RU2715045C1 - Тестовая система для контроля электрических соединений электронных элементов с печатной платой - Google Patents
Тестовая система для контроля электрических соединений электронных элементов с печатной платой Download PDFInfo
- Publication number
- RU2715045C1 RU2715045C1 RU2019105819A RU2019105819A RU2715045C1 RU 2715045 C1 RU2715045 C1 RU 2715045C1 RU 2019105819 A RU2019105819 A RU 2019105819A RU 2019105819 A RU2019105819 A RU 2019105819A RU 2715045 C1 RU2715045 C1 RU 2715045C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- test system
- current
- test
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/70—Testing of connections between components and printed circuit boards
- G01R31/71—Testing of solder joints
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2889—Interfaces, e.g. between probe and tester
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/55—Testing for incorrect line connections
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Предложена тестовая система (1) для контроля электрических соединений, в частности паяных соединений, между электронными элементами с контролируемой печатной платой (6), содержащая подвижно установленные в ее корпусе (1а) узел и источник (14) тока и/или напряжения для электропитания контролируемой печатной платы (6), причем источник (14) тока и/или напряжения расположен внутри корпуса (1а) тестовой системы (1) подвижно, по меньшей мере, в двух пространственных направлениях. Техническим результатом при реализации заявленного решения является создание тестовой системы, реагирующей экстремательно быстро на меняющиеся нагрузки на контролируемой печатной плате, которые возникают при обмене данными между накопителем данных и интерфейсом связи. 7 з.п. ф-лы, 13 ил.
Description
Изобретение относится к тестовой системе в соответствии с ограничительной частью пункта 1 формулы изобретения.
В ЕР 0633478 А2 раскрыта тестовая система для контроля электронных соединений электронных узлов с контролируемой печатной платой.
Такие тестовые системы последовательно усовершенствовались. Так, электроды, подводимые к печатной плате шарнирами и/или автооператорами, определяют, например посредством измерения сопротивления, правильно ли позиционировано паяное соединение, и может ли с его помощью осуществляться электрическое контактирование электронных узлов с печатной платой.
Все шире печатные платы оснащаются коммуникационными модулями, например USB или штепсельными Ethernet(Эзернет) -соединениями, чтобы обеспечить также обмен данными между другими печатными платами или внешних электронных приборов с электронными узлами печатных плат, в частности с одной или несколькими находящимися на печатной плате памятями данных.
Для этого современные родовые тестовые системы не имеют возможности функционального контроля.
Задача изобретения состоит в создании такой тестовой системы, посредством которой обеспечивается функциональный контроль дорожек данных тестовой системы.
Эта задача решается посредством тестовой системы с признаками пункта 1 формулы изобретения.
Предложенная тестовая система служит для контроля электрических соединений, в частности паяных соединений, между электронными узлами и контролируемой печатной платой. Это может осуществляться, например, посредством измерения сопротивления контрольными штифтами или электродами.
Тестовая система содержит подвижно установленные в ее корпусе узел и источник тока и/или напряжения для электропитания узла. Источник тока и/или напряжения расположен внутри корпуса тестовой системы подвижно, по меньшей мере, в двух пространственных направлениях, однако может быть расположен подвижно преимущественно также в трех пространственных направлениях. В одном предпочтительном варианте источник тока и/или напряжения может иметь также регулировочную характеристику. За счет этого источник тока и/или напряжения может подводиться ближе к печатной плате, а, например, измерительные или ремонтные устройства, например паяльники, обеспечивают напряжение при малых потерях в линиях. Измерительные устройства, например контрольные электроды, датчики температуры и/или коммуникационные интерфейсы могут за счет этого достигать лучшего измерительного сигнала или лучшей передачи данных. У ремонтных инструментов можно точнее установить отдаваемое количество энергии, например для пайки. В существующих тестовых системах питание напряжением и/или током происходит в большинстве случаев с помощью прочно позиционированных в корпусе источников тока. Именно при передаче данных на печатную плату потери в линиях приводят к уменьшению мощности передачи. То же относится отчасти и к передаче измеренных значений.
Благодаря заодно направляемому или подвижно установленному источнику тока и/или напряжения тестовые циклы на каждую печатную плату могут уменьшаться.
Другие предпочтительные варианты осуществления изобретения являются объектом зависимых пунктов формулы изобретения.
В одном особенно предпочтительном варианте узел может быть выполнен в виде коммуникационного интерфейса, в частности для передачи данных по коммуникационному протоколу между контролируемой печатной платой и тестовой системой. За счет близости источника тока и/или напряжения возможна почти лишенная потерь и быстрая передача данных.
Узел может быть выполнен в виде тестового модуля. Преимущественно тестовый модуль может содержать печатную плату, причем источник тока и/или напряжения прочно соединен на этой печатной плате или с этой печатной платой.
Коммуникационный интерфейс может содержать предпочтительно, по меньшей мере, три электропроводящих контактных щупа, которые за счет контактирования с контактирующим устройством на контролируемой печатной плате с несколькими, в частности металлическими, местами контактирования обеспечивают обмен данными с памятью данных контролируемой печатной платы, причем обмен данными происходит по коммуникационному протоколу.
Через, по меньшей мере, два из контактных щупов может осуществляться предпочтительно дифференциальная подача данных к контролируемой печатной плате, а через, по меньшей мере, два дополнительных контактных щупа – дифференциальный возврат данных к печатной плате.
Коммуникационный интерфейс может быть прочно соединен с тестовым модулем, который расположен в корпусе тестовой системы подвижно, по меньшей мере, в двух пространственных направлениях.
Источник тока и/или напряжения может быть также частью тестового модуля. В этой части дополнительный узел является, например коммуникационным интерфейсом.
Источник тока и/или напряжения может быть расположен на дискретном расстоянии от контактных щупов и содержать считывающую линию, которая проходит между источником тока и/или напряжения и, по меньшей мере, одним из контактных щупов для компенсации сопротивлений и колебаний напряжения.
Тестовый модуль и коммуникационный интерфейс, с которыми соединен источник тока и/или напряжения, могут быть установлены с возможностью подвода с нижней стороны печатной платы.
Источник тока и/или напряжения выполнен с возможностью управления в отношении выдаваемого напряжения и/или в отношении ограничения тока.
Тестовый модуль может предпочтительно содержать модуль-трансформер с передатчиком, с помощью которого реализуется гальваническая развязка от коммуникационного модуля на контролируемой печатной плате и обеспечивается согласование в смысле Ethernet-соединения, в частности независимо от того, существует ли с помощью коммуникационного модуля дополнительное электрическое соединение с Ethernet-разъемом или нет.
