RU2637388C2 - Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе - Google Patents
Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе Download PDFInfo
- Publication number
- RU2637388C2 RU2637388C2 RU2015127029A RU2015127029A RU2637388C2 RU 2637388 C2 RU2637388 C2 RU 2637388C2 RU 2015127029 A RU2015127029 A RU 2015127029A RU 2015127029 A RU2015127029 A RU 2015127029A RU 2637388 C2 RU2637388 C2 RU 2637388C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- led
- temperature
- supply current
- light source
- leds
- Prior art date
Links
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title description 13
- 239000012530 fluid Substances 0.000 title description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 101
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims abstract description 61
- 239000012491 analyte Substances 0.000 claims abstract description 27
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 claims abstract description 19
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims abstract description 19
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 68
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 16
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 13
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 8
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 3
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 claims description 2
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 10
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 8
- 238000012007 large scale cell culture Methods 0.000 description 6
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 5
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- AYEKOFBPNLCAJY-UHFFFAOYSA-O thiamine pyrophosphate Chemical compound CC1=C(CCOP(O)(=O)OP(O)(O)=O)SC=[N+]1CC1=CN=C(C)N=C1N AYEKOFBPNLCAJY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 5
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 3
- 101150072399 LSC1 gene Proteins 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 206010002091 Anaesthesia Diseases 0.000 description 1
- 102100023882 Endoribonuclease ZC3H12A Human genes 0.000 description 1
- 101710112715 Endoribonuclease ZC3H12A Proteins 0.000 description 1
- 101001096074 Homo sapiens Regenerating islet-derived protein 4 Proteins 0.000 description 1
- 101100511042 Oryza sativa subsp. japonica LFL1 gene Proteins 0.000 description 1
- 108700012361 REG2 Proteins 0.000 description 1
- 101150108637 REG2 gene Proteins 0.000 description 1
- 108091058543 REG3 Proteins 0.000 description 1
- 101100120298 Rattus norvegicus Flot1 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100412403 Rattus norvegicus Reg3b gene Proteins 0.000 description 1
- 102100027336 Regenerating islet-derived protein 3-alpha Human genes 0.000 description 1
- 102100037889 Regenerating islet-derived protein 4 Human genes 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000001949 anaesthesia Methods 0.000 description 1
- 230000037005 anaesthesia Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- QGVYYLZOAMMKAH-UHFFFAOYSA-N pegnivacogin Chemical compound COCCOC(=O)NCCCCC(NC(=O)OCCOC)C(=O)NCCCCCCOP(=O)(O)O QGVYYLZOAMMKAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000002106 pulse oximetry Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 230000017105 transposition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3577—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing liquids, e.g. polluted water
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/10—Arrangements of light sources specially adapted for spectrometry or colorimetry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
- G01N2021/3181—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths using LEDs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/062—LED's
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/062—LED's
- G01N2201/0624—Compensating variation in output of LED source
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/121—Correction signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/121—Correction signals
- G01N2201/1211—Correction signals for temperature
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/124—Sensitivity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/124—Sensitivity
- G01N2201/1242—Validating, e.g. range invalidation, suspending operation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/124—Sensitivity
- G01N2201/1247—Thresholding
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/127—Calibration; base line adjustment; drift compensation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/12—Circuits of general importance; Signal processing
- G01N2201/127—Calibration; base line adjustment; drift compensation
- G01N2201/12723—Self check capacity; automatic, periodic step of checking
Abstract
Изобретение относится к области спектрального анализа и касается спектрометра и способа управления спектрометром. Спектрометр включает в себя источник света, содержащий несколько светодиодов, спектры излучения которых охватывают в комбинации анализируемую полосу длин волн, датчик с фоточувствительными элементами, расположенными на пути светового пучка после его взаимодействия с анализируемым веществом, и устройство управления, предназначенное для регулирования заданных значений тока питания светодиодов источника света и времени интегрирования фоточувствительных элементов. Устройство управления выполнено с возможностью давать команду на подачу тока питания, по меньшей мере, на один из светодиодов для его включения и измерение силы света, излучаемого источником света. Сила света измеряется посредством измерения тока на контакте, по меньшей мере, одного из других светодиодов, которые остаются выключенными. В зависимости от каждого измерения силы света устройство управления определяет заданное значение силы тока каждого включенного светодиода и регулирует ток питания каждого включенного светодиода таким образом, чтобы он соответствовал заданному значению. Технический результат заключается в повышении точности и стабильности результатов измерений. 2 н. и 21 з.п. ф-лы, 8 ил.
Description
Настоящее изобретение относится к анализу текучих сред методом спектрометрии. Настоящее изобретение находит свое применение, в частности, но не исключительно для анализа текучих сред в тепловом двигателе, в частности, для анализа углеводородов, используемых в качестве топлива в таком двигателе. Этот анализ касается всех тепловых двигателей, то есть двигателей, применяемых на наземном, морском и воздушном транспорте, военных двигателей или стационарных двигателей.
Ужесточение норм, регламентирующих охрану окружающей среды, требует от конструкторов и пользователей тепловых двигателей вести поиск оптимизации расхода топлива и снижения вредных выбросов двигателей. Однако, как выяснилось, некоторые характеристики топлива, такие как его состав, напрямую влияют на характеристики и нормальную работу тепловых двигателей. Выяснилось также, что некоторые из этих характеристик могут меняться, в частности, в случае топлива на основе углеводородов, в частности, в зависимости от происхождения топлива. Действительно, считается, что некоторые характеристики, такие как состав топлива на основе углеводородов, могут меняться на 15-40% и даже больше. Вместе с тем, знание этих характеристик позволяет определять некоторые параметры регулирования двигателя, чтобы снижать расход топлива и вредные выбросы двигателя. Кроме того, знание качественных характеристик топлива позволяет обнаруживать загрязнения или аномалии этого топлива и, следовательно, предупреждать негативные последствия для двигателя или транспортного средства в целом.
Следовательно, необходимо анализировать такие характеристики, как состав топлива питания теплового двигателя, и учитывать полученные результаты для коррекции рабочих параметров двигателя. В связи с этим для анализа углеводородов или углеводородных смесей применяют спектрометрию в близкой инфракрасной области (700-2500 нм).
Датчик, основанный на спектрометрии, в частности, в близкой инфракрасной области, содержит спектрометр и вычислительное устройство обработки данных, позволяющее преобразовать необработанные выходные сигналы (необработанный спектр) спектрометра в качественную характеристику измеряемого вещества. Спектрометр содержит источник света, который охватывает по меньшей мере одну полосу длин волн, в которой необходимо осуществлять анализ, измерительную ячейку, в которой взаимодействуют свет, излучаемый источником света, и анализируемое вещество, и датчик, который выдает спектр света на выходе измерительной ячейки. Спектрометр может измерять спектр анализируемого вещества при пропускании, отражении или поглощении светового пучка, излучаемого источником света. Спектрометр в основном характеризуется своим спектральным диапазоном анализа (ширина и положение генерируемого спектра), своей чувствительностью анализа или числом точек измерения, образующих генерируемый спектр, и своей точностью измерения.
Современные спектрометры, как правило, разработанные для лабораторий или для дорогих и сложных промышленных установок, не адаптированы к окружающей среде теплового двигателя и, в частности, к окружающей среде автомобиля, где они могут подвергаться воздействию сильных вибраций и экстремальных температур. Не говоря уже о своей сложности, высокой стоимости, относительно большом габарите и необходимости обслуживания, эти приборы требуют применения многочисленных оптических компонентов, что связано с жесткими требованиями, относящимися к наладке, манипулированию и хранению.
Поэтому существует необходимость в реализации спектрометра, совместимого с масштабами серийного производства, имеющего стоимость, соотносимую со стоимостью автомобильных компонентов, и адаптированного к окружающей среде автомобиля. Для этого особый интерес представляет использование одного или нескольких светодиодов (LED) в качестве источника света.
Однако при этом следует отметить, что измеряемый спектр, который является характеристикой качества и/или состава анализируемого вещества, подвержен влиянию внешних факторов, таких как температура, и также характеристик спектра светового пучка, взаимодействующего с анализируемым веществом. К тому же светодиоды подвержены старению, поэтому их спектр излучения меняется в течение времени, как указано в статье из LED Journal "LED lighting Life Prediction", Jianzhong Jiao, Ph. D., Director of Regulations & Emerging Technologies, Osram Opto Semiconductors, Inc, Oct. 2009. Кроме того, как известно и доказано, спектрометр в близкой инфракрасной области является чувствительным к температуре (что описано, например, в публикации "On-line monitoring of batch cooling crystallization of organic compounds method" - Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems 96 (2009) 49-58, Zeng-Ping Chen, Julian Morris, Antonina Borissova, Shahid Khan, Tariq Mahmud, Rado Penchev, Kevin j. Roberts). Таким образом, инфракрасный спектрометр, использующий свет на основе светодиода, оказывается исключительно чувствительным к температуре. Действительно, спектр излучения светодиода значительно меняется как по интенсивности, так и по отклонению длины волны от максимального пика, когда температура меняется всего на несколько градусов, как показано в публикации "Temperature Dependence of LED and its Theoretical Effect on Pulse Oximetry", British Journal of Anaesthesia, 1991, Vol. 67, No 5 638-643 (K.J. Reynolds, B.A., M.SC, J.P. De Kock, B.A., L. Tarassenko, M.A., D.PHIL., C.EKG., M.I.E.E. and J.T.B. Moyle, M.B., I.ENG., M.rNST.M.c, M.I.ELEC.I.E.).
