RU2011123399A - Устройство и способ для трехмерного оптического обмера сильно отражающих или прозрачных объектов - Google Patents
Устройство и способ для трехмерного оптического обмера сильно отражающих или прозрачных объектов Download PDFInfo
- Publication number
- RU2011123399A RU2011123399A RU2011123399/28A RU2011123399A RU2011123399A RU 2011123399 A RU2011123399 A RU 2011123399A RU 2011123399/28 A RU2011123399/28 A RU 2011123399/28A RU 2011123399 A RU2011123399 A RU 2011123399A RU 2011123399 A RU2011123399 A RU 2011123399A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- pattern
- infrared radiation
- radiating surface
- radiation source
- projection device
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract 4
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract 14
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2513—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
1. Устройство для трехмерного обмера объекта (5), содержащеепервое проекционное устройство (1), содержащее первый источник (1а) инфракрасного излучения для проецирования на объект подвижного первого узора, ипо меньшей мере одно съемочное устройство (3) для съемки изображений объекта в инфракрасной области спектра.2. Устройство по п.1, содержащее второе проекционное устройство (2), содержащее второй источник (2а) инфракрасного излучения для проецирования второго подвижного узора на объект.3. Устройство по п.2, в котором первый источник инфракрасного излучения первого проекционного устройства имеет первую излучающую поверхность и/или второй источник инфракрасного излучения второго проекционного устройства имеет вторую излучающую поверхность.4. Устройство по п.3, в котором соответствующая излучающая поверхность выполнена с возможностью нагревания посредством соответствующего резистивного нагревателя.5. Устройство по п.3 или 4, в котором соответствующая излучающая поверхность сама задает проецируемый узор или соответствующий узор задан посредством соответствующего узорчатого элемента, содержащего проницаемые и непроницаемые для инфракрасного излучения поверхности, причем соответствующий узорчатый элемент расположен между соответствующей излучающей поверхностью и объектом.6. Устройство по пп.1-4, в котором соответствующий узор является содержащим полосы узором.7. Устройство по пп.1-4, которое дополнительно содержит анализирующее устройство (4) для анализа изображений, снятых съемочным устройством.8. Устройство по пп.3-4, в котором соответствующее проекционное устройство содержит цилиндр, имеющий излучающую пов
Claims (16)
1. Устройство для трехмерного обмера объекта (5), содержащее
первое проекционное устройство (1), содержащее первый источник (1а) инфракрасного излучения для проецирования на объект подвижного первого узора, и
по меньшей мере одно съемочное устройство (3) для съемки изображений объекта в инфракрасной области спектра.
2. Устройство по п.1, содержащее второе проекционное устройство (2), содержащее второй источник (2а) инфракрасного излучения для проецирования второго подвижного узора на объект.
3. Устройство по п.2, в котором первый источник инфракрасного излучения первого проекционного устройства имеет первую излучающую поверхность и/или второй источник инфракрасного излучения второго проекционного устройства имеет вторую излучающую поверхность.
4. Устройство по п.3, в котором соответствующая излучающая поверхность выполнена с возможностью нагревания посредством соответствующего резистивного нагревателя.
5. Устройство по п.3 или 4, в котором соответствующая излучающая поверхность сама задает проецируемый узор или соответствующий узор задан посредством соответствующего узорчатого элемента, содержащего проницаемые и непроницаемые для инфракрасного излучения поверхности, причем соответствующий узорчатый элемент расположен между соответствующей излучающей поверхностью и объектом.
6. Устройство по пп.1-4, в котором соответствующий узор является содержащим полосы узором.
7. Устройство по пп.1-4, которое дополнительно содержит анализирующее устройство (4) для анализа изображений, снятых съемочным устройством.
8. Устройство по пп.3-4, в котором соответствующее проекционное устройство содержит цилиндр, имеющий излучающую поверхность, причем указанный цилиндр выполнен с возможностью вращения вокруг своей оси.
