NO843375L - Databehandlingssystem og fremgangsmaate til vedlikehold samt anrodning - Google Patents
Databehandlingssystem og fremgangsmaate til vedlikehold samt anrodningInfo
- Publication number
- NO843375L NO843375L NO843375A NO843375A NO843375L NO 843375 L NO843375 L NO 843375L NO 843375 A NO843375 A NO 843375A NO 843375 A NO843375 A NO 843375A NO 843375 L NO843375 L NO 843375L
- Authority
- NO
- Norway
- Prior art keywords
- register
- signals
- data processing
- processing system
- register cells
- Prior art date
Links
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims description 109
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 title claims description 53
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 123
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 claims 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 16
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 9
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 6
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 2
- 239000006057 Non-nutritive feed additive Substances 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2236—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318505—Test of Modular systems, e.g. Wafers, MCM's
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318558—Addressing or selecting of subparts of the device under test
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2268—Logging of test results
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Communication Control (AREA)
Description
Foreliggende oppfinnelse vedrører generelt databehandlingssystemer og mer presist en anordning og fremgangsmåte for vedlikehold og verifisering av nøyaktig operasjon av databehandlingssystemer. Med den angitte anordning kan databehandlingssystemet initialiseres til enhver arbitrær tilstand, en valgt sekvens av operasjoner kan gjennomføres og den re-sulterende tilstand av databehandlingssystemet kan bestemmes.
I beslektet teknologi er det kjent å anordne register-enheter i databehandlingssystemer, hvor registerceliene valg-fritt kan konfigureres i en serieanordning. Evnen til rekon-figurering av registercellene muliggjør testing av register-anordningen med eksterne signaler. Når registerenheten er rekonfigurert i en serieanordning, kan eksempelvis de signaler som er lagret i registercellene trekkes ut og analyseres eller på forhånd fastlagte signaler kan alternativt innføres i hver celle og når cellen blir rekonfigurert som et register for normale databehandlingsoperasjoner, vil registret bli initialisert medden fastlagte signalkonfigurering.
Når datasignaler som beskriver operasjonen av et databehandlingssystem, som synkrone biter fra feilregistrerings-og korrigerings apparatet, skal trekkes ut av databehandlingssystemet, er det ved kjent teknologi nødvendig enten å stanse databehandlingssystemene eller anordne en mangfoldighet av ledende baner og beslektede styrekretser. Når styreinformasjon, f.eks. rekonfigurerings-datasignaler, skal innføres i databehandlingssystemet, må på tilsvarende måte enten databehandlingssystemet stanses eller det må tilføyes en mangfoldighet av ledende baner og beslektede styrekretser for en slik operasjon. Det ville derfor være ønskelig å tilveiebringe et apparat for innføring av datasignaler i eller trekke ut datasignaler fra et databehandlingssystem uten at operasjonen av databehandlingssystemet må stanses og med et mi-nimum av tilføyelser.
Foreliggende oppfinnelse går ut på å tilveiebringe en bedret test- og vedlikeholdsanordning for et databehandlingssystem.
Foreliggende oppfinnelse går videre ut på å tilveiebringe en test- og vedlikeholdsanordning som er i stand til å identifisere signalinnholdet i databehandlingssystemets registre .
Et annet formål med oppfinnelsen er å tilveiebringe en test- og vedlikeholdsanordning som er i stand til å innføre på forhånd fastlagte signaler i hver registerposisjon i et databehandlingssystem.
Ytterligere et formål med oppfinnelsen er å tilveiebringe en test- og vedlikeholdsanordning som er i stand til'å styre databehandlingssystemets klokke, slik at operasjonen av databehandlingssystemet kan styres.
Enda et formål med foreliggende oppfinnelse er å tilveiebringe en test- og vedlikeholdsanordning som er i stand til å innføre på forhånd fastlagte signaler i registrene for et databehandlingssystem, utføre forhånds-etablerte operasjoner ved hjelp av databehandlingssystemet og analysere de re-sulterende signaler fra databehandlingssystemet.
Endelig er det et formål med oppfinnelsen å tilveiebringe en reservert anordning som tillater at signaler trekkes ut av og innføres i test- og vedlikeholdsanordningen mens databehandlingssystemet er i drift.
Ovenstående og andre formål med foreliggende oppfinnelse oppnås med en vedlikeholds-prosessor som er i stand til å påtrykke på forhånd fastlagte signalgrupper, registre i databehandlingssystemet, som er i stand til å konfigureres til en seriell rekke som respons på vedlikeholds-prosessorens signaler, grensesnittkretser som er i stand til å adressere og skifte logiske signaler inn i og ut av de serielle register-rekker og et klokkesignal-distribusjonssystem som reagerer på vedlikeholdsprosessorens signaler og er i stand til å styre klokkesignalene som blir påtrykt hver komponent.
Denne anordning kan benyttes for å innføre på forhånd etablerte logiske signaler i en del eller i alle cellene for et register. Fordi klokkesignalene er styrbare, kan databehandlingsenheten utføre en på forhånd fastlagt operasjon eller sekvens av operasjoner på de på forhånd etablerte signaler. Innholdet i registrene som resulterer fra operasjonen(e) kan deretter trekkes ut av registrene for verifisering av nøyaktig-heten av signal-manipuleringen ved databehandlingssystemet.
Det er anordnet et hjelpe-skiftregister og beslektede anordninger som tillater at signaler fjernes fra eller innføres i databehandlingssystemet under systemets drift.
Disse og andre trekk ved oppfinnelsen vil fremgå av nedenstående beskrivelse under henvisning til tegningen, hvor
fig. 1 er et blokk-skjema av databehandlingssystemet og tilordnede test- og vedlikeholdsanordning ifølge foreliggende oppfinnelse,
fig. 2 er et blokk-skjema av et databehandlingssystems elementer og tilordnede test- og vedlikeholdsanordnings elementer,
fig. 3 er et blokk-skjema av elementene i et databehandlingssystem-kabinett ifølge foreliggende oppfinnelse,
fig. 4 er et blokk-skjema av elementene i en logikktavle ifølge foreliggende oppfinnelse,
fig. 5 er et blokk-skjema av en del av elementene i en komponentenhet som benyttes av test- og vedlikeholdsanordningen,
fig. 6 er et blokk-skjema av elementene for kabinet-tets velger-logikk ifølge foreliggende oppfinnelse,
fig. 7 er et blokk-skjema av tavle-velgerlogikken som benyttes av test- og vedlikeholdsanordningen,
fig. 8 er et blokk-skjema av komponentenhetens velger-logikk som benyttes av test- og vedlikeholdsanordningen,
fig. 9 er et blokk-skjema av en del av et utførelses-eksempel av en komponentenhet ifølge foreliggende oppfinnelse ,
fig. 10 er et blokk-skjema av et eksempel på et "D" register av den type som er brukbar i forbindelse med foreliggende oppfinnelse,
fig. 11 er et blokk-skjema av et eksempel på en 4x5 "D" registerfil av den type som kan benyttes i forbindelse med foreliggende oppfinnelse,
fig. 12 er et partielt blokk-skjema av et utførelses-eksempel av et hjelpe-skiftregister og beslektede anordninger til bruk i forbindelse med databehandlingssystemet.
