JPS636483A - 時間間隔測定装置 - Google Patents
時間間隔測定装置Info
- Publication number
- JPS636483A JPS636483A JP61150762A JP15076286A JPS636483A JP S636483 A JPS636483 A JP S636483A JP 61150762 A JP61150762 A JP 61150762A JP 15076286 A JP15076286 A JP 15076286A JP S636483 A JPS636483 A JP S636483A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- time interval
- optical
- pulses
- light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 67
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/483—Details of pulse systems
- G01S7/486—Receivers
- G01S7/4865—Time delay measurement, e.g. time-of-flight measurement, time of arrival measurement or determining the exact position of a peak
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光パルス間の未知の時間間隔を測定する時間
間隔測定装置に関する。
間隔測定装置に関する。
本発明による時間間隔測定装置は光パルスの伝播時間を
測定することにより距離を測定する距離計測に利用でき
る。
測定することにより距離を測定する距離計測に利用でき
る。
（従来の技術）
従来の長距離計測、すなわち代表的には測量技術におい
て、高精度の計測のためには、光干渉が用いられている
。
て、高精度の計測のためには、光干渉が用いられている
。
これは、レーザ光を電気信号で変調し、測定すべき距離
を往復させ、戻り光を検波復調して、変調信号の位相を
原信号と比較することによりその時間間隔に換算し、そ
れから距離を求めるものである。
を往復させ、戻り光を検波復調して、変調信号の位相を
原信号と比較することによりその時間間隔に換算し、そ
れから距離を求めるものである。
また光パルスを被測定距離間に往復させ、その往復時間
を測定することから距離を求める方法も知られている。
を測定することから距離を求める方法も知られている。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、前述した位相を比較する従来の方法は、光伝送
空間における気象状況が時々刻々変動する場合には、戻
り光の振幅が動くために、そのまま位相誤差が発生し、
これが計測の躍界をなしていた。
空間における気象状況が時々刻々変動する場合には、戻
り光の振幅が動くために、そのまま位相誤差が発生し、
これが計測の躍界をなしていた。
また、前記光パルスを往復させ、その往復時間を測定す
ることから距離を求める方法では気象変動による振幅変
動の影響は、あまり問題にな７らない。
ることから距離を求める方法では気象変動による振幅変
動の影響は、あまり問題にな７らない。
しかし、光パルス法では従来、往復時間差を正確に測定
する手段に乏しかったので、この方法を充分に駆使する
ことができなかった。
する手段に乏しかったので、この方法を充分に駆使する
ことができなかった。
たとえば２つの光パルスの時間間隔を正確に測定するた
めには、光ダイオードを使用すれば１００ｐｓ程度の誤
差で測定することができる。
めには、光ダイオードを使用すれば１００ｐｓ程度の誤
差で測定することができる。
さらにストリークカメラを使用すればｌｐｓ程度まで読
み取ることができる。
み取ることができる。
しかし、長距離の光パルス往復時間間隔はそれ以上に長
いので、たとえば１００ＩＪｓ程度の時間の長さを上記
の精度で測定することはできない。
いので、たとえば１００ＩＪｓ程度の時間の長さを上記
の精度で測定することはできない。
その理由は、光電変換により得られた電気パルスの時間
位置をゲート回路により判別し、所要全時間終了まで積
算する電気回路にあって、時刻決定誤差ないしゲートの
タイミングゆらぎ量は１００ｐｓ程度に容易に達し、こ
れらの誤差がゲート１９作ごとに累積するからである。
位置をゲート回路により判別し、所要全時間終了まで積
算する電気回路にあって、時刻決定誤差ないしゲートの
タイミングゆらぎ量は１００ｐｓ程度に容易に達し、こ
れらの誤差がゲート１９作ごとに累積するからである。
本発明の目的は、前記問題点を解決するためにたとえば
１００μｓの時間長を１０ｐＳの誤差で計測（１０−７
に相当）できる高い精度の時間間隔測定装置を提供する
ことにある。
１００μｓの時間長を１０ｐＳの誤差で計測（１０−７