Изобретение ниже подробно поясняется на нескольких примерах его осуществления со ссылкой на прилагаемые чертежи, на которых изображают:
- фиг. 1: схематично предложенную, управляемую по оси тестовую систему для контроля электронных печатных плат;
- фиг. 2: схематично тестовый модуль как часть предложенной тестовой системы;
- фиг. 3: схематично производственный участок для изготовления печатной платы с интегрированной в производственный участок предложенной тестовой системой;
- фиг. 4: схематично первый вариант коммуникационного интерфейса как части предложенной тестовой системы;
- фиг. 5: схематично второй вариант коммуникационного интерфейса как части предложенной тестовой системы;
- фиг. 6а: схематично контактирующее устройство печатной платы для обмена данными с коммуникационным интерфейсом тестовой системы;
- фиг. 6b: схематично удерживающее устройство для выдвигания и вдвигания контактных щупов коммуникационного интерфейса;
- фиг. 7: схематично второе контактирующее устройство на печатной плате для обмена данными с коммуникационным интерфейсом тестовой системы;
- фиг. 8: схематичный вид снизу второго варианта коммуникационного интерфейса предложенной тестовой системы из фиг. 5;
- фиг. 9: блок-схему расположения нескольких элементов тестового модуля с коммуникационным интерфейсом предложенной тестовой системы;
- фиг. 10: блок-схему LDO-источника напряжения с тестовым модулем;
- фиг. 11: схематично модуль-трансформер для Ethernet-коммуникации;
- фиг. 12: схематично вращающийся коммуникационный интерфейс;
- фиг. 13: схематично реализацию с различными коммуникационными протоколами.
Тестовые системы для контроля электронных печатных плат известны. Они служат для контроля режима работы отдельных электронных элементов, которые расположены на печатной плате и спаяны с ней. Кроме того, соответствующая тестовая система служит для контроля электронных соединений или электронных компонентов между собой и с поводящими дорожками печатной платы.
На фиг. 1 изображена предложенная тестовая система 1 для тестирования электронных печатных плат, причем контролируемая печатная плата 6 содержит на своей верхней стороне 6а некоторое число интегральных схем 8.
Над контролируемой печатной платой 6 к ней посредством тестовой системы 1 подводится, по меньшей мере, один штифтообразный контрольный щуп 2, преимущественно несколько штифтообразных контрольных щупов 2. Эти контрольные щупы могут быть выполнены преимущественно в виде электродов. Подвод контрольного щупа или контрольных щупов может осуществляться, например, автооператорами 3, которые подводятся к контактным точкам 7 печатной платы 6 или отводятся от них, будучи свободно подвижными над контролируемой печатной платой 6 в плоскостях х, у и z, например посредством перемещающихся телескопических манипуляторов или шарнирных манипуляторов с линейным двигателем. В этих контактных точках 7 могут определяться значения сопротивления.
Автооператоры 3 могут быть выполнены, например, в виде линейно направляемой каретки, содержащей один или несколько шарниров, так что штифтообразные контрольные щупы 2 могут подводиться к печатной плате сверху или по нескольким осям.
Под контролируемой печатной платой 6 расположен тестовый модуль 4, являющийся частью тестовой системы 1 и перемещающийся к нижней стороне 6b печатной платы 6. Следовательно, тестовый модуль 4 подвижен относительно печатной платы 6 аналогичным образом в направлениях х, у и z. Это обеспечивается, например в направлениях х, у, посредством линейной направляющей, например линейно направляемых направляющих скольжения или так называемых линейных столов. Это может осуществляться, в частности, посредством роликовой, цепной или канатной направляющей. Эта линейная направляющая в направлениях х, у может двигаться в направлении z, т.е. перпендикулярно плоскости печатной платы 6, посредством автооператора или дополнительной линейной направляющей.
В качестве альтернативы этому печатная плата может быть расположена также подвижно относительно тестового модуля 4 и/или штифтообразных контрольных щупов 2. В этом случае тестовая система 1 имеет держатель, который установлен подвижно, по меньшей мере, в направлениях х, у, при необходимости, также в направлении z, например посредством регулируемого по высоте линейного стола.
Таким образом, тестовый модуль 4 может подводиться к печатной плате 6 снизу. Иначе, нежели подводимые сверху отдельные контрольные иглы, которые проверяют электрическое соединение электронных элементов с печатной платой 6, тестовый модуль осуществляет функциональный тест, например передачу данных коммуникационного модуля 9 печатной платы 6.
Тестовый модуль 4 содержит коммуникационный интерфейс 5 для связи с коммуникационным модулем 9 контролируемой печатной платы 6. Посредством коммуникационного интерфейса 5 может происходить программирование расположенной на контролируемой печатной плате 6 памяти 10 данных. Тестовая система может, следовательно, хранить в памяти данных такие данные, как, например, серийный номер, IP/MAC-адрес, а также заданные на заводе-изготовителе компенсирующие отдельные значения и/или наборы данных. Два предпочтительных варианта коммуникационного интерфейса 5 изображены на фиг. 4 и 5.
Коммуникационный интерфейс 5 на фиг. 4 содержит преимущественно корпус 21 и несколько контактных щупов 22, которые в виде матричного устройства 23 выступают из торцевой поверхности 24 корпуса 21. Контактные щупы 22 матричного устройства 23 расположены прямоугольником общим числом девять. Корпус 21 установлен на основании, которое посредством линий передачи данных и линий электропитания и преимущественно также посредством жесткого механического соединения соединено с тестовым модулем 4.
Благодаря тому, что электропитание и линия передачи данных коммуникационного интерфейса в предпочтительном варианте происходят непосредственно за счет тестового модуля 4 и расположенных на нем или соединенных с ним элементов, предотвращены длинные пути передачи данных, и могут быть повышены качество сигналов при передаче данных и скорость передачи.
Матричное устройство 23 служит для контактирования коммуникационного модуля 9 на контролируемой печатной плате. При этом печатная плата 6 имеет металлические участки 11 контактирования. Последние являются точечными или прямоугольными сегментами, которые отстоят друг от друга и расположены так же, как контактные щупы 22 матричного устройства 23.
Контактные щупы 22 установлены в корпусе подпружиненно, так что они при контактировании с участками 11 контактирования печатной платы 6 частично вдвигаются в корпус 21. За счет податливости и возможности вдвигания контактных щупов 22 в корпус и выдвигания из него можно избежать сгибания контактных щупов 22 и повреждения участков 11 контактирования печатной платы 6. Контактные щупы 22 могут удерживаться, по меньшей мере, одним фиксатором во вдвинутом положении, в котором пружина, с которой взаимодействует контактный щуп 22, сжата и, следовательно, натяжена. Таким образом можно изменить матричное устройство, т.е. число полностью выдвинутых контактных щупов, и, тем самым, согласовать с числом участков 11 контактирования печатной платы 6. Если в наличии имеется больше контактных щупов 22, чем соответствующих участков 11 контактирования, то неподвижно выступающие, т.е. установленные не подпружиненно, контактные щупы упирались бы в незащищенную поверхность печатной платы, что могло бы вызвать повреждение контактных щупов 22 и появление царапин на печатной плате. Это предпочтительно предотвращается за счет фиксируемых вдвигания отдельных контактных щупов 22 в корпус 21 или выдвигания из него.