Det vises først til fig. 1. Vedlikeholds-databehandlingssystemet 101 utveksler signaler med systemets støtte-grensesnittenhet 102. Denne enhet 102 utveksler i sin tur signaler med databehandlingssystemet 103.
Under henvisning til fig. 2, omfatter vedlikeholds-databehandlingssystemet 101 en masselagerenhet 106 koplet til en databehandlingsenhet 107-Databehandlingsenheten 107 er også koplet til fjern-utstyr, terminalanordning 108, og til systemets støtte-grensesnittenhet 102, og mer presist til inter-datamaskin-styreenheten 110. Systemets støtte-grensesnitt-enhet 102 omfatter også kabinett-velgerlogikken 120, som er koplet til inter-datamaskin-styreenheten 110. Databehandlingssystemet 103 er delt i et flertall databehandlingssystem-kabinetter 130-131 og hvert databehandlingssystem-kabinett er koplet til kabinett-velgerlogikken 120.
Av fig. 3 fremgår at databehandlingssystemets kabinetter 120-131 hver omfatter en tavle-velgerlogikk 132 og lo-gikktavler 133-134. Tavle-velgerlogikken 132 er koplet til kabinett-velgerlogikken 120 for systemets støtte-grensesnitt-enhet 102.
Av fig. 4 fremgår at logikk-tavlene 133-134 omfatter en komponentenhet-velgerlogikk 136, som er koplet til tavle-velgerlogikken 132 og et flertall komponentenheter 137-138. Komponentenhet-velgerlogikken 136 er koplet til komponenten-hetene 137-138.
Av fig. 5 fremgår at hver komponentenhet 137-138 som har registre med et flertall filer omfatter en register-velgerlogikk 140 tilordnet hver registerlagerfil og et flertall tilordnede registerfiler 141 til „n 142. Registerfil-velgerlogikken 140 er koplet til registerfil % 1 141, til registerfil nn 1^2 og til■komponentenhet-velgerlogikken 136.
Av fig. 6 fremgår at kabinett-velgerlogikken 120 omfatter en kabinett-velger-dekoder 22, drivkretser 23 og registret 21. Kabinett-velger-dekoder 22 mottar kabinettvelger-signaler fra inter-datamaskin-styreenheten 110. Utgangen fra kabinett-velger-dekoder 22 koples til drivkretsene 23- Register 21 mottar klokke signaler, kommandosignaler og test-innsignaler fra inter-datamaskin-styreenheten 110. Register 21 avgir også test-utsignaler til inter-datamaskin-styreenheten. Register 21 avgir kommandosignaler og test-innsignaler til drivkretsene 23 og register 21 mottar test-utsignaler fra databehandlingssystemets kabinetter 130-131. Drivkretsene 23 avgir kommando- og test-innsignaler til databehandlingssystem-
kabinettene 130-131.
I fig. 7 er det vist et detaljert blokk-skjema av tavle-velgerlogikken 132. Tavle-velgerlogikken 132 omfatter et register 31, logiske kommando-dekoder-logikkretser 32, en da-ta- velgerlogikk 33, et styre-skriftregister 35, en klokkesty-ring 36, en data-velgerlogikk 37, en hjelpeskiftregister-velgerlogikk 38, en tavledekoderlogikk 39, en tellerlogikk 40 og styreskiftregisterbuffer 41. Register 31 mottar kommandosignaler, klokkesignaler og test-innsignaler fra kabinett-velgerlogikken 120 og avgir test-utsignaler til kabinett-velgerlogikken 120. Test-innsignalene omfatter signaler for lagring i hjelpeskiftregistret. På tilsvarende måte omfatter test-utsignalene signaler for hjelpeskiftregister-utgangen og alarmapparatet. Den spesielle signalgruppe som overføres av disse elektriske koplingsenheter styres av databehandlingsenheten 107. Register 31 påtrykker kommandosignaler på kommando-dekoderlogikken 32, som i sin tur påtrykker signaler på styreskiftregister 35, klokkestyringen 36, data-velgerlogikken 33, en inngangsklemme for en logisk OG port 42 og hjelpe-skif tregister- velgerlogikken 38. Register 31 påtrykker test-innsignaler på styreskiftregister 35 og logikktavlene 133-134 og register 31 mottar test-utsignaler fra data-velgerlogikken 33. Data-velgerlogikken 33 mottar signaler fra en alarmsignal-posisjon (dvs den mest signifikante bit) av styreskiftregister 35 og fra data-velgerlogikken 37-Styreskiftregister 35 påtrykker signaler fra en tavle-velgerdel av registret på tavledekoderlogikken 39, hjelpeskiftregister-velgerlogikken 38
og data-velgerlogikken 37. Styreskiftregister 35 påtrykker signaler fra en registerfil-velgerdel av registret 35 og fra en styre-klargjøringsdel av register 35 på telleren 40. Signaler fra en klokke-klargjøringsdel av styreskiftregister 35, komponentenhet-klargjøringsdel av register 35, en test-tilba-keføringssignaldel av register 35, en test-skiftsignaldel av register 35 og en stopp-klargjøringsdel av register 35 blir påtrykt skiftstyreregisterbuffer 41. Klokkestyrelogikken 36 mottar systemklokkesignaler, klokkestyresignaler fra komman-dodekoderlogikken 32, signaler fra styreskiftregisterbuffer 41 og stopptilstandsignaler fra kabinettlogikken. Klokkesty-
relogikken 36 påtrykker klokkesignaler på logikktavlene. Data-velgerlogikken 37 mottar test-utsignaler fra logikktavlene. Tavledekoderlogikken 39 påtrykker tavlevelgersignaler på logikktavlene. Teller 40 påtrykker registerfil-velgersignaler på logikktavlene, mens styreskiftregisterbuffer 41 påtrykker komponentenhet-klargj øringssignåler, test-tilbakeføringssig-naler og test-skiftsignaler på logikktavlene. Komponentenhet-velgerdelen av styreskiftregistret påtrykker komponentenhet-velgersignaler på logikkbordet. Test-utsignalene fra hver av komponentenhetene blir også påtrykt en relatert alarmbitposi-sjon av styreskiftregister 35 og alle signaler blir påtrykt en alarm (mest signifikant bit) posisjon av styreskiftregistret. Styreskiftregistret 35 omfatter et flertall registerposisjoner som har nøkkelkodefunksjon. Disse registerposisjoner er koplet til en andre inngangsklemme for den logiske OG port 42. En utgangsklemme for den logiske OG port 42 er koplet til teller 40, hjelpeskiftregistrene (dvs danner overføringssig-naler) og til styreskiftregisterbuffer 41.
