DE20216852U1 - Vorrichtung zur Oberflächenprüfung - Google Patents

Vorrichtung zur Oberflächenprüfung

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    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object

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Description

Der Beschreibungstext wurde nicht elektronisch erfaßt
Der Beschreibungstext wurde nicht elektronisch erfaßt

Claims (3)

1. Vorrichtung zur Oberflächenprüfung nach dem Verfahren der Deflektometrie, dadurch gekennzeichnet, daß ein räumlicher Lichtmodulator (1) in unmittelbarer Nähe der zu prüfenden Oberfläche (2) derart positioniert ist, daß eine mit dem Auswerterechner (3) auf dem Lichtmodulator (1) generierte Folge von Intensitätsmustern an der zu prüfenden Oberfläche (2) gespiegelt und von einer elektronischen Kamera (4) erfaßt wird, die den Bereich der Oberfläche abbildet, der unmittelbar unter dem Lichtmodulator liegt.
2. Vorrichtung zur Oberflächenprüfung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als räumlicher Lichtmodulator (1) ein LCD- Flachbildschirm mit mindestens 640 × 480 Bildpunkten benutzt wird.
3. Vorrichtung zur Oberflächenprüfung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein zweiter LCD-Flachbildschirm (5), der über mindestens 640 × 480 Bildpunkte verfügt, so angebracht ist, daß das Kamerabild unmittelbar über dem von der Kamera (4) aufgenommenen Oberflächenbereich angezeigt wird.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004015203B3 (de) * 2004-03-29 2005-09-15 GOM - Gesellschaft für Optische Meßtechnik mbH Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung von Temperaturrastern
DE102008064104A1 (de) 2008-12-19 2010-07-01 Afm Technology Gmbh Ost Vorrichtung und Verfahren zum dreidimensionalen optischen Vermessen von stark reflektierenden oder durchsichtigen Objekten

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