RU2000114832A - Амплитудная маска и устройство и способ изготовления фильтра на основе решетки с протяженным периодом, использующего такую амплитудную маску - Google Patents

Амплитудная маска и устройство и способ изготовления фильтра на основе решетки с протяженным периодом, использующего такую амплитудную маску

Info

Publication number
RU2000114832A
RU2000114832A RU2000114832/28A RU2000114832A RU2000114832A RU 2000114832 A RU2000114832 A RU 2000114832A RU 2000114832/28 A RU2000114832/28 A RU 2000114832/28A RU 2000114832 A RU2000114832 A RU 2000114832A RU 2000114832 A RU2000114832 A RU 2000114832A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
period
extended period
masks
grating
laser radiation
Prior art date
Application number
RU2000114832/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2193220C2 (ru
Inventor
Дзоо-ниунг ДЗАНГ
Original Assignee
Самсунг Электроникс Ко., Лтд.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1019970066751A external-priority patent/KR100265794B1/ko
Application filed by Самсунг Электроникс Ко., Лтд. filed Critical Самсунг Электроникс Ко., Лтд.
Publication of RU2000114832A publication Critical patent/RU2000114832A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2193220C2 publication Critical patent/RU2193220C2/ru

Links

Claims (9)

1. Амплитудная маска для периодического пропускания лазерного излучения к оптическому волокну, в котором решетка с протяженным периодом изготавливается за счет избирательного пропускания лазерного излучения к оптическому волокну, содержащая две маски, имеющие периодически чередующиеся области пропускания для прохождения лазерного излучения и области, не пропускающие излучение, для предотвращения прохождения лазерного излучения, в которой две маски непрерывно вращаются в противоположных направлениях, и период области пропускания, таким образом, непрерывно изменяется.
2. Амплитудная маска по п. 1, в которой подложка маски формируется из металла.
3. Амплитудная маска по п. 1, в которой период (Λ) амплитудной маски определяется следующим образом
Figure 00000001

где Λ0 - период маски, и α - угол поворота двух масок.
4. Устройство для изготовления фильтра на основе решетки с протяженным периодом, содержащее лазерный оптический источник для создания лазерного излучения, часть с амплитудной маской, период которой регулируется за счет перекрытия двух масок, каждая из которых имеет заданный период, и поворота двух перекрываемых масок на заданный угол, и которая избирательно пропускает лазерное излучение к оптическому волокну, в котором должна формироваться решетка с протяженным периодом в соответствии с регулируемым периодом, и вращающее устройство для поворота двух масок на заданный угол в противоположных направлениях.
5. Устройство для изготовления фильтра на основе решетки с протяженным периодом по п. 4, дополнительно содержащее второй оптический источник, детектор для обнаружения пика взаимодействия фильтра на основе решетки с протяженным периодом, с одного конца оптического волокна, в котором была сформирована решетка с протяженным периодом, когда световое излучение, генерированное вторым оптическим источником, попадает на другой конец оптического волокна, в котором была сформирована решетка с протяженным периодом, и регулятор для регулировки вращающего устройства для получения требуемой длины пика волны взаимодействия за счет приема длины волны на пике взаимодействия от детектора.
6. Устройство для изготовления фильтра на основе решетки с протяженным периодом по п. 4, в котором материал подложки маски представляет собой металл.
7. Устройство для изготовления фильтра на основе решетки с протяженным периодом по п. 5, где период (Λ) амплитудной маски определяется следующим образом
Figure 00000002

где Λ0 - период маски, и α - угол поворота двух масок.
8. Устройство для изготовления фильтра на основе решетки с протяженным периодом, содержащее лазерный оптический источник, зеркало для изменения пути лазерного излучения, создаваемого лазерным оптическим источником, линзу для настройки фокуса лазерного излучения, путь которого был изменен, часть с амплитудной маской, период которой регулируется за счет перекрытия двух масок, каждая из которых имеет заданный период, и поворота двух перекрываемых масок на заданный угол, и которая избирательно пропускает лазерное излучение, прошедшее через линзу, к оптическому волокну, в котором должна быть сформирована решетка с протяженным периодом в соответствии с регулируемым периодом, детектор для обнаружения пика взаимодействия фильтра на основе решетки с протяженным периодом, сформированного на оптическом волокне, и регулятор для регулировки периода амплитудной маски для получения требуемой длины волны пика взаимодействия за счет приема длины волны на пике взаимодействия от детектора.
9. Способ изготовления фильтра на основе решетки с протяженным периодом, включающий этапы перекрытия двух масок, в каждой из которых области, которые пропускают лазерное излучение, чередуются с областями, которые не пропускают лазерное излучение, и поворота двух масок в противоположных направлениях, облучения лазерным излучением оптического волокна через области, пропускающие излучение, сформированные с заданными периодами на двух повернутых масках и формирования решетки с протяженным периодом на оптическом волокне, и измерения пика взаимодействия, определяемого решеткой с протяженным периодом, за счет прохождения излучения через оптическое волокно, на котором сформирована решетка с протяженным периодом, и регулировки угла поворота, на который поворачиваются две маски таким образом, что измеряемый пик взаимодействия достигается на требуемой длине волны.
RU2000114832/28A 1997-12-08 1998-12-08 Амплитудная маска и устройство и способ изготовления фильтра на основе решетки с большим периодом, использующие такую амплитудную маску RU2193220C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1997/66751 1997-12-08
KR1019970066751A KR100265794B1 (ko) 1997-12-08 1997-12-08 주기가 조절가능한 진폭 마스크 및 이를 이용한 장주기 격자 필터 제조장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2000114832A true RU2000114832A (ru) 2002-04-10
RU2193220C2 RU2193220C2 (ru) 2002-11-20