I fig. 8 er komponentenhet-velgerlogikken 136 vist. Test-tilbakeføringssignalene, test-skiftsignalene, registerfil-velgersignalene, hj elpeskiftregister-overføringssignalet og skift-hjelpeskiftregistersignalene mottas fra tavle-velgerlogikken 132 og blir påtrykt komponentenhetene. Komponentenhet-dekoderlogikken 81 mottar komponentenhet-klargjø-ringssignalene, tavlevelgersignalene og komponentenhet-velgersignalene. Komponentenhet-klokkelogikken 8l påtrykker signaler på komponentklokke-klargjøringslogikken 82. Komponent-enhetklokke-klargjøringslogikken 82 mottar også klokkestyresignaler og denne logikk påtrykker signaler på komponenten-hetklokkeapparatet. Test-utsignal-velgerlogikken 83 mottar komponentenhet-velgersignaler, test-utsignaler og komponentenhet-klargj øringssignaler og påtrykker signaler på den logiske ELLER port 84. Den logiske ELLER port 84 mottar signaler fra den logiske OG port 85 og fra test-utsignal-velgerlogikken 83 og påtrykker test-utsignaler på tavlevelgerlogikken 132. Den logiske OG port 85 mottar inverterte logiske komponentenhet-klargjøringssignaler og hjelpeskiftregister-utsignaler fra komponentenhetene.
I fig. 9 er det vist en blokk-skjema av en partiell konfigurasjon av registrene for et utførelseseksempel av en komponentenhet. Komponentenheten omfatter J-K register 91516 xn registerfil 92, 4xn registerfil 93, D register 96, flerge-neratorregister 95 og data-velgerregister 94. Hvert register blir påtrykt test-tilbakeføringssignaler, test-skiftsignaler og klokkesignaler. De registerelementer som omfatter et flertall registerfiler får også påtrykt registerfil-velgersignaler. Registrene er arrangert i sekvens, slik at test-innsignalene blir påtrykt det arbitræart tilordnede første register av sekvensen (dvs J-K register 91 i fig. 9) og test-utsignalene mottas fra siste register av komponentenheten (dvs data-velgerregister 94). Alle øvrige registre og registerelementer kan koples i sekvens i komponenten. Som det vil fremgå, er bare test-forbindelsene for registrene vist. Forbindelsene for normal operasjon av databehandlingssystemet og mangfoldig-heten av elementer mellom registercellene er ikke vist.
Fig. 10 viser et typisk D register ifølge foreliggende oppfinnelse. D registret omfatter registerelementer 101-105
og klokkegeneratorlogikken 106. Hvert registerelement omfatter en datavelgerdel, en master-del koplet til datavelgerdelen og en slave-del koplet til master-delen. Hver data-velgerdel har tre inn-klemmer, en logisk "0" signalklemme, en "D" dataklem-me og en testklemme. Datavelgeren velger en signal-innmodus basert på test-tilbakeførings- og test-skiftsignalene som blir påtrykt datavelgerdelen av registerelementene. Slave-delen av hvert registerelement har en utsignalklemme og en invertert-utsignalklemme. ^Invertert-utsignalklemmen er koplet til test-klemmen for datavelger av etterfølgende registerelement. Invertert-utsignalklemmen av siste registerelement avgir test-utsignalene,- mens test-innklemmen for første registerelement mottar test-innsignalene. Klokke-klargjø-ringslogikken 106 mottar test-tilbakeføringssignaler, test-innstillingssignaler, klokkesignaler og klokke-klargjørings-signaler. Klokke-klargjøringslogikken har en første klemme koplet til alle master-delene av registerelementene og en andre klemme koplet til alle slave-delene av registerelementene .
I fig. 11 er det vist en typisk 4x5 D inn-registerfil ifølge foreliggende oppfinnelse. Registret omfatter fem ele-mentgrupper, klokkegenerator, skrivedekoder- og master-adres-sesperre-logikk 116, en datavelger 118, en lesedekoder-
logikk 117 og en datavelger 119. Hver registerelementgruppe. omfatter en datavelgerdel og en master-del (111-115), en slave-del med fire posisjoner (121-125) og en datavelgerdel (131 -135). Datavelgerdelene av registerelementene 111-115 har inn-klemmer for testsignaler, for "0" signaler og for data , dvs ,,Do"-,,DiJ" signaler. Datavelgerdelen er koplet til master-delen av registrene. Register-master-delene 111-115 er koplet til de respektive fire-posisjons slave-deler 121-125. De fire-posisjons-slavedelene 121-125 er koplet til respektive datavel-gerdeler 131-135. Hver datavelgerdel har to ut-klemmer, en signalut-klemme og en invertert signal-utklemme. Invertert signalut-klemmen for hvert registerelement er koplet til etter-følgende test-innsignalklemme av datavelger-innklemmene, dvs den inverterte logiske signalposisjon av datavelger 131 er koplet til data-innklemmen for datavelger 112. Testsignalklem-men for registerdel 111 er koplet til test-innsignalene, mens utklemmen for inverterte logiske signaler for datavelger 135 sørger for test-utsignalene. Test-tilbakeføringssignalene og test-skiftsignalene blir påtrykt inndata-velgerregisterdelene 111-115, klokkegeneratoren, skriveadressedekoderen, master-adressesperrelogikken 116, datavelgerlogikken 118 og datavelgerlogikken 119- Datavelgerlogikken 118 mottar også registerfil-velgersignaler og skriveadressesignaler. Datavelger 119 mottar også registerfil-velgersignaler og leseadressesignaler og påtrykker lesedekoderlogikken 117 signaler. Lesedekoderlogikken avgir signaler til data(ord)-velgerlogikkdelene 131-135 for registrene. Klokkegeneratoren, skriveadresse- og master-adressesperrelogikken 116 mottar også klokkesignaler, klokke-klargjøringssignaler og signaler fra datavelgerlogikken ll8 og påtrykker signaler på hver master-del av elementene 111-115 samt avgir signaler til hver av slave-delene i register-slavedelene 121-124.
