NO843374L - Undersoekelses og vedlikeholdsmetode for et databehandlingssystem og anordning til metodens utfoerelse - Google Patents

Undersoekelses og vedlikeholdsmetode for et databehandlingssystem og anordning til metodens utfoerelse

Info

Publication number
NO843374L
NO843374L NO843374A NO843374A NO843374L NO 843374 L NO843374 L NO 843374L NO 843374 A NO843374 A NO 843374A NO 843374 A NO843374 A NO 843374A NO 843374 L NO843374 L NO 843374L
Authority
NO
Norway
Prior art keywords
register
signals
signal
data processing
registers
Prior art date
Application number
NO843374A
Other languages
English (en)
Inventor
Homer W Miller
James L King
Original Assignee
Honeywell Inf Systems
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honeywell Inf Systems filed Critical Honeywell Inf Systems
Publication of NO843374L publication Critical patent/NO843374L/no

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/27Built-in tests

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Description

Foreliggende oppfinnelse vedrører generelt databehandlingssystemer og mer presist et apparat og en metode for un-dersøkelse og vedlikehold av driften av databehandlingssystemer. Med det beskrevne apparat kan databehandlingssystemet initialiseres til en hvilken som helst arbitrær forhåndsbe-stemt tilstand, en valgt operasjonssekvens kan utføres og den resulterende tilstand av databehandlingssystemet kan bestemmes .
Det er på beslektede områder kjent å tilveiebringe regis-teranordninger i databehandlingssystemer, hvor registercellene kan utformes valgfritt i et serie-arrangement. Evnen til å rekonfigurere registercellene tillater testing av registeran-ordningen med eksterne signaler. Når registerenheten eksempel-vis blir rekonfigurert i et serie-arrangement, kan signalene som er lagret i registercellene trekkes ut og analyseres, eller på forhånd fastsatte signaler kan alternativt innføres i hver celle, og når enheten blir rekonfigurert som et register for normale databehandlingsoperasjoner, vil registret bli ini-tialisert med den på forhånd fastsatte signalkonfigurasjon.
En hensikt med foreliggende oppfinnelse er å tilveiebringe et bedret undersøkelses- og vedlikeholdsapparat for et databehandlingssystem .
En annen hensikt med oppfinnelsen er å tilveiebringe et undersøkelses- og vedlikeholdsapparat som er i stand til å identifisere signalinnholdet i databehandlingssystemets registre .
Enda en hensikt med foreliggende oppfinnelse er å tilveiebringe et undersøkelses- og vedlikeholdsapparat som er i stand til å innføre på forhånd dannede signaler i hver registerposisjon i et databehandlingssystem.
Ytterligere en hensikt med foreliggende oppfinnelse er å tilveiebringe et undersøkelses- og vedlikeholdsapparat som er i stand til å styre klokken av et databehandlingssystem, slik at databehandlingssystemets operasjon kan styres.
Det er videre en hensikt med foreliggende oppfinnelse å tilveiebringe et undersøkelses- og vedlikeholdsapparat som er i stand til å innføre på forhånd fastsatte signaler i registrene for et databehandlingssystem, utføre på forhånd fastsat te operasjoner ved hjelp av databehandlingssystemet og analysere de resulterende signaler for databehandlingssystemet .
Ovennevnte og andre formål med foreliggende oppfinnelse oppnås ved hjelp av en vedlikeholds-prosessor som er i stand til å påtrykke på forhånd fastsatte signalgrupper, registre i databehandlingssystemet som er i stand til å konfigureres til et serielt sett som respons på vedlikeholdsprosessorens signaler, grensesnittkretser som er i stand til å adressere og skifte logiske signaler inn i og ut av de serielle registersett og et klokkesignal-forde-lingssystem som reagerer på vedlikeholdsprosessorens signaler som er i stand til å styre klokkesignalene som blir påtrykt hver komponent.
Dette apparat kan benyttes for å innføre på forhånd dannede logiske signaler i en del av eller alle cellene i et register. Fordi klokkesignalene er styrbare, kan databehandlingsenheten utføre en på forhånd fastsatt operasjon eller sekvens av operasjoner på de på forhånd dannede signaler. Innholdet i registrene som resulterer fra operasjonen (e) kan deretter trekkes ut av registrene for veri-fisering av nøyaktigheten av databehandlingssystemets signal-manipulering.
Disse og andre trekk ved oppfinnelsen vil fremgå av nedenstående beskrivelse under henvisning til tegningen, hvor
fig. 1 er et blokk-skjema av et databehandlingssystem og et tilordnet undersøkelses- og vedlikeholdsapparat ifølge foreliggende oppfinnelse,
fig. 2 er et blokk-skjema av elementene i et databehandlingssystem og tilordnede undersøkelses- og vedlikeholdsapparat ,
fig. 3 er et blokk-skjema av elementene i et databehandlingssystem-kabinett ifølge foreliggende oppfinnelse,
fig. 4 er et blokk-skjema av elementene i en logisk tavle ifølge foreliggende oppfinnelse,
fig. 5 er et blokk-skjema av en del av elementene i en komponentenhet som benyttes av undersøkelses- og vedli-
keholdsapparatet,
fig. 6 er et blokk-skjema av elementene i kabinett-velgelogikken ifølge foreliggende oppfinnelse,
fig. 7 er et blokk-skjema av tavle-velgelogikken som benyttes av undersøkelses- og vedlikeholdsapparatet,
fig. 8 er et blokk-skjema av komponentenhetens velgelogikk som benyttes av undersøkelses- og vedlikeholdsapparatet,