9. Устройство по пп.1-4, в котором съемочное устройство является чувствительным к инфракрасному излучению с длиной волны в диапазоне от 1 мкм до 1 мм, предпочтительно в диапазоне от 3 мкм до 50 мкм, более предпочтительно в диапазоне от 3 мкм до 15 мкм и наиболее предпочтительно в диапазоне от 3 мкм до 5 мкм или от 8 мкм до 14 мкм.
10. Способ трехмерного обмера объекта (5), включающий в себя следующие шаги:
проецирование первого инфракрасного узора на объект при помощи первого проекционного устройства (1), содержащего первый источник (1а) инфракрасного излучения;
съемку изображений объекта при помощи по меньшей мере одного съемочного устройства (3), чувствительного к инфракрасному излучению;
причем узор между снимками смещают.
11. Способ по п.10, включающий в себя дополнительный шаг:
проецирование второго инфракрасного узора на объект при помощи второго проекционного устройства (2), содержащего второй источник (2а) инфракрасного излучения.
12. Способ по п.11, в котором соответствующим узором является содержащий полосы узор.
13. Способ по п.11 или 12, в котором каждый узор перемещают по объекту при помощи соответствующего проекционного устройства с соответствующей заданной скоростью.
14. Способ по п.13, в котором соответствующее проекционное устройство содержит цилиндр, имеющий излучающую поверхность, причем указанный цилиндр выполнен с возможностьювращения вокруг своей оси.
15. Способ по п.11, 12 или 14, в котором по меньшей мере одно съемочное устройство приводят в действие посредством указанных проекционных устройств.
16. Способ по пп.10-12 или 14, включающий в себя дополнительный шаг:
анализ изображений, снятых при помощи съемочного устройства, в анализирующем устройстве (4) при помощи топометрического способа анализа.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102008064104.9 | 2008-12-19 | ||
| DE102008064104.9A DE102008064104B4 (de) | 2008-12-19 | 2008-12-19 | Vorrichtung und Verfahren zum dreidimensionalen optischen Vermessen von stark reflektierenden oder durchsichtigen Objekten |
| PCT/EP2009/003275 WO2010069409A1 (de) | 2008-12-19 | 2009-05-07 | Vorrichtung und verfahren zum dreidimensionalen optischen vermessen von stark reflektierenden oder durchsichtigen objekten |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2011123399A true RU2011123399A (ru) | 2013-01-27 |
| RU2495371C2 RU2495371C2 (ru) | 2013-10-10 |
Family
ID=40910787
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2011123399/28A RU2495371C2 (ru) | 2008-12-19 | 2009-05-07 | Устройство и способ трехмерного оптического обмера сильно отражающих или прозрачных объектов |
Country Status (16)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20110285823A1 (ru) |
| EP (1) | EP2370781B1 (ru) |
| JP (1) | JP5777524B2 (ru) |
| KR (1) | KR20110110159A (ru) |
| CN (1) | CN102257353B (ru) |
| BR (1) | BRPI0918099B1 (ru) |
| CA (1) | CA2746191C (ru) |
| DE (1) | DE102008064104B4 (ru) |
| ES (1) | ES2781351T3 (ru) |
| HU (1) | HUE049026T2 (ru) |
| MX (1) | MX2011006556A (ru) |
| PL (1) | PL2370781T3 (ru) |
| PT (1) | PT2370781T (ru) |
| RU (1) | RU2495371C2 (ru) |