На фиг. 2 схематично изображен упомянутый тестовый модуль 4 в сочетании с коммуникационным интерфейсом 5. Этот тестовый модуль 4 используется преимущественно для связи тестовой системы 1, например в сочетании с компьютером, с контролируемой печатной платой 6. Однако дополнительно может быть также полезным снимать с помощью коммуникационного модуля 5 измеряемые данные с контролируемой печатной платы и передавать их на измерительную электронику тестовой системы. Это происходит посредством переключающих контактов на тестовом модуле 4.
Эти переключающие контакты обеспечивают использование тестового модуля 4 для связи, передачи измеряемых данных или смешанный режим.
Посредством модуля-трансформера 45, содержащего, в том числе, также переключающие контакты, через коммуникационный модуль 5 непосредственно с контролируемой печатной платой 6 могут соединяться дополнительные источники данных. Контрольные сигналы, идущие преимущественно из тестовой системы 1, управляют, например, переключением реле в модуле-трансформере 45.
Коммуникационный интерфейс 5 на фиг. 5 содержит преимущественно также корпус 31 и несколько контактных щупов 32, расположенных в виде матричного устройства 33. Посередине подпружиненно расположена цапфа 34, которая при контакте с печатной платой погружается в корпус 31 на заданное расстояние. Это предотвращает повреждение печатной платы 6 или повреждение контактных щупов при упоре в нее матричного устройства 33.
Матричное устройство 23 или 33 называется в рамках изобретения устройством из нескольких контактных щупов 22 или 32, которые на постоянном и определенном расстоянии друг от друга упираются в печатную плату и осуществляют обмен данными в контактных точках.
При этом в простейшем случае используются три контактных щупа. Этим уже можно обеспечить передачу данных по так называемой системе SPI-шин (Serial Peripheral Interface). При этом первый контактный щуп 22 или 32 необходим для подачи данных, второй контактный щуп 22 или 32 – для возврата данных, а третий контактный щуп 22 или 32 – для эталонного потенциала.
Добавив дополнительные контактные щупы, можно расширить функции. Так, можно снимать дополнительный эталонный потенциал. Можно обеспечить также гальваническое развязывание. Может осуществляться питание печатной платы одним или несколькими напряжениями. Далее может осуществляться одна, или могут осуществляться несколько симуляций, например за счет передачи управляющей команды через контактный щуп 22 или 32. Далее может осуществляться контроль измеренных значений элемента печатной платы 6 контактным щупом 22 или 32 как ответ на переданную управляющую команду. Дополнительный контактный щуп 22 или 32 может служить в качестве индикаторной линии для контроля эксплуатационной готовности элементов печатной платы 6.
Посредством коммуникационного интерфейса 5 можно за счет контактирования с участками 11 контактирования печатной платы 6 проверить ее Ethernet-соединение перед коммуникационным модулем для Ethernet-соединения.
Особенно предпочтительно число контактных щупов 22 или 32 в матричном устройстве 23 или 33 составляет девять или десять.
Описанные варианты коммуникационного интерфейса имеют то особое преимущество, что они могут непосредственно позиционироваться тестовым модулем 4 и, исходя из него, иметь короткие сигнальные и электропитающие линии к коммуникационному интерфейсу 5. За счет этого предотвращается потеря сигналов из-за длинных путей передачи, и достигаются точные формирование и прием сигналов посредством коммуникационного интерфейса 5.
Участки 11 контактирования представляют собой ответную матричному устройству 23 или 33 коммуникационного интерфейса 5 часть. Участки 11 контактирования могут иметь разную форму, например круглую или четырехугольную. Они являются замкнутой металлической поверхностью. Несколько участков 11 контактирования, например девять, образуют контактирующее устройство 12. Участки контактирования контактирующего устройства 12 отстоят друг от друга в виде узора. Эти расстояния от одного участка 11 контактирования до каждого соседнего предпочтительно всегда одинаковые. Участки контактирования свободны от других элементов и/или от резиста от защиты от припоя или других покрытий, которые могут нарушить передачу данных.
Участки 11 контактирования контактирующего устройства 12 печатной платы 6 расположены преимущественно кругообразным узором, преимущественно на двух или более круговых дорожках, или на печатной плате 6 также предпочтительно прямоугольным узором, преимущественно квадратом.
Соответствующие узоры изображены на фиг. 6а, 6b, 7.
На фиг. 6b подробно изображено удерживающее устройство 36 контактного щупа. Благодаря этому контактные щупы могут выдвигаться из корпуса коммуникационного интерфейса и вдвигаться в него. При этом удерживающее устройство на фиг. 6b является лишь одним из нескольких вариантов для удержания контактного щупа во вдвинутом в корпус положении. При этом контактный щуп 32 содержит тарельчатое основание 36а. Оно установлено с возможностью перемещения в канале 36d. Пружина 36b давит на основание 36а, движение которого ограничено упором 36е, направленным в канал. Для удержания во вдвинутом положении предусмотрен электромагнит 36с, который притягивает тарелку контактного щупа при активировании электромагнита. Когда электромагнит 36с не активирован, контактный щуп исключительно подпружинен. От контактного щупа отходит кабель 36f, служащий для передачи сигналов и/или энергии. Удерживающее устройство не ограничено фиг. 6b, а может использоваться также во всех других вариантах описанных коммуникационных интерфейсов.
Участки 11 контактирования выполнены предпочтительно позолоченными или лужеными.
Соответствующее контактирующее устройство 12 расположено преимущественно вблизи коммуникационного модуля 9 печатной платы 6 на коммуникационной дорожке, так что связь между отдельными элементами печатных плат и запись данных, например в память данных печатной платы, могут осуществляться в обход коммуникационного модуля 9, т.е., например, Ethernet-разъема.
Контролируемая печатная плата 6 с коммуникационным модулем, выполненным в виде Ethernet-интерфейса, при контроле не предусмотренным, согласно изобретению, образом может контактировать посредством любой тестовой системы через стандартный Ethernet-разъем с коммуникационным интерфейсом тестовой системы.
Однако в рамках изобретения предложено, что такой контроль осуществляется автоматически, причем соединение через стандартный Ethernet-разъем оказалось для этой цели трудоемким. Автоматический контроль такого Ethernet-интерфейса пока не предлагается фирмами, которые разрабатывают автоматические тестовые системы, например для контроля паяных контактов.