fig. 9 er et blokk-skjema av en del av et utførelses-eksempel av komponentenheten ifølge foreliggende oppfinnelse,
fig. 10 er et blokk-skjema av et eksempel på et "D" register av den type som er brukbar i forbindelse med foreliggende oppfinnelse,
fig. 11 er et blokk-skjema av et eksempel på en 4x5 "D" registerfil av en type som kan benyttes i forbindelse med foreliggende oppfinnelse.
Det vises først til fig. 1. Vedlikeholds-databehandlingssystemet 101 utveksler signaler med systemets støtte-grense-snittenhet 102. Systemets støtte-grensesnittenhet 102 utveksler i sin tur signaler med databehandlingssystemet 103.
Det vises nå til fig. 2. Vedlikeholds-databehandlingssystemet 101 omfatter en masselagerenhet 106, som er koplet til en databehandlingsenhet 107. Databehandlingsenheten 107 er også koplet til fjern-utstyr, terminalanordning 108, og til systemets støtte-grenseflateenhet 102, mer presist til inter-datamaskin-styreenheten 110. Systemets støtte-grensesnittenhet 102 omfatter også kabinett-velgelogikk 120, som er koblet til inter-datamaskin-styreenheten 110. Databehandlingssystemet 103 er delt i et flertall databehandlings-kabinetter 130 til 131 og hvert av databehandlings-kabinettene er koplet til kabinett-velgelogikken 120.
I fig. 3 ses at databehandlingssystemets kabinetter 130 til 131 omfatter hver sin tavle-velgelogikk 132 og logiske tavler 133-134. Tavle-velgelogikken 132 er koplet til kabinett-velgelogikken 120 for systemets støtte-grensesnittenhet 102 .
I fig. 4 ses at logikk-tavlene 133-134 omfatter en komponentenhet-velgelogikk 136, som er koplet til tavle-velgelogik ken 132 og et flertall komponentenheter 137-138. Komponentenhet-velgelogikken 136 er koplet til komponentenhetene 137-138.
Av fig. 5 fremgår at hver komponentenhet 137-138 som har registre med et flertall filer omfatter en register-velgelogikk 140, som er tilordnet hver registerfil og et flertall tilordnede registerfiler #1 141 til registerfil 142. Registerfil-velgelogikken 140 er koplet til registerfil #1 141 til registerfil #n 142 og til komponentenhet-velgelogikken 136.
Av fig. 6 fremgår at kabinett-velgelogikken 120 omfatter et kabinett-velge-dekoderapparat 22, drivkretser 23 og registret 21. Kabinett-velgedekoderapparatet 22 mottar kabinett-velgesignaler fra inter-datamaskin-styreenheten 110. Utgangen fra kabinett-velgedekoderapparatet 22 koples til drivkretsene 23. Register 21 mottar klokkesignaler, kommandosignaler og test-innsignaler fra inter-datamaskin-styreenheten 110. Register 21 forsyner også inter-datamaskin-styreenheten med test-utsignaler. Register 21 sørger for kommandosignaler og test-innsignaler til drivkretsene 23 og register 21 mottar test-utsignalene fra databehandlingssystemets kabinetter 130 til 131. Drivkretsene 23 forsyner databehandlingssystemets kabinetter 130-131
med kommando- og test-innsignaler.
I fig. 7 er det vist et detaljert blokk-skjema av tavle-velgelogikken 132. Tavle-velgelogikken 132 omfatter register 31, logiske kommando-dekoderkretser 32, data-velgelogikk 33, styreskiftregister 35, klokke-styring 36, data-velgelogikk 37, skiftregister-hjelpevelgelogikk 38, tavle-dekoderlogikk 39, tellekrets 40 og skiftregister-styrebuffer 41. Register 31 mottar kommandosignaler, klokkesignaler og test-innsignaler fra kabinett-velgelogikken 120 og avgir test-utsignaler til kabinett-velgelogikken 120. Test-innsignalene omfatter signaler for lagring i hjelpeskiftregistret. På tilsvarende måte omfatter test-utsignalene signaler for hjelpeskiftregistrets utgang og alarmapparatet. Den spesielle signalgruppe som over-føres av disse elektriske koplingsenheter styres av databehandlingsenheten 107. Register 31 påtrykker kommandosignaler på kommando-dekoderlogikken 32, som i sin tur påtrykker signaler på styreskifregister 35, klokkestyringen 36, data-velgelogikken 33, en inngangsklemme for den logiske OG port 42 og hjelpeskiftregister-velgelogikken 38. Register 31 påtrykker test-innsignaler på styreskiftregister 35 og de logiske tavler 133-134, og register 31 mottar test-utsignaler fra data-velgelogikken 33. Data-velgelogikken 33 mottar signaler fra en alarmsignalposisjon (dvs den mest signifikante bit) av styreskiftregistret 35 og fra data-velgelogikken 37. Styre-skif tregister 35 påtrykker signaler fra en tavle-velgeposi-sjon i registret på tavle-dekoderlogikken 39, hjelpeskiftregister-velgerenheten 38 og data-velgelogikken 37. Styreskiftregister 35 påtrykker signaler fra en registertil-velgedel av register 35 og fra en styreåpningsdel av register 35 på teller 40. Signaler fra en klokkeåpningsdel av styreskiftregister 35, komponentenhet-åpningsdel av register 35, en test-tilbake-førings-signaldel av register 35, en test-skiftsignaldel av register 35 og en stopp-åpningsdel av register 35 blir påtrykt skiftstyreregisterbuffer 41. Klokke-styrelogikken 36 mottar systemklokkesignaler, mottar klokkestyresignaler fra kommando-dekoderlogikken 32, mottar signaler fra styreskiftregisterbuffer 41 og mottar stopptilstands-signaler fra kabinettlogik-ken. Klokkestyrelogikken 36 trykker klokkesignaler på de lo-gikktavlene. Data-velgelogikken 37 mottar test-utsignaler fra logikk-tavlene. Tavle-dekoderlogikken 39 trykker tavle-velgesignaler på logikk-tavlene. Teller 40 trykker registerfil-velgesignaler på logikk-tavlene mens styreskiftregisterbuffer 41 trykker komponentenhet-åpningssignaler, test-tilbakefø-ringssignaler og test-skiftsignaler på logikk-tavlene. Komponentenhet-velgedelen av styreskiftregistret trykker komponentenhet-velgesignaler på logikk-tavlene. Test-utsignalene fra hver av komponentenhetene blir også påtrykt en relatert alarm-bit-posisjon av styreskiftregister 35 og alle signaler blir påtrykt en alarm (mest signifikant bit) posisjon i styreskiftregistret. Styreskiftregistret 35 omfatter et flertall regis-terposisjoner som virker som en nøkkelkode. Disse registerpo-sisjoner er koplet til en andre inn-klemme for den logiske OG port 42. En ut-klemme for den logiske OG port 42 er koplet til teller 40, til hjelpe-skiftregistrene (dvs de som danner over-føringssignaler) og til styre-skiftregisterbuffer 41.
