JPS60113936A - 選別装置 - Google Patents
選別装置Info
- Publication number
- JPS60113936A JPS60113936A JP58220618A JP22061883A JPS60113936A JP S60113936 A JPS60113936 A JP S60113936A JP 58220618 A JP58220618 A JP 58220618A JP 22061883 A JP22061883 A JP 22061883A JP S60113936 A JPS60113936 A JP S60113936A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- preheating
- time
- block
- tested
- ammeter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［技術分野］
本発明は、選別技術、特に、電子部品の良品不良品を電
気的特性試験により選別する技術に関し、たとえば、大
規模集積回路（ＬＳＩ）やカスタムＬＳＩ等を備えた半
導体装置（以下、ｒｃという。
気的特性試験により選別する技術に関し、たとえば、大
規模集積回路（ＬＳＩ）やカスタムＬＳＩ等を備えた半
導体装置（以下、ｒｃという。
）の選別に利用して有効な技術に関する。
［背景技術］
ｒｃの選別を行う場合、ＩＣの電源回路に、ある設定時
間通電し、ＩＣをプレヒート（予熱）してから特性試験
を行うことが考えられる。
間通電し、ＩＣをプレヒート（予熱）してから特性試験
を行うことが考えられる。
しかし、このようにＩＣをプレヒートする場合、常に一
定時間通電してプレヒートするようになっているので、
ＩＣの全機種についてジャンクション温度に到達させる
ためには、プレヒート時間は全機種のうち最長となるも
のに対応するように設定しておく必要があり、プレヒー
ト時間が必要以上に長く設定され、結局、選別作業効率
が低下してしまうという問題点があることが、本発明者
によって明らかにされた。
定時間通電してプレヒートするようになっているので、
ＩＣの全機種についてジャンクション温度に到達させる
ためには、プレヒート時間は全機種のうち最長となるも
のに対応するように設定しておく必要があり、プレヒー
ト時間が必要以上に長く設定され、結局、選別作業効率
が低下してしまうという問題点があることが、本発明者
によって明らかにされた。
［発明の目的］
本発明の目的は、選別作業効率を向上することができる
選別技術を提供することにある。
選別技術を提供することにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。
［発明の概要］
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を節単に説明すれば、次の通りである。
を節単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、プレヒート用通電回路に電流計を設け、これ
の測定電流値に対応して試験対象ごとに通電時間を変更
調整することにより、試験対象ごとに必要最小限の時間
でプレヒートを実行するようになし、無駄なプレヒート
時間を省き、全体として選別作業効率を高めるようにし
たものである。
の測定電流値に対応して試験対象ごとに通電時間を変更
調整することにより、試験対象ごとに必要最小限の時間
でプレヒートを実行するようになし、無駄なプレヒート
時間を省き、全体として選別作業効率を高めるようにし
たものである。
［実施例］
図は本発明の一実施例である選別装置を示すブロック図
である。
である。
本実施例において、この選別装置は、試験対象としての
ＩＣＩが跨がされた状態で滑落供給されるシュート２を
備えており、シュート２の所定位置にはテスト部３が設
けられている。テスト部３はＩＣＩについて所要の電気
的特性試験を実行するテスク４と、このテスタ４をＩＣ
Ｉに電気的に接続させるためのソケット５とを備えてい
る。
ＩＣＩが跨がされた状態で滑落供給されるシュート２を
備えており、シュート２の所定位置にはテスト部３が設
けられている。テスト部３はＩＣＩについて所要の電気
的特性試験を実行するテスク４と、このテスタ４をＩＣ
Ｉに電気的に接続させるためのソケット５とを備えてい
る。
シュート２におけるテスト部３の手前位置にはプレヒー
ト部６が設けられ、プレヒート部６はＩＣ１の電源回路
用端子に電気的に接続するソケット７を備えている。ソ
ケット７には通電回路８が接続され、この回路８には一
定電圧の直流を通電させる電源９と、スイッチ１０と、
通電電流値を測定するための電流計１１とが直列に介設
されている。電流計１１には信号処理部１２を介して通
電時間設定部１３が接続され、設定部１３にはタイマ１
４が設定されている。この設定部１３は論理演算回路等
