JPS5982880U - 半導体テスタ−用自己診断装置 - Google Patents

半導体テスタ−用自己診断装置

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JPS5982880U
JPS5982880U JP17916682U JP17916682U JPS5982880U JP S5982880 U JPS5982880 U JP S5982880U JP 17916682 U JP17916682 U JP 17916682U JP 17916682 U JP17916682 U JP 17916682U JP S5982880 U JPS5982880 U JP S5982880U
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JP
Japan
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semiconductor tester
self
semiconductor
power supply
program
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Pending
Application number
JP17916682U
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English (en)
Inventor
須藤　公明
Original Assignee
ロ−ム株式会社
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図はこの考案の実施例を示す回路図である。 １・・・演算処理部、２・・・プログラム電源、５・・
・測定部、６・・・基準抵抗、８・・・カウンタ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 数種の電源を具備するプログラム電源と、前記プログラ
    ム電源から選択された電源が試験対象の半導体装置に供
    給されたときの、電圧、電流、抵抗等を測定する測定部
    と、前記プログラム電源を選択し、かつ前記測定部から
    の測定値を演算して前記半導体装置の各特性を判定する
    演算処理部と、基準抵抗とを備えた半導体テスターにお
    いて、前記半導体テスターによる試験回数をカウントす
    るカウンタを設け、前記カウンタがプリセットされたカ
    ウント値までカウントしたときの出力信号を、予め定め
    られたプログラムどおりに前記半導体テスターを自己診
    断するための開始信号としてなる半導体テスター用自己
    診断装置。
JP17916682U 1982-11-27 1982-11-27 半導体テスタ−用自己診断装置 Pending JPS5982880U (ja)

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JP17916682U JPS5982880U (ja) 1982-11-27 1982-11-27 半導体テスタ−用自己診断装置

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JPS5982880U true JPS5982880U (ja) 1984-06-04

Family

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JP17916682U Pending JPS5982880U (ja) 1982-11-27 1982-11-27 半導体テスタ−用自己診断装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010511869A (ja) * 2006-11-30 2010-04-15 エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド グループ化された回路モジュールにおける自己試験、監視、および診断

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5039071A (ja) * 1973-08-08 1975-04-10

Patent Citations (1)

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JPS5039071A (ja) * 1973-08-08 1975-04-10

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JP2010511869A (ja) * 2006-11-30 2010-04-15 エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド グループ化された回路モジュールにおける自己試験、監視、および診断

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