RU2003129657A - Способ травления слоев, нанесенных на прозрачные подложки типа стеклянной подложки - Google Patents

Способ травления слоев, нанесенных на прозрачные подложки типа стеклянной подложки Download PDF

Info

Publication number
RU2003129657A
RU2003129657A RU2003129657/02A RU2003129657A RU2003129657A RU 2003129657 A RU2003129657 A RU 2003129657A RU 2003129657/02 A RU2003129657/02 A RU 2003129657/02A RU 2003129657 A RU2003129657 A RU 2003129657A RU 2003129657 A RU2003129657 A RU 2003129657A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
electrode
substrate
etched
solution
layer
Prior art date
Application number
RU2003129657/02A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2285067C2 (ru
Inventor
Кристоф МАЗЗАРА (FR)
Кристоф МАЗЗАРА
КИАТИ Натали ЭЛЬ (FR)
КИАТИ Натали ЭЛЬ
Жаона ЖИРАР (FR)
Жаона ЖИРАР
Original Assignee
Сэн-Гобэн Гласс Франс (Fr)
Сэн-Гобэн Гласс Франс
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Сэн-Гобэн Гласс Франс (Fr), Сэн-Гобэн Гласс Франс filed Critical Сэн-Гобэн Гласс Франс (Fr)
Publication of RU2003129657A publication Critical patent/RU2003129657A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2285067C2 publication Critical patent/RU2285067C2/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/306Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
    • H01L21/3063Electrolytic etching
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25FPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC REMOVAL OF MATERIALS FROM OBJECTS; APPARATUS THEREFOR
    • C25F3/00Electrolytic etching or polishing
    • C25F3/02Etching
    • C25F3/14Etching locally
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02Manufacture of electrodes or electrode systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2217/00Gas-filled discharge tubes
    • H01J2217/38Cold-cathode tubes
    • H01J2217/49Display panels, e.g. not making use of alternating current
    • H01J2217/492Details
    • H01J2217/49207Electrodes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Weting (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
  • Gas-Filled Discharge Tubes (AREA)

Claims (28)