に相当）できる高い精度の時間間隔測定装置を提供する
ことにある。
（問題点を解決するための手段）
前記目的を達成するために本発明による時間間隔測定装
置は、第１および第２の光パルス間の時間間隔を測定す
る時間間隔測定装置において、基準となる光クロックパ
ルス列を発振する基準光パルス発振器と、前記第１の光
パルスと前記基準光クロックパルス列中の前記第１の光
パルスに近接する光クロックパルスとの間の微小時間間
隔および前記第２の光パルスと前記基準光クロックパル
ス列中の前記第２の光パルスに近接する光クロックパル
スとの間の微小時間間隔を測定する微小時間間隔測定手
段と、前記微小時間間隔測定の対象になった基準光クロ
ックパルス間の時間と前記微小時間間隔測定手段の出力
から前記第１および第２の光パルス間の時間間隔を演算
する手段から構成されている。
置は、第１および第２の光パルス間の時間間隔を測定す
る時間間隔測定装置において、基準となる光クロックパ
ルス列を発振する基準光パルス発振器と、前記第１の光
パルスと前記基準光クロックパルス列中の前記第１の光
パルスに近接する光クロックパルスとの間の微小時間間
隔および前記第２の光パルスと前記基準光クロックパル
ス列中の前記第２の光パルスに近接する光クロックパル
スとの間の微小時間間隔を測定する微小時間間隔測定手
段と、前記微小時間間隔測定の対象になった基準光クロ
ックパルス間の時間と前記微小時間間隔測定手段の出力
から前記第１および第２の光パルス間の時間間隔を演算
する手段から構成されている。
前記微小時間間隔測定手段は入射面に前記光クロックパ
ルスと前記第１または第２の光パルスとが入射する入射
面をもつストリークカメラで形成することができる。
ルスと前記第１または第２の光パルスとが入射する入射
面をもつストリークカメラで形成することができる。
前記第１の光パルスは単１パルス発生源により発生させ
られ分割されてただちに前記微小時間間隔測定手段に接
続された一方の光パルスであり前記第２の光パルスは分
割されたのちに遠方に設けられた物体から反射されて前
記微小時間間隔測定手段に接続された他方の光パルスと
することができ、この形態は距離計に利用できる。
られ分割されてただちに前記微小時間間隔測定手段に接
続された一方の光パルスであり前記第２の光パルスは分
割されたのちに遠方に設けられた物体から反射されて前
記微小時間間隔測定手段に接続された他方の光パルスと
することができ、この形態は距離計に利用できる。
（実施例）
以下図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する。
第１図は、本発明による装置を距離測定装置に利用した
実施例を示すブロック図である。
実施例を示すブロック図である。
第２図は、前記実施例装置の動作を説明するための波形
図である。
図である。
原子時間発生器１とレーザダイオード２は、基準となる
光クロックパルス列を発生する光クロックパルス列発振
器を形成している。
光クロックパルス列を発生する光クロックパルス列発振
器を形成している。
レーザダイオード２は原子時間発振器１によって正確に
パルス間隔Ｔ（第２図（Ａ）参照）の光クロックパルス
列を発生する。
パルス間隔Ｔ（第２図（Ａ）参照）の光クロックパルス
列を発生する。
ハーフミラ−７で反射された光クロックパルス列は第１
のストリークカメラ５に入射させられる。
のストリークカメラ５に入射させられる。
またハーフミラ−７を透過した光パルスは反射鏡９で反
射され第２のストリークカメラ６に入射させられる。
射され第２のストリークカメラ６に入射させられる。
単一光パルス発生装置３からの光パルスでハーフミラ−
８で反射された方の第１の光パルスｂ１は第１の微小時
間間隔測定手段を構成する第１のストリークカメラ５に
入射させられる。
８で反射された方の第１の光パルスｂ１は第１の微小時
間間隔測定手段を構成する第１のストリークカメラ５に
入射させられる。
第１のストリークカメラ５は、この第１の光パルスｂ１
と、前記基準光クロックパルス列中の前記第１の光パル
スに近接する光クロックパルス〔第２図（Ａ）のパルス
（０）〕との間の微小時間間隔ＣＴｂ＋）を測定する。
と、前記基準光クロックパルス列中の前記第１の光パル
スに近接する光クロックパルス〔第２図（Ａ）のパルス
（０）〕との間の微小時間間隔ＣＴｂ＋）を測定する。
単一光パルス発生装置３からの光パルスでハーフミラ−
８を透過した光パルスは、未知の距離ｌだけ離れた位置
に配置され、反射面４により反射されて、反射鏡１０に
より反射されて第２の光パルスｂ２として第２の微小時
間間隔測定手段を構成する第２のストリークカメラ６に
入射させられる。
８を透過した光パルスは、未知の距離ｌだけ離れた位置
に配置され、反射面４により反射されて、反射鏡１０に
より反射されて第２の光パルスｂ２として第２の微小時
間間隔測定手段を構成する第２のストリークカメラ６に
入射させられる。
第２のストリークカメラ６は、この第２の光パルスｂ２
と、前記基準光クロックパルス列中の前記第２の光パル