| SI (1) | SI2370781T1 (ru) |
| WO (1) | WO2010069409A1 (ru) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102011101476B4 (de) * | 2011-05-11 | 2023-05-25 | Cognex Ireland Ltd. | Verfahren zur 3D-Messung von Objekten |
| TWI482484B (zh) * | 2011-06-17 | 2015-04-21 | Wistron Corp | 立體顯示系統及其方法 |
| TWI546518B (zh) * | 2012-04-20 | 2016-08-21 | 德律科技股份有限公司 | 三維量測系統與三維量測方法 |
| CN103376071B (zh) * | 2012-04-20 | 2017-06-30 | 德律科技股份有限公司 | 三维测量系统与三维测量方法 |
| JP2014163690A (ja) * | 2013-02-21 | 2014-09-08 | Mitsutoyo Corp | 形状測定装置 |
| DE202015102791U1 (de) * | 2015-05-29 | 2015-07-01 | Nikolaus Kreuzhermes | System zur Erfassung von Bilddaten einer Oberfläche eines Objekts und Kamerasystem zur Verwendung in einem solchen System |
| DE102015211954B4 (de) * | 2015-06-26 | 2017-12-28 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zum berührungslosen Vermessen einer Objektoberfläche |
| US9958259B2 (en) | 2016-01-12 | 2018-05-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Depth value measurement |
| KR102015384B1 (ko) * | 2017-11-15 | 2019-08-28 | 주식회사 마인즈아이 | 투명면 및 반사면 검사 방법 및 장치 |
| CN109059806B (zh) * | 2018-07-26 | 2019-09-06 | 河北工业大学 | 一种基于红外条纹的镜面物体三维面形测量装置及方法 |
| DE102020201536A1 (de) | 2020-02-07 | 2021-08-12 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung eingetragener Verein | Verfahren und Vorrichtung zum berührungslosen Vermessen einer Objektoberfläche |
| CN113188474B (zh) * | 2021-05-06 | 2022-09-23 | 山西大学 | 一种用于高反光材质复杂物体成像的图像序列采集系统及其三维形貌重建方法 |
| DE102022128499B3 (de) * | 2022-10-27 | 2023-11-16 | Thyssenkrupp Steel Europe Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Planheit eines Metallbandes |
Family Cites Families (31)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4171917A (en) * | 1974-07-02 | 1979-10-23 | Centre De Recherches Metallurgiques-Centrum Voor Research In De Metallurgie | Determining the profile of a surface of an object |
| US4511252A (en) * | 1975-08-27 | 1985-04-16 | Robotic Vision Systems, Inc. | Arrangement for sensing the geometric characteristics of an object |
| US4920385A (en) * | 1984-02-14 | 1990-04-24 | Diffracto Ltd. | Panel surface flaw inspection |
| JP3166185B2 (ja) * | 1990-05-15 | 2001-05-14 | 横河電機株式会社 | 赤外線厚さ計 |
| JPH05180632A (ja) * | 1991-12-26 | 1993-07-23 | I N R Kenkyusho:Kk | 三次元形状測定方法及びその装置 |
| JPH05231832A (ja) * | 1992-02-24 | 1993-09-07 | I N R Kenkyusho:Kk | 三次元形状測定方法及び装置 |
| US5376793A (en) * | 1993-09-15 | 1994-12-27 | Stress Photonics, Inc. | Forced-diffusion thermal imaging apparatus and method |
| WO1997040367A1 (en) * | 1996-04-22 | 1997-10-30 | Autospect, Inc. | Method and system for inspecting a low gloss surface of an object at a vision station |
| US5719395A (en) * | 1996-09-12 | 1998-02-17 | Stress Photonics Inc. | Coating tolerant thermography |
| JP3360560B2 (ja) * | 1997-03-06 | 2002-12-24 | 横河電機株式会社 | 赤外線厚さ計の赤外線光源 |
| JP3414624B2 (ja) * | 1997-09-16 | 2003-06-09 | 松下電器産業株式会社 | 実時間レンジファインダ |
| JPH11257930A (ja) * | 1998-03-13 | 1999-09-24 | Nidek Co Ltd | 三次元形状測定装置 |
| RU2128892C1 (ru) * | 1998-05-27 | 1999-04-10 | Лейпи Эмиль Густавович | Электрический инфракрасный нагреватель |