Family

ID=19526713

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2000114832/28A RU2193220C2 (ru) 1997-12-08 1998-12-08 Амплитудная маска и устройство и способ изготовления фильтра на основе решетки с большим периодом, использующие такую амплитудную маску

Country Status (13)

Country Link
US (1) US6204969B1 (ru)
EP (1) EP1038196B1 (ru)
JP (1) JP3328648B2 (ru)
KR (1) KR100265794B1 (ru)
CN (1) CN1113253C (ru)
AR (1) AR016975A1 (ru)
AU (1) AU740410C (ru)
BR (1) BR9813405A (ru)
CA (1) CA2311586C (ru)
DE (1) DE69831095T2 (ru)
RU (1) RU2193220C2 (ru)
TW (1) TW408232B (ru)
WO (1) WO1999030189A1 (ru)

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100322121B1 (ko) * 1998-10-13 2002-03-08 윤종용 장주기격자필터제조장치
JP3456927B2 (ja) 1999-08-06 2003-10-14 学校法人早稲田大学 グレーティング並びにグレーティング形成方法及び装置
KR100342532B1 (ko) * 2000-08-04 2002-06-28 윤종용 편광 무의존성 장주기 광섬유 격자 제조 장치
US6681067B1 (en) * 2000-11-03 2004-01-20 Cidra Corporation Method for selective erasing/apodization of the index of refraction of an optical waveguide and an optical waveguide modified by the method
CA2354211A1 (en) * 2001-07-26 2003-01-26 Paul Lefebvre Reel to reel manufacturing line
US7900836B2 (en) * 2002-08-20 2011-03-08 Illumina, Inc. Optical reader system for substrates having an optically readable code
US7441703B2 (en) * 2002-08-20 2008-10-28 Illumina, Inc. Optical reader for diffraction grating-based encoded optical identification elements
US7508608B2 (en) * 2004-11-17 2009-03-24 Illumina, Inc. Lithographically fabricated holographic optical identification element
US7923260B2 (en) 2002-08-20 2011-04-12 Illumina, Inc. Method of reading encoded particles
US20050227252A1 (en) * 2002-08-20 2005-10-13 Moon John A Diffraction grating-based encoded articles for multiplexed experiments
US7164533B2 (en) 2003-01-22 2007-01-16 Cyvera Corporation Hybrid random bead/chip based microarray
US7872804B2 (en) * 2002-08-20 2011-01-18 Illumina, Inc. Encoded particle having a grating with variations in the refractive index
US7619819B2 (en) * 2002-08-20 2009-11-17 Illumina, Inc. Method and apparatus for drug product tracking using encoded optical identification elements
US7901630B2 (en) * 2002-08-20 2011-03-08 Illumina, Inc. Diffraction grating-based encoded microparticle assay stick
US7092160B2 (en) * 2002-09-12 2006-08-15 Illumina, Inc. Method of manufacturing of diffraction grating-based optical identification element
US20100255603A9 (en) * 2002-09-12 2010-10-07 Putnam Martin A Method and apparatus for aligning microbeads in order to interrogate the same
US20060057729A1 (en) * 2003-09-12 2006-03-16 Illumina, Inc. Diffraction grating-based encoded element having a substance disposed thereon
US7277604B2 (en) * 2003-12-12 2007-10-02 Lxsix Photonics Inc. Method and apparatus for inducing an index of refraction change on a substrate sensitive to electromagnetic radiation
US7433123B2 (en) * 2004-02-19 2008-10-07 Illumina, Inc. Optical identification element having non-waveguide photosensitive substrate with diffraction grating therein
CA2587674A1 (en) 2004-11-16 2006-05-26 Illumina, Inc. Method and apparatus for reading coded microbeads
US7604173B2 (en) * 2004-11-16 2009-10-20 Illumina, Inc. Holographically encoded elements for microarray and other tagging labeling applications, and method and apparatus for making and reading the same
CN100375912C (zh) * 2005-04-28 2008-03-19 北京印刷学院 一种利用电子束制备长周期光纤光栅的方法
US7623624B2 (en) * 2005-11-22 2009-11-24 Illumina, Inc. Method and apparatus for labeling using optical identification elements characterized by X-ray diffraction
US7830575B2 (en) * 2006-04-10 2010-11-09 Illumina, Inc. Optical scanner with improved scan time
WO2015007580A1 (en) * 2013-07-18 2015-01-22 Basf Se Solar light management
CN110542946B (zh) * 2018-05-28 2022-07-22 福州高意光学有限公司 一种用于快速调节啁啾光纤光栅带宽的振幅模板装置与方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AUPM386794A0 (en) * 1994-02-14 1994-03-10 University Of Sydney, The Optical grating
US5559907A (en) * 1994-02-17 1996-09-24 Lucent Technologies Inc. Method of controlling polarization properties of a photo-induced device in an optical waveguide and method of investigating structure of an optical waveguide
GB2289770A (en) * 1994-05-17 1995-11-29 Northern Telecom Ltd Writing bragg gratings in photosensitive waveguides
GB2289771B (en) * 1994-05-26 1997-07-30 Northern Telecom Ltd Forming Bragg gratings in photosensitive waveguides
US5604829A (en) * 1995-04-17 1997-02-18 Hughes Aircraft Company Optical waveguide with diffraction grating and method of forming the same
WO1996036892A1 (en) * 1995-05-19 1996-11-21 Cornell Research Foundation, Inc. Cascaded self-induced holography
US5620495A (en) * 1995-08-16 1997-04-15 Lucent Technologies Inc. Formation of gratings in polymer-coated optical fibers
JP2853659B2 (ja) * 1996-06-11 1999-02-03 日本電気株式会社 回折格子の作製方法
US5953471A (en) * 1997-07-01 1999-09-14 Lucent Technologies, Inc. Optical communication system having short period reflective Bragg gratings
KR100258968B1 (ko) * 1997-07-21 2000-06-15 윤종용 진폭마스크 및 이를 이용한 장주기 격자 필터 제조장치
EP0978738A1 (en) * 1998-08-03 2000-02-09 BRITISH TELECOMMUNICATIONS public limited company Apparatus and method for generating an interference pattern to be written as a grating in a sample of a photosensitive material
US6067391A (en) * 1998-09-02 2000-05-23 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Multiply periodic refractive index modulated optical filters

