RU2015127029A - Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе - Google Patents

Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе Download PDF

Info

Publication number
RU2015127029A
RU2015127029A RU2015127029A RU2015127029A RU2015127029A RU 2015127029 A RU2015127029 A RU 2015127029A RU 2015127029 A RU2015127029 A RU 2015127029A RU 2015127029 A RU2015127029 A RU 2015127029A RU 2015127029 A RU2015127029 A RU 2015127029A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
led
supply current
temperature
measurements
light source
Prior art date
Application number
RU2015127029A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2637388C2 (ru
Inventor
Сильвен ОБЕРТИ
Жоан ФУРНЕЛЬ
Original Assignee
Спзх
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from FR1261757A external-priority patent/FR2999333A1/fr
Priority claimed from FR1261758A external-priority patent/FR2999334B1/fr
Application filed by Спзх filed Critical Спзх
Publication of RU2015127029A publication Critical patent/RU2015127029A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2637388C2 publication Critical patent/RU2637388C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3577—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing liquids, e.g. polluted water
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • G01N2021/3181—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths using LEDs
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/062—LED's
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/062—LED's
    • G01N2201/0624—Compensating variation in output of LED source
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/121—Correction signals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/121—Correction signals
    • G01N2201/1211—Correction signals for temperature
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/124—Sensitivity
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/124—Sensitivity
    • G01N2201/1242—Validating, e.g. range invalidation, suspending operation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/124—Sensitivity
    • G01N2201/1247—Thresholding
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/127—Calibration; base line adjustment; drift compensation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
    • G01N2201/127—Calibration; base line adjustment; drift compensation
    • G01N2201/12723—Self check capacity; automatic, periodic step of checking

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)

Claims (47)