スに近接する光クロックパルス〔第２図（Ａ）のパルス
（ｉ）〕との間の微小時間間隔（Ｔｂ２）を測定する。
と、前記基準光クロックパルス列中の前記第２の光パル
スに近接する光クロックパルス〔第２図（Ａ）のパルス
（ｉ）〕との間の微小時間間隔（Ｔｂ２）を測定する。
第２図（Ｃ）に各ストリークカメラの出力螢光面の略図
を示しである。
を示しである。
第１の光パルスｂ１と第２の光パルスｂ２の時間間隔Ｔ
ｍは次の式で与えられる。
ｍは次の式で与えられる。
Ｔ ｍ ＝ ｉ −Ｔ Ｔ ｂ よ＋ Ｔ ｂ ２１
：整数 Ｔ ：基準光クコツクパルス間隔 ’ｒｂ、： （０）の基準光クロックパルスと第１光
パルスとの間の微小時間 Ｔ ｂ２： （ｊ）の基準光クロックパルスと第２光
パルスとの間の微小時間 この時間間隔Ｔｍはハーフミラ−８を透過した光が距離
ｌの位置にある反射鏡４で反射されて戻って来るまでの
時間であるから光の速度をＣとすると２４！／Ｃ＝Ｔｍ
となり距離ｌは次の式で与えられる。
：整数 Ｔ ：基準光クコツクパルス間隔 ’ｒｂ、： （０）の基準光クロックパルスと第１光
パルスとの間の微小時間 Ｔ ｂ２： （ｊ）の基準光クロックパルスと第２光
パルスとの間の微小時間 この時間間隔Ｔｍはハーフミラ−８を透過した光が距離
ｌの位置にある反射鏡４で反射されて戻って来るまでの
時間であるから光の速度をＣとすると２４！／Ｃ＝Ｔｍ
となり距離ｌは次の式で与えられる。
ｐ、＝Ｃ−Ｔｍ／２
前述した実施例は２つのストリークカメラを利用する例
を示したが、１つのストリークカメラで微小時間を測定
することもできる。
を示したが、１つのストリークカメラで微小時間を測定
することもできる。
前記２台のストリークカメラは第１の光パルスと第２の
光パルスとに時間差があることを利用して、適当なゲー
ト手段を具えた１台のストリークカメラで代表させるこ
ともできる。
光パルスとに時間差があることを利用して、適当なゲー
ト手段を具えた１台のストリークカメラで代表させるこ
ともできる。
距離測定の例でいうと、光伝播空間の温度、湿度。
気圧等によって空気の屈折率が変わるため光速度が変化
することがある。
することがある。
これを補正するため上記の被測定光パルスには、２種な
いし３種の波長の別々の光パルスを使用すると良い。
いし３種の波長の別々の光パルスを使用すると良い。
（発明の効果）
以上詳しく説明したように、本発明による時間間隔測定
装置は、第１および第２の光パルス間の時間間隔を測定
する時間間隔測定装置において、基準となる光クロック
パルス列を発振する基準光パルス発振器と、前記第１の
光パルスと前記基準光クロックパルス列中の前記第１の
光パルスに近接する光クロックパルスとの間の微小時間
間隔および前記第２の光パルスと前記基準光クロックパ
ルス列中の前記第２の光パルスに近接する光クロックパ
ルスとの間の微小時間間隔を測定する微小時間間隔測定
手段と、前記微小時間間層測定の対象になった基準光ク
ロックパルス間の時間と前記微小時間間隔測定手段の出
力から前記第１および第２の光パルス間の時間間隔を演
算する手段から構成されている。
装置は、第１および第２の光パルス間の時間間隔を測定
する時間間隔測定装置において、基準となる光クロック
パルス列を発振する基準光パルス発振器と、前記第１の
光パルスと前記基準光クロックパルス列中の前記第１の
光パルスに近接する光クロックパルスとの間の微小時間
間隔および前記第２の光パルスと前記基準光クロックパ
ルス列中の前記第２の光パルスに近接する光クロックパ
ルスとの間の微小時間間隔を測定する微小時間間隔測定
手段と、前記微小時間間層測定の対象になった基準光ク
ロックパルス間の時間と前記微小時間間隔測定手段の出
力から前記第１および第２の光パルス間の時間間隔を演
算する手段から構成されている。
前記基準光パルス発振器は実施例に示した原子時間発生
器（原子時計）や正確な水晶発振器から得た電気パルス
からレーザを駆動して、極めて精度の高い基準光クロッ
クパルスを発生することができる。
器（原子時計）や正確な水晶発振器から得た電気パルス
からレーザを駆動して、極めて精度の高い基準光クロッ
クパルスを発生することができる。
微小時間間隔測定装置としてストリークカメラを使用す
ることにより、基準光クロックパルスと第１または第２
の光パルス間の微小時間を極めて正確に読むことが可能
である。
ることにより、基準光クロックパルスと第１または第２
の光パルス間の微小時間を極めて正確に読むことが可能
である。
全体の測定誤差は、基準原子時計の時間誤差のほかには
、ストリークカメラ自体の測定誤差のみとなり、極めて
小さい値となる。
、ストリークカメラ自体の測定誤差のみとなり、極めて
小さい値となる。
従来のように電気回路で時間間隔を測定しようとすると
、回路自体のゲート誤差等が累積して高精度測定の目的
を達することができない。
、回路自体のゲート誤差等が累積して高精度測定の目的
を達することができない。
現在の技術でいうと、大約１ｏｏｐｓ以内の総合精度を
得ようとするなら、本発明の方法に優位性がある。
得ようとするなら、本発明の方法に優位性がある。