I fig. 12 er det vist et blokk-skjema av en partiell konfigurasjon av et utførelseseksempel av et hjelpeskiftregis ter for en komponentenhet 199• Hjelpeskiftregistrets inn-signal blir påtrykt statusregistreringsregistret 193. Statusregistreringsregistret er koplet til port 192 og denne port 192 er koplet til statusregistreringsapparat 191. Hjelpeskiftregistrets skiftsignaler blir påtrykt port 192 og statusregist-re ringsregister 193. Ut-signalene fra statusregistreringsregister 193 blir koplet til den første av et flertall av serielt forbundne registre (ikke vist) og til styreregister 194. Ut-signalet fra styreregistret 194 blir koplet til registercelle 197 og ut-signalet fra registercellen 197 er hjelpeskiftregistrets ut-signal. Styreregister 194 koples via port 195 til styreapparatet 196. Hjelpeskiftregistrets skiftsignaler blir påtrykt statusregistreringsregister 194, port 195 og registercelle 197» Registercellen er koplet til en ut-klemme for den logiske ELLER port 198. Registergruppen som omfatter statusregistreringsregister 191, styreregister 194, registercelle 197 og de registre og registeroeller som ikke er vist men danner en del av hjelpeskiftregistret, er koplet i en seriell konfigurasjon og betegnes som hjelpeskiftregistret. Et flertall av registercellene i hjelpeskiftregistret kan inneholde en nøkkel-kode. Disse registerposisjoner er koplet til porter 142-195 med et passende velgerapparat for logiske signaler og tillater bare overføring av signaler via portene når de korrekte logiske signaler foreligger i nøkkelkoderegistercellene.
Test- eller undersøkelses- og vedlikeholdssystemet ifølge oppfinnelsen omfatter fire komponentkategorier. Vedlike-holdskomponentene sammen med passende lagringsenheter og klem-meenheter, utfører rutiner som er nødvendige for grensesnitt med test- og vedlikeholdssystemet og sørger for programmene for initialisering av databehandlingssystemenes tilstand for å bestemme tilstanden av testapparatet ved et arbitrært punkt ved operasjonen av databehandlingssystemet og for å danne en spesialisert test-evne. I det foretrukne utførelseseksemplet er denne del av systemet også koplet til fjernstyrings- og databehandlingsutstyr, slik at vedlikeholds- og diagnostise-ringsprosessene kan utfjør fjernstyrt fra databehandlingssystemet .
Inter-datamaskinstyreenheten kopler vedlikeholdsdata-maskinen og testanordningen av databehandlingssystemet. Inter-datamaskinstyreenheten omfatter registre for serialise-ring og deserialisering av data likesom programmerbare telle-re for å lette dataomformingen.
Systemets testapparat består av anordningen mellom inter-datamaskinstyreenheten og registret eller registerfilene for komponentenhetene som kan initialiseres og losses. Systemets testapparat er nært integrert med distribusjonen av klokkesignaler. Testsystemet av foreliggende oppfinnelse be-nytter klokking for apparatet som kan stanses eller startes og begrenses til målkomponenten under styring av testprogram-met. Systemets testapparat sørger for målklokkeadressering ned til komponentenhetnivå.
Den fjerde apparatgruppe er brukerkretsgruppen som er tilordnet komponentenhetene. Registerutformningen i det foretrukne utførelseseksempel er en kant-trigret master/slave registerimplementering. Disse registre omfatte datavelgerlo-gikk foran mastersperren som kan velge normale inn-data, kon-figurere registret som et skiftapparat eller tilbakeføre registret ved å anbringe logiske "0" signaler i registerposisjo-nene. Den innleirede datavelger benyttes også for opprettelse av register-personalisering, dvs D registre, J-K registre, flergeneratorregistre etc. De data som skiftes under testing blir invertert mellom hver bit og kan brukes med tilbakefø-rings logikken for å utpeke banesvikt. Når det gjelder registerfilene, er disse filer kant-trigret og omfatter master-sperrer for både data- og skriveadresse-innsignaler og inneholder også en serie slave-registre. Registerfilene omfatter også en innleiret datavelger som velger normal data-innsignal-modus, en modus som tillater en utvalgt fil eller filposisjons-sekvens å opptre som et skiftapparat og en modus som sørger for en tilbakeføring for innføring av logiske "0" i register-posis j onene. Innleirede datavelgere benyttes også for å opprette registerfil-innpersonalisering. Skiftkonfigurasjonen sør-ger for invertering mellom hver bit og kan benyttes for iden-tifisering av skiftbanesvikt. En innleiret dataveTger er også brukt foran skriveadresse-mastersperrene og foran leseadresse- dekoder-logikkapparatet. Disse datavelgere kan benyttes for innføring av en alternativ testadresse, hvor testskift- eller testtilbakeføringsmodus tillater at signalene ved en bestemt registeradresse blir tilbakeført til logiske "0" signaler eller innført i skiftbanen.
Operasjonen av test- eller undersøkelses- og vedlikeholdssystemet ifølge foreliggende oppfinnelse kan forstås på følgende måte. Systemet tillater lessing og lossing av al-le registre og registerfiler inklusive hjelpeskiftregistret og styreskiftregistret 35. Således kan enhver arbitrær utgangstilstand påføres apparatet for databehandlingssystemet ved skifting av fastlagte signaler inn i registrene og registerfilene av databehandlingssystemet, hvorpå normal operasjon fortsetter. På tilsvarende måte kan den foreliggende tilstand av databehandlingssystemet bestemmes ved at de lagringsfaste logiske signaler skiftes ut av registerfilene og registrene i vedlikeholds-datamaskinen for analyse. Mens data blir skiftet og hvert logisk signal blir invertert mellom hver serielle bitposisjon kan feil i skiftbanen identifiseres i forbindelse med bruken av synkron tilbakeføring av registret og registerfilene.
Test-systemet ifølge det foretrukne utførelseseksem-pel kan muliggjøre de følgende operasjonsmodi som er vist i Tabell 1 ved lessing av adresse- og styreskiftsignaler i sty-reskif tregistret .
Tabell 1 Operasjonsmodi av testsystemet
1. Tilbakeføring av målapparatet.
2. Tilbakeføring av kabinettapparatet.
3. Klargjøring av klokkesignalene til målapparatet.
4. Klargjøring av klokkesignalene til kabinettapparatet.
5. Skifting av målapparatsignalene til vedlikeholds-databehandlingssystemet for visning og/eller endring. 6. Klargjøring av klokkesignaler til kabinettapparatet inn-til en alarm blir registrert (feiltilstand eller vedli-keholdsstopp av en adresse og/eller data). Denne modus
krever en hjelpeskiftregisterlessing.
