RO97520B1 - Metoda pentru identificarea pinilor de alimentare si a tehnologiei de realizare a circuitelor integrate logice ttl si cmos - Google Patents
Metoda pentru identificarea pinilor de alimentare si a tehnologiei de realizare a circuitelor integrate logice ttl si cmosInfo
- Publication number
- RO97520B1 RO97520B1 RO126753A RO12675387A RO97520B1 RO 97520 B1 RO97520 B1 RO 97520B1 RO 126753 A RO126753 A RO 126753A RO 12675387 A RO12675387 A RO 12675387A RO 97520 B1 RO97520 B1 RO 97520B1
- Authority
- RO
- Romania
- Prior art keywords
- technology
- ttl
- pins
- integrated circuits
- identifying
- Prior art date
Links
- 235000008331 Pinus X rigitaeda Nutrition 0.000 title 1
- 235000011613 Pinus brutia Nutrition 0.000 title 1
- 241000018646 Pinus brutia Species 0.000 title 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Inventia face parte din domeniul testarii automate a circuitelor integrate logice si rezolva problema identificarii pinilor de alimentare si a tehnologiei de realizare a acestor circuite (TTL sau CMOS). Identificarea se face în baza masurarii rezistentei (caderii de tensiune), sub curent constant sau cuasiconstant, între toti pinii i si j si în baza interpretarii valorilor masurate, în sensul ca cea mai mica valoare masurata corespunde pinilor de alimentare, rezistenta masurata între acesti doipini în sens invers caracterizînd tehnologia de realizare (mare pentru CMOS si mica pentru TTL). Inventia se poate aplica în toate testoarele de circuite integrate care au un sistem de control cu microprocesor, în testoarele prevazute cu posibilitati de identificare a circuitelor integrate, la care identificarea pinilor de alimentare si alimentarea corecta a circuitului sînt determinate.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RO126753A RO97520B1 (ro) | 1987-01-26 | 1987-01-26 | Metoda pentru identificarea pinilor de alimentare si a tehnologiei de realizare a circuitelor integrate logice ttl si cmos |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RO126753A RO97520B1 (ro) | 1987-01-26 | 1987-01-26 | Metoda pentru identificarea pinilor de alimentare si a tehnologiei de realizare a circuitelor integrate logice ttl si cmos |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RO97520B1 true RO97520B1 (ro) | 1989-08-02 |
Family
ID=40905709
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RO126753A RO97520B1 (ro) | 1987-01-26 | 1987-01-26 | Metoda pentru identificarea pinilor de alimentare si a tehnologiei de realizare a circuitelor integrate logice ttl si cmos |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RO (1) | RO97520B1 (ro) |
-
1987
- 1987-01-26 RO RO126753A patent/RO97520B1/ro unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3681657D1 (de) | Schaltungsanordnung zum pruefen integrierter schaltungseinheiten. | |
| JPH0269684A (ja) | 集積回路の電源線試験方法 | |
| MY105336A (en) | Method and system for concurrent electronic component testing and lead verification | |
| CN110426622A (zh) | 一种电压电流源测试电路及测试方法 | |
| JPH08271565A (ja) | 電源装置の接続状態検査方法及びその方法を用いる電源装置 | |
| RO97520B1 (ro) | Metoda pentru identificarea pinilor de alimentare si a tehnologiei de realizare a circuitelor integrate logice ttl si cmos | |
| US5550477A (en) | Methods and apparatus for testing armature coils and coil lead connections using resistance measurements | |
| JP2003532082A (ja) | 短絡スイッチを備えた電子回路デバイスおよびそのデバイスを試験する方法 | |
| MY112140A (en) | Jig for measuring the characteristics of a semiconductor, manufacturing method for the same, and usage of the same | |
| DK0705439T3 (da) | Testindretning og fremgangsmåde for et integreret kredsløb fastloddet på et kredsløbskort | |
| JPS5923676U (ja) | 自己診断機能を持つic試験装置 | |
| JPS6421374A (en) | Apparatus for testing integrated circuit | |
| JP3323150B2 (ja) | プローブカードチェッカー | |
| JPS56107175A (en) | Confirmation method for connection of check pins on integrated circuit | |
| JPH059659Y2 (ro) | ||
| JPS62182677A (ja) | 集積回路のソケツト插入不良検知方法 | |
| JP2574867B2 (ja) | テスト装置 | |
| SU472346A1 (ru) | Устройство контрол контактировани зондовых установок | |
| JPH0132953B2 (ro) | ||
| JPH0562701B2 (ro) | ||
| KR100215110B1 (ko) | 교류단 전원을 이용한 와이어 단선 검사장치 | |
| CURRENT et al. | Evaluation and implementation of testability schemes for gate array integrated circuit design(Final report, 1 Feb.- 30 Sep. 1984) | |
| TW368605B (en) | Conformance testing apparatus for testing electronic component consumption in a testing machine | |
| JPH04302453A (ja) | 半導体試験装置 | |
| JPS60113936A (ja) | 選別装置 |