本発明は距離の測定等に広く利用することができ産業上
の利益は大きいものがある。
の利益は大きいものがある。
第１図は、本発明による時間間隔測定装置の実施例を示
すブロック図である。 第２図は、前記実施例装置の動作を説明するための波形
図である。 １・・・原子時間発生器 ２・・・レーザダイオード ３・・・単１パルス発生装置 ４・・・目標物の反射鏡 ５・・・第１のストリークカメラ ６・・・第２のストリークカメラ ７．８・・・ハーフミラ− ９，１０・・・反射鏡
すブロック図である。 第２図は、前記実施例装置の動作を説明するための波形
図である。 １・・・原子時間発生器 ２・・・レーザダイオード ３・・・単１パルス発生装置 ４・・・目標物の反射鏡 ５・・・第１のストリークカメラ ６・・・第２のストリークカメラ ７．８・・・ハーフミラ− ９，１０・・・反射鏡
Claims (3)
- （１）第１および第２の光パルス間の時間間隔を測定す
る時間間隔測定装置において、基準となる光クロックパ
ルス列を発振する基準光パルス発振器と、前記第１の光
パルスと前記基準光クロックパルス列中の前記第１の光
パルスに近接する光クロックパルスとの間の微小時間間
隔および前記第２の光パルスと前記基準光クロックパル
ス列中の前記第２の光パルスに近接する光クロックパル
スとの間の微小時間間隔を測定する微小時間間隔測定手
段と、前記微小時間間隔測定の対象になった基準光クロ
ックパルス間の時間と前記微小時間間隔測定手段の出力
から前記第１および第２の光パルス間の時間間隔を演算
する手段から構成した時間間隔測定装置。 - （２）前記微小時間間隔測定手段は入射面に前記光クロ
ックパルスと前記第１または第２の光パルスとが入射す
る入射面をもつストリークカメラである特許請求の範囲
第１項記載の時間間隔測定装置。 - （３）前記第１の光パルスは単１パルス発生源により発
生させられ分割されてただちに前記微小時間間隔測定手
段に接続された一方の光パルスであり前記第２の光パル
スは分割されたのちに遠方に設けられた物体から反射さ
れて前記微小時間間隔測定手段に接続された他方の光パ
ルスである特許請求の範囲第１項記載の時間間隔測定装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61150762A JPS636483A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 時間間隔測定装置 |
| US07/066,493 US4827317A (en) | 1986-06-27 | 1987-06-26 | Time interval measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61150762A JPS636483A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 時間間隔測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS636483A true JPS636483A (ja) | 1988-01-12 |
| JPH0439038B2 JPH0439038B2 (ja) | 1992-06-26 |
Family
ID=15503857
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61150762A Granted JPS636483A (ja) | 1986-06-27 | 1986-06-27 | 時間間隔測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4827317A (ja) |
| JP (1) | JPS636483A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007003333A (ja) * | 2005-06-23 | 2007-01-11 | Topcon Corp | 距離測定装置 |
| JP2007071595A (ja) * | 2005-09-05 | 2007-03-22 | Topcon Corp | 距離測定装置 |
| CN103454903A (zh) * | 2013-09-23 | 2013-12-18 | 哈尔滨工程大学 | 一种基于光学倍程的时间间隔测量校准装置及其校准方法 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4967080A (en) * | 1987-09-18 | 1990-10-30 | Hamamatsu Photonics Kabushiki Kaisha | Apparatus for measuring the temporal correlation of fundamental particles |