1. Способ управления спектрометром для анализа вещества, при этом спектрометр содержит источник света (LS), содержащий несколько светодиодов (LD1-LD4), спектры излучения которых охватывают в комбинации анализируемую полосу длин волн,
характеризующийся тем, что содержит этапы, на которых:
подают ток питания (Ix) по меньшей мере на один из светодиодов (LD1-LD4) для его включения и измеряют силу света (LFLz), излучаемого источником света (LS), посредством измерения тока на контакте по меньшей мере одного из других светодиодов, который остается выключенным,
в зависимости от каждого измерения силы света определяют заданное значение (LCx) силы тока каждого включенного светодиода, и
регулируют ток питания каждого включенного светодиода таким образом, чтобы он соответствовал заданному значению.
2. Способ по п. 1, содержащий этапы, на которых последовательно включают группы по меньшей мере из одного светодиода (LD1-LD4), при этом светодиоды одной группы имеют по существу идентичные спектры излучения, тогда как другие светодиоды остаются выключенными, измеряют силу света (LFLz) для каждого из других остающихся выключенными светодиодов и регулируют, в зависимости от каждого полученного измерения силы света, заданное значение тока питания (LCx) включенного светодиода.
3. Способ по п. 1, содержащий этапы, на которых:
в зависимости от измерений силы света (LFLz) определяют значение времени интегрирования (ITy) фоточувствительных элементов (у) датчика (OPS) спектрометра, расположенных на пути светового пучка (LB), излучаемого источником света и взаимодействовавшего с анализируемым веществом, и,
если значение времени интегрирования и/или заданное значение тока питания (LCx) каждого включенного светодиода (LDx) находится в интервале между пороговыми значениями (ITmy, ITMy, ICmx, ICMx), на каждый включенный светодиод подают ток питания (Ix), регулируемый в зависимости от заданного значения тока питания, при этом время интегрирования каждого фоточувствительного элемента регулируют по определенному значению времени интегрирования, и при помощи каждого элемента датчика получают измерения силы света (MSxy), позволяющие сформировать спектр.
4. Способ по п. 3, в котором определяют новые заданные значения тока питания (LCx) каждого включенного светодиода и/или время интегрирования (ITy) каждого элемента и подают ток питания (Ix), соответствующий определенному заданному значению тока питания, на каждый включенный светодиод, пока указанное определенное значение времени интегрирования не находится в интервале между пороговыми значениями (ITmy, ITMy).
5. Способ по п. 1, в котором заданное значение тока питания (LCx) каждого включенного светодиода регулируют также в зависимости от измерения силы света (LFL0), поступающего от фотодиода (PHD) источника света (LS), и/или от измерения температуры (TPL) источника света (LS), и/или от измерения силы тока (Ix) или напряжения питания (Vx) каждого включенного светодиода.
6. Способ по одному из пп. 1-5, содержащий тестовые этапы автоматической диагностики, включающие в себя одно из следующих сравнений: сравнения, чтобы определить, что измерения силы света (LFLz) и/или измерения (Ix, Vx) тока питания, подаваемого на включенный светодиод (LDx), и/или измерения температуры (TPL) источника света (LS) согласуются между собой и с каждым заданным значением тока питания (LCx) включенного светодиода, сравнения заданного значения тока питания, подаваемого на каждый включенный светодиод, с минимальными и максимальными значениями (LCmx, LCMx), и, если одно из сравнений приводит к выявлению дефекта, спектрометр переключают в режим (DG) с ухудшенными параметрами работы (OMD) или в режим неисправности (DF).
7. Способ по одному из пп. 1-5, содержащий этап коррекции измерений силы света (MSxy) с учетом отклонения температуры (ТРР) анализируемого вещества и/или температуры (TPS) датчика (OPS) от контрольной температуры таким образом, чтобы получить скорректированные измерения силы света (MSCxy) на основании измерений, произведенных при контрольной температуре, при этом скорректированные измерения образуют скорректированный спектр (MSCx(1…n)).
8. Способ по одному из пп. 1-5, содержащий этапы, на которых получают скорректированный спектр для каждого светодиода (LD1-LD4) и суммируют полученные скорректированные спектры посредством применения коэффициентов взвешивания для получения результирующего спектра (MR(1…n)), и, в случае необходимости, вычисляют среднее значение результирующих спектров, при этом число усредненных спектров может зависеть от режима работы (OMD) спектрометра, нормального или с ухудшенными параметрами.
9. Способ по одному из пп. 1-5, включающий в себя калибровку спектрометра и содержащий:
этапы определения минимального и максимального значений соответствия измерений силы света (LFLz) светового потока, производимого каждым светодиодом (LD1-LD4), с заданными значениями тока питания (LC1-LC4) каждого из светодиодов и/или с температурой (TPL) источника света, и/или