からなり、電流計１１の測定値に基づき最適のプレヒー
ト通電時間をめ、それによりタイマ１４をセットするよ
うに構成されており、タイマ１４はセットされた時間だ
けスイッチ１０の閉成を維持した後、開成させるように
構成されている。
ト部６が設けられ、プレヒート部６はＩＣ１の電源回路
用端子に電気的に接続するソケット７を備えている。ソ
ケット７には通電回路８が接続され、この回路８には一
定電圧の直流を通電させる電源９と、スイッチ１０と、
通電電流値を測定するための電流計１１とが直列に介設
されている。電流計１１には信号処理部１２を介して通
電時間設定部１３が接続され、設定部１３にはタイマ１
４が設定されている。この設定部１３は論理演算回路等
からなり、電流計１１の測定値に基づき最適のプレヒー
ト通電時間をめ、それによりタイマ１４をセットするよ
うに構成されており、タイマ１４はセットされた時間だ
けスイッチ１０の閉成を維持した後、開成させるように
構成されている。
茨に作用を説明する。
シュート２に沿って順次供給されて来るＩＣＩは、プレ
ヒート部６において、その電源回路用端子をソケット部
７に電気的に接続される。
ヒート部６において、その電源回路用端子をソケット部
７に電気的に接続される。
続いて、スイッチ１０を介して電源９から一定電圧の直
流がＩＣＩに通電される。このとき、通電回路８におけ
る電流値が電流計１１により測定され、この測定値は信
号処理部１２を介して通電時間設定部１３に入力される
。設定部１３ば、たとえば、Ｔ＝ｆ（Ｉｃｃ）等、あら
かじめプログラム−された論理式に基づき、現在の測定
電流値■ｃｃに対応するプレヒート設定時間Ｔを演算し
、求められた通電維持時間にタイマ１４をセントさせる
。そして、この設定時間は、現在通電中のＩＣ１がジャ
ンクション温度に達するまでに必要な最小限度の通電時
間にほぼ相当するものである。
流がＩＣＩに通電される。このとき、通電回路８におけ
る電流値が電流計１１により測定され、この測定値は信
号処理部１２を介して通電時間設定部１３に入力される
。設定部１３ば、たとえば、Ｔ＝ｆ（Ｉｃｃ）等、あら
かじめプログラム−された論理式に基づき、現在の測定
電流値■ｃｃに対応するプレヒート設定時間Ｔを演算し
、求められた通電維持時間にタイマ１４をセントさせる
。そして、この設定時間は、現在通電中のＩＣ１がジャ
ンクション温度に達するまでに必要な最小限度の通電時
間にほぼ相当するものである。
セット時間が経過すると、タイマ１４がリセットされ、
スイッチ１０が開成される。このとき、ＩＣＩはジャン
クション温度以上にまでプレヒートされている。
スイッチ１０が開成される。このとき、ＩＣＩはジャン
クション温度以上にまでプレヒートされている。
所定温度にプレヒートされたＩＣ１はテスト部３に供給
され、そこで、ソケット５を介してテスタ４からテスト
信号が印加され、所要の特性試験が実行される。このと
き、ＩＣＩは所定温度にプレヒートされているので、所
期の適正な試験が実行されることになる。
され、そこで、ソケット５を介してテスタ４からテスト
信号が印加され、所要の特性試験が実行される。このと
き、ＩＣＩは所定温度にプレヒートされているので、所
期の適正な試験が実行されることになる。
プレヒ−１−したＩＣＩを払い出した後のプレヒート部
６のソケット７には次のＩＣＩが供給され、前記と同様
にしてプレヒートが実施される。このとき、ＩＣ１の機
種が変更されていた場合、通電時間設定部１３は電流計
１１の測定値に基づき、当該ＩＣＩについて適正なプレ
ヒート状態の確保に必要な最小限の通電時間をめ、タイ
マ１４をセットして最短時間でプレヒートを完了させる
。
６のソケット７には次のＩＣＩが供給され、前記と同様
にしてプレヒートが実施される。このとき、ＩＣ１の機
種が変更されていた場合、通電時間設定部１３は電流計
１１の測定値に基づき、当該ＩＣＩについて適正なプレ
ヒート状態の確保に必要な最小限の通電時間をめ、タイ
マ１４をセットして最短時間でプレヒートを完了させる
。
［効果］
（１）、プレヒート用通電回路に電流計を設け、測定電
流値に対応してプレヒートの通電時間を変更調整するこ
とにより、試験対象ごとに必要最小限の時間でプレヒー
トさせることができるため、無駄な時間が省略でき、選
別装置におけるタフＪ・タイムが向上でき、全体として
選別作業効率が向上できる。
流値に対応してプレヒートの通電時間を変更調整するこ
とにより、試験対象ごとに必要最小限の時間でプレヒー
トさせることができるため、無駄な時間が省略でき、選
別装置におけるタフＪ・タイムが向上でき、全体として
選別作業効率が向上できる。
（２）、試験対象ごとに適正なプレヒート状態が確保さ
れることにより、選別精度が向上し、信頼性等が高まる
。
れることにより、選別精度が向上し、信頼性等が高まる
。
（３）８通電時間の変更調整をあらかしめ設定された論
理式に基づいて実行することにより、簡単な論理回路を