7. Sending av larmsignal til vedlikeholds-databehandlingssystemet.
I det foretrukne utførelseseksempel er komponentenhetene implementert som mikropakker, hvor hver mikropakke har et flertall elementer. Hver tavle har en mangfoldighet av tilordnede mikropakker og danner en logisk helhet for testsignal- og klokkesignal-distribusjon. På tilsvarende måte er et flertall tavler tilordnet hvert kabinett for databehandlingssystemet og danner en logisk helhet for distribusjon av testsignaler og klokkesignaler til de tilordnede tavler. Det vil være innly-sende at en avvikende hierarki av signaldistribusjonen er mu-lig uten avvik fra oppfinnelsens ramme.
I fig. 9 er det vist et blokk-skjema av anordninger som inngår i en mikropakke for test- og vedlikeholdsapparatet. Bortsett fra klokkesignal-distribusjonen som også er nødvendig for den normale databehandlingsoperasjon, er signalene som er vist påtrykt anordningene av komponentenheten de signaler som benyttes for test- og vedlikeholdsprosedyrene. Testskiftsigna-lene forårsaker at registersignalene skiftes serielt ved hjelp av klokkesignalene. Komponentenhet-klargjøringssignalet sørger for at bare den utvalgte komponentenhet får påtrykt klokkesignaler. Av fig. 10 fremgår at testklemmene for datavelgerne er koplet til invers-signal-utklemmen av foregående slave-element og at test-innsignalene kan klokkes av klokkegeneratorlogikken 106 på en seriell måte gjennom hver registerrekke og bli test-utsignalene, dvs av slaveenhetens 105 invers-signalklemmer. Test-tilbakeføringssignalene fører til at datavelgerlogikken aktiviserer "/" klemmen for derved å opprette en mekanisme for initialisering av registret (dvs plassere en logisk "0" i hver registerposisjon).
For å spare på gjensidige forbindelser og minimalisere adresseringsapparatet, er mange av registre., gjerne er flertall av registrene i en komponentenhet koplet serielt. Således er', alle registre 91-96 serielt koplet, men signalene blir overført langs den serielle bane utelukkende i test- og vedlikeholdsmodus, dvs ved påtrykking av et testskiftsignal, komponentenhet-klargjøringssignaler og klokkesignaler. Det vil være klart at de signaler som skiftes inn i registrene er til-gjengelige til bruk ved normal operasjon av databehandlingssystemet .
I det foretrukne utførelseseksempel er mange av registrene i realiteten filer med et flertall celler på hver registerposisjon. Registerfil-velgersignalene (ifølge fig. 9) velger den fil som skal adresseres i test- og vedlikeholdsmodus. Under henvisning til fig. 11, blir registerfil-velgersignalene påtrykt datavelgerlogikken 118 og, når det foreligger et testskiftsignal, på klokkegeneratoren, skrivedekoder, master-adressesperrer 116 og via datavelger 119 på lesedekoder 117. Registerfil-velgersignalene sørger for den funksjon at data fra master blir påtrykt den utvalgte av de fire slave-celler og at data fra vedkommende slave-celle blir påtrykt datavelgerlogikken (dvs 131-135) på et klokkesignal. Testskift-signalet sørger for at testklemmen av datavelger 111-115 er blitt aktivert og på grunn av koplingen fra utdata-velgerlogikken (dvs 131-135) av hver registerposisjon, vil test-innsignaler skiftes gjennom registret ved den valgte slave-celle. På lignende måte blir testtilbakeføringssignalene styrt av re-gisterf il-velgersignalene . Det vil være klart at registerfil-velgersignalet kan manipuleres, slik at den spesielle, adres-serte slave-celle kan endres med hver klokkesyklus ved endring av teller 40. På denne måte dannes en hensiktsmessig mekanisme for adressering av filene for et register.
Test-innsignalene blir distribuert til komponentene via kabinettveler-120 og tavlevelgerlogikk 132 kretsene. Under henvisning til kabinettvelgerlogikken 120 ifølge fig. 6, er test-innsignalene en serie binære signaler som er i stand til å opprette utgangsbetingelsen for den valgte serielle re-gistermodus av komponentenheten og de påtrykkes langs en en-kelt signalbane. Kabinettvelgersignalene (dvs adressesignale-ne) og kommandosignalene kan påtrykkes langs et flertall sig-nalbaner. Etter utvelgelse av kabinett, blir signaler overført til tavlevelgerlogikken 132 av det valgte kabinett, som vist i fig. 7. Testinnsignalene blir påtrykt alle komponentenheter via register 313mens komponentenhet-velgersignalene bestemmer til hvilken komponentenhet test-innsignalene vil bli inn-ført. Tavlevelgersignalene, komponentvelgersignalene og regis-terf il- velgersignalene er innleiret i test-innsignalene sammen med modusstyre- og andre signaler. Test-innsignalene blir påtrykt registrene for komponentenheten i den serielle testmodus etter at test-innsignalene er blitt skiftet inn i styreskiftregister 35, omfatter adresse- og styresignaler. For å øke påliteligheten av test- og vedlikeholdsapparatet, omfatter hver gruppe av test-innsignaler som innføres i styreskiftregister 35 et flertall forhåndsvalgte logiske signaler i forhåndsvalgte posisjoner. Hvis denne forhåndsvalgte kode ikke foreligger i styreskiftregistret, kan data ikke innføres i hjelpeskiftregistre, teller 40 eller styreskiftre-gisterbuf fer 41. Denne mekanisme begrenser den mengde upålite-lige data som innføres i komponentenhetens register. Alarmsig-nalene deler test-utsignal-koplingsorganene når den serielle registerskifting ikke er i gang og blir påtrykt vedlikeholds-databehandlingsenheten 101 som en del av test-utsignalene for å angi nærvær av en forhåndsvalgt tilstand. En celle er tilgjengelig i styreskiftregister 35 for hver logikktavle. I tillegg vil aktivering av enhver alarmcelle aktivere den mest signifikante posisjon i styreskiftregistret (og et signal blir sendt til vedlikeholds-databehandlingsenheten 101) etter iden-tifikasjon av en alarmcelle i enhver tavle. Ved at skiftstyre-registrets 35 innhold skiftes til vedlikeholds-databehandlingsenheten 101, kan den spesielle tavle som produserer alarmsignalet identifiseres. På tilsvarende måte blir test-utsignalene, dvs signalene lagret i registrene for komponentenheten i seriell modus, under styring av vedlikeholds-databehandlingssystemet 101 overført via test-utstignal-velgerlogikken 83, register 31 og register 21 til vedlikeholds-databehandlingssystemet 101.