Однако датчик, связанный с тепловым двигателем, установленным, в частности, на транспортном средстве, должен работать в очень широком температурном диапазоне (в зависимости от применения современные стандарты предусматривают температурные диапазоны от -40°C до +105°C и даже до +150°C). Кроме того, бортовые датчики должны гарантированно иметь большой срок службы (в зависимости от применения современные стандарты предусматривают срок службы от нескольких тысяч часов до нескольких сотен тысяч часов). Поэтому для обеспечения нормальной работы спектрометра крайне необходимо контролировать в реальном времени влияние температуры и старения источника света для обеспечения качественного определения анализируемого вещества, которое должно быть точным и надежным.
Следовательно, необходимо также разработать спектрометр, выдающий стабильный спектральный сигнал, с максимально постоянным соотношением сигнал/шум, причем в широком диапазоне изменения окружающей температуры и на длительный срок работы.
Согласно вариантам выполнения, предложен способ управления спектрометром для анализа вещества, при этом спектрометр содержит источник света, содержащий несколько светодиодов, спектры излучения которых охватывают в комбинации полосу длин волн анализа, при этом способ содержит этапы, на которых: подают ток питания по меньшей мере на один из светодиодов для его включения и измеряют силу света, излучаемого источником света, посредством измерения тока на контакте по меньшей мере одного из других светодиодов, который остается выключенным, в зависимости от каждого измерения силы света определяют заданное значение силы тока каждого включенного светодиода и регулируют ток питания каждого включенного светодиода таким образом, чтобы он соответствовал заданному значению.
Согласно варианту выполнения, способ содержит этапы, на которых осуществляют последовательное включение групп по меньшей мере из одного светодиода, при этом светодиоды одной группы имеют по существу идентичные спектры излучения, тогда как другие светодиоды остаются выключенными, измерение силы света для каждого из других остающихся выключенными светодиодов и регулирование, в зависимости от каждого полученного измерения силы света, заданного значения тока питания включенного светодиода.
Согласно варианту выполнения, способ содержит этапы, на которых: в зависимости от измерений силы света определяют значение времени интегрирования фоточувствительных элементов датчика спектрометра, расположенных на пути светового пучка, излучаемого источником света и взаимодействовавшего с анализируемым веществом, и, если значение времени интегрирования и/или заданное значение тока питания каждого включенного светодиода находится в интервале между пороговыми значениями, на каждый включенный светодиод подают ток питания, регулируемый в зависимости от заданного значения тока питания, время интегрирования каждого фоточувствительного элемента регулируют по определенному значению времени интегрирования, и при помощи каждого элемента датчика получают измерения силы света, позволяющие сформировать спектр.
Согласно варианту выполнения, определяют новые заданные значения тока питания каждого включенного светодиода и/или время интегрирования каждого элемента и подают ток питания, соответствующий определенному заданному значению тока питания, на каждый включенный светодиод, пока определенное значение времени интегрирования не находится в интервале между пороговыми значениями.
Согласно варианту выполнения, заданное значение тока питания каждого включенного светодиода регулируют также в зависимости от измерения силы света, поступающего от фотодиода источника света, и/или от измерения температуры источника света, и/или от измерения силы тока или напряжения питания каждого включенного светодиода.
Согласно варианту выполнения, способ содержит тестовые этапы автоматической диагностики, включающие в себя по меньшей мере одно из следующих сравнений: сравнения, чтобы определить, что измерения силы света и/или измерения тока питания, подаваемого на включенный светодиод, и/или измерения температуры источника света согласуются между собой и с каждым заданным значением тока питания включенного светодиода, сравнения заданного значения тока питания, подаваемого на каждый включенный светодиод, с минимальными и максимальными значениями, и, если одно из сравнений приводит к выявлению дефекта, спектрометр переключают в режим работы с ухудшенными параметрами или в режим неисправности.
Согласно варианту выполнения, способ содержит этап коррекции измерений силы света с учетом отклонения температуры анализируемого вещества и/или температуры датчика от контрольной температуры таким образом, чтобы получить скорректированные измерения силы света на основании измерений, произведенных при контрольной температуре, при этом скорректированные измерения образуют скорректированный спектр.
Согласно варианту выполнения, способ содержит этапы получения скорректированного спектра для каждого светодиода и суммирования полученных скорректированных спектров посредством применения коэффициентов взвешивания для получения результирующего спектра, и, в случае необходимости, вычисления среднего значения результирующих спектров, при этом число усредненных спектров может зависеть от режима работы спектрометра, нормального или с ухудшенными параметрами.
Согласно варианту выполнения, способ включает в себя калибровку спектрометра, в том числе: этапы определения минимального и максимального значений соответствия измерений силы света светового потока, производимого каждым светодиодом, с заданными значениями тока питания каждого из светодиодов и/или с температурой источника света, и/или этапы определения минимального и максимального заданных значений тока питания источника света, и/или этапы определения минимального и максимального значений времени интегрирования фоточувствительных элементов датчика, и/или этапы, осуществляемые в присутствии одного или нескольких контрольных веществ, для определения функции, дающей оптимальное время интегрирования фоточувствительного элемента датчика в зависимости от измерений силы света светового потока, производимого каждым светодиодом, и/или этапы, осуществляемые в присутствии одного или нескольких контрольных веществ, в ходе которых отдельно изменяют температуру источника света и/или температуру датчика, и/или температуру контрольного вещества, собирают измерения силы света, получаемые при помощи датчика, заданные значения тока питания светодиодов, элементов датчика, и измерения температуры, и определяют функцию, дающую скорректированное измерение силы света, соответствующее контрольной температуре, в зависимости от собранных измерений.
Согласно вариантам выполнения, предложен также спектрометр, содержащий источник света, содержащий несколько светодиодов, спектры излучения которых охватывают в комбинации полосу длин волн анализа, датчик, содержащий фоточувствительные элементы, расположенные на пути светового пучка после его взаимодействия с анализируемым веществом, и устройство управления, регулирующее заданные значения тока питания светодиодов источника света и время интегрирования фоточувствительных элементов, при этом устройство управления выполнено с возможностью осуществления описанного выше способа.
Согласно варианту выполнения, спектрометр выполнен с возможностью включения только одного светодиода источника света за один раз и с возможностью получения измерения силы света посредством измерения тока на контакте каждого из выключенных светодиодов источника света.
Согласно варианту выполнения, источник света выполнен с возможностью подачи на устройство управления напряжений и/или токов питания светодиодов.
Согласно варианту выполнения, светодиоды установлены в одном электронном компоненте, в случае необходимости, вместе с фотодиодом и/или температурным датчиком.
Согласно варианту выполнения, спектрометр содержит температурный датчик, выдающий измерения температуры источника света, и/или температурный датчик, выдающий измерения температуры датчика, и/или температурный датчик, выдающий измерения температуры анализируемого вещества.
Согласно варианту выполнения, спектрометр содержит измерительную ячейку, в которой анализируемое вещество взаимодействует со световым пучком, оптический элемент для формирования пучка на выходе источника света и его передачи в измерительную ячейку, фильтр длины волны, выполненный с возможностью пространственного распределения различных длин волн светового пучка на выходе измерительной ячейки и их передачи в различные фоточувствительные элементы датчика, при этом источник света, оптический элемент, измерительная ячейка, фильтр и датчик соединены таким образом, чтобы избегать образования воздушной зоны, через которую может проходить световой пучок, между источником света и датчиком.
Далее следует описание не ограничительных примеров выполнения изобретения и осуществления способа со ссылками на прилагаемые чертежи, на которых:
фиг. 1 - схема спектрометра в соответствии с изобретением;
фиг. 2 - электронная схема управления источником света спектрометра согласно варианту выполнения;
фиг. 3А и 3B - спектры излучения светодиодов в виде кривых изменения силы излучаемого света в зависимости от длины волны;
фиг. 4 - спектры чувствительности светодиодов в виде кривых изменения силы генерируемого электрического тока в зависимости от длины волны;
фиг. 5 - электронная схема управления источником света спектрометра согласно другому варианту выполнения;
фиг. 6 - последовательность этапов, осуществляемая процессором регулирования спектрометра согласно варианту выполнения;
фиг. 7 - график, определяющий рабочие зоны спектрометра.
На фиг. 1 показан спектрометр, выполненный, в частности, с возможностью соблюдения специфических требований к датчику, установленному на транспортном средстве или на тепловом двигателе. Спектрометр содержит:
- источник света LS, излучающий световой пучок LB,
- оптический элемент CLS на основе линз для формирования пучка LB, производимого источником LS,
- измерительную ячейку FLC, в которой анализируемое вещество взаимодействует с пучком LB,
- фильтр длины волны WFL, позволяющий распределять в пространстве различные длины волн пучка LB на выходе ячейки FLC, и
- датчик OPS, который выдает измерения, позволяющие получить спектр света на выходе фильтра WFL.