этапы определения минимального и максимального заданных значений (LCmx, LCMx) тока питания источника света, и/или
этапы определения минимального и максимального значений (ITmy, ITMy) времени интегрирования фоточувствительных элементов (у) датчика (OPS), и/или
этапы, осуществляемые в присутствии одного или нескольких контрольных веществ, для определения функции (f1), дающей оптимальное время интегрирования (ITy) фоточувствительного элемента (у) датчика (OPS) в зависимости от измерений силы света светового потока, производимого каждым светодиодом, и/или
этапы, осуществляемые в присутствии одного или нескольких контрольных веществ, в ходе которых отдельно изменяют температуру источника света и/или температуру (TPS) датчика (OPS), и/или температуру (ТРР) контрольного вещества, собирают измерения силы света (MSxy), получаемые при помощи датчика, заданные значения тока питания светодиодов, элементов датчика, и измерения температуры, и определяют функцию (f2), дающую скорректированное измерение силы света (MSCxy), соответствующее контрольной температуре, в зависимости от собранных измерений.
10. Спектрометр, содержащий источник света (LS), содержащий несколько светодиодов (LD1-LD4), спектры излучения которых охватывают в комбинации анализируемую полосу длин волн, датчик (OPS) с фоточувствительными элементами (у), расположенными на пути светового пучка после его взаимодействия с анализируемым веществом, и устройство (RPRC) управления, предназначенное для регулирования заданных значений тока питания (LCx) светодиодов (LD1-LD4) источника света и времени интегрирования (ITy) фоточувствительных элементов,
отличающийся тем, что устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью давать команду на подачу тока питания (Ix) по меньшей мере на один из светодиодов (LD1-LD4) для его включения и измерение силы света (LFLz), излучаемого источником света (LS), посредством измерения тока на контакте по меньшей мере одного из других светодиодов, который остается выключенным,
определять, в зависимости от каждого измерения силы света, заданное значение (LCx) силы тока каждого включенного светодиода, и
регулировать ток питания каждого включенного светодиода таким образом, чтобы он соответствовал заданному значению.
11. Спектрометр по п. 10, выполненный с возможностью включения только одного светодиода (LDx) источника света (LS) за один раз и с возможностью получения измерения силы света (LFLz) посредством измерения тока на контакте каждого из выключенных светодиодов источника света.
12. Спектрометр по п. 10, в котором источник света (LS) выполнен с возможностью подачи на устройство (RPRC) управления напряжений (Vx) и/или токов (Ix) питания светодиодов (LD1-LD4).
13. Спектрометр по п. 12, в котором светодиоды (LDx) установлены в одном электронном компоненте (LS), в случае необходимости, вместе с фотодиодом (PHD) и/или температурным датчиком (TSS).
14. Спектрометр по п. 10, содержащий температурный датчик (TSS), предназначенный для измерения температуры (TPL) источника света (LS), и/или температурный датчик, предназначенный для измерения температуры (TPS) датчика (OPS), и/или температурный датчик, предназначенный для измерения температуры (ТРР) анализируемого вещества.
15. Спектрометр по п. 10, содержащий измерительную ячейку (FLC), в которой анализируемое вещество взаимодействует со световым пучком (LB), оптический элемент (CLS) для формирования пучка на выходе источника света (LS) и его передачи в измерительную ячейку, фильтр длины волны (WFL), выполненный с возможностью пространственного распределения различных длин волн светового пучка на выходе измерительной ячейки и их передачи в различные фоточувствительные элементы (у) датчика (OPS), при этом источник света, оптический элемент, измерительная ячейка, фильтр и датчик соединены таким образом, чтобы не образовывалась воздушная зона, через которую может проходить световой пучок, между источником света и датчиком.
16. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью:
последовательно включать группы по меньшей мере из одного светодиода (LD1-LD4), при этом светодиоды одной группы имеют по существу идентичные спектры излучения, тогда как другие светодиоды остаются выключенными,
измерять силу света (LFLz) для каждого из других остающихся выключенными светодиодов и
регулировать, в зависимости от каждого полученного измерения силы света, заданное значение тока питания (LCx) включенного светодиода.
17. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью:
определять, в зависимости от измерений силы света (LFLz), значение времени интегрирования (ITy) фоточувствительных элементов (у) датчика (OPS) спектрометра, расположенных на пути светового пучка (LB), излучаемого источником света и взаимодействовавшего с анализируемым веществом, и,
