JPS5923676U - 自己診断機能を持つｉｃ試験装置 - Google Patents

自己診断機能を持つｉｃ試験装置

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JPS5923676U
JPS5923676U JP11919582U JP11919582U JPS5923676U JP S5923676 U JPS5923676 U JP S5923676U JP 11919582 U JP11919582 U JP 11919582U JP 11919582 U JP11919582 U JP 11919582U JP S5923676 U JPS5923676 U JP S5923676U
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JP
Japan
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test
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self
pin control
test mode
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JP11919582U
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好弘 橋本
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株式会社アドバンテスト
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はＩＣの直流特性試験の電流印加電圧測定モード
の説明を行なうための接続図、第２図は電圧印加電流測
定モードの説明を行なうための接続図、第３図は従来の
ＩＣ試験装置を説明するためのブロック図、第４図及び
第５図は従来の自己診断方法を説明するための接続図、
第６図はこの考案の一実施例を示す接続図である。 １０３：パフォーマンスポード、１０５：試験用電源、
３０５ａ〜３０５ｎ：ピン制御部、６０４ａ：電圧測定
線、６０７：ダミー抵抗器、６０８：自己診断用リレー
。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ　被試験ＩＣの各端子に直流特性試験に必要な電流及
    び電圧を与える試験用電源と、 Ｂ　被試験ＩＣの端子に機能試験モードと直流特性試験
    モードの回路を切換接続するピン制御部と、 Ｃ上記試験用電源が設けられ上記ピン制御部とパフォー
    マンスボードの接続点の電圧を測定する電圧測定線を既
    知の抵抗値を持つダミー抵抗器を通じて共通電位に接続
    するリレーと、Ｄ　このリレーがオンの状態において上
    記ピン制御部を直流特性試験モード時と非試験モード時
    の上記試験用電源から流出する電流値を測定する電流測
    定手段と、　、 を具備して成る自己診断機能を持つＩＣ試験装置。
JP11919582U 1982-08-04 1982-08-04 自己診断機能を持つｉｃ試験装置 Granted JPS5923676U (ja)

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JPS5923676U true JPS5923676U (ja) 1984-02-14
JPH0120700Y2 JPH0120700Y2 (ja) 1989-06-21

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