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2000114832A (ru) Амплитудная маска и устройство и способ изготовления фильтра на основе решетки с протяженным периодом, использующего такую амплитудную маску
RU2193220C2 (ru) Амплитудная маска и устройство и способ изготовления фильтра на основе решетки с большим периодом, использующие такую амплитудную маску
EP0435201B1 (en) Optical waveguide embedded light redirecting and focusing bragg grating arrangement
RU2001107252A (ru) Устройство для изготовления оптоволоконных дифракционных решеток с большим периодом, а также устройство на его основе для изготовления двухполосных оптоволоконных дифракционных решеток с большим периодом
CN1328648A (zh) 长周期纤维光栅的制造装置和用其制造双波段长周期纤维光栅的装置
KR100322121B1 (ko) 장주기격자필터제조장치
US5708738A (en) Apparatus and process for making fiber optic bragg gratings
EP1372003A1 (en) Method and apparatus for forming periodic structures
US5694502A (en) Bragg gratings in waveguides
EP0325158A2 (en) X-ray irradiation apparatus provided with irradiation range monitor
EP0974853A1 (en) Method for producing chirped in-fibre bragg grating
SU609022A1 (ru) Устройство дл облучени растений
RU2106619C1 (ru) Лазерный центратор для рентгеновского излучателя
US5985523A (en) Method for irradiating patterns in optical waveguides containing radiation sensitive constituents
JPS56104573A (en) Picture recording device
US5914998A (en) X-ray microbeam generating method and device for the same
CN106654811A (zh) 一种可调谐窄线宽太赫兹光源及光谱仪、成像仪
RU1029512C (ru) Установка дл лазерной обработки материалов
KR100322120B1 (ko) 장주기격자필터제조장치
SU1244626A1 (ru) Способ фоторегистрации (его варианты)
RU2201588C1 (ru) Способ оптического детектирования присоединения вещественного компонента к сенсорному слою на основе биологического, химического или физического взаимодействия и устройство для его осуществления
JP2007189168A (ja) レーザー照射光学系
JP2948773B2 (ja) リングビーム拡がり角連続可変装置
KR950006635Y1 (ko) 레이저빔의 편광측정장치
JP2894309B2 (ja) X線マイクロビームの生成方法及び生成装置