Av fig. 8 fremgår komponentenhet-velgelogikken 136.
Test-tilbakeføringssignalene, test-skiftsignalene, registerfil-velgesignalene, hjelpeskiftregister-overføringssignalene og skift-hjelpeskiftregistersignalene mottas fra tavle-velgelogikken 13 2 og påtrykkes komponentenhetene. Komponentenhet-dekoderlogikken 81 mottar komponentenhets-åpnesignaler, tavle-velgesignaler og komponentenhet-velgesignaler. Komponentenhet-klokkelogikken 81 påtrykker signaler på komponentklok-ke-åpningslogikken 82. Denne logikk 82 mottar også klokkestyresignaler og denne logikk påtrykker signaler på komponentenhet-klokkeapparatet. Test-utsignal-velgelogikken 83 mottar komponentenhet-velgesignaler, test-utsignaler og komponentenhet-åpningssignaler og avgir signaler til den logiske ELLER-port 84. Den logiske ELLER-port 84 mottar signaler fra den logiske OG-port 85 og fra test-utsignal-velgelogikken 83 og test-utsignaler fra den påtrykkes tavle-velgelogikken 132. Den logiske OG port 85 mottar inverterte, logiske komponentenhet-åpningssignaler og hjelpeskiftregister-ut-signaler fra komponentenhetene .
I fig. 9 er det vist en blokk-skjema av den partiell konfigurasjon av registrene for et utførelseseksempel av en komponentenhet. Komponentenheten omfatter J-K register 91, 16xn registerfil 92, 4xn registerfil 93, D register 96, multi-generatorregister 95 og data-velgeregister 94. Hvert register påtrykkes test-tilbakeføringssignaler, test-skiftsignaler og klokkesignaler. De registerelementer som omfatter et flertall registerfiler påtrykkes også registerfil-velgesignaler. Registrene er anordnet i sekvens, slik at test-innsignalene blir påtrykt det tilfeldig tilordnede første register i sek-vensen (f.eks. J-K register 91 i fig. 9) og test-utsignalene mottas fra det siste register i komponentenheten (dvs. data-velgeregister 94). Alle øvrige registre og registerelementer kan koples i sekvens i komponenten. Som det vil fremgå, er bare test-forbindelsene for registrene vist. Forbindelsene for den normale drift av databehandlingssystemet og de mange elementer mellom registercellene er ikke vist.
I fig. 10 er det vist et typisk D register ifølge foreliggende oppfinnelse. D registret omfatter registerelementer 101-105 og klokkegeneratorlogikken 106. Hvert registerelement omfatter en data-velgerdel, en master-del koplet til data-velgerdelen og en slavedel koplet til master-delen. Hver data-velgerdel har tre inn-klemmer, en logisk "0" signal-klemme, en "D" dataklemme og en test-klemme, Dataselektoren velger en signal-innmodus basert på test-tilbakeførings- og test-skiftsignalene som påtrykkes data-velgerdelen av registerelementene. Slave-delen av hvert registerelement har en signal-utklemme og en invertert-signal u-klemme. Invertert-signal ut-klemmene er koplet til test-klemmen for data-velgeren av etterføl-gende registerelement. Inverter-utsignal-klemmen for siste registerelement sørger for test-utsignalene, mens test-innklemmen av første register-element mottar test-innsignalene. Klokke-åpnings-logikken 106 mottar test-tilbakeføringssignaler, test-innstillingssignaler, klokkesignaler og klbkke-åpningssignaler. Klokke-åpnings-logikken har en første klemme koplet til alle master-deler av registerelementene og en andre klemme koplet til alle slave-delene i registerelementene.
I fig. 11 er en typisk 4x5 D inn-registerfil ifølge foreliggende oppfinnelse vist. Registret omfatter fem element-grupper, klokkegenerator, skrivedekoder- og master-adresse--sperrelogikken 116, et datavelger 118, en lese-dekoderlogikk 117 og datavelger 119. Hver registerelementgruppe omfatter en datavelgerdel og master-del (111-115), en slave-del med fire posisjoner (121-125) og en datavelgerdel (131-135) . Data-vel-gerdelene i registerelementene 111-115 har inn-klemmer for test-signaler, for "0"-signaler og for data, dvs "Do"-"D^"-signaler. Data-velgerdelen er koplet til master-delen av registrene. Register-master-delene 111-115 er koplet til de respektive fire-posisjons-slave-deler 121-125. De fire-posisjons-slave-deler 121-125 er koplet til de respektive data-velger-deler 131-135. Hver data-velger-del har to ut-klemmer, en signalut-klemme og en invertert signal-utklemme. Invertert-signal-utklemmen for hvert registerelement er koplet til etter-følgende test-innsignalklemme av data-velgerklemmene, dvs.
den logiske invertert-signalposisjon av datavelger 131 er koplet til data-innklemme for datavelger 112. Test-signalklemmen for registerdel 111 er koplet til test-innsignalene, mens invertert-logisk-signal-utklemme for datavelger 135 danner
