NO162438B - Automatisk testsystem. - Google Patents
Automatisk testsystem. Download PDFInfo
- Publication number
- NO162438B NO162438B NO812978A NO812978A NO162438B NO 162438 B NO162438 B NO 162438B NO 812978 A NO812978 A NO 812978A NO 812978 A NO812978 A NO 812978A NO 162438 B NO162438 B NO 162438B
- Authority
- NO
- Norway
- Prior art keywords
- test
- processor
- interface
- central
- digital
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 43
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 9
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- PCTMTFRHKVHKIS-BMFZQQSSSA-N (1s,3r,4e,6e,8e,10e,12e,14e,16e,18s,19r,20r,21s,25r,27r,30r,31r,33s,35r,37s,38r)-3-[(2r,3s,4s,5s,6r)-4-amino-3,5-dihydroxy-6-methyloxan-2-yl]oxy-19,25,27,30,31,33,35,37-octahydroxy-18,20,21-trimethyl-23-oxo-22,39-dioxabicyclo[33.3.1]nonatriaconta-4,6,8,10 Chemical compound C1C=C2C[C@@H](OS(O)(=O)=O)CC[C@]2(C)[C@@H]2[C@@H]1[C@@H]1CC[C@H]([C@H](C)CCCC(C)C)[C@@]1(C)CC2.O[C@H]1[C@@H](N)[C@H](O)[C@@H](C)O[C@H]1O[C@H]1/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/[C@H](C)[C@@H](O)[C@@H](C)[C@H](C)OC(=O)C[C@H](O)C[C@H](O)CC[C@@H](O)[C@H](O)C[C@H](O)C[C@](O)(C[C@H](O)[C@H]2C(O)=O)O[C@H]2C1 PCTMTFRHKVHKIS-BMFZQQSSSA-N 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000008672 reprogramming Effects 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31907—Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318342—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences by preliminary fault modelling, e.g. analysis, simulation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31912—Tester/user interface
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31926—Routing signals to or from the device under test [DUT], e.g. switch matrix, pin multiplexing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/865—Monitoring of software
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Selective Calling Equipment (AREA)
- Hardware Redundancy (AREA)
- Preparation Of Compounds By Using Micro-Organisms (AREA)
Description
Foreliggende oppfinnelse angår et automatisk testsystem for tilførsel av testsignaler av den art som angitt i innledningen til krav 1.
Tidligere kjente automatiske testsystemer har
anvendt en vanlig digital datamaskin som er programmert for å betjene et antall testinstrumenter via prosessorens utgang. Ved slike systemer leveres instrumentene fra forskjellige fabrikanter som hver krever sine bestemte instruksjoner for å utføre bestemte testfunksjoner. Ved disse systemer er det nødvendig å reprogrammere digitalprosessoren for å endre testinstrumentet til sin funksjonelle ekvivalent, f.eks. de forskjellige fabrikanter.
Hensikten med oppfinnelsen er å tilveiebringe et forbedret automatisk testsystem for å overvinne manglene ved de kjente systemer.
Videre er formålet med oppfinnelsen å tilveiebringe
et forbedret automatisk testsystem for testing av flere bestemte testinstrumenter, som hvert har deres eget bestemte sett med testinstruksjoner, fra en enkel prosess og ut-gangsbuss ved å anvende et høynivåspråk.
Typiske tidligere kjente systemer har fordelt arkitekturskjemaene, men bruker fremdeles en sentral prosessor kun for å kontrollere syntaksen til testinstruk-sjonene og krever fremdeles programmering for hvert testinstrument.
US patent nr. 4 212 059 beskriver et system ved hvilket en mikroprosessor utfører operatørstyringen fra konsollen i både drifts- og vedlikeholdsmodiene.
Britisk patent nr. 2 019 013 viser to prosessorer
ved forskjellige operasjonshastigheter for å teste anordninger ved hvilke mikroprosessortrykte kretser og klokkegene-rerte kretser er på samme anordning.
Britisk patent nr. 1 401 194 viser ruting av testsignaler til de forskjellige anordninger ved hjelp av en mikroprosessor.
Foreliggende oppfinnelse har til formål å unngå begrensningen ved reprogranunering for hvert testinstrument iboende i alle tidligere kjente systemer.