Источник света LS охватывает по меньшей мере одну полосу длин волн, называемую полосой «анализа», в которой необходимо осуществлять измерения спектра. Оптический элемент CLS преобразует геометрию пучка и направляет его в измерительную ячейку FLC. Оптический элемент CLS может, например, содержать коллимационную линзу, которая позволяет получить пучок LB с параллельными лучами. Ячейка FLC содержит выходное окно OPW, пропускающее к датчику OPS свет после его взаимодействия с анализируемым веществом. Датчик OPS содержит несколько фоточувствительных элементов (n элементов) и принимает свет, пропускаемый окном OPW через фильтр WFL. Фильтр WFL распределяет длины волн, образующие свет, передаваемый измерительной ячейкой FLC на фоточувствительные элементы датчика OPS, таким образом, чтобы каждая ячейка датчика OPS принимала только сокращенный диапазон длин волн, принадлежащий к полосе длин волн, соответствующей генерируемому спектру. Фильтр WFL может быть, например, фильтром Фабри-Перро или фильтром линейного типа и может обеспечивать пространственный разброс длин волн порядка 2050 нм/мм. Датчик OPS может быть датчиком типа CCD или CMOS и может содержать колодку с набором из 20-200 фоточувствительных элементов.
Источник света LS содержит один или несколько светодиодов (р светодиодов), которые могут быть интегрированы в один электронный компонент, связанный с одной линзой LLD, концентрирующей световые лучи, излучаемые светодиодами, в пучок с небольшим телесным углом. Ток питания или прямое напряжение каждого из светодиодов можно измерять при помощи известных специалисту электронных средств. Источник света LS можно закрепить на оптическом элементе CLS через оптический блок ОВ, через который проходит световой пучок LB, излучаемый источником LS, таким образом, чтобы не захватывать воздух в зоне, через которую проходит пучок. Оптический блок ОВ является прозрачным для анализируемых длин волн и может быть сплошным или может быть полым и заполненным инертной текучей средой. Боковые стороны блока ОВ, через которые не проходит световой пучок, выходящий из источника SL, могут содержать непрозрачное покрытие, чтобы препятствовать утечкам света через эти стороны.
Фильтр WFL закреплен на окне OPW таким образом, чтобы не захватывать воздух напрямую или через оптический блок, имеющий те же характеристики, что и описанные ранее для оптического блока ОВ. Точно так же, фильтр WFL закреплен на входном окне датчика OPS таким образом, чтобы не захватывать воздух напрямую или через оптический блок, который может иметь те же характеристики, что и описанные ранее для оптического блока ОВ.
Таким образом, спектрометр может быть моноблочным, что облегчает его хранение и манипулирование им в промышленных условиях. Юстировку различных оптических элементов, входящих в состав спектрометра, можно произвести раз и навсегда во время изготовления спектрометра. Отсутствие воздуха в зоне, через которую проходит световой пучок LB, между источником LS и датчиком OPS позволяет также избегать любой возможности конденсации водяного пара в этой зоне, поскольку присутствие водяных капель на пути пучка LB может помешать анализу вещества в измерительной ячейке FLC.
Спектрометром управляют при помощи устройства управления и регулирования RPRC, которое регулирует ток питания LCx (где х является целым числом от 1 до р) каждого светодиода, а также время интегрирования ITy (где y является целым числом от 1 до n) каждого фоточувствительного элемента y датчика OPS в зависимости от различных параметров, включая по меньшей мере один из следующих параметров: сила света LFLx светового потока, излучаемого светодиодами источника света LS, температура TPL источника света LS, температура ТРР анализируемого вещества и температура TPS датчика OPS. Время интегрирования ITy фоточувствительного элемента соответствует времени, в течение которого потенциальная яма фоточувствительного элемента остается в состоянии заряда под действием светового потока.
Согласно варианту выполнения, силу LFLx светового потока, излучаемого каждым светодиодом источника LS, измеряют при помощи остающихся выключенными светодиодов источника LS (получающих нулевой ток питания), и в данный момент включены только один или несколько светодиодов источника LS. Для генерирования спектра измерения светодиоды источника включают последовательно группами по меньшей мере из одного светодиода, тогда как каждый по меньшей мере из части остающихся выключенными светодиодов источника LS используют как фотодиод для измерения силы света, излучаемого источником LS. После включения группы по меньшей мере из одного светодиода спектр измеряют при помощи фоточувствительных элементов датчика OPS. Когда все светодиоды оказываются включенными по меньшей мере один раз в течение цикла включения светодиодов, полученные спектры комбинируют для получения искомого спектра измерения.
Согласно варианту выполнения, устройство регулирования RPRC осуществляет регулирование в режиме замкнутого контура одновременно тока питания LCx светодиодов источника LS и времени интегрирования ITy фоточувствительных элементов датчика OPS. Когда время интегрирования ITy достигает предельного значения, но при этом на выходе датчика OPS не получают удовлетворительного сигнала (в интервале между двумя предельными значениями), производят коррекцию силы или напряжения тока питания LCx источника света. Это регулирование предназначено для стабилизации сигнала, принимаемого каждым из фоточувствительных элементов датчика, а также для минимизации влияния внешних факторов на само анализируемое вещество, таких как колебания окружающей температуры или старение светодиодов источника LS. Это регулирование позволяет спектрометру работать в очень широком температурном диапазоне, сохраняя при этом относительно постоянное во времени и однородное соотношение сигнал/шум в зависимости от длины волны и, следовательно, по существу постоянную чувствительность измерения.
Время интегрирования датчика OPS можно корректировать индивидуально для каждого фоточувствительного элемента датчика OPS, например, выбирая в качестве общего времени интегрирования минимальное из значений времени интегрирования ITy, определенных для каждого из элементов y.
Устройство регулирования RPRC получает измерение силы света MSy для каждого элемента y датчика OPS и может выдавать измерения MSCy, скорректированные в зависимости от различных параметров, таких как температура ТРР анализируемого вещества и/или температура TPS датчика OPS.
На фиг. 2 показана электронная схема управления LSCC источником света LS согласно варианту выполнения. Как показано на фиг. 2, схема LSCC подключена к источнику света LS и соединена с устройством регулирования RPRC через модуль преобразования CVM, содержащий несколько аналого-цифровых преобразователей и несколько цифро-аналоговых преобразователей. Источник света LS содержит несколько светодиодов LD1, LD2, LD3, LD4. Схема LSCC содержит схемы регулирования тока REG1, REG2, REG3, REG4, усилители с регулируемым коэффициентом усиления АН, А12, А13, А14, А21, А22, А23, А24, переключатели СМ1, СМ2, CM3, СМ4 и резисторы R1, R2, R3, R4. Катод каждого светодиода LD1-LD4 подключен к массе. Анод каждого светодиода LD1-LD4 соединен через соответствующий переключатель СМ1-СМ4 с входом одного из усилителей А21-А24 и с выходом одного из усилителей А11-А14. Выход каждого из усилителей А21-А24 соединен с входом аналого-цифрового преобразователя модуля преобразования CVM, который передает в устройство RPRC цифровые значения измерения силы света LFL1, LFL2, LFL3, LFL4, поступающие от светодиодов LD1-LD4. Каждый усилитель А11-А14 соединен с источником напряжения питания AV через один из резисторов R1-R4. Каждый усилитель А11-А14 принимает на входе управления коэффициентом усиления сигнал управления током АС1-АС4, выдаваемый одним из регуляторов REG1-REG4. Каждый регулятор REG1-REG4 производит измерение тока питания I1-I4 светодиода LD1-LD4, с которым он соединен. Каждый регулятор REG1-REG4 получает заданное значение тока LC1-LC2, выдаваемое в цифровом виде устройством регулирования RPRC и преобразованное цифро-аналоговым преобразователем модуля CVM. Каждый регулятор REG1-REG4 регулирует один из сигналов управления током АС1-АС4 в зависимости от заданного значения тока LC1-LC4, которое он получает в зависимости силы тока I1-I4, измеряемой им на выходе усилителя А1-А4, коэффициентом усиления которого он управляет, таким образом, чтобы измеряемый ток I1-I4 соответствовал заданному значению тока LC1-LC4.
Схема LSCC или источник тока LS может содержать температурный датчик TSS для измерения температуры источника LS. Этот температурный датчик TSS подключен к аналого-цифровому преобразователю модуля CVM, который выдает в устройство RPRC цифровые значения измерения температуры TPL источника LS.
Каждый регулятор REG1-REG4 может передавать измерение тока I1-I4 в аналого-цифровой преобразователь модуля CVM, который, в свою очередь, передает соответствующее цифровое значение в устройство RPRC. Точно так же, анод каждого светодиода LD1-LD4 может быть подключен к аналого-цифровому преобразователю модуля CVM, который выдает в устройство RPRC цифровое значение, характеризующее напряжение V1-V4 анода светодиода. Кроме того, светодиоды LD1-LD4 могут быть выполнены на одной полупроводниковой подложке и могут быть интегрированы в один компонент. Устройство RPRC может содержать соединитель для своего подключения через последовательную или параллельную шину DTB к вычислительному устройству и для передачи спектров измерения MR (1…n) и рабочего состояния OMD, а также, в случае необходимости других сигналов, например, связанных с измерениями, осуществляемыми на спектрометре.
