PL123729B2 - Method of optical comparison of lengths - Google Patents

Method of optical comparison of lengths Download PDF

Info

Publication number
PL123729B2
PL123729B2 PL22525980A PL22525980A PL123729B2 PL 123729 B2 PL123729 B2 PL 123729B2 PL 22525980 A PL22525980 A PL 22525980A PL 22525980 A PL22525980 A PL 22525980A PL 123729 B2 PL123729 B2 PL 123729B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
arms
interferometer
reflector
optical
accuracy
Prior art date
Application number
PL22525980A
Other languages
English (en)
Other versions
PL225259A1 (pl
Inventor
Piotr Panecki
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL22525980A priority Critical patent/PL123729B2/pl
Publication of PL225259A1 publication Critical patent/PL225259A1/xx
Publication of PL123729B2 publication Critical patent/PL123729B2/pl

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób optycznego porównywania dlugosci znajdujacy zastoso¬ wania w metrologii.Znane sa interferometryczne metody pomiaru dlugosci, w których wzorcem jest dlugosc fali swietlnej, zas porównywania dlugosci wzorca z wielkoscia mierzona dokonuje sie droga zliczania ilosci prazków. Te znane sposoby sa najdokladniejsze ze znanych, lecz przy ich stosowaniu zachodzi koniecznosc w przypadku laserów, stabilizacji dlugosci fali. Wymagane tez jest uniezale¬ znienie sie od wplywów atmosfery na interferometr. Pociaga to za soba duze naklady.W przypadku wykonywania pomiarów technicznych dokladnosc jest ograniczona do wielkosci okolo 10"6 przy odleglosciach do kilkudziesieciu metrów.W sposobie wedlug wynalazku wykorzystuje sie zjawisko interferencji fal swietlnych przy uzyciu znanego interferometru Michelsona. Na wzorcowej lawie optycznej w jednym z ramion interferometru Michelsona umieszcza sie reflektor rogowy. W drugim ramieniu interferometru, na badanym urzadzeniu którego polozenie ma byc ustalone, umieszcza sie taki sam reflektor. Gdy oba ramiona z dokladnoscia drogi koherencji, sa równe na wyjsciu uzyskuje sie sygnal, który powstaje wskutek interferencji fal biegnacych w obu ramionach. Wedlug znamiennej cechy wynalazku do detekcji zrównania sie dróg optycznych obu ramion intereferometru wykorzystuje sie modulacje fazy fali swietlnej w jednym z ramion interferometru, która wykrywa sie jako modulacje amplitu¬ dowa na fotopowielaczu jedynie wówczas, gdy drogi sa równe z dokladnoscia drogi koherencji czasowej uzytego swiatla.Nieoczekiwanym skutkiem wynalazku jest umozliwienie wykrywania miejsca interferencji swiatla bialego w sposób, w duzym stopniu niezalezny od fluktuacji atmosfery, wibracji oraz predkosci przesuwania sie reflektora rogowego.Wynalazek zostanie dokladniej wyjasniony na podstawie rysunku, na którym pokazano uklad optyczny interferometru w zastosowaniu do optycznego sposobu porównywania dlugosci.Zródlo swiatla w postaci halogenowej zarówki 1 wysyla strumien swiatla, który po przejsciu przez przyslone 2 oraz pomocniczy dzielnik 3 pada na dzielnik 4 interferometru. Czesc swiatla odbita od dzielnika 4 przechodzi przez kompensujaca plytke 5 oraz modulator 6 fazy i pada na rogowy reflektor 7, skad po odbiciu wraca ta sama droga i po przejsciu dzielnika 4dociera do fotopowielacza 8. Druga czesc swiatla po przejsciu przez dzielnik 4 i nastepnie odbiciu od rogowego2 123729 reflektora 9 wraca, a po drugim odbiciu od dzielnika 4 trafia do fotopowielacza 8. Gdy dlugosci obu ramion sa równe, dwie opisane wiazki swiatla interferuja ze soba. Na skutek jednak umieszczenia w pierwszym ramienia interferometru modulatora 6 faza fali odbitej od reflektora 7 jest zmienna, co wywoluje podobna zmiennosc czasowa interferencji na fotopowielaczu 8. Sygnal uzyskiwany z fotopowielacza 8 jest dalej podawany na selektywny wzmacniacz z miernikiem 10, za pomoca którego wykrywa sie moment z równania dróg optycznych.Uklad zlozony z lasera 11 He-Ne oraz wczesniej wymienionego pomocniczego dzielnika 3 sluzy do wstepnego osiowania rogowych reflektorów 7 i 9.Zastrzezenie patentowe Sposób optycznego porównywania dlugosci przy uzyciu interferometru Michelsona, w któ¬ rym na wzorcowej lawie optycznej w jednym z ramion interferometru umieszcza sie reflektor rogowy, w drugim ramieniu na badanym urzadzeniu, którego polozenie ma byc ustalone, umie¬ szcza sie taki sam reflektor, a po zrównaniu dlugosci obu ramion z dokladnoscia drogi koherencji, na wyjsciu uzyskuje sie sygnal powstajacy wskutek interferencji fal biegnacych w obu ramionach, znamienny tym, ze do detekcji zrównania sie dróg optycznych obu ramion interferometru wykorzy- suje sie modulacje fazy fali swietlnej w jednym z ramion interferometru, która wykrywa sie jako modulacje amplitudowa na fotopowielaczu jedynie wówczas, gdy drogi sa równe z dokladnoscia drogi koherencji czasowej uzytego swiatla.—A-y ® — 2 1 Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 120 egz.Ona 100 zl PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób optycznego porównywania dlugosci przy uzyciu interferometru Michelsona, w któ¬ rym na wzorcowej lawie optycznej w jednym z ramion interferometru umieszcza sie reflektor rogowy, w drugim ramieniu na badanym urzadzeniu, którego polozenie ma byc ustalone, umie¬ szcza sie taki sam reflektor, a po zrównaniu dlugosci obu ramion z dokladnoscia drogi koherencji, na wyjsciu uzyskuje sie sygnal powstajacy wskutek interferencji fal biegnacych w obu ramionach, znamienny tym, ze do detekcji zrównania sie dróg optycznych obu ramion interferometru wykorzy- suje sie modulacje fazy fali swietlnej w jednym z ramion interferometru, która wykrywa sie jako modulacje amplitudowa na fotopowielaczu jedynie wówczas, gdy drogi sa równe z dokladnoscia drogi koherencji czasowej uzytego swiatla. —A-y ® — 2 1 Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 120 egz. Ona 100 zl PL
PL22525980A 1980-06-27 1980-06-27 Method of optical comparison of lengths PL123729B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL22525980A PL123729B2 (en) 1980-06-27 1980-06-27 Method of optical comparison of lengths