Коммуникационный интерфейс 5 может содержать предпочтительно один или несколько элементов, аналогичных элементам коммуникационного модуля 9 печатной платы 6. Этот элемент расположен на фиг. 4 и 5 в корпусе 21 или 31 и может быть выполнен, например, в виде модуля-трансформера 45, называемого также преобразователем. Такой модуль-трансформер может быть преимущественно так называемым Ethernet Magnetic Transformer. Соответствующий модуль-трансформер в большинстве случаев интегрирован также в Ethernet-штекер, который, однако, можно обойти за счет контактирования коммуникационного интерфейса 5 с участками 11 контактирования 12 на печатной плате 6.
Таким образом, коммуникационный модуль с элементами может быть соединен и обмениваться данными без большой потери сигналов до и после трансформации вследствие длинных линий передачи данных через матричное устройство 23, 33 с печатной платой 6.
За счет функционально-одинакового воспроизведения элементов коммуникационного модуля 9 печатной платы элементами коммуникационного интерфейса 5 тестового модуля 4 можно обеспечить надежную связь с процессорным блоком, памятью данных и другими элементами на контролируемой печатной плате 6 независимо от того, не содержит ли перемкнутый Ethernet-разъем печатной платы 6 никакого модуля-трансформера, содержит ли оно один или несколько включенных последовательно или параллельно друг другу модулей-трансформеров.
После считывания типа Ethernet-разъема на печатной плате тестовой системой, например с помощью штрих-кода на печатной плате, тестовая система может выбрать соответствующую элементную схему, соответствующую коммутации Ethernet-разъема, так что, несмотря на перемыкание, обеспечивается идентичный обмен данными между тестовой системой 1 и печатной платой 6 так, будто тестовая система через Ethernet-разъем печатной платы 6 соединено с ней.
Так, например, обмен данными может осуществляться при типичной скорости передачи данных от 10 до 100 Мбит/с.
На фиг. 5 и 8 изображен вариант матричного устройства 33 с цапфой 34. В этом варианте цапфа выполнена в виде центрирующей цапфы, и на расстоянии друг от друга вдоль проходящей радиально к ней линии расположены контактные щупы 32.
Контактные щупы 32 могут быть выполнены выдвижными и, при необходимости, выдвигаться, например, с помощью фиксирующего механизма. Так, в зависимости от типа элементов печатной платы ненужные контактные щупы 32 могут вдвигаться.
Тип элементов можно идентифицировать с помощью имеющегося на печатной плате штрих-кода, который может быть идентифицирован посредством камеры 13 на тестовом модуле 4. В зависимости от заданного штрих-кода могут обслуживаться коммуникационный интерфейс 5 и соответствующие элементы, а также другие элементы тестового модуля 4 и, в частности, приводиться в готовность.
За счет вдвигаемых контактных щупов требуется меньше места на контролируемой печатной плате для участков 11 контактирования, так что можно сэкономить материал печатной платы и обеспечить оптимальное расположение элементов на ней.
Центрирование посредством центрирующей цапфы может взаимодействовать, в частности, с расположением участков 11 контактирования на печатной плате 6, как показано на фиг. 8.
При этом далее предпочтительно, если матричное устройство, т.е. расположение штифтообразных металлических контактных щупов 22, 32, расположено с возможностью вращения вокруг определяемой центрирующей цапфой оси. Таким образом, штифтообразные контактные щупы могут быть лучше подведены к участкам 11 контактирования и контактировать с ними, благодаря чему можно уменьшить число участков 11 контактирования. Возможность вращения матричного устройства предпочтительна также в случае прямоугольных матричных устройств (фиг. 4).
Кроме того, возможность вращения матричного устройства 23, 33 предпочтительна (фиг. 8, 12), поскольку таким образом печатные платы 6 могут подаваться в разной ориентации, т.е. в продольном или поперечном направлении, и контролироваться в тестовой системе 1 без необходимости приведения печатной платы за счет вращения в нужное положение. Напротив, за счет вращения матричного устройства 23, 33 его позиционные щупы 22, 32 могут быть выверены после ориентирования печатной платы. Вращение печатной платы или подача к тестовой системе из неоптимального направления не влияет, тем самым, на тестирование и передачу данных.
Вращение матричного устройства, например за счет его вращательной установки, может быть реализовано в рамках изобретения, тем самым, как для прямоугольного матричного расположения контактных щупов, так и для их линейного расположения.
За счет хранения различных наборов данных тестовый модуль 4 может связываться через различные коммуникационные протоколы с контролируемой печатной платой 6 и находящимися на ней коммуникационными модулями 9 и памятями 10 данных (фиг. 13). Так, в зависимости от вида связи могут происходить индивидуальная загрузка коммуникационных протоколов и, при необходимости, переключение между видами связи. Для этого не нужны никакие другие системы, а передача данных может происходить во время поверхностного контроля мест пайки и электронных элементов.
За счет этого посредством тестовой системы, при необходимости, могут применяться различные коммуникационные протоколы для контролируемой печатной платы 6 и/или печатная плата 6 может быть проверена на наличие этих коммуникационных протоколов. Такими коммуникационными протоколами являются, например, I2C, SPI, USB, Ethernet, Profibus и/или UART.
При этом уровни драйверов устанавливаются преимущественно с помощью программного обеспечения, хранящегося в памяти данных или в логическом модуле тестового модуля 4, или непосредственно с помощью контрольной системы 1. Таким образом, тестовый модуль 4 может связываться через коммуникационный интерфейс 5 не только с различными коммуникационными протоколами, но и согласовывать также уровень напряжения коммуникационных сигналов с уровнем контролируемой печатной платы 6.
Кроме того, в памяти данных или в логическом модуле тестового модуля 4 хранится программа самодиагностики, с помощью которой может осуществляться диагностика тестового модуля 4 и коммуникационного интерфейса 5 и которая может выполняться процессором или логическим модулем тестового модуля 4.
В рамках изобретения коммуникационный интерфейс 5 называется первым элементом для функционального контроля, с помощью которого, посылая коммуникационные данные на печатную плату 6 и принимая их, тестовая система 1 проверяет правильную передачу данных печатной платы, в частности приданного ей процессорного блока, управляющего памятью данных. Другие элементы, которые могут использоваться предпочтительно в рамках изобретения, описаны ниже.
Тестовый модуль 4 содержит в рамках изобретения, по меньшей мере, один или несколько вторых элементов, который служит распоркой 18 для соблюдения расстояния между печатной платой 6 и тестовым модулем 4 и, при необходимости, для предохранения печатной платы 6 от прогиба.
Третьим элементом, который может быть расположен на тестовом модуле 4, является камера 13 для съемки изображений в видимом диапазоне спектра. Эта камера 13 может выполнять различные функции.
Она может служить для определения положения контролируемой печатной платы 6.