В примере, представленном на фиг. 2, источник света LS содержит четыре светодиода LD1-LD4. Каждый светодиод может излучать свет со спектром в виде асимметричной кривой Гаусса. Так, на фиг. 3А показаны спектры излучения светодиодов LD1-LD4 в виде кривых С1-С4 изменения силы излучаемого света в зависимости от длины волны. Кривые С1-С4, показанные на фиг. 3А, были получены при постоянном значении тока питания, идентичном для всех светодиодов LD1-LD4. Значения силы света, показанные на оси ординат, являются нормализованными значениями. В примере, представленном на фиг. 3А, кривая С1 спектра светодиода LD1 имеет максимум силы света в значении 1 при длине волны, примерно равной 850 нм. Кривая С2 спектра светодиода LD2 показывает максимум силы света в значении около 0.92 при длине волны, примерно равной 890 нм. Кривая С3 спектра светодиода LD3 показывает максимум силы света в значении около 0.41 при длине волны, примерно равной 940 нм. Кривая С4 спектра светодиода LD4 показывает максимум силы света в значении около 0.22 при длине волны, примерно равной 970 нм. На фиг. 3 можно заметить, что, чем больше длина волны максимальной силы света, излучаемого светодиодом LD1-LD4, тем меньше эта сила света.
На фиг. 3B в виде кривых C1'С4' изменения силы излучаемого света в зависимости от длины волны показаны спектры излучения светодиодов LD1-LD4 после коррекции тока питания LC1-LC4 каждого светодиода LD1-LD4 устройством регулирования RPRC. Все показанные на фиг. 3B кривые С1'-С4' имеют нормализованное максимальное значение силы света, равное 1. На фиг. 3B также в виде кривой CR показан комбинированный спектр излучения, излучаемый, когда диоды LD1-LD4 включены одновременно при скорректированном токе питания LC1-LC4. В примере, представленном на фиг. 3B, комбинированный спектр излучения источника света растянут примерно от 840 до 980 нм. Следует отметить, что цифровые значения на фиг. 3А и 3B представлены в качестве примера и могут меняться, в частности, в зависимости от условий изготовления светодиодов.
На фиг. 4 показаны спектры чувствительности светодиодов LD1-LD4 в виде кривых C11-С14 изменения силы генерируемого тока в зависимости от длины волны. Эти спектры были получены путем измерения силы тока, генерируемого каждым светодиодом LD1-LD4, когда его светоизлучающая поверхность экспонируется световым потоком 1 мВт/см2 и в отсутствие тока питания. Как показано на фиг. 4, ток, генерируемый светодиодами LD1-LD4, достигает нескольких десятых мкА, когда на светодиод действует световой поток в 1 мВт/см2.
Согласно варианту выполнения, переключателями СМ1-СМ4 управляют таким образом, чтобы включать только один из светодиодов LD1-LD4 за один раз, при этом все другие светодиоды выключены (не получают тока питания) и работают как фотодиоды. Выключенные светодиоды выдают, каждый, измерение LFL1-LFL4 (три измерения из четырех возможных) силы света, генерируемого включенным светодиодом, в их соответствующем спектре чувствительности. Как только датчик OPS выдает спектр измерения при включенном светодиоде, этот светодиод выключают и включают другой светодиод и так далее для всех других светодиодов. Спектры, полученные при помощи каждого из включенных светодиодов, после этого комбинируют соответствующим образом для получения результирующего спектра MR(1…n).
Следует отметить, что, поскольку одновременно включен только один светодиод LD1-LD4, схему LSCC можно упростить, сохраняя только один из регуляторов REG1-REG4 и только один из усилителей А11-А14. Каждый из переключателей СМ1-СМ4 содержит в этом случае один контакт, подключенный к выходу оставшегося усилителя А11-А14, один контакт, подключенный к аноду светодиода LD1-LD4, и один контакт, подключенный к входу одного из усилителей А21-А24.
Переключатели СМ1-СМ4 можно исключить, если регуляторы REG1-REG4 (или оставшийся регулятор) поддерживают при плавающем потенциале свой вход тока I1-I4 и усилители А11-А13 (или оставшийся усилитель) поддерживают при плавающем потенциале свой выход усиленного тока.
Кроме того, результирующий спектр излучения (кривая CR) может быть не полностью перекрыт комбинированным спектром чувствительности светодиодов LD1-LD4. В этом случае можно использовать фотодиод, измеряющий напрямую силу света, излучаемого каждым включенным светодиодом. Этот фотодиод может быть, например, интегрирован в источник LS.
На фиг. 5 представлена электронная схема управления LSC1 источником света LSI согласно варианту выполнения. На фиг. 5 источник света LSI отличается от источника света LS тем, что содержит фотодиод PHD. Схема LSC1 отличается от схемы LSCC тем, что содержит дополнительный усилитель А20, получающий выходной сигнал фотодиода PHD и выдающий электрический сигнал измерения силы света LFL0 в аналого-цифровой преобразователь модуля CVM преобразования. Устройство RPRC регулирования использует цифровое значение измерения LFL0 вместе с цифровыми значениями измерений LFL1-LFL4 для регулирования силы света, излучаемого источником LS1. Пример спектра чувствительности фотодиода показан на фиг. 4. Так, на фиг. 4 показана также кривая CP чувствительности фотодиода, который можно использовать в схеме, показанной на фиг. 5. Действительно, кривая CP является по существу постоянной (меняется от 0.5 до 0.6) в полосе длин волн анализа, примерно между 840 и 980 нм.
На фиг. 6 представлена последовательность этапов, которую может осуществлять устройство RPRC регулирования. Показанная на фиг. 6 последовательность этапов включает в себя этапы S1-S18. На этапе S1 устройство RPRC устанавливает по заданному значению LCx ток питания (сила тока или напряжение) светодиода LDx источника света LS (при этом х последовательно равно 1, 2, 3 и 4 в примере на фиг. 2). Значение LCx является заранее определенным первоначальным значением или значением, ранее примененным для светодиода LDx. На следующих этапах S2 и S3 устройство RPRC получает измерения силы света LFLz (при этом z отличается от х) от не включенных светодиодов LD1-LD4, и, в случае необходимости, измерение силы света LFL0, поступающее от фотодиода, и измерение температуры TPL, поступающее от датчика TSS. На следующих этапах S4 и S5 устройство RPRC посредством равнения определяет, согласуются ли принятые измерения силы света LFLz и температуры TPL между собой и с током LCx, подаваемым на светодиод LDx. Эти этапы можно осуществлять при помощи номограмм изменения силы света, излучаемого светодиодом LDx, в зависимости от его тока питания и от его температуры. Сравнения, производимые на этапах S4 и S5, позволяют осуществить автоматическую диагностику спектрометра на этапе S6. Так, если сравнения на этапах S4 и S5 выявляют нарушение в работе и если спектрометр находится в нормальном режиме работы OMD, спектрометр переходит в режим DG с ухудшенными параметрами работы OMD. Если сравнения на этапах S4 и S5 выявляют нарушение в работе и если спектрометр находится в режиме с ухудшенными параметрами работы DG, спектрометр переходит на этапе S18 в режим неисправности DF, в котором он больше не может работать. Если сравнения на этапах S4 и S5 не показывают нарушений в работе, устройство RPRC осуществляет следующие этапы S7 и S8. На этапе S7 устройство RPRC определяет оптимальное время интегрирования ITy каждого фоточувствительного элемента y датчика OPS при помощи функции f1, применяемой к значениям силы света LFLz, измеренным на этапе S2. Функцию f1 можно определить при помощи номограмм, дающих оптимальное время интегрирования каждого элемента y датчика OPS в зависимости от измерений силы излучаемого света LFLz, поступающих от каждого светодиода, работающего в режиме фотодиода. На этапе S8 устройство RPRC сравнивает для каждого элемента y полученное время интегрирования ITy с минимальным ITmy и максимальным ITMy значениями, определенными для элемента y. Если время интегрирования ITy находится в интервале между минимальным и максимальным значениями ITmy, ITMy для каждого элемента y, устройство RPRC осуществляет этапы S15-S17, затем возвращается на этап S1 для осуществления новой фазы регулирования, в противном случае оно осуществляет этап S9.
На этапе S9 устройство RPRC сравнивает оптимальное время интегрирования ITy с минимальным временем интегрирования ITmy для каждого элемента y, по которому тест на этапе S8 не был проверен. Если время интегрирования ITy меньше времени интегрирования ITmy для всех или части элементов у датчика OPS, модуль RPRC осуществляет этап S10, затем S12, в противном случае (когда время интегрирования ITy превышает максимальное время интегрирования ITMy для всех или для части элементов y) оно осуществляет этапы S11 и S12. На этапе S10 устройство RPRC уменьшает на один шаг STP ток питания LCx светодиода LDx. На этапе S11 устройство RPRC инкрементирует ток питания LCx светодиода LDx на шаг STP. На этапе S12 устройство RPRC определяет, находится ли новый ток питания LCx, полученный на этапе S10 или S11, в интервале между минимальным LCmx и максимальным LCMx значениями, определенными для светодиода LDx. Если это так, устройство RPRC возвращается на этап S1 для осуществления новой фазы регулирования. В противном случае устройство RPRC осуществляет этап S13, на котором оно тестирует режим работы OMD спектрометра. Если режим OMD является нормальным NL, устройство RPRC осуществляет этап S14, на котором режим работы OMD переходит в режим DG с ухудшенными параметрами. Если на этапе S13 режим OMD является режим DG с ухудшенными параметрами, устройство RPRC осуществляет этап S18, на котором режим OMD переходит в режим неисправности DF.