если значение времени интегрирования и/или заданное значение тока питания (LCx) каждого включенного светодиода (LDx) находится в интервале между пороговыми значениями (ITmy, ITMy, ICmx, ICMx), подавать на каждый включенный светодиод ток питания (Ix), регулируемый в зависимости от заданного значения тока питания, регулировать время интегрирования каждого фоточувствительного элемента по определенному значению времени интегрирования, и получать при помощи каждого элемента датчика измерения силы света (MSxy), позволяющие сформировать спектр.
18. Спектрометр по п. 17, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью определять новые заданные значения тока питания (LCx) каждого включенного светодиода и/или время интегрирования (ITy) каждого элемента и подавать команду на подачу тока питания (Ix), соответствующего определенному заданному значению тока питания, на каждый включенный светодиод, пока указанное определенное значение времени интегрирования не находится в интервале между пороговыми значениями (ITmy, ITMy).
19. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью регулировать заданное значение тока питания (LCx) каждого включенного светодиода также в зависимости от измерения силы света (LFL0), поступающего от фотодиода (PHD) источника света (LS), и/или от измерения температуры (TPL) источника света (LS), и/или от измерения силы тока (Ix) или напряжения питания (Vx) каждого включенного светодиода.
20. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью выполнять тестовые этапы автоматической диагностики, включающие одно из следующих сравнений: сравнения, чтобы определить, что измерения силы света (LFLz) и/или измерения (Ix, Vx) тока питания, подаваемого на включенный светодиод (LDx), и/или измерения температуры (TPL) источника света (LS) согласуются между собой и с каждым заданным значением тока питания (LCx) включенного светодиода, сравнения заданного значения тока питания, подаваемого на каждый включенный светодиод, с минимальными и максимальными значениями (LCmx, LCMx), и, если одно из сравнений приводит к выявлению дефекта, переключать спектрометр в режим (DG) с ухудшенными параметрами работы (OMD) или в режим неисправности (DF).
21. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью корректировать измерения силы света (MSxy) с учетом отклонения температуры (ТРР) анализируемого вещества и/или температуры (TPS) датчика (OPS) от контрольной температуры таким образом, чтобы получить скорректированные измерения силы света (MSCxy) на основании измерений, произведенных при контрольной температуре, при этом скорректированные измерения образуют скорректированный спектр (MSCx(1…n)).
22. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью получать скорректированный спектр для каждого светодиода (LD1-LD4) и суммировать полученные скорректированные спектры посредством применения коэффициентов взвешивания для получения результирующего спектра (MR(1…n)), и, в случае необходимости, вычислять среднее значение результирующих спектров, при этом число усредненных спектров может зависеть от режима работы (OMD) спектрометра, нормального или с ухудшенными параметрами.
23. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью выполнять калибровку спектрометра, включающую:
этапы определения минимального и максимального значений соответствия измерений силы света (LFLz) светового потока, производимого каждым светодиодом (LD1-LD4), с заданными значениями тока питания (LC1-LC4) каждого из светодиодов и/или с температурой (TPL) источника света, и/или
этапы определения минимального и максимального заданных значений (LCmx, LCMx) тока питания источника света, и/или
этапы определения минимального и максимального значений (ITmy, ITMy) времени интегрирования фоточувствительных элементов (у) датчика (OPS), и/или
этапы, выполняемые в присутствии одного или нескольких контрольных веществ, для определения функции (f1), дающей оптимальное время интегрирования (ITy) фоточувствительного элемента (у) датчика (OPS) в зависимости от измерений силы света светового потока, производимого каждым светодиодом, и/или
этапы, выполняемые в присутствии одного или нескольких контрольных веществ, в ходе которых отдельно изменяют температуру источника света и/или температуру (TPS) датчика (OPS), и/или температуру (ТРР) контрольного вещества, собирают измерения силы света (MSxy), получаемые при помощи датчика, заданные значения тока питания светодиодов, элементов датчика, и измерения температуры, и определяют функцию (f2), дающую скорректированное измерение силы света (MSCxy), соответствующее контрольной температуре, в зависимости от собранных измерений.
RU2015127029A 2012-12-07 2013-12-04 Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе RU2637388C2 (ru)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1261757 2012-12-07
FR1261758 2012-12-07
FR1261757A FR2999333A1 (fr) 2012-12-07 2012-12-07 Procede et dispositif embarque d’analyse de fluide dans un moteur thermique
FR1261758A FR2999334B1 (fr) 2012-12-07 2012-12-07 Procede et dispositif embarque d’analyse de fluide dans un moteur thermique
PCT/FR2013/052941 WO2014087103A1 (fr) 2012-12-07 2013-12-04 Procédé et dispositif embarque d'analyse de fluide dans un moteur thermique