В качестве альтернативы или дополнительно она может исследовать контролируемую печатную плату на наличие элементов, которыми печатная плата должна быть оснащена.
В качестве альтернативы или дополнительно камера 13 может снимать также штрих-код или серийный номер на печатной плате 6, которая в соответствии с этим штрих-кодом может запрашивать из памяти данных определенные наборы данных и инициировать управляющие программы. Это может включать в себя, в том числе, специальные предписания для исследования печатной платы 6 или расположенных на ней элементов или объем данных, которые должны передаваться в память данных печатной платы 6 через коммуникационный интерфейс.
Кроме того, камера 13 может осуществлять контроль мест пайки на наличие.
Дополнительно посредством камеры 13 могут выполняться другие функции, например другие диагностические функции.
Четвертым элементом тестового модуля 4 может быть, например, металлический штифтообразный контрольный щуп 20, например для контроля расположенных на нижней стороне паяных контактов посредством измерения сопротивления, который, однако, в отличие от контрольного щупа 2, подводимого к печатной плате 6 сверху, может быть неподвижно расположен на тестовом модуле 4 или подвижно только в одном направлении, в частности с возможностью выдвигания. За счет этого уменьшаются механические затраты на этот металлический контрольный щуп 20.
В качестве альтернативы или дополнительно к механическим или диагностическим функциям посредством названного элемента или названных элементов можно с помощью коммуникационного интерфейса 5 осуществлять также исключительно запись данных, например коммуникационных протоколов. За счет записи данных в память 10 данных контролируемой печатной платы 6 одновременно с контролем паяных соединений, например посредством контрольных щупов 2, достигается экономия времени при контроле качества.
Запись данных может осуществляться, например, по типу базового или основного программирования. Контролируемая печатная плата 6 может быть использована, в частности, в измерительном приборе техники автоматизации. На память 10 данных в зависимости от измерительного прибора, области применения измерительного прибора и производственного участка при изготовлении измерительного прибора могут передаваться данные. Передача данных может осуществляться специфически от оснащения печатной платы, так что данные для управления, контроля и/или идентификации отдельных элементов или узлов печатной платы 6 могут быть перенесены из памяти данных тестового модуля 4 через коммуникационный интерфейс 5 и коммуникационный модуль 9 в память 10 данных печатной платы.
В качестве альтернативы или дополнительно к названным элементам тестовый модуль 4 может включать в себя также один или несколько инструментов 50, например паяльник 51 для выполнения пайки или цангу 52. Также могут быть предусмотрены другие инструменты, например отвертки. Управляя инструментами, можно в короткое время осуществлять простой ремонт контролируемой печатной платы 6 за счет обнаружения дефекта верхними контрольными щупами 2 или удалять приспособления для оснащения.
Дополнительно тестовый модуль 4 может содержать также источник тока и/или напряжения для электропитания инструментов или элементов для функционального контроля.
Тестовая система 1 располагает памятью 35 данных с хранящейся в ней соответствующей тестовой программой. Последняя управляет распоркой 18, контактными щупами 22, контрольным щупом 20 и/или, при необходимости, другими инструментами 50, 51, 52 и их позиционированием. За счет этого могут контролироваться различные контролируемые печатные платы 6 с разными расстояниями между элементами и снабжаться данными.
Дополнительно к проводимым с верхней стороны посредством контрольных щупов 2 тестов мест пайки в одном варианте осуществляется функциональный тест отдельных элементов посредством тестового модуля 4.
Названные элементы контрольной платы 4 могут быть расположены на тестовом модуле 4 по отдельности или особенно предпочтительно сообща. Последнее предпочтительно, поскольку этим соблюдается установленное расстояние.
За счет возможности перемещения тестового модуля 4 под печатной платой 6 в направлениях х, у, z одновременно с контролем качества соединений электронных элементов с проводами печатной платы может осуществляться также функциональный контроль соответствующих элементов контролируемой печатной платы 6. Это приводит к экономии времени и экономии пространства для дополнительной тестовой системы.
Другим аспектом изобретения является питание напряжением и/или током тестового модуля 4 и связанных с ним элементов, т.е. коммуникационного интерфейса 5 и контролируемой печатной платы 6, а также других элементов, например инструментов, таких как цанги или паяльники, или одной или нескольких камер. В известных до сих пор тестовых системах питание напряжением посредством источника тока и/или напряжения происходит вне тестовой системы, т.е. пространственно удаленно от контролируемого объекта или контролируемой печатной платы 6.
Согласно концепции изобретения, источник 14 тока и/или напряжения является частью тестовой системы 1 и, в частности, компонентом тестового модуля 4. Это препятствует падению напряжения, обусловленному длинными проводами 17. Источником тока и/или напряжения можно управлять блоком 15 управления по программе или путем ручного ввода с блока 15 управления.
Сама тестовая система 1 ограничена корпусом 16. В то время как тестовый модуль 4, коммуникационный интерфейс 5 и источник 14 тока и/или напряжения расположены в корпусе подвижно, блок 15 управления расположен преимущественно неподвижно в или на корпусе 16 тестовой системы 1 или вне этого корпуса 16.
В одном особом варианте контактные щупы 22, 32 соединены напрямую с источником 14 тока и/или напряжения токопитающим проводом. Источник 14 тока и/или напряжения может питаться энергией извне, т.е. вне корпуса 16 тестовой системы 1, и также извне настраиваться с помощью управляющих команд на значение отдачи напряжения.
Посредством блока 15 управления можно регулировать подводимое к тестовому модулю 4 и, в частности, к коммуникационному интерфейсу 5 напряжение или подводимую к тестовому модулю 4 и, в частности, к коммуникационному интерфейсу 5 силу тока или регулировать как подводимую силу тока, так и подводимое напряжение. Таким образом, в частности контактные щупы 22, 32, могут эксплуатироваться с током заданного напряжения и/или заданной силы.
Источником 14 тока и/или напряжения в рамках изобретения называется элемент, который из большего напряжения или большей силы тока независимо от величины подводимого напряжения или подводимой силы тока вырабатывает дискретное меньшее значение напряжения и/или силы тока.