用いてきわめて迅速（リアルタイム）で、しかも正確な
調整を実行させることができる。
理式に基づいて実行することにより、簡単な論理回路を
用いてきわめて迅速（リアルタイム）で、しかも正確な
調整を実行させることができる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
たとえば、実験等によって試験対象機種ごとに最短プレ
ヒート時間と通電電流値との対応関係をそれぞれ得、両
者の関係を全機種に渡ってメモリ等に記憶させておき、
現実のプレヒート通電時において、試験対象につき測定
された電流値に対応する最短プレヒート時間を読み出し
てタイマをセットすることにより、試験対象ごとに通電
時間を変更調整するように構成してもよい。
ヒート時間と通電電流値との対応関係をそれぞれ得、両
者の関係を全機種に渡ってメモリ等に記憶させておき、
現実のプレヒート通電時において、試験対象につき測定
された電流値に対応する最短プレヒート時間を読み出し
てタイマをセットすることにより、試験対象ごとに通電
時間を変更調整するように構成してもよい。
［利用分野］
以上の説明ではよとして本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるＩＣの選別技術に適
用した場合Ｃごついて説明したが、それに限定されるも
のではなく、たとえば、ＩＣやその他の電子部品が搭載
されている電子機器全体についての選別技術にも適用で
きる。
をその背景となった利用分野であるＩＣの選別技術に適
用した場合Ｃごついて説明したが、それに限定されるも
のではなく、たとえば、ＩＣやその他の電子部品が搭載
されている電子機器全体についての選別技術にも適用で
きる。
図は本発明の一実施例を示ずブロック図である。
１・・・Ｉ’Ｃ（検査対象）、２・・・シュート、３・
・・テスト部、４・・・テスタ、５・・・ソケット、６
・・・プレヒート部、７・・・ソケ・ノド、８・・・通
電回路、９・・・電源、１０・・・スイッチ、１１・・
・電流計、１２・・・信号処理部、１３・・・通電時間
設定部、１４・・・タイマ。
・・テスト部、４・・・テスタ、５・・・ソケット、６
・・・プレヒート部、７・・・ソケ・ノド、８・・・通
電回路、９・・・電源、１０・・・スイッチ、１１・・
・電流計、１２・・・信号処理部、１３・・・通電時間
設定部、１４・・・タイマ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ■、テスト部の手前に設けられ、試験対象に通電してプ
レヒートさせる通電回路に通電電流値を測定する電流計
が設けられ、この通電回路が試験対象ごとにその通電時
間を測定電流値に対応して変更調整されるように構成さ
れている選別装置。 ２、通電時間が、試験対象ごとの最短プレヒート時間と
通電電流値との関係についてあらかじめ設定されている
論理式により変更調整されることを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58220618A JPS60113936A (ja) | 1983-11-25 | 1983-11-25 | 選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58220618A JPS60113936A (ja) | 1983-11-25 | 1983-11-25 | 選別装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60113936A true JPS60113936A (ja) | 1985-06-20 |
Family
ID=16753790
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58220618A Pending JPS60113936A (ja) | 1983-11-25 | 1983-11-25 | 選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60113936A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101819247A (zh) * | 2010-05-17 | 2010-09-01 | 曹旭阳 | 一种自动检测电子组件产品耐高压及电气功能的设备 |
-
1983
- 1983-11-25 JP JP58220618A patent/JPS60113936A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101819247A (zh) * | 2010-05-17 | 2010-09-01 | 曹旭阳 | 一种自动检测电子组件产品耐高压及电气功能的设备 |
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