Таким образом, на этапах S10 и S11, если оптимальное время интегрирования ITy, определенное по меньшей мере для одного фоточувствительного элемента y, находится за пределами минимального и максимального порогов ITmy и ITMy, к току питания LCx светодиода LDx добавляют положительный или отрицательный шаг STP определенной амплитуды (положительный, если оптимальное время интегрирования ITy превышает максимальный порог ITMy, и отрицательный, если это время интегрирования меньше минимального порога ITmy). При этом на этапах S1-S7 опять определяют новое оптимальное время интегрирования ITy в зависимости от нового тока LCx. Этапы S1-S12 повторяют, пока оптимальное время интегрирования ITy остается за пределами порогов ITmy и ITMy и пока ток LCx остается в интервале между порогами LCmx и LCMx.
На этапе S15 устройство RPRC устанавливает время интегрирования каждого элемента y датчика OPS по его оптимальному времени интегрирования ITy, определенному на этапе S7. На этапе S16 устройство RPRC считывает измерение MSxy, выдаваемое каждым элементом y при включенном светодиоде LDx, а также, в случае необходимости, измерение температуры TP анализируемого вещества в измерительной ячейке FLC (ТРР) и/или измерение температуры датчика OPS (TPS) и/или измерение температуры источника LS (TPL). На этапе S17 устройство RPRC применяет поправку к каждому измерению MSxy при помощи функции f2 и выдает скорректированное измерение MSCxy для каждого элемента y. Функцию f2 применяют к измеренной температуре TP (или к измеренным температурам) на этапе S16.
Таким образом, последовательность этапов S1-S18 позволяет получить скорректированный спектр MSCx(1…n) для каждого светодиода LDx. Последовательность этапов S1-S15 осуществляют для каждого светодиода LDx источника LS, чтобы получить по меньшей мере один спектр MSCx(1…n) для каждого светодиода LDx. После нормализации спектров, полученных для каждого светодиода, вычисляют результирующий спектр MR(1…n) путем сложения спектров, полученных при каждом включенном светодиоде LDx, с коэффициентом взвешивания Рху, определенном для каждого светодиода LDx и каждого элемента y датчика OPS:
Коэффициенты взвешивания Pxy можно корректировать для придания большего значения полезному сигналу в результирующем спектре. Иначе говоря, сигналы элементов y, измеряющих наибольшие необработанные сигналы и, следовательно, выдающие наиболее надежную информацию (высокое отношение сигнала к шуму), связывают с наибольшим коэффициентом взвешивания Pxy. Коэффициенты взвешивания Pxy определяют в течение фазы калибровки, и они зависят от температуры TPL источника LS.
Кроме того, для полученного результирующего спектра MR(1…n) можно вычислить среднее значение при помощи нескольких других последовательно полученных спектров, чтобы получить спектр, который может использовать устройство регулирования рабочих параметров теплового двигателя. Число спектров MR(1…n), используемых для вычисления среднего спектра, может увеличиваться при переходе от нормального NL режима работы OMD к режиму DG с ухудшенными параметрами. Числе полученных спектров, усредняемых в нормальном режиме, может составлять примерно от 5 до 20 и в аварийном режиме около 100.
Необходимо отметить, что время интегрирования ITy всех фоточувствительных элементов у датчика OPS можно зафиксировать на этапе S15 по наименьшему времени интегрирования, определенному на этапе S7 для каждого элемента y.
На этапах S4, S5, S6, S12, S13, S14 и S18 устройство RPRC осуществляет автоматическую диагностику спектрометра, различая при этом три режима работы OMD спектрометра: нормальный NL режим работы, при котором спектрометр выдает применимые измерения, режим DG с ухудшенными параметрами работы, при котором спектрометр продолжает выдавать применимые измерения, но в аномальных условиях, и режим неисправности DF, при котором спектрометр считается неисправным и не может больше выдавать применимые измерения. В режиме DG с ухудшенными параметрами время для измерения намного увеличивается или же степень надежности измерений снижается (это зависит от выбора пользователя). Спектрометр считается неисправным (режим OMD=DF), например, если измерения силы света LFLz, поступающие от выключенных светодиодов LD1-LD4, не соответствуют току LCx, подаваемому на включенный светодиод, или температуре TPS источника LS. Устройство RPRC может выдать сигнал автоматической диагностики, указывающий на режим работы OMD спектрометра. Этот сигнал может быть передан, например, в бортовой компьютер транспортного средства, на котором установлен спектрометр.
На фиг. 7 показан график заданного значения тока LCx (ось ординат), подаваемого на светодиод LDx источника LS, в зависимости от силы света LFLz или от температуры TPL источника LS (ось абсцисс). Этот график отображает четыре прямые D1, D2, D3, D4, проходящие через начало О графика. Прямые D1 и D2 ограничивают между собой зону 1 работы, соответствующую нормальному NL режиму работы, при котором измеренные ток LCx, подаваемый на светодиод LDx источника LS, температура TPL источника и/или сила света LFLz имеют нормальные значения (не слишком низкие и не слишком высокие). Ось ординат и прямая D3 ограничивают между собой зону 3а. Ось абсцисс и прямая D2 D3 ограничивают между собой зону 3b. Зоны 3а и 3b соответствуют режиму неисправности DF, в котором ток LCx, подаваемый на светодиод LDx источника света, является сильным, а сила света, выдаваемая источником, является аномально малой, или в котором ток, подаваемый на светодиод LDx, является слабым, и температура TPL источника является аномально высокой. Между зоной 1 и зонами 3а и 3b находятся зоны 2а и 2b, соответствующие режиму DG с ухудшенными параметрами работы.
Минимальное LCmx и максимальное LCMx значения тока питания каждого светодиода LDx получают в результате тестов, осуществляемых во время фазы калибровки для определения идеального диапазона работы каждого из светодиодов источника LS. Максимальное значение LCMx определяют, чтобы не ускорять старение светодиода. Минимальное значение LCmx можно выбирать таким образом, чтобы обеспечивать повторяемость и стабильность излучаемого светодиодом светового потока.
Минимальное ITmy и максимальное ITMy значения времени интегрирования каждого элемента y датчика OPS тоже определяют в ходе фазы калибровки при помощи тестов, позволяющих определить идеальный диапазон работы фоточувствительных элементов y датчика OPS, рассматриваемых отдельно или в совокупности. Максимальное значение ITMy определяют, чтобы избегать насыщения фоточувствительного элемента y. Минимальное значение ITmy определяют для получения стабильного и повторяемого сигнала, соблюдая вместе с тем предварительно определенное минимальное целевое значение соотношения сигнал/шум.
Точно так же, функции f1 и f2, используемые на этапах S7 и S17, можно определять во время фазы калибровки. Так, функцию f1, дающую оптимальное время интегрирования ITy каждого элемента y датчика OPS в зависимости от значений силы света LFLz, измеряемого не включенными светодиодами LD1-LD4, можно определить, используя одно или несколько текучих или твердых контрольных веществ, на которых осуществляют ряд тестов. Для каждого из контрольных веществ и для каждого светодиода LDx изменяют заданное значение тока питания LCx светодиода LDx и сохраняют в памяти значения силы света LFLz, измеренные выключенными светодиодами LD1-LD4 и возможным фотодиодом PHD. Для каждого значения измерения силы света LFLz и каждого элемента y выявляют оптимальное время интегрирования ITy, позволяющее получать стабильный и постоянный световой поток, измеряемый элементом y, то есть поток, по существу не зависящий от светового потока, излучаемого источником LS. Таким образом, получают группы измерений (сила света LFLz - оптимальное время интегрирования ITy). По каждой группе измерений считывают также температуру TPL источника, если она измерена, а также температуру ТРР вещества и соответствующее заданное значение тока LCx. Изменения значений силы света LFLz, измеряемой каждым выключенным светодиодом LD1-LD4 и/или, возможно, фотодиодом PHD, являются такими, что для части осуществляемых измерений оптимальное время интегрирования ITy находится за пределами заранее определенных пороговых значений ITmy, ITMy. На основании групп измерений либо составляют таблицы соответствия, либо строят номограммы, либо создают предсказательные модели, позволяющие определять оптимальное время интегрирования ГТу каждого элемента y в зависимости от измеренных значений силы света LFLz. На основании собранных таким образом данных определяют минимальное и максимальное значения соответствия между измерениями силы света LFLz и температурой TPL источника LS (если она измерена) и между измерениями силы света LFLz и значением тока питания LCx включенного светодиода LDx. Эти минимальное и максимальное значения соответствия используют на этапах S4 и S5 для осуществления автоматической диагностики спектрометра.
Функцию f2, позволяющую скорректировать измерение силы света MSxy, выдаваемое каждым элементом y, в зависимости от температуры TP, можно определить при помощи ряда тестов, в ходе которых изменяют отдельно температуру TPL источника LS, температуру TPS датчика OPS и температуру ТРР анализируемого вещества. Эти температуры находятся в диапазоне от -40 до +105°C или в идеале от -50 до +150°C по меньшей мере для одного текучего или твердого контрольного вещества. При каждом из тестов собирают значения измерения силы света MSxy, заданного тока LCx и температуры. На основании этих измерений либо составляют таблицы соответствия, либо строят номограммы, либо создают предсказательные модели, позволяющие определять для каждого фоточувствительного элемента y датчика OPS силу света, которую этот элемент мог бы измерить при определенной фиксированной контрольной температуре (например, 20°C), для получения скорректированного спектра, не зависящего от окружающих условий температуры и условий температуры компонентов спектрометра. Полученные номограммы позволяют определить скорректированное измерение силы света MSCxy при контрольной температуре в зависимости от измерения силы света MSxy при окружающей температуре, полученного от каждого фоточувствительного элемента y, в зависимости от температур TPL, ТРР, TPS источника LS, вещества в измерительной ячейке FLC и датчика OPS и в зависимости от времени интегрирования ITy и от тока питания LCx светодиода LDx. Некоторые из вышеперечисленных параметров можно не учитывать, в частности, температуру TPS датчика OPS, в частности, если последний оборудован устройством компенсации по эффективной температуре.