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2015127029A true RU2015127029A (ru) 2017-01-12
RU2637388C2 RU2637388C2 (ru) 2017-12-04

Family

ID=49886962

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2015127030A RU2015127030A (ru) 2012-12-07 2013-12-04 Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе
RU2015127029A RU2637388C2 (ru) 2012-12-07 2013-12-04 Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2015127030A RU2015127030A (ru) 2012-12-07 2013-12-04 Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе

Country Status (10)

Country Link
US (2) US9562851B2 (ru)
EP (2) EP2929322B1 (ru)
JP (1) JP2016501372A (ru)
KR (1) KR20150114465A (ru)
CN (2) CN104969058B (ru)
BR (2) BR112015013313A2 (ru)
CA (1) CA2892849A1 (ru)
MX (1) MX342198B (ru)
RU (2) RU2015127030A (ru)
WO (2) WO2014087103A1 (ru)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014111093A1 (de) * 2014-08-05 2016-02-11 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Sensorvorrichtung zum Bestimmen einer Konzentration eines Fluids, Fahrerassistenzsystem, Kraftfahrzeug sowie Verfahren

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54125089A (en) * 1978-03-22 1979-09-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd Smoke detector
GB2191574B (en) * 1986-06-16 1989-12-20 Philips Electronic Associated Method of and apparatus for spectroscopically analysing samples
FI77736C (fi) * 1987-06-25 1989-04-10 Valtion Teknillinen Foerfarande foer reglering av straolkaella och reglerbar straolkaella.
US5477853A (en) * 1992-12-01 1995-12-26 Somanetics Corporation Temperature compensation method and apparatus for spectroscopic devices
JP3235249B2 (ja) * 1992-12-18 2001-12-04 株式会社デンソー 光学的情報読取り装置
FI103074B1 (fi) * 1996-07-17 1999-04-15 Valtion Teknillinen Spektrometri
US6356774B1 (en) * 1998-09-29 2002-03-12 Mallinckrodt, Inc. Oximeter sensor with encoded temperature characteristic
US7423750B2 (en) * 2001-11-29 2008-09-09 Applera Corporation Configurations, systems, and methods for optical scanning with at least one first relative angular motion and at least one second angular motion or at least one linear motion
JP2001268324A (ja) * 2000-01-12 2001-09-28 Fuji Photo Film Co Ltd 光源装置、原稿読取装置及び方法
JP2001223861A (ja) * 2000-02-14 2001-08-17 Fuji Photo Film Co Ltd 画像読取装置および画像読取方法
US6617560B2 (en) 2001-05-30 2003-09-09 Watt Stopper, Inc. Lighting control circuit including LED for detecting exposure to radiation
US7116354B2 (en) * 2001-06-20 2006-10-03 Xenogen Corporation Absolute intensity determination for a light source in low level light imaging systems
US7204606B2 (en) * 2001-12-31 2007-04-17 R J Doran & Co Ltd. LED inspection lamp and LED spot light
JP3620798B2 (ja) * 2003-06-27 2005-02-16 株式会社アステム 非破壊分光測定器
US9075008B2 (en) * 2003-11-07 2015-07-07 Kyle H. Holland Plant treatment based on a water invariant chlorophyll index
US7329887B2 (en) * 2003-12-02 2008-02-12 3M Innovative Properties Company Solid state light device
FR2866956B1 (fr) * 2004-02-26 2006-05-19 Cit Alcatel Detection d'especes gazeuses minoritaires par spectroscopie d'emission optique
DE102004025448B4 (de) * 2004-05-19 2007-03-29 Bruker Optik Gmbh Verfahren zum Messen eines Spektrums einer Messprobe mittels eines Infrarot-Spektrometers und derartiges Infrarot-Spektrometer
US20060072319A1 (en) * 2004-10-05 2006-04-06 Dziekan Michael E Method of using light emitting diodes for illumination sensing and using ultra-violet light sources for white light illumination
US7938643B2 (en) * 2006-01-07 2011-05-10 Medical College Of Georgia Research Institute, Inc. Use of integrating sphere technology to provide uniform, high-intensity light, and wavelength mixing from light emitting diodes
US8296088B2 (en) * 2006-06-02 2012-10-23 Luminex Corporation Systems and methods for performing measurements of one or more materials
KR101618582B1 (ko) * 2007-04-20 2016-05-09 코닌클리케 필립스 엔.브이. 감지에 사용되는 ｌｅｄ를 갖는 조명 장치
US7601950B2 (en) * 2007-09-25 2009-10-13 Baker Hughes Incorporated System and method for downhole optical analysis
JP5671460B2 (ja) * 2008-08-07 2015-02-18 ユニバーシティ オブ マサチューセッツ 分光センサ
FR2940447B1 (fr) * 2008-12-23 2011-10-21 Continental Automotive France Spectrometre miniature embarque dans un vehicule automobile a detecteur de mesure et detecteur de reference unique
US9052276B2 (en) * 2009-06-08 2015-06-09 S.E.A. Medical Systems, Inc. Systems and methods for the identification of compounds using admittance spectroscopy
RU2011154222A (ru) * 2009-06-08 2013-07-20 Эс.И.Эй. МЕДИКАЛ СИСТЕМЗ, ИНК. Системы и способы для идентификации соединений в медицинских жидкостях с использованием спектроскопии полной проводимости
RU2427822C1 (ru) * 2009-12-03 2011-08-27 Учреждение Российской академии наук Центр фотохимии РАН Способ анализа содержания летучих органических соединений в газовой среде и матричный анализатор для его осуществления
US20130031644A1 (en) * 2011-05-23 2013-01-31 University Of Tennessee Research Foundation Autonomous lux reporter system and methods of use