Ved foreliggende oppfinnelse er formålet å anvende
en programmerbar prosessor for å frembringe en kompakt versjon av et høynivåspråk, og så bruke kompaktversjonen for å teste forskjellige testenheter. På denne måten unngås om-programmering for hvert testinstrument i motsetning til de ved tidligere kjente anordninger.
Ovenfornevnte tilveiebringes ved hjelp av testsys-temet angitt i innledningen og hvis karakteristiske trekk fremgår av karakteristikken til krav 1.
Ytterligere trekk ved oppfinnelsen vil fremgå av kravene 2-5.
Et utførelseseksempel på oppfinnelsen skal nedenfor forklares nærmere under henvisning til tegningene. Fig. 1 viser et blokkskjerna for det foretrukne ut-førelseseksempel på oppfinnelsen. Fig. 2 viser et forenklet blokkskjema for en kontrollinnretning anvendbar i systemet som er vist på fig. 1, Fig. 3 viser et funksjonsskjema for en typisk kontrollinnretning. Fig. 4A-4H viser et komplett koplingsskjerna innbefattet delbetegnelsesnummer og fabrikant for grensesjiktprosessoren og I/O-kanalene, hukommelsene og koplingskretsene.
Utførelseseksempelet på fig. 1 omfatter en vanlig sentral digitalprosessor 20 som kommuniserer med operatøren via et antall perifere innretninger 22. De perifere innretninger 22 kan f.eks. omfatte skrivemaskiner, teleprintere, ytre hukommelser og andre innretninger generelt anvendt som I/O, perifere innretninger for digitalprosessorer. Den sentrale digitalprosessor 20 kommuniserer med forskjellige kontrollinnretninger for utførelse av kontroller via en standard IEEE 4 88 busstruktur. Typiske kontrollinnretninger er antydet med henvisningstallene 24,26 og 30. IEEE 488 busstrukturen er vel kjent og skal ikke beskrives nærmere her. Andre databusser er også brukbare.
Ved de fleste anvendelser vil kontrollsystemet på fig. 1 bli programmert for å utføre forskjellige kontroller av et apparat som skal kontrolleres. Et apparat som skal kontrolleres er betegnet UUT og kan være et radarsystem med henvisningstallet 41. Det kan f.eks. være nødvendig at systemet leverer et matespenning, strøm eller en signal-frekvens til apparatet som skal kontrolleres og det kan være nødvendig å måle apparatets reaksjoner under kontrollen i form av spenning, strøm, frekvens eller andre kjente elektriske parametere. Det kan også stå til rådighet mange programmerbare digitale kontrollinstrumenter på markedet for å utføre disse kontrollfunksjoner og betjene et antall av disse slik det skal beskrives nærmere nedenfor. Hver fabrikant av en type kontrollinstrumenter f.eks. voltmetere har imidlertid.forskjellig grensesjiktkrav, dvs. logisk nivå, ordrestruktur, ordreformat, tilkoplingsutstyr og ordreprogram som gjør omkopling av et kontrollsystem for et utskiftbart kontrollinstrument for en samme eller forskjellig fabrikant vanskelig fordi tidligere kjente systemer ikke har noen mulighet for å kompensere slike forskjeller uten å reprogrammere den sentrale prosessor.
En typisk sentral digital prosessor 20 vil omfatte et antall standard IEEE 488 databusser. Ved systemet på fig. 1 er f.eks. tre av disse databusser vist. Databuss 1
er vist som kommunikasjon med to kontrollinnretninger 24 og 26 betegnet 1 og 2. De to kontrollinnretninger 24 og 26 er eksempler og ekstrainstrumenter kan også tilsluttes databuss 1. Dette er mulig fordi hver kontrollinnretning har en adresse kompatibel med databusstrukturen 488. Databuss 2 kommuniserer med en koplingsmatriks 28, mens databuss 3 kommuniserer med et generalisert kontrollinstrument N og har henvisningstallet 30. Som tidligere nevnt i forbindelse med databuss 1, kan ekstra kontrollinstrumenter anvendes for å kommunisere med prosessoren 20 via en av de viste databusser eller via ekstra databusser.
Fig. 2 er et funksjonelt blokkskjema for en typisk kontrollinnretning som er anvendt i det beskrevne system. For eksempel anvendes et DANA 6000 voltmeter som kontrollinstrument fer spenning. Det skal imidlertid bemerkes at DANA 6000 er et typisk kontrollinstrument og andre instru-menter med samme målemuligheter kan anvendes. Hvis systemet skal omformes for å anvende et annet kontrollinstrument, vil datautvekslingen mellom den sentrale prosessor 20 og kontrollinnretningen via databuss 488 ikke bli endret hverken i innhold eller form. Mulige endringer i instrument-ets krav og karakteristikk skjer ved reprogrammering av grensesjiktprosessoren 44.