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL22525980A PL123729B2 (en) 1980-06-27 1980-06-27 Method of optical comparison of lengths

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL225259A1 PL225259A1 (pl) 1981-05-22
PL123729B2 true PL123729B2 (en) 1982-11-30

Family

ID=20003901

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL22525980A PL123729B2 (en) 1980-06-27 1980-06-27 Method of optical comparison of lengths

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL123729B2 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL225259A1 (pl) 1981-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE92640T1 (de) Frequenzmoduliertes laser-radar.
JPH07181007A (ja) 干渉計応用測定装置
JPS636483A (ja) 時間間隔測定装置
PL123729B2 (en) Method of optical comparison of lengths
JPS6183911A (ja) 光学式変位測定装置
US4397548A (en) Distance measuring system
JPS5866881A (ja) 光波測量機
SU938660A1 (ru) Устройство дл дистанционного измерени рассто ний
SU1397719A1 (ru) Интерферометрический способ измерени линейных перемещений объектов
US4815852A (en) Apparatus for measuring rotation by a combination of the Sagnac and Fizeau effects
JPH05500853A (ja) ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置
SU1179103A1 (ru) Интерферометр дл измерени рассто ний
SU1364866A1 (ru) Интерференционное устройство дл измерени угловых перемещений
SU1413415A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий
JPS5512483A (en) Right angle measurement
SU1449841A1 (ru) Интерференционный способ определени изменени рассто ни
SU1017915A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений
SU1101672A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени деформаций
SU1290061A1 (ru) Интерферометр дл измерени углов поворота объекта
SU506755A1 (ru) Устройство дл измерени фазовых сдвигов излучени ик-диапазона
FR2245932A1 (en) Distance measuring interferometric instrument - has molecular laser for measuring distances of several hundred metres
SU629807A1 (ru) Фазовый способ измерени рассто ний в средах с большим поглощением
JPS60250203A (ja) 真直度測定装置
JPS56130606A (en) Optical measuring device for thickness of transparent material
SU1013754A1 (ru) Способ контрол оптических деталей