Also Published As

Publication number Publication date
US9562850B2 (en) 2017-02-07
EP2929321B1 (fr) 2019-06-05
BR112015013313A2 (pt) 2017-07-11
RU2637388C2 (ru) 2017-12-04
EP2929322A1 (fr) 2015-10-14
US20150300951A1 (en) 2015-10-22
CN104969059A (zh) 2015-10-07
MX2015007174A (es) 2015-10-20
BR112015013222A2 (pt) 2017-07-11
WO2014087103A1 (fr) 2014-06-12
KR20150114465A (ko) 2015-10-12
EP2929322B1 (fr) 2016-10-12
WO2014087102A1 (fr) 2014-06-12
EP2929321A1 (fr) 2015-10-14
JP2016501372A (ja) 2016-01-18
MX342198B (es) 2016-09-20
US20150346085A1 (en) 2015-12-03
CN104969058B (zh) 2017-08-08
US9562851B2 (en) 2017-02-07
CN104969058A (zh) 2015-10-07
CA2892849A1 (fr) 2014-06-12
RU2015127030A (ru) 2017-01-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6042961B2 (ja) 測色ユニット
RU2524748C2 (ru) Система спектрального анализа длины волны для определения газов с использованием обработанной ленты
JP2013096883A5 (ru)
KR20150060749A (ko) 인공 조명을 위한 스펙트럼 최적화
US10921188B2 (en) Method for correcting a wavelength and tuning range of a laser spectrometer
US9640945B2 (en) Method and arrangement for actuating a wavelength-tunable laser diode in a spectrometer
US20050259250A1 (en) Method for measuring a spectrum of a sample by means of an infrared spectrometer and infrared spectrometer of this type
KR20080083307A (ko) 조명 유닛의 특성 결정 장치 및 조명 시스템과 광원 특성결정 방법
KR102012219B1 (ko) 피부 컬러 측정 장치 및 방법
US20220276154A1 (en) Method for analysing a gas using an optical sensor
RU2015127029A (ru) Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе
EP1722214A1 (en) Gas sensor arrangement and measuring method for improving long-term stability
KR20160089967A (ko) 클로로필 측정 센서프로브
CN106054536A (zh) 用于调节光刻曝光系统的光源的方法以及用于光刻设备的曝光组件
EP3077811B1 (en) A method and device for fatigue testing of photochromic, fluorescent or phosphorescent dyes
WO2023046523A1 (en) Respiratory gas sensing
JP2016501372A5 (ru)
JP2004170325A (ja) 分光計測装置
JP2012150083A (ja) 分光測定装置
US20170115219A1 (en) Gas analyzing apparatus
WO2016165269A1 (zh) 一种物体光学特性测量装置
KR101837061B1 (ko) 적분구 시스템 및 피코 암페어 미터의 신뢰성 평가장치
US8525997B1 (en) System and apparatus for improved low reflectance color measurement
JP6543065B2 (ja) ガス濃度測定装置
JP2021124385A (ja) 測定装置、測定方法および生成方法