Fra hardware-standpunkt omfatter kontrollinnretningen på fig. 2 fire -basisseks joner. En første 488 grensesjiktenhet 34 er vist for å kople en programmerbar digital grensesjiktprosessor 44 til IEEE 488 databuss 1. På samme måte kopler en andre 488 grensesjiktenhet 38 grensesjiktprosessoren 44 til kontrollinstrumentet 40 f.eks. et DANA 6000 voltmeter. Funksjonelt kopler den første 488 grensesjiktenhet- 34 grensesjiktprosessoren 44 til 488 databuss for kommunikasjon med den sentrale prosessor 20. Grensesjiktprosessoren 44 godkjenner disse programinstruksjoner fra sentralprosessoren 20 og omformer dem til et format som er akseptabelt for kontrollinstrument og kopler disse instruksjoner til kontrollinstrumentet 40 via en andre IEEE 488 grensesjiktenhet 38. Som reaksjon på instruksjonene fra grensesjiktprosessoren 44 utfører kontrollinstrumentet 40
de bestemte målefunksjoner inkludert det å levere resultatene av målingene tilbake til sentralprosessoren 20.
Det skal bemerkes at oppsetningen av systemet for utførelse av spenningsmålinger ved anvendelse av f.eks.
DANA 6000, blir også tilstrekkelige instruksjoner sendt til koplingsmatriksen 28 fra prosessoren 20 for å forbinde riktige klemmer i DANA 6000 med apparatet 41 som skal kontrolleres. Denne funksjon lettes ved innføringen av koplingsmatriksen 28 og grensesjiktprosessoren.
Driften av kontrollsystemet på fig. 1 skal ikke beskrives under henvisning til en typisk spenningsmåling. Den sentrale digitale prosessor 20 antas å være programmert i Atlas. En kompakt form for Atlas anvendes for kommunikasjon med DANA 6000 via en standard 488 grensesjiktbuss. Spenningsmålinger er en typisk funksjon som utføres av systemet og programmering og drift av systemet for utførelse av andre arter funksjoner er tilsvarende med tilsvarende endringer på bekostning av de forskjellige typer av kontroller som skal foretas.
Spenningsmålingen som skal beskrives i detalj an-vender et DANA 6000 voltmeter og det antas å være innbefattet i måleinstrumentet 1 som en del av denne innretning. For å utføre denne måling må følgende program anvendes:
Sampleprogram
Måling,(spenning) likespenningssignal (anvendelse av DANA 6000) spenning
Atlasprogram for sentralprosessor 20
28,46V, støyundertrykkelse 46 dB, CNX HI Jl-6,LO J3^4 &
open til bryter
kople fra bryter
oppsetning til DANA/IAU
tilslutning til bryter
slutt til bryter
avlesning til DANA/IAU
Kompaktatlas til kontrollinstrument 24
Anta DANA 6000 forbundet som lytter/taler 3
Buss 1
sett opp ordre
ICP T10, L13, SET, DCS, (V), V 28.46V, NREJ 46DB CK ABCD £ £ DANA F1R6T3D1P1I5J1V1^ £
Instruksjon fra grensesjiktprosessor til D ANA 6000
Avles
ICP T10, L13, RED,DCS, (V,4C67) &; CK A476 £ £ Compact DATA TO £ p Atlas
D ANA 6000 til grensesjiktprosessor
Måling sendt tilbake
DANA + 29 5E+2 <£> £ +29.5
K r
ICP T13, L10,MEA, ( 4C67) ,+295E+2V,CK4762 £ £
Fig. 3 viser mere detaljert blokkskjerna for prøve-innretningen som er vist på fig. 2. På fig. 3 er IEEE 488 grensesjiktsjiktenhetene 34 og 38, grensesjiktprosessoren 44 ug måleinstrumentet 4 0 gitt samme henvisningstall som på fig. 2 for å indikere identitet. IEEE grensesjiktenhetene 34 og 38 kommuniserer med grensesjiktprosessoren 44. Grensesjiktprosessoren 44 er en mikroprosessor og har en intern program- eller datahukommelse. Programmer for drift av grensesjiktprosessoren 44 er lagret i en bare avlesbar hukommelse 46. Detaljene for dette program endres fra måleinstrument til måleinstrument og i alle tilfelle vil levere tilstrekkelig data for omforming fra språk som står til rådighet på IEEE 488 bussen i den sentrale prosessor 20 til formatinstruksjoner som er nødvendig for vedkommende kontrollinstrument. Hver måleinnretning vil innbefatte sin egen grensesjiktprosessor som er programmert for at måleinstrumentet som anvendes av kontrollinnretningen gjøres kompatibelt med databussen i sentralprosessoren 20. Dette muliggjør at kontrollinnretninger med kontrollinstrumenter med lignende funksjonsegenskaper lett kan byttes ut.