Благодаря транспонированию спектра, осуществляемому для приведения измеренного спектра MSx(1…n) к спектру MSCx(1…n), который мог бы быть получен при контрольной температуре, описанный спектрометр может работать в очень широком температурном диапазоне, в том числе при очень больших разностях температур между анализируемым веществом и источником света LS. Следует отметить, что это возможно без использования сложного контрольного пути, требующего наличия второго датчика, который принимает напрямую свет, излучаемый источником, как предложено в патентной заявке FR 2940447, а только при помощи измерений силы света LFL0-LFL4, осуществляемых непосредственно на световом потоке, излучаемом светодиодами LD1-LD4, то есть при меньшей стоимости и без увеличения габарита спектрометра.
Вместо использования значений силы света LFL0-LFL4, измеряемых выключенными светодиодами LD1-LD4 и/или фотодиодом PHD, регулирование при помощи последовательности этапов S1-S18 можно осуществлять на основании температуры TPL источника и/или температуры ТРР анализируемого вещества, или на основании напряжений Vx или токов Iх (где х находится в пределах от 1 до 4 в примере на фиг. 2), измеряемых схемой, показанной на фиг. 2. Кроме того, измерения силы света LFL1-LFL4, получаемые от выключенных светодиодов, температуру TPL и/или напряжения Vx и/или токи Iх можно использовать для проверки нормальной работы фотодиода PHD и датчика температуры TSS.
Специалисту понятно, что настоящее изобретение может охватывать различные версии выполнения и различные варианты применения. В частности, способ управления не ограничивается использованием светодиодов в качестве источника света. Действительно, описанный выше способ регулирования можно применять к любому источнику света, силу света которого можно корректировать при помощи тока питания источника света.
Кроме того, способ управления можно применять к другим спектрометрам, отличным от описанного со ссылками на фиг. 1. Главное, чтобы можно было корректировать время интегрирования датчика спектрометра и чтобы спектрометр мог выдавать измерения, характеризующие работу источника света.
Можно также отказаться от этапа коррекции полученных измерений спектра, чтобы учитывать температуру различных компонентов спектрометра. Действительно, спектрометр можно поместить в камеру, температура в которой остается постоянной, или производить измерение спектра, только когда температура спектрометра достигает заданной температуры.
Источник света может содержать несколько групп из нескольких светодиодов, имеющих идентичные спектры излучения или по существу идентичные спектры излучения, то есть с учетом производственных допусков. Это значит, что одновременно можно включать несколько светодиодов и даже все светодиоды.
Claims (47)
1. Способ управления спектрометром для анализа вещества, при этом спектрометр содержит источник света (LS), содержащий несколько светодиодов (LD1-LD4), спектры излучения которых охватывают в комбинации анализируемую полосу длин волн,
характеризующийся тем, что содержит этапы, на которых:
подают ток питания (Ix) по меньшей мере на один из светодиодов (LD1-LD4) для его включения и измеряют силу света (LFLz), излучаемого источником света (LS), посредством измерения тока на контакте по меньшей мере одного из других светодиодов, который остается выключенным,
в зависимости от каждого измерения силы света определяют заданное значение (LCx) силы тока каждого включенного светодиода, и
регулируют ток питания каждого включенного светодиода таким образом, чтобы он соответствовал заданному значению.
2. Способ по п. 1, содержащий этапы, на которых последовательно включают группы по меньшей мере из одного светодиода (LD1-LD4), при этом светодиоды одной группы имеют по существу идентичные спектры излучения, тогда как другие светодиоды остаются выключенными, измеряют силу света (LFLz) для каждого из других остающихся выключенными светодиодов и регулируют, в зависимости от каждого полученного измерения силы света, заданное значение тока питания (LCx) включенного светодиода.
3. Способ по п. 1, содержащий этапы, на которых:
в зависимости от измерений силы света (LFLz) определяют значение времени интегрирования (ITy) фоточувствительных элементов (у) датчика (OPS) спектрометра, расположенных на пути светового пучка (LB), излучаемого источником света и взаимодействовавшего с анализируемым веществом, и,
если значение времени интегрирования и/или заданное значение тока питания (LCx) каждого включенного светодиода (LDx) находится в интервале между пороговыми значениями (ITmy, ITMy, ICmx, ICMx), на каждый включенный светодиод подают ток питания (Ix), регулируемый в зависимости от заданного значения тока питания, при этом время интегрирования каждого фоточувствительного элемента регулируют по определенному значению времени интегрирования, и при помощи каждого элемента датчика получают измерения силы света (MSxy), позволяющие сформировать спектр.
4. Способ по п. 3, в котором определяют новые заданные значения тока питания (LCx) каждого включенного светодиода и/или время интегрирования (ITy) каждого элемента и подают ток питания (Ix), соответствующий определенному заданному значению тока питания, на каждый включенный светодиод, пока указанное определенное значение времени интегрирования не находится в интервале между пороговыми значениями (ITmy, ITMy).
5. Способ по п. 1, в котором заданное значение тока питания (LCx) каждого включенного светодиода регулируют также в зависимости от измерения силы света (LFL0), поступающего от фотодиода (PHD) источника света (LS), и/или от измерения температуры (TPL) источника света (LS), и/или от измерения силы тока (Ix) или напряжения питания (Vx) каждого включенного светодиода.
6. Способ по одному из пп. 1-5, содержащий тестовые этапы автоматической диагностики, включающие в себя одно из следующих сравнений: сравнения, чтобы определить, что измерения силы света (LFLz) и/или измерения (Ix, Vx) тока питания, подаваемого на включенный светодиод (LDx), и/или измерения температуры (TPL) источника света (LS) согласуются между собой и с каждым заданным значением тока питания (LCx) включенного светодиода, сравнения заданного значения тока питания, подаваемого на каждый включенный светодиод, с минимальными и максимальными значениями (LCmx, LCMx), и, если одно из сравнений приводит к выявлению дефекта, спектрометр переключают в режим (DG) с ухудшенными параметрами работы (OMD) или в режим неисправности (DF).
7. Способ по одному из пп. 1-5, содержащий этап коррекции измерений силы света (MSxy) с учетом отклонения температуры (ТРР) анализируемого вещества и/или температуры (TPS) датчика (OPS) от контрольной температуры таким образом, чтобы получить скорректированные измерения силы света (MSCxy) на основании измерений, произведенных при контрольной температуре, при этом скорректированные измерения образуют скорректированный спектр (MSCx(1…n)).
8. Способ по одному из пп. 1-5, содержащий этапы, на которых получают скорректированный спектр для каждого светодиода (LD1-LD4) и суммируют полученные скорректированные спектры посредством применения коэффициентов взвешивания для получения результирующего спектра (MR(1…n)), и, в случае необходимости, вычисляют среднее значение результирующих спектров, при этом число усредненных спектров может зависеть от режима работы (OMD) спектрометра, нормального или с ухудшенными параметрами.
9. Способ по одному из пп. 1-5, включающий в себя калибровку спектрометра и содержащий:
этапы определения минимального и максимального значений соответствия измерений силы света (LFLz) светового потока, производимого каждым светодиодом (LD1-LD4), с заданными значениями тока питания (LC1-LC4) каждого из светодиодов и/или с температурой (TPL) источника света, и/или
этапы определения минимального и максимального заданных значений (LCmx, LCMx) тока питания источника света, и/или
этапы определения минимального и максимального значений (ITmy, ITMy) времени интегрирования фоточувствительных элементов (у) датчика (OPS), и/или
этапы, осуществляемые в присутствии одного или нескольких контрольных веществ, для определения функции (f1), дающей оптимальное время интегрирования (ITy) фоточувствительного элемента (у) датчика (OPS) в зависимости от измерений силы света светового потока, производимого каждым светодиодом, и/или
этапы, осуществляемые в присутствии одного или нескольких контрольных веществ, в ходе которых отдельно изменяют температуру источника света и/или температуру (TPS) датчика (OPS), и/или температуру (ТРР) контрольного вещества, собирают измерения силы света (MSxy), получаемые при помощи датчика, заданные значения тока питания светодиодов, элементов датчика, и измерения температуры, и определяют функцию (f2), дающую скорректированное измерение силы света (MSCxy), соответствующее контрольной температуре, в зависимости от собранных измерений.
10. Спектрометр, содержащий источник света (LS), содержащий несколько светодиодов (LD1-LD4), спектры излучения которых охватывают в комбинации анализируемую полосу длин волн, датчик (OPS) с фоточувствительными элементами (у), расположенными на пути светового пучка после его взаимодействия с анализируемым веществом, и устройство (RPRC) управления, предназначенное для регулирования заданных значений тока питания (LCx) светодиодов (LD1-LD4) источника света и времени интегрирования (ITy) фоточувствительных элементов,
отличающийся тем, что устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью давать команду на подачу тока питания (Ix) по меньшей мере на один из светодиодов (LD1-LD4) для его включения и измерение силы света (LFLz), излучаемого источником света (LS), посредством измерения тока на контакте по меньшей мере одного из других светодиодов, который остается выключенным,
определять, в зависимости от каждого измерения силы света, заданное значение (LCx) силы тока каждого включенного светодиода, и
регулировать ток питания каждого включенного светодиода таким образом, чтобы он соответствовал заданному значению.