| US4888477A (en) * | 1988-11-03 | 1989-12-19 | Ford Aerospace Corporation | Range measurement for active optical recognition devices |
| FR2640379B1 (fr) * | 1988-12-14 | 1994-07-01 | Centre Nat Rech Scient | Procede d'analyse de composants d'optique guidee, fibres optiques ou reseaux de guides optiques par reflectometrie temporelle et reflectometre dans le domaine temporel |
| US5150337A (en) * | 1990-02-21 | 1992-09-22 | Applied Magnetics Corporation | Method and apparatus for measuring time elapsed between events |
| US5430537A (en) * | 1993-09-03 | 1995-07-04 | Dynamics Research Corporation | Light beam distance encoder |
| US5953109A (en) * | 1997-12-08 | 1999-09-14 | Asia Optical Co., Inc. | Method and apparatus for improving the accuracy of laser range finding |
| US5946081A (en) * | 1997-12-08 | 1999-08-31 | Asia Optical Co., Inc. | Method and apparatus for reducing the noise in the receiver of a laser range finder |
| US5949065A (en) * | 1997-12-12 | 1999-09-07 | Fastlite | Sweep generator circuit for a streak camera |
| US6765657B2 (en) | 2001-10-29 | 2004-07-20 | Molex Incorporated | Method of testing optical fibers |
| US20060238742A1 (en) * | 2005-04-25 | 2006-10-26 | Hunt Jeffrey H | Short duty cycle lidar |
| JP6933473B2 (ja) * | 2017-03-10 | 2021-09-08 | 株式会社東芝 | 距離計測装置および距離画像撮影装置 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3229201A (en) * | 1961-08-21 | 1966-01-11 | Motorola Inc | Increased resolution time interval measuring system |
| US3402630A (en) * | 1965-02-05 | 1968-09-24 | Gen Precision Systems Inc | Optical radar ranging system |
| FR2081184B1 (ja) * | 1970-03-16 | 1974-05-24 | Comp Generale Electricite | |
| GB1329977A (en) * | 1970-06-26 | 1973-09-12 | Bradley D J | Electron optical image tubes and image tube streak cameras |
| NL159789B (nl) * | 1970-10-29 | 1979-03-15 | Siemens Ag | Optische afstandmeetinrichting. |
| AT307762B (de) * | 1971-04-28 | 1973-06-12 | Eumig | Verfahren und Einrichtung zur Entfernungsmessung |
| JPS4847856A (ja) * | 1971-10-18 | 1973-07-06 | ||
| US3897150A (en) * | 1972-04-03 | 1975-07-29 | Hughes Aircraft Co | Scanned laser imaging and ranging system |
| DE3219423C2 (de) * | 1981-06-09 | 1986-04-30 | MTC, Meßtechnik und Optoelektronik AG, Neuenburg/Neuchâtel | Entfernungsmeßverfahren und Vorrichtung zu seiner Durchführung |