Для контроля того, какое значение напряжения приложено к контактным щупам 22 или 32, источник 14 тока и/или напряжения может быть соединен с ними преимущественно так называемой линией считывания. В источнике 14 тока и/или напряжения выходное напряжение или его часть сравнивается с эталонным напряжением и регулируется так, что даже при колебании нагрузки выходное напряжение на контролируемой печатной плате 6 остается постоянным. Однако такое состояние встречается большей частью лишь в идеальном случае. Поэтому напряжение, сравниваемое с эталонным напряжением, определяется посредством линии считывания вблизи нагрузки, следовательно, у контактных щупов 22 или 33, т.е. за подводящими проводами с колеблющимся падением напряжения. За счет этого регулируется заодно падение напряжения на подводящих проводах, а напряжение на нагрузке, т.е. на контактных щупах коммуникационного интерфейса 5, остается постоянным также в реальном случае. Названная линия может быть образована параллельной схемой с входом напряжения соответствующего контактного щупа, так что источник 14 тока и/или напряжения компенсирует падение напряжения сопротивления линии. Напряжение, выработанное источником 14 тока и/или напряжения, может быть, следовательно, после сравнения согласовано со считанными значениями. Таким образом, падение напряжения может быть компенсировано путем линии между контактными щупами 22, 32 и источником 14 тока и/или напряжения, а, при необходимости, могут быть компенсированы также колебания напряжения.
В целом, питанием напряжением посредством источника тока и/или напряжения можно управлять с помощью программы, хранящейся преимущественно в памяти данных тестового модуля 4. Предпочтительный тип программируемого источника напряжения известен как LDO-регулятор напряжения (Low-Drop-Out) и в рамках изобретения может использоваться как предпочтительный тип источника 14 тока и/или напряжения.
Источник 14 тока и/или напряжения рассчитан так, что он может экстремально быстро реагировать на изменения нагрузки на контролируемой печатной плате и компенсировать их, преимущественно в диапазоне нескольких наносекунд. Это предпочтительно требуется, если у контролируемой печатной платы 6 речь идет об элементе с быстрыми микропроцессорами с быстрой коммутацией и модулями памяти, который имеют эти динамические изменения нагрузки.
Эта функция реализована преимущественно посредством модулей с быстрыми регулировочными свойствами и/или с конденсаторами, которые могут перекрывать очень короткие пики энергии.
В другом предпочтительном варианте значения силы тока также могут считываться и ограничиваться за счет сравнения с хранящимся набором данных. Этот набор данных может храниться также предпочтительно в памяти данных тестового модуля 4 и/или блока 15 управления.
На фиг. 10 изображена блок-схема предпочтительного источника 14 тока и/или напряжения.
На фиг. 9 изображены основные компоненты тестового модуля 4. Ядром является коммутационный блок 25. Он представляет различные коммутационные протоколы и/или преобразует идущий от тестовой системы протокол, например USB, в другой протокол. Подключенный к коммутационному чипу 28 мультиплексор 27 (MUX) может переключать отдельные коммутационные сигналы на произвольные контактные щупы 2, 32 коммутационного интерфейса 5. Это, в свою очередь, обеспечивает гибкость при оформлении контактных точек 7 или матричного устройства 23 на контролируемой печатной плате 6. К мультиплексору 27 (MUX) может быть подключен драйвер/сенсор 29, который может согласовывать уровень коммутационных сигналов. Тем самым повышается гибкость коммутационного блока 25, поскольку он может приспосабливаться к различным уровням сигналов и, тем самым, к различным технологиям напряжения контролируемой печатной платы 6. Далее драйвер/сенсор 29 может содержать сенсор, который измеряет ток через коммуникационные провода и в случае отклонений инициирует, например, сообщение об ошибке или осуществляет отключение. Управление коммутационным чипом 28, мультиплексором 27, драйвером/сенсором 29 и подключенной релейной матрицей 24 изображено логическим модулем 26, который, в свою очередь, связан с тестовой системой. Логический модуль 26 может быть реализован FPGA (программируемая пользователем вентильная матрица), микрокомпьютером или иным чипом с логическими функциями. Дополнительная релейная матрица 24 повышает гибкость тестового модуля 4 за счет того, что она дает возможность переключать несколько источников сигналов, источников питания, коммуникационных интерфейсов, измеренные данные и интерфейсные сигналы из коммутационного блока 25 на любой контактный щуп 2, 32 коммуникационного интерфейса 5. Это относится как к источнику 14 тока/напряжения тестового модуля 4, так и к питающим блокам тестовой системы 1, которые связаны с тестовым модулем 4. При этом возможно также смешанное или комбинированное включение. Релейной матрицей 24 также может управлять блок 26 управления.
Изображенный на фиг. 10 LDO является так называемым Low-Drop-Out-регулятором напряжения. Communication Module является коммуникационным модулем, который управляет LDO и представляет связь с тестовой системой 1. LDO может быть локализован на тестовом модуле 4 или коммуникационном интерфейсе 5. На фиг. 10 показана локализация на тестовом модуле 4.
Модуль-трансформер 45 является компонентом тестового модуля 4 и через коммуникационный интерфейс 5 может быть связан с контролируемой печатной платой 6. Последняя содержит коммуникационный модуль 9, который поддерживает Ethernet- или Profinet-связь. Magnetifics 46, т.е. передатчики или трансформеры, коммуникационного модуля 9 рассчитаны таким образом, что может быть реализована гальваническая развязка от коммуникационного модуля 9 и изображено электрическое согласование в смысле Ethernet-соединения. Дополнительно Magnetifics 46 модуля-трансформера 45 рассчитаны так, что возможна Ethernet/Profinet-связь со скоростью 100 Мбит/с независимо от того, смонтирован ли с коммуникационным модулем 9 через электрическое соединение 48 так называемый Ethernet-разъем или нет. Также не имеет значения, содержит ли смонтированный на контролируемой печатной плате 6 Ethernet-разъем 47 обусловленные типом Magnetifics или нет.
Дополнительно к описанным элементам тестовый модуль 4 может содержать также термографическую систему, преимущественно в виде инфракрасной камеры 130, или температурный датчик, преимущественно бесконтактно измеряющий температурный датчик. Однако вариант температурного датчика менее предпочтителен вследствие меньшего диапазона измерения температуры. Напротив, инфракрасная камера обеспечивает измерение температуры отдельных элементов контролируемой печатной платы 6 и их соединение с ней. Измерение температуры инфракрасной камерой может осуществляться за счет свободного позиционирования тестового модуля 4 с инфракрасной камерой 30 вдоль поверхности контролируемой печатной платы 6 в определенных предпочтительных местах. Измерение температуры может осуществляться предпочтительно бесконтактно. В качестве альтернативы или дополнительно к измерению температуры инфракрасной камерой также контрольный щуп, снабженный температурным датчиком, может за счет контактирования с печатной платой осуществлять измерение температуры. Однако по сравнению с инфракрасной камерой этот вариант требует более высоких конструктивных затрат и затрат на механику управления, связанных с отнимающим больше времени измерением.
На фиг. 3 изображен производственный участок 1 для изготовления и контроля предложенных печатных плат 6, которые могут использоваться преимущественно в измерительных приборах техники автоматизации, например в измерительных преобразователях.
Производственный участок 1 содержит станцию 101 для подготовки подложки печатной платы. Подложка печатной платы уже может содержать проводящие дорожки.