Viktig for operasjonen av foreliggende oppfinnelse er distribusjonen av klokke- eller taktgivningssignalene som en databehandlingshjelp på lignende måte som distribusjonen av kraft fra kraftforsyningen. Klokkesignalapparatet har en tilordnet logikk for å muliggjøre distribusjon av klokkesignalene som skal styres av vedlikeholds-databehandlingssystemet 101. Vedlikeholds-databehandlingssystemet kan dermed styre skiftingen av test-innsignalene og test-utsignalene i de enkelte komponenter. Fordi komponentenhet-klokkesignalene kan styres, kan dessuten også den faktiske operasjon av komponentenhetene styres. På tilsvarende måte blir test-innsignalene distribuert over hele databehandlingssystemet. Men bare de signal-utvalgte tavler og/eller komponentenheter vil i realiteten få registersignalene skiftet i seriell modus.
I fig. 7 og 8 er et apparat for overføring av signaler i et hjelpeskiftregister vist. Hjelpeskiftregistret er en gruppe registeroeller som lagrer statusinformasjon og/eller styreinformasjon. Som et eksempel på statusinformasjon, kan et register lagre registreringen av en paritetsfeil. Som eksempel på styreinformasjon, kan et register lagre en serie signaler som, når de registreres av apparatet for komponentenheten, kan resultere i en spesiell respons, f.eks. en forgreningsopera-sjon. I hver komponentenhet er disse registertyper, i tillegg til den normale operasjonskopling av databehandlingsmekanismen koplet på seriell måte. I dette serielle register kan signaler skiftes inn i eller ut av hjelpeskiftregistret mens komponentenheten er opptatt med normal operasjon. Uttrykt på en annen måte, sørger hjelpeskiftregistret for at den enkelte komponent får funksjonen av et apparat som normal er tilordnet en vedlikeholds -datamaskin . Det betyr at komponentens status, især feiltilstands-informasjon, kan trekkes ut og utvalgt til-standsinformasjon kan innføres i komponentenheten. Hjelpeskift-signalene overføres på testinn- og testutsignalforbindelsene. Men registercellene blir bare skiftet på den serielle bane etter påtrykking av hjelpeskiftregistrets skiftsignal. Cellene i hjelpeskiftregistrene er bufret fra de normale komponentenhet-registerceller, slik at data kan overføres uten påvirkning på den normale operasjon av databehandlingssystemet. Signalene blir overført fra/til normale komponentenhet-registerceller til/fra hjelpeskiftregistercellene som respons på hjelpeskiftregistrets overføringssignal.
' Por hver komponentenhet er det således et tilgjengelig apparat for å skifte signaler inn i hver registercelle (dvs test-innsignalene), eller for å skifte signaler ut av hver re-gistercelleposisjon (dvs test-utsignaler). Test-innsignalene blir bestemt av programmer som er lagret i hovedlagerenheten 106 eller påtrykt av terminalanordningen og blir innført under styring av databehandlingsenheten 107. På lignende måte og
styrt av databehandlingsenheten kan test-utsignalene trekkes ut fra registercellene og påtrykkes databehandlingsenheten 107- Ved å adressere hver komponent, kan man således få frem tilstanden av registrene for enhver arbitrær del eller fra databehandlingssystemet 103. På tilsvarende måte kan tilstanden av enhver del eller alle registre bestemmes ved at signalene som er lagret der blir trukket ut. Fordi klokken også er styrt av databehandlingsenheten 107, kan også operasjonen av maskinen styres. Databehandlingssystemet 103 kan således få påtrykt en arbitrær tilstand etter innføring av de korrekte innsignaler, kan danne ethvert antall klokkesignaler og kan etter påtrykking av de korrekte styresignaler trekke ut signaler som er lagret i registrene. Prosedyren kan om nødvendig benyttes for analysering av operasjonen av databehandlingssystemet på en trinn-for-trinn måte eller en begrenset del av databehandlingssystemet kan testes på tilsvarende måte.
Figurene viser den nødvendige anordning for forståel-se av test- og vedlikeholdsapparatet. Det vil fremgå at det til registercellene i databehandlingssystemet er koplet en mangfoldighet av logikk- og overføringskomponenter som ikke er vist. Disse komponenter utgjør det apparat som implemente-rer databehandlingsoperasjoner, men komponentene er ikke nød-vendige for beskrivelsen av foreliggende oppfinnelse.
Operasjonen av hjelpeskiftregistret kan forstås ved hjelp av følgende: Komponentenhetene inneholder både statusinformasjon (f. eks . feilregistrerings- og korrigeringsinforma-sjon) for test- og vedlikeholdsapparatet og apparatet for å påføre tilstander som kan styre visse operasjoner (f.eks. da-tabehandlings-konfigurasjonsstyring). Hjelpeskiftregistret danner en mekanisme for å fjerne datasignaler som spesifiserer statusinformasjon og påtrykke datasignaler som innstiller sty-rebetingelser. Denne innføring eller uttrekking av informasjon kan skje uten avbrudd av de normale databehandlingsoperasjoner. Det vil dog fremgå av nedenstående beskrivelse at hjelpeskiftregistret også kan opereres skjønt databehandlingssystemet midlertidig ikke er aktivert. Under henvisning til fig. 12 kan tilstandsregistreringsapparatet være en paritets feil, et feilkorrigeringskode-resultat eller en annen tilstand som kan være viktig for verifisering av operasjonen av databehandlingssystemet. Datasignalene for tilstandsregistreringsapparatet er lagret i tilstandsregistret 193. Registret 193 er et register reservert for lagring av informasjon fra tilstandsregistreringsapparatet 191. Hjelpeskiftregistrets skiftsignaler forårsaker at signalene i register 193 blir skiftet gjennom den serielle sekvens av skiftregistre og blir hjelpeskiftregistrets utsignaler. Men for at skiftingen av signalene ikke skal bli satt på spill av den fortsatte operasjon av databehandlingssystemet, er det anordnet en port 192 ut til tilstandsregistreringsapparatet 191 og signalpassasjen gjennom porten hindres med nærvær av hjelpeskiftregistrets skiftsignaler. Signalene som er lagret i tilstandsregistreringsregistret for hjelpeskiftregistret kan således trekkes ut av den serielle konfigurasjon av registercellene. Hjelpeskiftregistret er konfigurert for å opprette prosessorstyrefunksjoner. Responsen fra databehandlingssystemet på et gitt sett av signaler kan f. eks. styre avbrudd av databehandlingsfunksjonen eller den kan styre en forgrening i operasjonen på et utvalgt sett av signaler. Signalene som bestemmer når databehandlingssystemet gir respons kan skiftes inn i hjelpeskiftregistret via inn-signalene for styring av register 194. Fra styreregister 194 blir de forhåndsvalgte logiske signaler innført i styreapparatet 196, hvor databehandlingssystemet oppretter en korrekt respons på de forhåndsvalgte logiske signaler. For å hindre at uekte signaler blir overført til styreapparatet 196, er porten 195 anordnet mellom styreregister 194 og tilstandsregistreringsapparatet 196. Etter at hjelpeskiftregistret er påtrykt skiftsignaler som forårsaker overføring av signaler gjennom hjelpe-skif tregistret , blir porten 195 inaktivert og de logiske signaler som passerer gjennom styreregistret 194 hindres fra å bli innført i styreapparatet 196.