| FR2564613B1 (fr) * | 1984-05-17 | 1987-04-30 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de chronometrie electronique de haute resolution |
-
1986
- 1986-06-27 JP JP61150762A patent/JPS636483A/ja active Granted
-
1987
- 1987-06-26 US US07/066,493 patent/US4827317A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007003333A (ja) * | 2005-06-23 | 2007-01-11 | Topcon Corp | 距離測定装置 |
| JP2007071595A (ja) * | 2005-09-05 | 2007-03-22 | Topcon Corp | 距離測定装置 |
| CN103454903A (zh) * | 2013-09-23 | 2013-12-18 | 哈尔滨工程大学 | 一种基于光学倍程的时间间隔测量校准装置及其校准方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4827317A (en) | 1989-05-02 |
| JPH0439038B2 (ja) | 1992-06-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS636483A (ja) | 時間間隔測定装置 | |
| US5002388A (en) | Optical distance measuring apparatus having a measurement error compensating function | |
| JPH0823588B2 (ja) | 基準位置から動いている再帰反射ターゲットの変位を測定する装置 | |
| CN108594258A (zh) | 基于多普勒效应的修正式测速传感器及其标定与测量方法 | |
| JPS5999308A (ja) | 測距センサ | |
| CN109342758A (zh) | 新型测速传感器 | |
| US4705397A (en) | Laser pulse train jitter measuring device | |
| EP0478785B1 (en) | Apparatus for measuring wavelength of light by high precision detection of interference fringe | |
| JPS61160075A (ja) | 液面高さ計測装置 | |
| CN108646047A (zh) | 基于多普勒效应带修正结构的测速传感器及标定与测量方法 | |
| CN208283418U (zh) | 基于多普勒效应带修正结构的测速传感器 | |
| CN208283558U (zh) | 基于多普勒效应的修正式测速传感器 | |
| JPH0682552A (ja) | 光波距離計における測距方法 | |
| US3820902A (en) | Measuring method and apparatus which compensate for abbe s error | |
| JPH0550710B2 (ja) | ||
| JPS6023739Y2 (ja) | 光波距離計 | |
| RU2091710C1 (ru) | Способ построения профилей трехмерных объектов и устройство для его осуществления | |
| SU1522037A1 (ru) | Способ измерени толщины т нутого листового стекла и устройство дл его осуществлени | |
| RU2091711C1 (ru) | Способ измерения дальности и устройство для его осуществления | |
| SU157514A1 (ja) | ||
| JPS5988673A (ja) | レ−ザ測距装置 | |
| SU1755050A1 (ru) | Способ измерени рельефа поверхности | |
| SU1539525A1 (ru) | Способ измерени положени объекта и устройство дл его осуществлени | |
| JPS61178684A (ja) | 光波測距装置 | |
| SU1420360A1 (ru) | Способ измерени перемещени объекта |