダイヤモンド上に焦点が合わさ れる請求項8乃至12のうちの何れか一項に記載の装置。 12.ビームスピリッターは、照射する放射の方角に沿って該支持体により支 持されるダイヤモンドにより発せられる発光を検出器に導くために照射する放射 の線中に実質的に設置される請求項6記載の装置。 13.発光された放射の強度に依存する信号を与える手段は、放射検出器と照 射する放射をフィルター除去するフィルターとからなる前記請求項のうちの何れ か一項に記載の装置。 14.書写する放射のビームのサイズを変更する手段から更になる請求項6乃 至14のうちの何れか一項に記載の装置。 15.実質的に添付の図面に関してここで記載されたように、ダイヤモンドが その上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか否かを調査する方法。 16.実質的に添付の図面に関してここで記載されたように、ダイヤモンドが その上に堆積された合成ダイヤモンドの層を有するか 否かを試験する装置。
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