I det foretrukne utførelseseksempe1 er det anordnet en registercelle 197 som lagrer et alarmsignal. Alarmsignalet angir en hendelse, som at en registrert feil har oppstått i databehandlingssystemet. Alarmsignalet kan koples til flere til-standsovervåkende apparater og etter registrering av en av bestemte tilstander, blir signaler påtrykt innklemmene for en logisk ELLER port 198 og et signal blir innstilt i registercelle 197. Nærværet av et signal i registercelle 197 blir overført til vedlikeholdsprosessoren. Prosessoren kan deretter skifte datasignaler fra hjelpeskiftregistret. Datasignalene i hjelpeskiftregistret som koples til tilstandsregistreringsapparatet kan gi ytterligere informasjon med hensyn til den tilstand som fremkaller alarmsignalet. Under henvisning til fig. 75blir alarmsignaler fra komponentenhetene lagret i en relatert posisjon i styreskiftregister 35, likesom de blir overført til vedlikeholdsprosessoren fra den mest signifikante posisjon i styreskiftregistret. Komponentenheten som fremkaller et alarmsignal kan identifiseres av vedlikeholdsprosessoren etter eksaminering av innholdet i styreskiftregistret.
Hjelpeskiftregistret kan inneholde registeroeller som danner en nøkkelkode for klargjøring av portkretsene som isolerer hjelpeskiftregistrets celler fra registercellene i databehandlingssystemet. Nøkkelkode-registercellene hindrer at feilaktige datasignaler blir innført i databehandlingssystemet som resultat av en feilfunksjon av vedlikeholds- og testapparatet .
Ovenstående beskrivelse er gitt for å illustrere operasjonen av det foretrukne utførelseseksempel og er ikke ment som en begrensning av oppfinnelsens ramme. Oppfinnelsens ramme begrenses utelukkende av de etterfølgende krav. På bakgrunn av ovenstående omtale vil fagfolk finne frem til variasjoner som inngår i oppfinnelsens ide og ramme.
Claims (10)
1. Test- og vedlikeholdsapparat for et databehandlingssystem, karakterisert ved at det omfatter et flertall koplede registeroeller, hvor en første gruppe av registercellene er tilpasset for å motta datasignaler fra en første tilordnet gruppe registre for nevnte databehandlingssystem, og hvor-en andre gruppe av nevnte flertall registerceller er tilpasset for å påtrykke datasignaler fra en andre tilordnet gruppe registeroeller for nevnte databehandlings-anordning; organer som reagerer på eksterne styresignaler for å skifte datasignaler inn i og ut av nevnte flertall av registeroeller, uavhengig av operasjonen av nevnte databehandlingssystem; og organer som nevnt for å hindre at mevmte førs-te gruppe av registeroeller mottar datasignaler og for å hindre at datasignaler påtrykkes nevnte andre gruppe av celler under skifting av datasignaler inn i og ut av nevnte flertall av
• registereeller.
2. Test- og vedlikeholdsapparat som angitt i krav 1, karakterisert ved at nevnte flertall av koplede registerceller er koplet i en seriell konfigurasjon.
3. Test- og vedlikeholdsapparat som angitt i krav 1, karakterisert ved at en utvalgt registercelle av nevnte flertall av registerceller er tilpasset for å motta datasignaler som angir forekomsten av en fastlagt tilstand i nevnte databehandlingssystem.
4. Test- og vedlikeholdsapparat som angitt i krav 1, karakterisert ved at en tredje gruppe av nevnte flertall av registerceller kan lagre en forhåndsvalgt datasignalgruppe, hvor fravær av nevnte datasignalgruppe akti-verer nevnte organer for å hindre påtrykning av nevnte datasignaler på nevnte andre cellegruppe etter at skifteoperasjonen er fullført.
5. Fremgangsmåte for testing og styring av et databehandlingssystem, karakterisert ved at databehandlingssystemet forsynes med et flertall registerceller,
at en første gruppe av nevnte flertall av registerceller mottar datasignaler fra registerceller for nevnte databehandlingssystem, at en andre gruppe av celler påtrykker datasignaler på registerceller i nevnte databehandlingssystem; at på forhånd fastlagte datasignaler innføres i nevnte flertall av registerceller når innføring av styresignaler i nevnte databehandlingssystem skal gjennomføres; fjernelse av datasignaler fra nevnte flertall av registerceller når bestemmelse av nevnte databehandlingssystems status skal gjennomføres;
og hindring av overføring av datasignaler mellom databehandlingssystemet og nevnte flertall av celler under nevnte inn-føring i og fjernelse fra flertallet av celler.
6. Fremgangsmåte for endring av styresignaler i et styreregister under operasjon av databehandlingssystemer, karakterisert ved følgende trinn:
1. det opprettes en seriell rekke av registerceller og hver av disse registerceller påtrykker et datasignal som er lagret i den på en tilordnet styreregistercelle;
2. nevnte serielle rekke av registerceller frakoples elektrisk fra nevnte tilordnede registerceller;
3. en på forhånd fastlagt sekvens av datasignaler skiftes inn i nevnte serielle rekke av registerceller og
4. nevnte serielle rekke av registerceller koples elektrisk til nevnte tilordnede registerceller.
7. Fremgangsmåte for å endre styresignaler for styrere-gistre ifølge krav 6, karakterisert ved at det i nevnte serielle rekke av registre i tillegg anordnes et flertall registerceller som er koplet for å motta datasignaler fra statusregistrene i nevnte databehandlingssystem, hvor de nevnte statusregistersignaler blir elektrisk koplet fra nevnte flertall av registerceller når datasignaler skiftes i den serielle rekke av registerceller.