11. Спектрометр по п. 10, выполненный с возможностью включения только одного светодиода (LDx) источника света (LS) за один раз и с возможностью получения измерения силы света (LFLz) посредством измерения тока на контакте каждого из выключенных светодиодов источника света.
12. Спектрометр по п. 10, в котором источник света (LS) выполнен с возможностью подачи на устройство (RPRC) управления напряжений (Vx) и/или токов (Ix) питания светодиодов (LD1-LD4).
13. Спектрометр по п. 12, в котором светодиоды (LDx) установлены в одном электронном компоненте (LS), в случае необходимости, вместе с фотодиодом (PHD) и/или температурным датчиком (TSS).
14. Спектрометр по п. 10, содержащий температурный датчик (TSS), предназначенный для измерения температуры (TPL) источника света (LS), и/или температурный датчик, предназначенный для измерения температуры (TPS) датчика (OPS), и/или температурный датчик, предназначенный для измерения температуры (ТРР) анализируемого вещества.
15. Спектрометр по п. 10, содержащий измерительную ячейку (FLC), в которой анализируемое вещество взаимодействует со световым пучком (LB), оптический элемент (CLS) для формирования пучка на выходе источника света (LS) и его передачи в измерительную ячейку, фильтр длины волны (WFL), выполненный с возможностью пространственного распределения различных длин волн светового пучка на выходе измерительной ячейки и их передачи в различные фоточувствительные элементы (у) датчика (OPS), при этом источник света, оптический элемент, измерительная ячейка, фильтр и датчик соединены таким образом, чтобы не образовывалась воздушная зона, через которую может проходить световой пучок, между источником света и датчиком.
16. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью:
последовательно включать группы по меньшей мере из одного светодиода (LD1-LD4), при этом светодиоды одной группы имеют по существу идентичные спектры излучения, тогда как другие светодиоды остаются выключенными,
измерять силу света (LFLz) для каждого из других остающихся выключенными светодиодов и
регулировать, в зависимости от каждого полученного измерения силы света, заданное значение тока питания (LCx) включенного светодиода.
17. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью:
определять, в зависимости от измерений силы света (LFLz), значение времени интегрирования (ITy) фоточувствительных элементов (у) датчика (OPS) спектрометра, расположенных на пути светового пучка (LB), излучаемого источником света и взаимодействовавшего с анализируемым веществом, и,
если значение времени интегрирования и/или заданное значение тока питания (LCx) каждого включенного светодиода (LDx) находится в интервале между пороговыми значениями (ITmy, ITMy, ICmx, ICMx), подавать на каждый включенный светодиод ток питания (Ix), регулируемый в зависимости от заданного значения тока питания, регулировать время интегрирования каждого фоточувствительного элемента по определенному значению времени интегрирования, и получать при помощи каждого элемента датчика измерения силы света (MSxy), позволяющие сформировать спектр.
18. Спектрометр по п. 17, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью определять новые заданные значения тока питания (LCx) каждого включенного светодиода и/или время интегрирования (ITy) каждого элемента и подавать команду на подачу тока питания (Ix), соответствующего определенному заданному значению тока питания, на каждый включенный светодиод, пока указанное определенное значение времени интегрирования не находится в интервале между пороговыми значениями (ITmy, ITMy).
19. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью регулировать заданное значение тока питания (LCx) каждого включенного светодиода также в зависимости от измерения силы света (LFL0), поступающего от фотодиода (PHD) источника света (LS), и/или от измерения температуры (TPL) источника света (LS), и/или от измерения силы тока (Ix) или напряжения питания (Vx) каждого включенного светодиода.
20. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью выполнять тестовые этапы автоматической диагностики, включающие одно из следующих сравнений: сравнения, чтобы определить, что измерения силы света (LFLz) и/или измерения (Ix, Vx) тока питания, подаваемого на включенный светодиод (LDx), и/или измерения температуры (TPL) источника света (LS) согласуются между собой и с каждым заданным значением тока питания (LCx) включенного светодиода, сравнения заданного значения тока питания, подаваемого на каждый включенный светодиод, с минимальными и максимальными значениями (LCmx, LCMx), и, если одно из сравнений приводит к выявлению дефекта, переключать спектрометр в режим (DG) с ухудшенными параметрами работы (OMD) или в режим неисправности (DF).
21. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью корректировать измерения силы света (MSxy) с учетом отклонения температуры (ТРР) анализируемого вещества и/или температуры (TPS) датчика (OPS) от контрольной температуры таким образом, чтобы получить скорректированные измерения силы света (MSCxy) на основании измерений, произведенных при контрольной температуре, при этом скорректированные измерения образуют скорректированный спектр (MSCx(1…n)).
22. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью получать скорректированный спектр для каждого светодиода (LD1-LD4) и суммировать полученные скорректированные спектры посредством применения коэффициентов взвешивания для получения результирующего спектра (MR(1…n)), и, в случае необходимости, вычислять среднее значение результирующих спектров, при этом число усредненных спектров может зависеть от режима работы (OMD) спектрометра, нормального или с ухудшенными параметрами.
23. Спектрометр по любому из пп. 10-15, в котором устройство (RPRC) управления выполнено с возможностью выполнять калибровку спектрометра, включающую:
этапы определения минимального и максимального значений соответствия измерений силы света (LFLz) светового потока, производимого каждым светодиодом (LD1-LD4), с заданными значениями тока питания (LC1-LC4) каждого из светодиодов и/или с температурой (TPL) источника света, и/или
этапы определения минимального и максимального заданных значений (LCmx, LCMx) тока питания источника света, и/или
этапы определения минимального и максимального значений (ITmy, ITMy) времени интегрирования фоточувствительных элементов (у) датчика (OPS), и/или
этапы, выполняемые в присутствии одного или нескольких контрольных веществ, для определения функции (f1), дающей оптимальное время интегрирования (ITy) фоточувствительного элемента (у) датчика (OPS) в зависимости от измерений силы света светового потока, производимого каждым светодиодом, и/или
этапы, выполняемые в присутствии одного или нескольких контрольных веществ, в ходе которых отдельно изменяют температуру источника света и/или температуру (TPS) датчика (OPS), и/или температуру (ТРР) контрольного вещества, собирают измерения силы света (MSxy), получаемые при помощи датчика, заданные значения тока питания светодиодов, элементов датчика, и измерения температуры, и определяют функцию (f2), дающую скорректированное измерение силы света (MSCxy), соответствующее контрольной температуре, в зависимости от собранных измерений.