| DE10006663B4 (de) * | 2000-02-15 | 2006-10-05 | Metronom Ag | Verfahren zur Vermessung von langwelligen Oberflächenstrukturen |
| US6754370B1 (en) * | 2000-08-14 | 2004-06-22 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Real-time structured light range scanning of moving scenes |
| JP2003232620A (ja) * | 2002-02-08 | 2003-08-22 | Canon Inc | 透明膜の形状計測方法及び装置 |
| JP3700778B2 (ja) * | 2002-03-14 | 2005-09-28 | 三菱電機株式会社 | 赤外線撮像装置 |
| DE10217068B4 (de) * | 2002-04-17 | 2005-09-15 | Michael Dr.-Ing. Gandyra | Verfahren zum optischen Messen der Form reflektierender und streuender Freiformflächen |
| US7440590B1 (en) * | 2002-05-21 | 2008-10-21 | University Of Kentucky Research Foundation | System and technique for retrieving depth information about a surface by projecting a composite image of modulated light patterns |
| EP1391176A1 (en) * | 2002-08-16 | 2004-02-25 | Universiteit Maastricht | Method and arrangement for performing measurements of the topography of a corneal surface |
| DE20216852U1 (de) | 2002-10-28 | 2003-03-27 | Vialux Messtechnik & Bildverar | Vorrichtung zur Oberflächenprüfung |
| US20030137673A1 (en) * | 2002-12-13 | 2003-07-24 | Cox Cary B. | Systems, and methods of use, employing distorted patterns to ascertain the shape of a surface, for road or runway profiling, or as input to control pro-active suspension systems |
| JP2005308439A (ja) * | 2004-04-19 | 2005-11-04 | Canon Inc | パターン投影法による三次元形状計測装置 |
| FR2870935A1 (fr) * | 2004-05-25 | 2005-12-02 | Insidix Sarl | Dispositif de mesure de deformations de surface |
| DE102004033526A1 (de) * | 2004-07-08 | 2006-02-02 | Universität Karlsruhe (TH) Institut für Mess- und Regelungstechnik | Verfahren und Vorrichtung zur Analyse zumindest partiell reflektierender Oberflächen |
| JP2006170744A (ja) * | 2004-12-15 | 2006-06-29 | Tohoku Techno Arch Co Ltd | ３次元距離計測装置 |
| DE102005018656B4 (de) * | 2005-04-21 | 2007-04-12 | GOM - Gesellschaft für Optische Meßtechnik mbH | Projektor für eine Anordnung zum dreidimensionalen optischen Vermessen von Objekten |
| US7602501B2 (en) * | 2006-07-10 | 2009-10-13 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Interferometric synthetic aperture microscopy |
| US8284392B2 (en) * | 2007-03-13 | 2012-10-09 | 3D-Shape Gmbh | Method and apparatus for the three-dimensional measurement of the shape and the local surface normal of preferably specular objects |
| US7869026B2 (en) * | 2007-12-21 | 2011-01-11 | United Technologies Corp. | Targeted artifacts and methods for evaluating 3-D coordinate system measurement accuracy of optical 3-D measuring systems using such targeted artifacts |
| US8629400B2 (en) * | 2008-12-16 | 2014-01-14 | Sabanci Universitesi | 3D scanner |
-
2008
- 2008-12-19 DE DE102008064104.9A patent/DE102008064104B4/de active Active
-
2009
- 2009-05-07 MX MX2011006556A patent/MX2011006556A/es active IP Right Grant
- 2009-05-07 JP JP2011541117A patent/JP5777524B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-05-07 RU RU2011123399/28A patent/RU2495371C2/ru active