Производственный участок содержит транспортирующее устройство 102, например ленточный транспортер, с помощью которого подложка печатной платы может транспортироваться в направлении R транспортировки от станции к станции.
От станции 101, на которой происходит подготовка подложки печатной платы, эта подложка транспортируется дальше к станции 103 для оснащения подложки электронными элементами, причем, по меньшей мере, один из этих элементов является интеллектуальным элементом, который выполнен, например, в виде коммуникационного модуля 9 для связи с другими электронными приборами. Другим интеллектуальным элементом является центральный процессорный блок, являющийся частью контролируемой печатной платы 6 и управляющий данными памяти 10 данных. При этом из подложки выполняется печатная плата 6. Оснащение может осуществляться, например, с помощью масок, предварительно нанесенных на подложку печатной платы.
Вслед за станцией 103 для оснащения происходит транспортировка печатной платы 6 в паяльную печь 104. В ней происходит спайка электронных элементов с подложкой печатной платы.
После прохождения паяльной печи 104 происходит конечный контроль готовой печатной платы 6 посредством тестовой системы 105. При этом тестовая система 105 осуществляет одновременный контроль
а) электрического контактирования мест пайки между элементами и печатной платой и
б) функциональный контроль одного или нескольких интеллектуальных элементов, например коммуникационного модуля 9.
Названный функциональный контроль включает в себя предпочтительно функциональный контроль коммуникационного модуля 9, программирование и/или контроль программирования памяти 10 данных печатной платы 6, контроль линии передачи данных от коммуникационного модуля к центральному процессорному блоку печатной платы 6.
Комплексный контроль данных в памяти данных, процессорного блока и коммуникационного модуля не может осуществляться отдельными контрольными щупами, подводимыми с верхней стороны печатной платы. Для этого требуется описанный коммуникационный интерфейс 5 с описанными выполнениями соответствующих матричных устройств 23 или 33 из нескольких контактных щупов 22 или 32.
Claims (8)
1. Тестовая система (1) для контроля электрических соединений, в частности паяных соединений, между электронными элементами и контролируемой печатной платой (6), включающая корпус (1а), подвижно установленные в корпусе (1а) узел и источник (14) тока и/или напряжения для электропитания контролируемой печатной платы (6), отличающаяся тем, что источник (14) тока и/или напряжения расположен внутри корпуса (1а) подвижно, по меньшей мере, в двух пространственных направлениях, причем узел выполнен в виде коммуникационного интерфейса (5), причем коммуникационный интерфейс (5) содержит, по меньшей мере, три электропроводящих контактных щупа (22, 32), которые за счет контактирования с контактирующим устройством (12) на печатной плате (6) с несколькими местами (11) контактирования обеспечивают обмен данными с памятью данных контролируемой печатной платы (6), причем обмен данными происходит по коммуникационному протоколу.
2. Тестовая система (1) по п. 1, отличающаяся тем, что узел выполнен в виде тестового модуля (4).
3. Тестовая система (1) по п.1 или 2, отличающаяся тем, что коммуникационный интерфейс (5) прочно соединен с тестовым модулем (4), который расположен в корпусе (1b) тестовой системы (1) подвижно, по меньшей мере, в трех пространственных направлениях.
4. Тестовая система (1) по любому из предыдущих пунктов, отличающаяся тем, что источник (14) тока и/или напряжения является частью тестового модуля (4).
5. Тестовая система (1) по любому из предыдущих пунктов, отличающаяся тем, что источник (14) тока и/или напряжения расположен на дискретном расстоянии от контактных щупов (22, 32) и содержит считывающую линию, которая проходит между источником (14) тока и/или напряжения и, по меньшей мере, одним из контактных щупов (22, 32) для компенсации сопротивлений в линии и колебаний напряжения.
6. Тестовая система (1) по любому из предыдущих пунктов, отличающаяся тем, что тестовый модуль (4) и коммуникационный интерфейс (5) установлены с возможностью подвода с нижней стороны (6b) печатной платы (6).
7. Тестовая система (1) по любому из предыдущих пунктов, отличающаяся тем, что источник тока и/или напряжения выполнен с возможностью управления в отношении выдаваемого напряжения.
8. Тестовая система (1) по любому из предыдущих пунктов, отличающаяся тем, что источник тока и/или напряжения выполнен с возможностью управления в отношении ограничения тока.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102016114145.3 | 2016-08-01 | ||
DE102016114145.3A DE102016114145A1 (de) | 2016-08-01 | 2016-08-01 | Testsystem zur Überprüfung von elektrischen Verbindungen von elektronischen Bauteilen mit einer Leiterplatte |
PCT/EP2017/067813 WO2018024464A1 (de) | 2016-08-01 | 2017-07-14 | Testsystem zur überprüfung von elektrischen verbindungen von elektronischen bauteilen mit einer leiterplatte |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2715045C1 true RU2715045C1 (ru) | 2020-02-21 |
Family
ID=59501391
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2019105819A RU2715045C1 (ru) | 2016-08-01 | 2017-07-14 | Тестовая система для контроля электрических соединений электронных элементов с печатной платой |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10955492B2 (ru) |
EP (1) | EP3491404B1 (ru) |
CN (1) | CN109564255B (ru) |
DE (1) | DE102016114145A1 (ru) |
RU (1) | RU2715045C1 (ru) |
WO (1) | WO2018024464A1 (ru) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016114142A1 (de) * | 2016-08-01 | 2018-02-01 | Endress+Hauser Flowtec Ag | Leiterplatte mit Kontaktierungsanordnung |