1. Способ электрохимического травления слоя (11) с электропроводящими свойствами типа легированного оксида металла на прозрачной подложке (10) типа стекла, которая содержит маску (12), предварительно нанесенную на упомянутый слой (11) перед осуществлением способа и имеющую рисунок, ограничивающий множество обнаженных участков (13) слоя (11), причем маска приспособлена к удалению после травления, содержащий
- приведение в контакт с электропроводящим раствором (20) по меньшей мере одного подлежащего травлению участка (13) слоя,
- погружение в раствор (20) электрода (30) и помещение его напротив и на расстоянии (d) от участка (13),
- приложение электрического напряжения (U) между электродом (30) и подлежащим травлению слоем (11),
отличающийся тем, что используют по меньшей мере один электрод, и этот электрод имеет продолговатую форму, так что травление осуществляют на нескольких участках слоя по ширине l.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что подложку (10) или электрод (30) перемещают друг относительно друга, при этом один из них является неподвижным, так что электрод последовательно располагают напротив подлежащих одновременному травлению участков, а уже подвергнутые травлению участки физически изолируют от электропроводящего раствора (20).
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что подложку (10) или электрод (30) перемещают друг относительно друга, при этом один из них является неподвижным, так что электрод последовательно располагают напротив подлежащих одновременному травлению участков, и скорость травления увеличивают по мере того, как участки подвергаются травлению и остаются в контакте с электропроводящим раствором.
4. Способ по п.2, отличающийся тем, что электрод (30) сохраняют неподвижным в проводящем растворе (20), который временным образом на время травления приводят в контакт только с участками (13), подлежащими одновременному травлению.
5. Способ по п.4, отличающийся тем, что проводящий раствор (20) находится в фиксированном положении, тогда как подложку перемещают с постоянной скоростью по отношению к раствору.
6. Способ по п.4, отличающийся тем, что подложка находится в фиксированном положении, тогда как раствор (20) перемещают с постоянной скоростью по отношению к подложке.
7. Способ по любому из пп.4-6, отличающийся тем, что проводящий раствор (20) содержится в баке (21), подобранном по размерам электрода и расположенном под подложкой.
8. Способ по п.4, отличающийся тем, что подложку погружают в проводящий раствор (20) для травления, а после травления погружают во второй непроводящий раствор (23), на котором покоится проводящий раствор (20).
9. Способ по п.1 или 2, отличающийся тем, что подложку (10) полностью погружают и фиксируют в растворе (20), при этом ее поверхность, снабженную слоем (11), располагают параллельно и напротив поверхности раствора, а электрод (30) перемещают с постоянной скоростью напротив подлежащих травлению участков (13) и соединяют с укрывающими средствами (32), которые окружают электрод и подвергающиеся травлению участки с тем, чтобы изолировать их от уже подвергнутых травлению участков.
10. Способ по п.3, отличающийся тем, что электрод фиксируют в проводящем растворе (20), тогда как подложку (10) постепенно погружают в раствор по мере травления, при этом скорость травления увеличивают, уменьшая скорость перемещения подложки.
11. Способ по п.10, отличающийся тем, что скорость перемещения подложки представляет собой экспоненциально убывающую функцию.
12. Способ по любому из пп.1-11, отличающийся тем, что электрод (30) изготовлен из платины.
13. Способ по любому из пп.1-12, отличающийся тем, что электрод (30) имеет площадь поперечного сечения (s) в интервале от 0,2 до 5 мм2.
14. Способ по любому из пп.1-13, отличающийся тем, что расстояние (d), отделяющее участок (13) от электрода (30), находится в интервале от 0,1 до 30 мм.
15. Способ по любому из пп.1-14, отличающийся тем, что совокупность подлежащих травлению участков (13) представляет собой множество полосок, по существу, параллельных друг другу.
16. Способ по п.15, отличающийся тем, что электрод (30) располагают поперек полосок.
17. Способ по любому из пп.1-16, отличающийся тем, что слой (11) подложки (10) снабжают электрическим контактом (14) для приложения электрического напряжения (U), причем контакт устанавливают на одном конце подложки, а травление осуществляют, начиная с конца, свободного от всякого электрического контакта, и до противоположного конца, снабженного электрическим контактом (14).
18. Способ по п.4, отличающийся тем, что приложение напряжения между электродом (30) и слоем (11) осуществляют через электрический контакт, полученный погружением электрода (31) в электропроводящий раствор (24), контактирующий с по меньшей мере одним не подвергавшимся травлению участком (13).
19. Способ по любому из пп.1-18, отличающийся тем, что электрическое напряжение (U) по меньшей мере равно потенциалу восстановления проводящего материала, образующего слой (11).
20. Способ по любому из пп.1-19, отличающийся тем, что предусматривают средства (50) для удаления пузырьков (51) кислорода и водорода, появляющихся во время травления вблизи электрода и/или на электроде.
21. Применение способа по любому из пп.1-20 к слою (11) оксида олова, или легированного фтором оксида олова, или оксида индия-олова (ITO).
22. Прозрачная подложка, содержащая слой (11) с электропроводящими свойствами, подвергнутый травлению способом по любому из пп.1-20.
23. Подложка по п.22, которая состоит из стеклянной композиции, имеющей температуру деформации более 540°С, при этом величина уплотнения подложки составляет менее 60 млн-1, а ее тепловая характеристика DT составляет более 130°С.
24. Экран для визуализации типа плазменного экрана, включающий в себя подложку по п.22 или 23.
25. Устройство для травления участков (13) прозрачной подложки (10), покрытой слоем (11) с электропроводящими свойствами, содержащее по меньшей мере один электрод (30) и электропроводящий раствор (20), в который погружен указанный электрод, отличающееся тем, что электрод имеет продолговатую форму.
26. Устройство по п.25, отличающееся тем, что содержит средства (53, 54, 55) перемещения подложки или электрода, при этом один из них остается неподвижным относительно другого, причем упомянутые средства способны иммобилизировать подложку или электрод таким образом, что электрод располагается напротив подлежащих травлению участков, а также средства (21, 23, 32) для изоляции уже подвергнутых травлению участков от раствора (20).
27. Устройство по п.26, отличающееся тем, что средства для изоляции уже подвергнутых травлению участков состоят из бака (21), содержащего раствор (20) и подобранного по размерам электрода.
28. Устройство по п.25, отличающееся тем, что средства для изоляции уже подвергнутых травлению участков состоят из непроводящего раствора (23), на котором покоится проводящий раствор (20).
RU2003129657/02A 2001-03-07 2002-02-27 Способ травления слоев, нанесенных на прозрачные подложки RU2285067C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR01/03092 2001-03-07
FR0103092A FR2821862B1 (fr) 2001-03-07 2001-03-07 Procede de gravure de couches deposees sur des substrats transparents du type substrat verrier