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR1261758A FR2999334B1 (fr) | 2012-12-07 | 2012-12-07 | Procede et dispositif embarque d’analyse de fluide dans un moteur thermique |
FR1261757A FR2999333A1 (fr) | 2012-12-07 | 2012-12-07 | Procede et dispositif embarque d’analyse de fluide dans un moteur thermique |
FR1261757 | 2012-12-07 | ||
FR1261758 | 2012-12-07 | ||
PCT/FR2013/052941 WO2014087103A1 (fr) | 2012-12-07 | 2013-12-04 | Procédé et dispositif embarque d'analyse de fluide dans un moteur thermique |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2015127029A RU2015127029A (ru) | 2017-01-12 |
RU2637388C2 true RU2637388C2 (ru) | 2017-12-04 |
Family
ID=49886962
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2015127029A RU2637388C2 (ru) | 2012-12-07 | 2013-12-04 | Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе |
RU2015127030A RU2015127030A (ru) | 2012-12-07 | 2013-12-04 | Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2015127030A RU2015127030A (ru) | 2012-12-07 | 2013-12-04 | Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9562851B2 (ru) |
EP (2) | EP2929322B1 (ru) |
JP (1) | JP2016501372A (ru) |
KR (1) | KR20150114465A (ru) |
CN (2) | CN104969059A (ru) |
BR (2) | BR112015013222A2 (ru) |
CA (1) | CA2892849A1 (ru) |
MX (1) | MX342198B (ru) |
RU (2) | RU2637388C2 (ru) |
WO (2) | WO2014087102A1 (ru) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102014111093A1 (de) * | 2014-08-05 | 2016-02-11 | Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh | Sensorvorrichtung zum Bestimmen einer Konzentration eines Fluids, Fahrerassistenzsystem, Kraftfahrzeug sowie Verfahren |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020179815A1 (en) * | 2001-05-30 | 2002-12-05 | Ulrich Forke | Lighting control circuit |
WO2008129453A1 (en) * | 2007-04-20 | 2008-10-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Lighting device with a led used for sensing |
RU2427822C1 (ru) * | 2009-12-03 | 2011-08-27 | Учреждение Российской академии наук Центр фотохимии РАН | Способ анализа содержания летучих органических соединений в газовой среде и матричный анализатор для его осуществления |
US20110313635A1 (en) * | 2008-12-23 | 2011-12-22 | Continental Automotive France | Automotive-vehicle-borne miniature spectrometer having a single measurement and reference detector |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54125089A (en) * | 1978-03-22 | 1979-09-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Smoke detector |
GB2191574B (en) * | 1986-06-16 | 1989-12-20 | Philips Electronic Associated | Method of and apparatus for spectroscopically analysing samples |
FI77736C (fi) * | 1987-06-25 | 1989-04-10 | Valtion Teknillinen | Foerfarande foer reglering av straolkaella och reglerbar straolkaella. |
US5477853A (en) * | 1992-12-01 | 1995-12-26 | Somanetics Corporation | Temperature compensation method and apparatus for spectroscopic devices |
JP3235249B2 (ja) * | 1992-12-18 | 2001-12-04 | 株式会社デンソー | 光学的情報読取り装置 |
FI103074B1 (fi) | 1996-07-17 | 1999-04-15 | Valtion Teknillinen | Spektrometri |
EP1117326A1 (en) * | 1998-09-29 | 2001-07-25 | Mallinckrodt Inc. | Oximeter sensor with encoded temperature characteristic |
US7423750B2 (en) * | 2001-11-29 | 2008-09-09 | Applera Corporation | Configurations, systems, and methods for optical scanning with at least one first relative angular motion and at least one second angular motion or at least one linear motion |
JP2001268324A (ja) * | 2000-01-12 | 2001-09-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光源装置、原稿読取装置及び方法 |
JP2001223861A (ja) * | 2000-02-14 | 2001-08-17 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像読取装置および画像読取方法 |
US7116354B2 (en) * | 2001-06-20 | 2006-10-03 | Xenogen Corporation | Absolute intensity determination for a light source in low level light imaging systems |
CA2460205C (en) * | 2001-12-31 | 2005-05-03 | R J Doran & Co Ltd. | Led inspection lamp and led spot light |
JP3620798B2 (ja) * | 2003-06-27 | 2005-02-16 | 株式会社アステム | 非破壊分光測定器 |
US9075008B2 (en) * | 2003-11-07 | 2015-07-07 | Kyle H. Holland | Plant treatment based on a water invariant chlorophyll index |
US7329887B2 (en) | 2003-12-02 | 2008-02-12 | 3M Innovative Properties Company | Solid state light device |
FR2866956B1 (fr) * | 2004-02-26 | 2006-05-19 | Cit Alcatel | Detection d'especes gazeuses minoritaires par spectroscopie d'emission optique |
DE102004025448B4 (de) * | 2004-05-19 | 2007-03-29 | Bruker Optik Gmbh | Verfahren zum Messen eines Spektrums einer Messprobe mittels eines Infrarot-Spektrometers und derartiges Infrarot-Spektrometer |
US20060072319A1 (en) * | 2004-10-05 | 2006-04-06 | Dziekan Michael E | Method of using light emitting diodes for illumination sensing and using ultra-violet light sources for white light illumination |
US7938643B2 (en) * | 2006-01-07 | 2011-05-10 | Medical College Of Georgia Research Institute, Inc. | Use of integrating sphere technology to provide uniform, high-intensity light, and wavelength mixing from light emitting diodes |
US8296088B2 (en) * | 2006-06-02 | 2012-10-23 | Luminex Corporation | Systems and methods for performing measurements of one or more materials |
US7601950B2 (en) * | 2007-09-25 | 2009-10-13 | Baker Hughes Incorporated | System and method for downhole optical analysis |
EP3556291A1 (en) * | 2008-08-07 | 2019-10-23 | University of Massachusetts | Spectroscopic sensors |
EP2545851A3 (en) * | 2009-06-08 | 2013-05-08 | S.E.A. Medical Systems, Inc. | Systems and methods for the identification of compounds in medical fluids using admittance spectroscopy |
US9052276B2 (en) * | 2009-06-08 | 2015-06-09 | S.E.A. Medical Systems, Inc. | Systems and methods for the identification of compounds using admittance spectroscopy |
US20130031644A1 (en) * | 2011-05-23 | 2013-01-31 | University Of Tennessee Research Foundation | Autonomous lux reporter system and methods of use |
-
2013
- 2013-12-04 RU RU2015127029A patent/RU2637388C2/ru active
- 2013-12-04 CN CN201380072190.1A patent/CN104969059A/zh active Pending
- 2013-12-04 WO PCT/FR2013/052940 patent/WO2014087102A1/fr active Application Filing
- 2013-12-04 US US14/648,874 patent/US9562851B2/en active Active
- 2013-12-04 MX MX2015007174A patent/MX342198B/es active IP Right Grant
- 2013-12-04 JP JP2015546080A patent/JP2016501372A/ja active Pending
- 2013-12-04 CN CN201380072189.9A patent/CN104969058B/zh active Active
- 2013-12-04 BR BR112015013222A patent/BR112015013222A2/pt not_active IP Right Cessation
- 2013-12-04 CA CA2892849A patent/CA2892849A1/fr not_active Abandoned
- 2013-12-04 RU RU2015127030A patent/RU2015127030A/ru not_active Application Discontinuation
- 2013-12-04 WO PCT/FR2013/052941 patent/WO2014087103A1/fr active Application Filing
- 2013-12-04 EP EP13815048.7A patent/EP2929322B1/fr active Active
- 2013-12-04 EP EP13815047.9A patent/EP2929321B1/fr active Active
- 2013-12-04 KR KR1020157017680A patent/KR20150114465A/ko not_active Application Discontinuation
- 2013-12-04 BR BR112015013313A patent/BR112015013313A2/pt not_active IP Right Cessation
- 2013-12-04 US US14/648,855 patent/US9562850B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020179815A1 (en) * | 2001-05-30 | 2002-12-05 | Ulrich Forke | Lighting control circuit |
WO2008129453A1 (en) * | 2007-04-20 | 2008-10-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Lighting device with a led used for sensing |
US20110313635A1 (en) * | 2008-12-23 | 2011-12-22 | Continental Automotive France | Automotive-vehicle-borne miniature spectrometer having a single measurement and reference detector |
RU2427822C1 (ru) * | 2009-12-03 | 2011-08-27 | Учреждение Российской академии наук Центр фотохимии РАН | Способ анализа содержания летучих органических соединений в газовой среде и матричный анализатор для его осуществления |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BR112015013222A2 (pt) | 2017-07-11 |
US9562850B2 (en) | 2017-02-07 |
RU2015127029A (ru) | 2017-01-12 |
BR112015013313A2 (pt) | 2017-07-11 |
MX2015007174A (es) | 2015-10-20 |
WO2014087103A1 (fr) | 2014-06-12 |
CN104969058B (zh) | 2017-08-08 |
US20150346085A1 (en) | 2015-12-03 |
US20150300951A1 (en) | 2015-10-22 |
KR20150114465A (ko) | 2015-10-12 |
WO2014087102A1 (fr) | 2014-06-12 |
CN104969058A (zh) | 2015-10-07 |
EP2929322A1 (fr) | 2015-10-14 |
CA2892849A1 (fr) | 2014-06-12 |
CN104969059A (zh) | 2015-10-07 |
EP2929321B1 (fr) | 2019-06-05 |
RU2015127030A (ru) | 2017-01-13 |
MX342198B (es) | 2016-09-20 |
JP2016501372A (ja) | 2016-01-18 |
EP2929322B1 (fr) | 2016-10-12 |
US9562851B2 (en) | 2017-02-07 |
EP2929321A1 (fr) | 2015-10-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8653434B2 (en) | Avalanche photodiode operating voltage selection algorithm | |
US8649012B2 (en) | Optical gas sensor | |
US20050259250A1 (en) | Method for measuring a spectrum of a sample by means of an infrared spectrometer and infrared spectrometer of this type | |
EP2781900A1 (en) | Thermometer | |
US20130194564A1 (en) | Method and apparatus for measuring photovoltaic cells | |
KR100754010B1 (ko) | 발광다이오드 어레이의 광학 및 열 특성 측정 시스템과 이를 이용한 제어방법 | |
RU2637388C2 (ru) | Бортовое устройство и способ анализа текучей среды в тепловом двигателе | |
CN113092411B (zh) | 一种基于激光器阵列实现接收光强自稳定的装置及方法 | |
CN110618417A (zh) | 经稳定化的激光雷达系统和用于稳定化的方法 | |
KR20060054202A (ko) | 초단파장 초협대역폭 고전력 레이저의 광스펙트럼 출력의대역폭을 측정하는 방법 및 장치 | |
CN108982413A (zh) | 激光气体检测装置及校正方法 | |
CN208999305U (zh) | 激光气体检测装置 | |
US6542239B1 (en) | Method for testing the functionality of a spectrometer and a spectrometer comprising a fault recognition device | |
JPH06323989A (ja) | 光学式ガス検出器 | |
CN117849769A (zh) | 一种卫星光学遥感探测器的校准方法 | |
WO2020074000A1 (zh) | 激光器阵元、阵列和基于阵列实现接收光强自稳定的装置 | |
JP2021124385A (ja) | 測定装置、測定方法および生成方法 | |
CN112033901A (zh) | 一种光源零点补偿装置、传感器及其光源零点补偿方法 | |
CN117396731A (zh) | 用于表征光电探测器的测量方法 | |
FR2999334A1 (fr) | Procede et dispositif embarque d’analyse de fluide dans un moteur thermique | |
CN115826157A (zh) | 一种光模块的背光监控电路及光模块 | |
FR2999333A1 (fr) | Procede et dispositif embarque d’analyse de fluide dans un moteur thermique | |
Coles et al. | Spectrally and radiometrically stable wide-band on-board calibration source for in-flight data validation in imaging spectroscopy applications |