CN112986863B (zh) * | 2021-02-04 | 2024-04-12 | 三一重能股份有限公司 | 温度检测系统的线路检测方法、装置和电子设备 |
CN113340919B (zh) * | 2021-07-02 | 2022-02-25 | 深圳市格兰拓普电子有限公司 | 一种智能控制电路板的控制系统 |
CN116859291A (zh) * | 2022-03-28 | 2023-10-10 | 长鑫存储技术有限公司 | 电源映射检测方法、装置、电子设备及介质 |
US11892520B2 (en) | 2022-03-28 | 2024-02-06 | Changxin Memory Technologies, Inc. | Method and device for power supply mapping detection, electronic device, and medium |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2020499C1 (ru) * | 1991-04-23 | 1994-09-30 | Винницкий политехнический институт | Способ обнаружения обрывов и коротких замыканий в электрическом монтаже |
US6518779B1 (en) * | 1997-10-20 | 2003-02-11 | Matsushita Electrical Industrial Do., Ltd. | Probe card |
US20070296422A1 (en) * | 2006-06-06 | 2007-12-27 | Formfactor, Inc. | Method of Expanding Tester Drive and Measurement Capability |
US20080157808A1 (en) * | 1993-11-16 | 2008-07-03 | Formfactor, Inc. | Wafer-level burn-in and test |
WO2012002935A1 (en) * | 2010-06-29 | 2012-01-05 | Teradyne, Inc. | Calibrating a channel of a test system |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4227148A (en) * | 1978-08-10 | 1980-10-07 | Century Mfg. Co. | External means for increasing the sensitivity of a moving magnet type of meter |
IT1261074B (it) | 1993-07-05 | 1996-05-08 | Luciano Bonaria | Metodo e dispositivo di collaudo per schede elettroniche |
KR100295228B1 (ko) * | 1998-10-13 | 2001-07-12 | 윤종용 | 통합테스트시스템과그를이용한통합테스트공정수행방법 |
US7319341B1 (en) * | 2003-08-28 | 2008-01-15 | Altera Corporation | Method of maintaining signal integrity across a capacitive coupled solder bump |
US6919718B2 (en) * | 2003-11-10 | 2005-07-19 | Unisys Corporation | System for testing a group of IC-chips having a chip holding subassembly that is built-in and loaded/unloaded automatically |
US7282925B2 (en) * | 2004-10-25 | 2007-10-16 | Dell Products L.P. | Apparatus to facilitate functional shock and vibration testing of device connections and related method |
JP4277807B2 (ja) * | 2005-02-08 | 2009-06-10 | 船井電機株式会社 | ディスク装置 |
WO2006116767A1 (en) * | 2005-04-27 | 2006-11-02 | Aehr Test Systems | Apparatus for testing electronic devices |
CN2804873Y (zh) * | 2005-05-20 | 2006-08-09 | 郭红建 | 简易治具 |
TWI263293B (en) * | 2005-09-28 | 2006-10-01 | Star Techn Inc | Probe card for integrated circuits |
CN201345474Y (zh) * | 2008-12-30 | 2009-11-11 | 英华达(上海)科技有限公司 | 具有弹性结构的供电装置 |
CN103792481B (zh) | 2012-11-02 | 2016-08-03 | 纬创资通股份有限公司 | 电路板自动测试装置及电路板自动测试方法 |
CN103076553A (zh) * | 2012-12-28 | 2013-05-01 | 北京世纪东方国铁科技股份有限公司 | 一种实装电路板的测试装置 |
KR20150008707A (ko) * | 2013-07-15 | 2015-01-23 | 삼성전자주식회사 | 독출 데이터를 마스킹하는 메모리 장치 및 이의 테스트 방법 |
CN203825156U (zh) * | 2014-05-13 | 2014-09-10 | 遂宁市维海电子科技有限公司 | 一种电路板检测装置 |
KR20160058521A (ko) * | 2014-11-17 | 2016-05-25 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 및 이의 동작 방법 |
CN204479734U (zh) * | 2014-12-31 | 2015-07-15 | 北京恒源利通电力技术有限公司 | 故障指示器测试工装 |
KR102486558B1 (ko) * | 2015-06-24 | 2023-01-10 | 삼성전자주식회사 | 회로 기판 및 이를 구비한 반도체 패키지 |
CN204832257U (zh) * | 2015-07-16 | 2015-12-02 | 国网四川省电力公司乐山供电公司 | 多功能可移动式试验电源控制箱 |
CN205049608U (zh) * | 2015-09-23 | 2016-02-24 | 深圳市依珂芯能源科技有限公司 | 一种移动电源pcba板测试装置 |
CN105676110A (zh) * | 2016-01-27 | 2016-06-15 | 系新电子技术(苏州)有限公司 | 一种电路板测试系统 |
CN105738797B (zh) * | 2016-03-31 | 2019-02-12 | 上海与德通讯技术有限公司 | 主板测试组件及测试方法 |
-
2016
- 2016-08-01 DE DE102016114145.3A patent/DE102016114145A1/de not_active Withdrawn
-
2017
- 2017-07-14 US US16/321,961 patent/US10955492B2/en active Active
- 2017-07-14 WO PCT/EP2017/067813 patent/WO2018024464A1/de unknown
- 2017-07-14 EP EP17745998.9A patent/EP3491404B1/de active Active
- 2017-07-14 CN CN201780048032.0A patent/CN109564255B/zh active Active
- 2017-07-14 RU RU2019105819A patent/RU2715045C1/ru active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2020499C1 (ru) * | 1991-04-23 | 1994-09-30 | Винницкий политехнический институт | Способ обнаружения обрывов и коротких замыканий в электрическом монтаже |
US20080157808A1 (en) * | 1993-11-16 | 2008-07-03 | Formfactor, Inc. | Wafer-level burn-in and test |
US6518779B1 (en) * | 1997-10-20 | 2003-02-11 | Matsushita Electrical Industrial Do., Ltd. | Probe card |
US20070296422A1 (en) * | 2006-06-06 | 2007-12-27 | Formfactor, Inc. | Method of Expanding Tester Drive and Measurement Capability |
WO2012002935A1 (en) * | 2010-06-29 | 2012-01-05 | Teradyne, Inc. | Calibrating a channel of a test system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3491404A1 (de) | 2019-06-05 |
EP3491404B1 (de) | 2020-04-15 |
CN109564255B (zh) | 2022-01-11 |
CN109564255A (zh) | 2019-04-02 |
US20190265290A1 (en) | 2019-08-29 |
WO2018024464A1 (de) | 2018-02-08 |
DE102016114145A1 (de) | 2018-02-01 |
US10955492B2 (en) | 2021-03-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2717361C1 (ru) | Тестовая система для контроля электронных соединений | |
RU2715045C1 (ru) | Тестовая система для контроля электрических соединений электронных элементов с печатной платой | |
RU2713102C1 (ru) | Тестовая система для контроля электронных соединений элементов с печатной платой | |
RU2712983C1 (ru) | Тестовая система для контроля электронных соединений элементов с печатной платой и печатная плата | |
CN109031009B (zh) | 应用机器手臂之记忆体模组智能检测系统 | |
RU2719303C1 (ru) | Печатная плата с контактирующим устройством | |
US8008938B2 (en) | Testing system module | |
CN104375077A (zh) | 功能测试fct测试工装和测试系统、方法 | |
KR20220128206A (ko) | 플라잉 프로브 테스터를 이용한 pcb 칩 측정방법 | |
US20090108862A1 (en) | Testing system module | |
CN110865294A (zh) | 形状适形的电容性耦合器 | |
KR102421348B1 (ko) | 전자 장치의 인터페이스의 강건성 검증을 위한 검증 장치 및 그 자동 검증 방법 | |
CN115728697A (zh) | 一种晶圆测试系统的校准方法 | |
KR20240013658A (ko) | 자동 시험 장치 및 그 인터페이스 장치 | |
CN118858882A (zh) | 电路板检测方法、系统、电子设备、存储介质和程序产品 |