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2003129657A true RU2003129657A (ru) 2005-02-10
RU2285067C2 RU2285067C2 (ru) 2006-10-10

Family

ID=8860835

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2003129657/02A RU2285067C2 (ru) 2001-03-07 2002-02-27 Способ травления слоев, нанесенных на прозрачные подложки

Country Status (11)

Country Link
US (1) US7507324B2 (ru)
EP (1) EP1366220A1 (ru)
JP (1) JP2004531641A (ru)
KR (1) KR100888244B1 (ru)
CN (1) CN1279219C (ru)
CA (1) CA2437886A1 (ru)
CZ (1) CZ20032409A3 (ru)
FR (1) FR2821862B1 (ru)
PL (1) PL369225A1 (ru)
RU (1) RU2285067C2 (ru)
WO (1) WO2002070792A1 (ru)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2831708B1 (fr) * 2001-10-29 2004-01-30 Thomson Licensing Sa Procede et dispositif pour decaper une couche mince conductrice deposee sur une plaque isolante, de maniere a y former un reseau d'electrodes
WO2007015454A1 (ja) * 2005-08-01 2007-02-08 Hitachi Zosen Corporation 導電性金属酸化物薄膜除去方法及び装置
JP4824365B2 (ja) * 2005-08-25 2011-11-30 日立造船株式会社 導電性金属酸化物除去方法及び装置
JP4824430B2 (ja) * 2006-02-28 2011-11-30 富士フイルム株式会社 ナノ構造体の製造方法
WO2007122752A1 (ja) * 2006-04-12 2007-11-01 Hitachi Zosen Corporation 導電性金属酸化物薄膜の除去方法及び装置
FR2957941B1 (fr) * 2010-03-26 2012-06-08 Commissariat Energie Atomique Procede pour graver une couche d'oxyde metallique conducteur utilisant une microelectrode
US8557099B2 (en) * 2010-10-25 2013-10-15 Ppg Industries Ohio, Inc. Electrocurtain coating process for coating solar mirrors
JP2014105366A (ja) * 2012-11-28 2014-06-09 Mitsubishi Electric Corp 金属成分の回収方法および回収装置
KR101498654B1 (ko) * 2013-05-29 2015-03-05 (주)솔라세라믹 고헤이즈를 위한 불소가 도핑된 산화 주석 박막 식각 방법
CN103435266B (zh) * 2013-08-22 2015-08-26 大连七色光太阳能科技开发有限公司 一种fto导电薄膜的刻蚀方法
RU2572099C1 (ru) * 2014-07-15 2015-12-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук Способ локального удаления электропроводного оксидного слоя с диэлектрической подложки
KR101614835B1 (ko) 2015-08-12 2016-04-25 서울과학기술대학교 산학협력단 전기화학적 에칭을 이용한 투명 전극의 표면 개질방법
JP7190814B2 (ja) * 2017-02-13 2022-12-16 ラム リサーチ コーポレーション エアギャップの形成方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2541675A1 (de) * 1975-09-18 1977-03-24 Siemens Ag Verfahren zum aetzen von zinn- oder indium-dioxyd
JPS56163832A (en) * 1980-05-15 1981-12-16 Inoue Japax Res Inc Electric machining device
US5567304A (en) * 1995-01-03 1996-10-22 Ibm Corporation Elimination of island formation and contact resistance problems during electroetching of blanket or patterned thin metallic layers on insulating substrate
JP3222423B2 (ja) * 1997-08-29 2001-10-29 株式会社城洋 電解還元法による導電性金属酸化物の微細加工方法及びその加工装置
US6395152B1 (en) * 1998-07-09 2002-05-28 Acm Research, Inc. Methods and apparatus for electropolishing metal interconnections on semiconductor devices
US6544391B1 (en) * 2000-10-17 2003-04-08 Semitool, Inc. Reactor for electrochemically processing a microelectronic workpiece including improved electrode assembly