test-utsignalene. Test-tilbakeføringssignalene og test-skiftsignalene blir påtrykt inndata-velgerregisterdelene 111-115, klokkegeneratoren, skrive-adressedekoderen, master-adresse-sperrelogikken 116, data-velgerlogikken 118 og data-velgerlogikken 119. Data-velgerlogikken 118 mottar også registerfil-velgersignaler og skrive-adressesignaler. Datavelger 119 mottar også registerfil-velgersignaler og lese-adressesignaler og påtrykker dekoderlogikken 117 signaler. Lese-dekoderlogikken påtrykker signaler på data(ord)-velgerlogikkdelene 131-135 av registret. Klokkegeneratoren, skrive-adresse- og master-adresse-sperrelogikken 116 mottar også klokkesignaler, klokke-klargjøringssignaler og signaler fra data-velgerlogikken 118
og påtrykker signaler på hver masterdel av elementene 111-115 og på hver av slave-posisjonene i register-slavedelene 121-124.
Undersøkelses- og vedlikeholdssysternet ifølge oppfinnelsen omfatter fire komponent-kategorier. Vedlikeholdskomponen-tene, sammen med passende lagringsanordninger og klemmeanord-ninger utfører rutiner som er nødvendige for grensesnitt med undersøkelses- og vedlikeholdssystemet og sørger for program-mene for initialisering av databehandlingssystemenes tilstand for å bestemme tilstanden av test-apparatet på et tilfelig punkt under operasjonen av databehandlingssystemet og for å opprette spesialisert test-evne. I det foretrukne utførelses-eksempel er denne del av systemet også koplet til fjernstyring og databehandlingsutstyr og muliggjør dermed at vedlikeholds-og diagnoseprosessene fjernstyres fra databehandlingssystemet.
Inter-datamaskin-styreenheten kopler vedlikeholds-datamaskinen og testapparatet for databehandlingssystemet. Inter-datamaskin-styreenheten omfatter registre for serialisering og de-serialisering av data, likesom programmerbare tellere for å lette dataomformingen.
Ssystemets undersøkelses- eller testapparat omfatter apparatet mellom inter-datamaskin-styreenheten og registret eller registerfilene for komponentenheter som kan initialiseres og losses. Systemets test-apparat er godt integrert med distribusjonen av klokkesignaler. Undersøkelsessystemet ifølge foreliggende oppfinnelse benytter klokking for apparatet som kan stanses eller startes og begrenses til mål-komponenten under styring av test-programmet. Systemets test-apparat sørger for mål-klokkeadressering ned til komponentenhetsnivå.
Fjerde apparat-gruppe er brukerkretsfamilien ("custom circuit family") tilordnet komponentenhetene. Registerutforra-ningen i det foretrukne utførelseseksempel er en kant-trigret master/slave-registerimplementering. Disse registre omfatter data-velgerlogikk foran master-sperren som kan velge normale inn-data, utforme registret som et skift-apparat eller tilbake-føre registret ved å anbringe logiske "0" signaler i register-posisjonene. Den innleirede data-velger benyttes også for å danne register-personalisering, dvs D registre, J-K registre, bulti-generator-registre etc. De data som skiftes under testing blir invertert mellom hver bit og kan brukes med tilbake-føringslogikken for nøyaktig lokalisering av banefeil. Når det gjelder registerfilene, er disse kant-trigret og inneholder master-sperrer både for data- og skrive-adresse-innsignaler og omfatter også en rekke slave-registre. Registerfilene omfatter også en innleiret data-velger som velger en normal data-inn-signalmodus, en modus som muliggjør en valgt fil eller fil-posisjonssekvens som skiftapparat og en modus som sørger for en tilbakeføring for innføring av logiske "0"-er i registerpo-sisjonene. De innleirede data-velgere benyttes også for å danne registerfil-inn-personalisering. Skift-konfigurasjonen for invertering mellom hver bit kan brukes for identifisering av skiftbanefeil. En innleiret data-velger brukes også foran skriveadresse-master-sperrene og foran det logiske leseadresse-dekoderapparat. Disse data-velgere kan benyttes for innføring av en vekslende testadresse, hvor signalene i test-skift- eller test-tilbakeføringsmodus kan tilbakeføres til logiske "0" signaler eller innføres i skiftbanen ved en bestemt registeradres-se.
Driften av undersøkelses- og vedlikeholdssystemet ifølge foreliggende oppfinnelse kan forstås på følgende måte. Systemet tillater lasting og lossing av alle registre og registerfiler, inklusive hjelpeskiftregister og styreskiftregister 35. Således kan en arbitrær utgangstilstand påføres apparatet av databehandlingssystemet ved skifting av på forhånd fastsatte signaler inn i registrene og registerfilene for databehand lingssystemet og deretter fortsette med normal operasjon. På tilsvarende måte kan den foreliggende tilstand av databehandlingssystemet bestemmes ved skifting av de lagringsfaste logiske signaler ut av registrene og registerfilene og inn i vedlikeholds-datamaskinen for analyse. Mens data skiftes og hvert logiske signal blir invertert mellom hver seriebitposi-sjon kan feil i skiftbanen identifiseres, når dette benyttes i forbindelse med synkron tilbakeføring av register og regis-terf iler .
Undersøkelsessystemet ifølge det foretrukne utførelses-eksempel kan muliggjøre de følgende operasjonsmodi som er vist i Tabell 1 ved lasting av adresse- og styre-skiftsignaler i styre-skiftregistret.