- 2009-05-07 KR KR1020117015875A patent/KR20110110159A/ko not_active Application Discontinuation
- 2009-05-07 EP EP09776592.9A patent/EP2370781B1/de active Active
- 2009-05-07 PL PL09776592T patent/PL2370781T3/pl unknown
- 2009-05-07 PT PT97765929T patent/PT2370781T/pt unknown
- 2009-05-07 US US13/133,239 patent/US20110285823A1/en not_active Abandoned
- 2009-05-07 WO PCT/EP2009/003275 patent/WO2010069409A1/de active Application Filing
- 2009-05-07 CA CA2746191A patent/CA2746191C/en active Active
- 2009-05-07 SI SI200932052T patent/SI2370781T1/sl unknown
- 2009-05-07 HU HUE09776592A patent/HUE049026T2/hu unknown
- 2009-05-07 ES ES09776592T patent/ES2781351T3/es active Active
- 2009-05-07 CN CN2009801510117A patent/CN102257353B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-05-07 BR BRPI0918099-0A patent/BRPI0918099B1/pt not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20110110159A (ko) | 2011-10-06 |
| JP5777524B2 (ja) | 2015-09-09 |
| JP2012512400A (ja) | 2012-05-31 |
| WO2010069409A1 (de) | 2010-06-24 |
| CA2746191A1 (en) | 2010-06-24 |
| RU2495371C2 (ru) | 2013-10-10 |
| EP2370781A1 (de) | 2011-10-05 |
| CN102257353B (zh) | 2013-10-23 |
| US20110285823A1 (en) | 2011-11-24 |
| BRPI0918099A2 (pt) | 2016-07-26 |
| SI2370781T1 (sl) | 2020-06-30 |
| WO2010069409A8 (de) | 2010-08-05 |
| ES2781351T3 (es) | 2020-09-01 |
| CN102257353A (zh) | 2011-11-23 |
| PT2370781T (pt) | 2020-04-23 |
| DE102008064104A1 (de) | 2010-07-01 |
| PL2370781T3 (pl) | 2020-10-19 |
| MX2011006556A (es) | 2011-10-21 |
| CA2746191C (en) | 2016-10-25 |
| DE102008064104B4 (de) | 2014-06-18 |
| EP2370781B1 (de) | 2020-01-22 |
| HUE049026T2 (hu) | 2020-08-28 |
| BRPI0918099B1 (pt) | 2019-07-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2011123399A (ru) | Устройство и способ для трехмерного оптического обмера сильно отражающих или прозрачных объектов | |
| US9560345B2 (en) | Camera calibration | |
| JP2018512187A5 (ru) | ||
| JP2011066875A5 (ru) | ||
| US9589348B1 (en) | Camera calibration system | |
| CN107111118A (zh) | 用于厚样本的epi照明傅立叶重叠关联成像 | |
| WO2009078617A3 (en) | Surface shape measuring system and surface shape measuring method using the same | |
| JP2012247648A5 (ru) | ||
| JP2015505051A5 (ru) | ||
| WO2008120217A3 (en) | Depth mapping using projected patterns | |
| JP2009082966A5 (ru) | ||
| DE602006016108D1 (de) | Optisches und digitales zoomen für eine abbildungseinrichtung | |
| JP2012517907A5 (ru) | ||
| TW201350954A (zh) | 主動式距離對焦系統及方法 | |
| JP2018534584A5 (ru) | ||
| CN107202780A (zh) | 一种基于散斑照明的超分辨显微方法和装置 | |
| JP2011504247A5 (ru) | ||
| JP6698451B2 (ja) | 観察装置 | |
| JP2012075102A5 (ru) | ||
| JP2023502527A (ja) | 透明ステージ上のジェムストーンの蛍光撮像 | |
| JP2018036255A5 (ru) | ||
| RU2008106924A (ru) | Способ измерения дефекта формы панели конструкции летательного аппарата и система для применения этого способа | |
| JP2009279169A5 (ru) | ||
| EP1698939A3 (en) | Exposure apparatus and method, measuring apparatus, and device manufacturing method | |
| JP2015152405A5 (ru) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PC41 | Official registration of the transfer of exclusive right |
Effective date: 20200217 |