8. Test- og vedlikeholdsapparat til bruk med et databehandlingssystem, karakterisert ved at det omfatter et første flertall registerceller som er koplet til registerceller for nevnte databehandlingssystem; hvor nevnte første flertall av registerceller mottar datasignaler fra tilordnede registerceller i databehandlingssystemet; et andre flertall av registerceller som er koplet til registerceller i nevnte databehandlingssystem, hvor det andre flertall av registerceller påtrykker data på tilordnede registerceller i databehandlingssystemet; organer for å innføre på forhånd fast lagte datasignaler i det andre flertall av registerceller og for å motta datasignaler fra det første flertall av registre;
og organer for å hindre overføring av datasignaler mellom databehandlingssystemet og nevnte første og andre flertall av registre når organene for å innføre og motta datasignaler overfører datasignaler.
9. Test- og vedlikeholdsapparat som angitt i krav 8, karakterisert ved at første flertall av registre og andre flertall av registre er koplet i en seriell konfigurasjon, hvor organene for å innføre datasignaler i og motta datasignaler fra første og andre flertall av registre opererer for å skifte nevnte datasignaler i den serielle kon-figurasj on.
10. Test- og vedlikeholdsapparat til bruk ved et databehandlingssystem som angitt i krav 8, karakterisert ved at det andre flertall av registerceller kan benyttes for å spesifisere en konfigurasjon for nevnte databehandlingssystem.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US53935583A | 1983-10-06 | 1983-10-06 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NO843375L true NO843375L (no) | 1985-04-09 |
Family
ID=24150874
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NO843375A NO843375L (no) | 1983-10-06 | 1984-08-23 | Databehandlingssystem og fremgangsmaate til vedlikehold samt anrodning |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0145866A3 (no) |
JP (1) | JPS60151755A (no) |
KR (1) | KR850003006A (no) |
AU (1) | AU3338184A (no) |
FI (1) | FI843878L (no) |
NO (1) | NO843375L (no) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4581738A (en) * | 1983-10-06 | 1986-04-08 | Honeywell Information Systems Inc. | Test and maintenance method and apparatus for a data processing system |
GB8518860D0 (en) * | 1985-07-25 | 1985-08-29 | Int Computers Ltd | Digital integrated circuits |
GB8518859D0 (en) * | 1985-07-25 | 1985-08-29 | Int Computers Ltd | Digital integrated circuits |
JPS63291134A (ja) * | 1987-05-22 | 1988-11-29 | Toshiba Corp | 論理集積回路 |
US5267246A (en) * | 1988-06-30 | 1993-11-30 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for simultaneously presenting error interrupt and error data to a support processor |
KR920001079B1 (ko) * | 1989-06-10 | 1992-02-01 | 삼성전자 주식회사 | 직렬데이타 통로가 내장된 메모리소자의 테스트방법 |
US5428623A (en) * | 1993-07-01 | 1995-06-27 | Tandem Computers Incorporated | Scannable interface to nonscannable microprocessor |
GB9421977D0 (en) * | 1994-10-31 | 1994-12-21 | Inmos Ltd | A scan latch and test method therefor |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3790885A (en) * | 1972-03-27 | 1974-02-05 | Ibm | Serial test patterns for mosfet testing |
JPS5352029A (en) * | 1976-10-22 | 1978-05-12 | Fujitsu Ltd | Arithmetic circuit unit |
US4312066A (en) * | 1979-12-28 | 1982-01-19 | International Business Machines Corporation | Diagnostic/debug machine architecture |
-
1984
- 1984-08-23 NO NO843375A patent/NO843375L/no unknown
- 1984-09-21 AU AU33381/84A patent/AU3338184A/en not_active Abandoned
- 1984-09-25 JP JP59200325A patent/JPS60151755A/ja active Pending
- 1984-09-28 EP EP84111641A patent/EP0145866A3/en not_active Withdrawn
- 1984-10-03 FI FI843878A patent/FI843878L/fi not_active Application Discontinuation
- 1984-10-05 KR KR1019840006181A patent/KR850003006A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0145866A2 (en) | 1985-06-26 |
KR850003006A (ko) | 1985-05-28 |
AU3338184A (en) | 1985-04-18 |
FI843878L (fi) | 1985-04-07 |
EP0145866A3 (en) | 1988-01-27 |
JPS60151755A (ja) | 1985-08-09 |
FI843878A0 (fi) | 1984-10-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NO843374L (no) | Undersoekelses og vedlikeholdsmetode for et databehandlingssystem og anordning til metodens utfoerelse | |
US4622647A (en) | System for the automatic testing of printed circuits | |
US3497685A (en) | Fault location system | |
US4620302A (en) | Programmable digital signal testing system | |
EP2006697B1 (en) | Control apparatus | |
CN1018097B (zh) | 测试和故障检查用的存贮器仿真方法和系统 | |
US7787577B2 (en) | Asynchronous interface methods and apparatus | |
JPH06500392A (ja) | 集積回路およびその集積回路をテストする方法 | |
NO162438B (no) | Automatisk testsystem. | |
CN110268277A (zh) | 用于印刷电路板的功能性测试器,以及相关的系统和方法 | |
NO843375L (no) | Databehandlingssystem og fremgangsmaate til vedlikehold samt anrodning | |
US4145734A (en) | Method and apparatus for implementing the test of computer functional units | |
CN111858222B (zh) | 错误注入的方法、设备、数据存储系统和程序产品 | |
JP5032764B2 (ja) | 産業用装置の装置コントローラ | |
KR870000114B1 (ko) | 데이타 처리 시스템 | |
CN101458624B (zh) | 可编程逻辑器件的加载方法、处理器和装置 | |
US4567593A (en) | Apparatus for verification of a signal transfer in a preselected path in a data processing system | |
US3999053A (en) | Interface for connecting a data-processing unit to an automatic diagnosis system | |
EP0166575A2 (en) | System for testing functional electronic circuits | |
US3649910A (en) | Method and apparatus for generating diagnostic information | |
US4625312A (en) | Test and maintenance method and apparatus for investigation of intermittent faults in a data processing system | |
US5751736A (en) | Testable electronic system | |
US3814920A (en) | Employing variable clock rate | |
JP3654629B2 (ja) | スキャンレジスタチェーンを有する集積回路 | |
US7587649B2 (en) | Testing of reconfigurable logic and interconnect sources |