Also Published As

Publication number Publication date
FR2821862A1 (fr) 2002-09-13
KR20030087631A (ko) 2003-11-14
JP2004531641A (ja) 2004-10-14
PL369225A1 (en) 2005-04-18
RU2285067C2 (ru) 2006-10-10
CN1279219C (zh) 2006-10-11
FR2821862B1 (fr) 2003-11-14
CA2437886A1 (fr) 2002-09-12
EP1366220A1 (fr) 2003-12-03
CN1500158A (zh) 2004-05-26
CZ20032409A3 (cs) 2004-02-18
KR100888244B1 (ko) 2009-03-11
US7507324B2 (en) 2009-03-24
WO2002070792A1 (fr) 2002-09-12
US20040140227A1 (en) 2004-07-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2003129657A (ru) Способ травления слоев, нанесенных на прозрачные подложки типа стеклянной подложки
TW522175B (en) Process for etching a conductive layer
KR970063504A (ko) 반도체 장치 제조 방법 및 제조 장치
RU2007118645A (ru) Устройство травления проводящего слоя и способ травления
JP2004531641A5 (ru)
CN106024608A (zh) 一种薄膜晶体管及其制作方法、衬底基板及显示装置
US5312643A (en) Method of producing a transparent conductive film provided with supplementary metal lines
EP0050415A1 (en) Process for forming a pattern of transparent conductive material
KR20060020575A (ko) 다결정 ito 필름 및 다결정 ito 전극의 제조 방법
CN105655293B (zh) 阵列基板及其制作方法和显示装置
WO2000077568A8 (en) Electrodes for liquid crystal cells
EP0072658A1 (en) Display device manufacture
TW200506101A (en) Electrode for use in liquid and material thereof
JPH0548132A (ja) 非晶質半導体太陽電池の製造方法
EP0236938A2 (de) Verfahren zur Vermeidung von Kurzschlüssen bei der Herstellung von Dünnschichtsolarzellen aus amorphem Silizium
JPS557474A (en) Forming method for film resistor of thermal recording head
CN109671617B (zh) 一种光阻剥离方法
KR101481464B1 (ko) 금속 패턴 형성 방법
Kono et al. In-situ observation and evaluation of silver precipitation behavior in borosilicate glass
CN111650631A (zh) 多丝正比计数器中金属丝网的装配方法
CN115458631A (zh) 一种在晶硅太阳能电池片上形成金属线条的方法
JPS5772350A (en) Fabrication of semiconductor device
RU2572099C1 (ru) Способ локального удаления электропроводного оксидного слоя с диэлектрической подложки
RU2143152C1 (ru) Способ изготовления тонкопленочного электролюминесцентного индикатора
JPS5559718A (en) Producing method of semiconductor unit

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20100228