I det foretrukne utførelseseksemplet er komponentenhetene implementert som mikropakker, hvor hver mikropakke har et flertall elementer. Hver tavle har flere tilordnede mikropakker og danner en logisk helhet for testsignal- og klokkesignal-distribusjon. På tilsvarende måter er et flertall tavler tilordnet hver kabinett av behandlingssystemet og danner en ligisk helhet for fordeling av test-signalene og klokkesignalene til de tilordnede tavler. Det vil fremgå at en av-vikende hierarki av signaldistribusjon vil være mulig uten at man går utenfor rammen av foreliggende oppfinnelse.
Under henvisning til fig. 9 igjen, er det vist et blokk-skjema av anordninger som er inkludert i en mikropakke for undersøkelses- og vedlikeholdsapparatet. Bortsett fra klokkesignal-distribusjonen som også er nødvendig for den normale databehandlingsoperasjon, er de viste signaler som påtrykkes anordningene for komponentenheten de som benyttes for under-søkelses- og vedlikeholdsprosedyrene. Test-skiftsignalene fø-rer til at registersignalene skiftes på en seriell måte av klokkesignalene. Komponentenhet-klargjøringssignalet sørger for at bare den utpekte komponentenhet vil få påtrykt klokkesignaler. I fig. 10 ses at test-klemmene for data-velgerne er koplet til invers-signal-ut-klemmen for foregående slave-element og test-innsignalene kan klokkes av klokkegeneratorlogikken 106 på en seriell måte gjennom hver registerrekke og bli test-utsignalene, dvs for slave 105 invers-signalklemmene. Test-tilbakeføringssignalene fører til at data-velgerlogikken aktiviserer "0" klemmen og dermed danner en mekanisme for initialisering av registret (dvs plasering av en logisk "0" i hver registerposisjon).
For å spare på koplinger og minimalisere adresseappara-tet, er et flertall av registre, gjerne storparten av registrene i en komponentenhet koplet serielt. Således er alle registre 91-96 koplet serielt, men signaler overføres langs den serielle banen bare i undersøkelses- og vedlikeholdsmodus, dvs ved påtrykking av et test-skiftsignal, komponentenhet-klargjø-ringssignaler og klokkesignaler. Det vil være innlysende at de signaler som skiftes inn i registrene er tilgjengelige for bruk under normal drift av databehandlingssystemet.
Ved det foretrukne utførelseseksemplet er mange av registrene i realiteten registerfiler med et flertall celler i hver registerposisjon. Registerfil-velgesignalene (fig. 9) velger den fil som skal adresseres ved undersøkelses- og vedlikeholdsmodus. I fig. 11 ses at registerfil-velgesignalene påtrykkes data-velgelogikken 118 og når test-skiftsignalet foreligger, også klokkegeneratoren, skrive-dekoder, master-adressesperrene 116 og lesedekoder 117 via datavelger 119. Registerfil-velgesignalene sørger for den funksjon at data
fra master blir påtrykt den utpekte av de fire slave-celler og
at data fra vedkommende slave-celle blir påtrykt data-velgerlogikken (dvs 131-135) på et klokkesignal.Test-skiftsignalet sørger for at test-klemmen av datavelger 111-115 er blitt ak-tivisert og på grunn av koplingen fra utdata-velgerlogikken (dvs. 131-135) for hver registerposisjon, vil test-innsignalene skiftes gjennom registret ved den valgte slave-celle.
På tilsvarende måte blir test-tilbakeføringssignalene styrt av registerfil-velgersignaler. Det vil være innlysende at re-gisterf il-velgersignalet kan manipuleres slik at den bestemte adresserte slave-celle kan endres med hver klokkesyklus ved endring av telleren 40, slik at det dannes en grei mekanisme for adressering av et registers filer.
Test-innsignalene fordeles til komponentene via kabi-nettvelger- 120 og tavlevelgerlogikk- 132 kretsene. Under henvisning til kabinett-velgerlogikken 120 i fig. 6, er test-innsignalene en serie binære signaler som er i stand til å opprette utgangsbetingelsen for den valgte serielle register-modus av komponentenheten og som påtrykkes langs en enkelt signalbane. Kabinett-velgersignalene (dvs. adressesignaler) og kommandosignalene kan påtrykkes langs et flertall signalbaner. Etter utvelgelse av kabinett, blir signalene overført til 'tavle-velgerlogikken 132 av det valgte kabinett som vist i fig. 7. Test-innsignalene blir påtrykt alle komponentenheter via register 31, mens komponentenhet-velgersignalene bestemmer i hvilken komponentenhet test-innsignalene skal innføres. Tavle-velgersignalene, komponent-velgersignalene og registerfil-velgersignalene er innleiret i test-innsignalet sammen med mo-dusstyring og andre signaler. De test-innsignaler som blir påtrykt registrene av komponentenheten i seriell testmodus etter at test-innsignalene er skiftet inn i styreskiftregister 35, inneholder adresse- og styresignaler. For å øke påliteligheten av undersøkelses- og vedlikeholdsapparatet, omfatter hver gruppe av test-innsignaler som innføres i styre-skiftregistret 35 et flertall av på forhånd valgte, logiske signaler på forhåndsutpekte posisjoner. Hvis denne forhåndsvalgte kode ik-ke foreligger i styre-skiftregistret, kan data ikke innføres i hjelpe-skiftregistrene, telleren 40 eller styre-skiftregister-buf f er 41. Denne mekanisme begrenser den mengde av upåliteli- ge data som innføres i komponentenhetens register. Alarmsigna-lene deler test-utsignal-koplingene når den serielle register-skifting ikke finner sted og påtrykkes vedlikeholds-databehandlingsenheten 101 som en del av test-utsignalene for å angi nærvær av forhåndsvalgte betingelser. En celle er tilgjengelig i styre-skiftregister 35 for hver logikk-tavle. I tillegg vil aktivisering av en hvilken som helst alarmcelle aktivisere den viktigste posisjon i styre-skiftregistret (og et signal sendes til vedlikeholds-databehandlingsenheten 101) etter identifisering av en alarmcelle for en hvilken som helst tavle. Ved skifting av styre-skiftregistrets 35 innhold til vedlikeholds-databehandlingsenheten 101, kan den bestemte tavle som frem-kaller alarmsignalet identifiseres. På tilsvarende måte blir test-utsignalene, dvs signaler som er lagret i registrene for komponentenheten i seriell modus, under styring av vedlikeholds-databehandlingssystemet 101, overført gjennom test-utsignal-velgerlogikken 83, register 31 og register 21 til vedlikeholds-databehandlingssystemet 101.
Viktig for operasjonen av denne oppfinnelse er distribusjonen av klokke- eller taktgivningssignalene som en hjelpe-faktor for behandlingssystemet, i likhet med distribusjonen av kraft fra kraftforsyningen. Klokkesignalapparatet har en tilordnet logikk for å tillate distribusjon av klokkesignalene som skal styres av vedlikeholds-databehandlingssystemet 101. Vedlikeholds-databehandlingssystemet kan dermed styre skiftin-gen av test-innsignalene og test-utsignalene i de enkelte komponenter. Fordi komponentenhets-klokkesignalene kan styres, kan også den faktiske operasjon av komponentenhetene styres. På tilsvarende måte blir test-innsignalene distribuert over hele databehandlingssystemet. Men bare de signal-utpekte tavler og/eller komponentenheter vil i realiteten få registersignalene skiftet i seriell modus.
I fig. 7 og 8 er apparatet for overføring av signalene
i et hjelpe-skiftregister antydet. Hjelpe-skiftregistret er en gruppe registerceller som lagrer statusinformasjon og/eller styreinformasjon.Som eksempel på status-informas jon, kan en registercelle lagre registreringen av en paritetsfeil. Som eksempel på styreinformasjon, kan et register lagre en serie signaler som, når de registreres av et apparat av komponenten-
heten, kan resultere i en spesifisert respons, f.eks. en for-greningsoperasjon. I hver komponentenhet er disse registerty-per, i tillegg til den normale operative kopling av databe-handlingsmekanismen koplet på en seriell måte. I dette serielle register kan signaler skiftes inn i eller ut av hjelpe-skiftregistret, mens komponentenheten er opptatt med normal operasjon. Uttrykt på en annen måte, sørger hjelpe-skiftregistret for at den enkelte komponent får den funksjonalitet av apparatet som normalt assosieres med en vedlikeholds-datamaskin. Det betyr at komponentens status, spesielt informasjon om feiltilstand, kan trekkes ut og utvalgt tilstands-informasjon kan innføres i komponentenheten. Hjelpe-skiftsignalene blir overført på test-innsignal- og test-utsignalforbindelse-ne. Men registercellene blir bare skiftet på den serielle ba-ne etter påtrykking av skift-hjelpeskiftregister-signalet. Cellene i hjelpe-skiftregistret er bufret fra de normale komponentenhet-registerceller, slik at data kan overføres uten at den normale operasjon av databehandlingssystemet blir på-virket. Signalene overføres fra/til de normale komponentenhet-registerceller til/fra hjelpe-skiftregistercellene som respons på hjelpeskiftregistrets overføringssignal.
For hver komponentenhet er det således et tilgjengelig apparat for å skifte signaler inn i hver registercelle (dvs test-innsignaler), eller for å skifte ut signaler fra hver registercelleposisjon (dvs test-utsignaler). Test-innsignalene bestemmes av programmer som er lagret i hovedlagerenheten 106 eller blir påtrykt av terminalanordningen og blir innført under styring av databehandlingsenheten 107. Styrt av databehandlingsenheten på tilsvarende måte, kan test-utsignalene trekkes ut av registercellene og påtrykkes databehandlingsenheten 107. Således kan det ved adressering av hver komponent finnes ut av tilstanden av registrene for enhver, arbitrær del eller fra databehandlingssystemet 103. På tilsvarende måte kan tilstanden av enhver del eller av alle registre bestemmes ved uttrekking av signalene som er lagret der. Fordi klokken også styres av databehandlingsanordningen 107, kan maskinens operasjon dessuten styres. Databehandlingssystemet 103 kan få påtrykt in arbitrær tilstand etter innføring av de passende test-innsignaler, kan danne et hvilket som helst antall klokkesignaler og kan etter påtrykking av de korrekte styresignaler trekke ut signaler som er lagret i registrene. Prosedyren kan benyttes der det er nødvendig for å analysere operasjonen av databehandlingssystemet trinn for trinn eller en begrenset del av databehandlingssystemet kan undersøkes på tilsvarende måte.
Figurene viser det nødvendige apparat for forståelse av undersøkelses- og vedlikeholdsapparatet. Det er klart at det til registercellene av databehandlingssystemet er koplet et mangfold av logikk- og overføringskomponenter som ikke er vist. Disse logikk- og overføringskomponenter er apparatet som implementerer databehandlingsoperasjoner, men disse komponenter er ikke nødvendige for beskrivelsen av foreliggende oppfinnelse.
Ovenstående beskrivelse er gitt for å illustrere operasjonen av det foretrukne utførelseseksempel og er ikke ment som begrensning av oppfinnelsens omfang. Oppfinnelsens ramme er utelukkende begrenset av de etterfølgende krav. Fra ovenstående omtale vil fagfolk lett finne frem til en rekke va-rianter som dekkes av oppfinnelsens ide og ramme.

Claims (10)

1. Undersøkelses- og vedlikeholdssystem for et databehandlingssystem, karakterisert ved at det omfatter et apparat for å forsyne nevnte databehandlingssystem med en på forhånd fastlagt signalgruppe; et klokkesignal-distribu-sjonsapparat styrt av valgte signaler i nevnte på forhånd fastlagte signalgrupper; et flertall logikk-komponentgrupper, hvor hver komponentgruppe har et flertall registre, hvor registrene har en første modus for normal databehandlingsoperasjon og en andre modus for undersøkelses- og vedlikeholdsope-rasjoner; og et adresseringsapparat som reagerer på på forhånd fastlagte signaler i nevnte på forhånd fastlagte signalgruppe som forårsaker at en på forhånd fastlagt komponentgruppe be-finner seg i nevnte andre modus, hvor et første flertall av nevnte på forhånd fastlagte signalgrupper er lagret i nevnte flertall av registre.
2. Undersøkelses- og vedlikeholdssystem for et databehandlingssystem som angitt i krav 1, karakterisert ved at hver av de nevnte logikk-komponentgrupper videre omfatter et serielt register som inneholder alle status- og til-standsregistre for nevnte komponentgruppe.
3. Fremgangsmåte for å teste en komponentgruppe i et databehandlingssystem, karakterisert ved at (1) registerceller i nevnte komponentgruppe konfigureres i en seriell konfigurasjon; (2) en signalfrekvens overføres gjennom nevnte serielle registercellekonfigurasjon, hvor overfø -ringen innebærer lagring av et på forhånd fastlagt, binært signal i hver av registercellene; (3) de nevnte registerceller konfigureres for normal operasjonsmodus; (4) nevnte enhet av elementer forsynes med minst ett klokkesignal og (5) de nevnte registerceller konfigureres til nevnte serielle konfigurasjon; (6) signaler fra nevnte registercellekonfigurasjon overføres og (7) nevnte overførte registercelleinnhold sam-menlignes med celleinnhold som ventes av de nevnte på forhånd fastlagte signaler og nevnte i det minste ene klokkesignal.
4. Undersø kelses- og vedlikeholdssystem til bruk sammen med et databehandlingssystem, hvor komponenter av nevnte da tabehandlingssystem er arrangert i grupper, karakterisert ved at nevnte undersøkelses- og vedlikeholdssystem omfatter midler for styring av en distribusjon av klokkesignaler; midler for elektrisk kopling av registerceller i hver slik gruppe av komponenter i en seriell konfigurasjon som respons på et første signal, hvilket første signal forårsaker at et logisk signal som er lagret i en av de nevnte registerceller blir overført til en neste registercelle i sekvens i nevnte serielle konfigurasjon som respons på et klokkesignal; midler for å påtrykke en på forhånd fastlagt sekvens av logiske signaler fra nevnte undersøkel-ses- og vedlikeholdssystem på nevnte elektriske koplingsmiddel, hvor den fastlagte sekvens av signaler blir overført gjennom nevnte serielle konfigurasjon av registerceller og lagret der som respons på et flertall klokkesignaler; og midler for å motta signaler som er overført gjennom nevnte serielle registercelle-konfigurasjon som respons på nevnte klokkesignaler.
5. Undersøkelses- og vedlikeholdsapparat som angitt i krav 4, karakterisert ved at utvalgte registre har et flertall registerfiler, at undersøkelses- og vedlikeholdssystemet danner signaler som identifiserer hvilken posisjon av nevnte register som er; koplet i den serielle konfigurasjon .
6. Undersøkelses- og vedlikeholdsapparat som angitt i krav 4, karakterisert ved at nevnte midler for elektrisk kopling av registerceller supplerer et logisk signal som er overført mellom etter hverandre følgende registerceller i nevnte konfigurasjon.
7. Undersøkelses- og vedlikeholdsapparat for et databehandlingsapparat, karakterisert ved at det omfatter registre for nevnte databehandlingsapparat som er tilpasset for å danne en seriell konfigurasjon av registerceller som respons på et første signal; midler for å kople flere av de nevnte databehandlingsapparat-registre i en seriell konfigurasjon som respons på nevnte første signal; midler for å adressere hvert flertall av databehandlingssystem-registre; midler for å styre distribusjonen av klokkesignaler til hvert av nevnte flertall av registre og midler for å påtrykke adressesignaler og på forhånd fastlagte datasignaler, hvor de fastlagte signaler skiftes gjennom et flertall av databehandlingssystem-registre bestemt av nevnte middel for å adressere og som respons på nevnte første signal og klokkesignaler .
8. Undersøkelses- og vedlikeholdsapparat som angitt i krav 7, karakterisert ved at datasignaler som skiftes fra registercelle til registercelle i nevnte serielle konfigurasjon av registre er logisk invertert.
9. Apparat for undersøkelse og vedlikehold av et databehandlingsapparat, karakterisert ved at det omfatter registre av nevnte databehandlingsapparat som er tilpasset for å ha en seriell konfigurasjon av registerceller som respons på et første signal; hvor de nevnte registre er anordnet i grupper på flere registre; midler som reagerer på nevnte første signal for å kople de nevnte registre i hver av nevnte grupper i en seriell konfigurasjon, hvor datasignaler i de nevnte registerceller for hver gruppe blir skiftet i nevnte serielle konfigurasjon av celler i nevnte første gruppe som respons på nevnte første signal og et klokkesignal; adresseen-heter som er koplet til hver av de nevnte grupper av registerceller for påtrykking av nevnte første signal bare på en adressert gruppe og behandlingsenheter for å innføre signaler i og overføre signaler ut av en adressert cellegruppe.
10. Undersøkelses- og vedlikeholdsapparat for et databehandlingssystem, karakterisert ved at det omfatter registre i nevnte databehandlingssystem som har en første modus for normale databehandlingsoperasjoner og en andre modus som respons på et første signal, hvor celler av nevnte register blir elektrisk koplet i en seriell konfigurasjon, hvor de nevnte registre er arrangert i et flertall grupper, og hvor registre i hver av nevnte flertall av grupper blir elektrisk koplet i en seriell konfigurasjon som respons på nevnte første signal; klokkeenheter for påtrykking av klokkesignaler på nevnte flertall av registergrupper; hvor hvert klokkesignal skifter datasignaler til en etterfølgende registercelle i en registergruppe når nevnte første signal er påtrykt nevnte gruppe; koplingsmidler for å påtrykke datasignaler på og motta datasignaler fra nevnte flertall av registergrupper og et styreregister, som er koplet til nevnte flertall av registergrupper; hvor datasignaler i nevnte styreregister bestemmer hvilken av nevnte flertall av registergrupper skal påtrykkes nevnte første signal.
NO843374A 1983-10-06 1984-08-23 Undersoekelses og vedlikeholdsmetode for et databehandlingssystem og anordning til metodens utfoerelse NO843374L (no)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/539,357 US4581738A (en) 1983-10-06 1983-10-06 Test and maintenance method and apparatus for a data processing system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NO843374L true NO843374L (no) 1985-04-09

Family

ID=24150886

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NO843374A NO843374L (no) 1983-10-06 1984-08-23 Undersoekelses og vedlikeholdsmetode for et databehandlingssystem og anordning til metodens utfoerelse

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4581738A (no)
EP (1) EP0146698A3 (no)
JP (1) JPS60151756A (no)
KR (1) KR920005233B1 (no)
AU (1) AU579589B2 (no)
CA (1) CA1219376A (no)
FI (1) FI843879L (no)
NO (1) NO843374L (no)
YU (1) YU171084A (no)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4581738A (en) * 1983-10-06 1986-04-08 Honeywell Information Systems Inc. Test and maintenance method and apparatus for a data processing system
US5115502A (en) * 1984-11-02 1992-05-19 Tektronix, Inc. Method and apparatus for determining internal status of a processor using simulation guided by acquired data
US4706208A (en) * 1985-09-03 1987-11-10 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Technique for the operational life test of microprocessors
US5184312A (en) * 1985-10-13 1993-02-02 The Boeing Company Distributed built-in test equipment system for digital avionics
GB8608431D0 (en) * 1986-04-07 1986-05-14 Crosfield Electronics Ltd Monitoring digital image processing equipment
US4799220A (en) * 1987-02-19 1989-01-17 Grumman Aerospace Corporation Dynamic system for testing an equipment
US4905779A (en) * 1987-06-01 1990-03-06 Yamato Scale Company, Limited Operation condition collator and methods
US4941115A (en) * 1988-06-20 1990-07-10 International Business Machines Corporation Hand-held tester for communications ports of a data processor
US5287511A (en) * 1988-07-11 1994-02-15 Star Semiconductor Corporation Architectures and methods for dividing processing tasks into tasks for a programmable real time signal processor and tasks for a decision making microprocessor interfacing therewith
US5263143A (en) * 1988-07-11 1993-11-16 Star Semiconductor Corporation Real time probe device for internals of signal processor
JPH02115939A (ja) * 1988-10-25 1990-04-27 Fujitsu Ltd ユニット選択方式
US5293374A (en) * 1989-03-29 1994-03-08 Hewlett-Packard Company Measurement system control using real-time clocks and data buffers
AU1753792A (en) * 1991-03-01 1992-10-06 Star Semiconductor Corporation Real time probe device for debugging a digital signal processor
US5774377A (en) * 1991-07-30 1998-06-30 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for monitoring a subsystem within a distributed system for providing an archive of events within a certain time of a trap condition
US5581693A (en) * 1993-07-14 1996-12-03 Dell Usa, L.P. Method and apparatus for inhibiting computer interface clocks during diagnostic testing
US7383480B2 (en) * 2004-07-22 2008-06-03 International Business Machines Corporation Scanning latches using selecting array
US7389455B2 (en) * 2005-05-16 2008-06-17 Texas Instruments Incorporated Register file initialization to prevent unknown outputs during test

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3783254A (en) * 1972-10-16 1974-01-01 Ibm Level sensitive logic system
US3761695A (en) * 1972-10-16 1973-09-25 Ibm Method of level sensitive testing a functional logic system
DE2842750A1 (de) * 1978-09-30 1980-04-10 Ibm Deutschland Verfahren und anordnung zur pruefung von durch monolithisch integrierten halbleiterschaltungen dargestellten sequentiellen schaltungen
US4244048A (en) * 1978-12-29 1981-01-06 International Business Machines Corporation Chip and wafer configuration and testing method for large-scale-integrated circuits
DE3029883A1 (de) * 1980-08-07 1982-03-11 Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart Schieberegister fuer pruef- und test-zwecke
US4441182A (en) * 1981-05-15 1984-04-03 Rockwell International Corporation Repetitious logic state signal generation apparatus
US4433412A (en) * 1981-05-15 1984-02-21 Rockwell International Corporation Method and apparatus for testing and verifying the operability of register based state machine apparatus
US4493077A (en) * 1982-09-09 1985-01-08 At&T Laboratories Scan testable integrated circuit
US4476560A (en) * 1982-09-21 1984-10-09 Advanced Micro Devices, Inc. Diagnostic circuit for digital systems
NO843375L (no) * 1983-10-06 1985-04-09 Honeywell Inf Systems Databehandlingssystem og fremgangsmaate til vedlikehold samt anrodning
US4581738A (en) * 1983-10-06 1986-04-08 Honeywell Information Systems Inc. Test and maintenance method and apparatus for a data processing system

Also Published As

Publication number Publication date
EP0146698A3 (en) 1988-01-13
KR850003007A (ko) 1985-05-28
FI843879L (fi) 1985-04-07
EP0146698A2 (en) 1985-07-03
CA1219376A (en) 1987-03-17
US4581738A (en) 1986-04-08
AU3338084A (en) 1985-04-18
KR920005233B1 (ko) 1992-06-29
AU579589B2 (en) 1988-12-01
YU171084A (en) 1987-10-31
JPS60151756A (ja) 1985-08-09
FI843879A0 (fi) 1984-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NO843374L (no) Undersoekelses og vedlikeholdsmetode for et databehandlingssystem og anordning til metodens utfoerelse
CN101147077B (zh) 于多核心集成电路中的同步核心测试
EP0549602B1 (en) Integrated circuit, system and method for fault insertion
US4622647A (en) System for the automatic testing of printed circuits
US5079725A (en) Chip identification method for use with scan design systems and scan testing techniques
NO162438B (no) Automatisk testsystem.
NO317781B1 (no) System for bruk i grensesnitt-testere med adresseavhengige instruksjoner
US4620302A (en) Programmable digital signal testing system
US5396498A (en) Integrated circuit with peripheral test controller
JPS6326585A (ja) Vlsi集積回路の検査回路と検査方法
US4145734A (en) Method and apparatus for implementing the test of computer functional units
NO843375L (no) Databehandlingssystem og fremgangsmaate til vedlikehold samt anrodning
US4720672A (en) Testability system
US3999053A (en) Interface for connecting a data-processing unit to an automatic diagnosis system
US4567593A (en) Apparatus for verification of a signal transfer in a preselected path in a data processing system
US5751736A (en) Testable electronic system
US4625312A (en) Test and maintenance method and apparatus for investigation of intermittent faults in a data processing system
US3814920A (en) Employing variable clock rate
JP3654629B2 (ja) スキャンレジスタチェーンを有する集積回路
US6256761B1 (en) Integrated electronic module with hardware error infeed for checking purposes
JPH10123221A (ja) 試験専用の試験パッドを備えない構造試験手段を含む回路
JP3487810B2 (ja) バウンダリスキャン回路およびその方法
JPS6055457A (ja) チヤネルアダプタ診断方式
JPH0455774A (ja) 同期型ff間のオーバディレイテスト方式
US5452309A (en) Apparatus and method for forcing hardware errors via scan