Ved utførelse av databehandlingen som er nødvendig for å drive kontrollinstrumentet i forbindelse med grensesjiktprosessoren 44 vil det være nødvendig med hukommelse med vilkårlig tilgang for avlesning og innføring. Dette er mulig ved hukommelsen 48 med vilkårlig tilgang. Grensesjiktprosessoren 4 4 kommunikerer med begge disse hukommelser via standard busstrukturen i grensesjiktprosessoren.
Rekkefølgen av operasjoner som grensesjiktprosessoren 44 utfører styres av en avbrytningskrets 50. Avbrytningskretsen 50 mottar inngangssignaler fra en software paritetskontroller 52. Paritetskontrolleren 52 anvendes på alle data inn og ut av IEEE 488 grensesjikten-heten 38 for å sikre at ingen feil er innført. Tidsstyringen av hele operasjonen leveres av en tidsstyrekrets 54.
Fig. 4A-4H viser et komplett koplingsskjerna for grensesjiktprosessoren 44, grensesjiktenhetene 34 og 38, hukommelsene 46 og 48, avbryteren 50 og tidsstyreinnretningen 54. Prikkede linjer er anvendt på fig. 4 for å identifisere funksjonene som er vist på fig. 3. Kretsen på fig. 4 kan settes sammen av standard komponenter med delbetegnelser og fabrikant som angitt. Det er derfor ikke nødvendig med noen detaljert beskrivelse av kretsene på fig. 4.
Sentralprosessoren 20, koplingsmatriksen 28 og de perifere kretser 22 kan også være standardinnretninger. Programmeringsteknikk for den bare avlesbare hukommelse 46 er avhengig av den valgte hukommelse. Imidlertid , i alle tilfelle er egnet programmeringsteknikk til rådighet.
Claims (5)
1.
Automatisk testsystem for tilførsel av testsignaler til enheten (41) som skal bli testet, og for evaluering av reak-sjonen til enheten (41) på testsignalene, innbefattende i kombinasjon
en sentral digital prosessor (2 0) for behandling av testpro-grammer i et høynivåspråk, idet testprogrammene innbefatter flere programsekvenser som hver spesifiserer en test som skal bli utført på en enhet (41) som testes,
flere testanordninger (24, 26, 30) som hver innbefatter et testinstrument (40) og er koblet for å kommunisere med sentraldigitalprosessoren (20) via en første databuss (#1), en brytermatrise (28) tilkoblet sentraldigitalprosessoren (20) via en andre databuss (#2) for å motta bryterkommandoer for å styre strømmen av testsignaler fra testanordningene til enheten som testes, karakterisert ved at hver testanordning (24,26,30) innbefatter en grensesnitt-digitalprosessor (44) programmert for å tilveiebringe kommunikasjonsbaner mellom testinstrumentet (40) til test-anordningen (24, 26, 30) og den sentrale digitale prosessoren (20) ,
at hver av programsekvensene er sendt i en kompakt versjon fra sentraldigitalprosessoren (20) via den første databussen (#1) til i det minste en av grensesnitt-digitalprosessorene (44), og
at grensesnittdigitalprosessorene (44) omformer den kompakte versjonen av programsekvensen til et format godtagbar av en av testinstrumentene (40)I som utfører tester spesifisert av programsekvensene og grensesnittdigitalprosessoren (44) sender resultatet av testene til sentralprosessoren (20).
2.
System ifølge krav 1, karakterisert ved at grensesnittprosessorene (44) omfatter leselager (ROM) (46) for lagring av programmer for å drive grensesnittprosessoren (44).
3.
System ifølge krav 1 eller 2 , karakterisert ved at grensesnittprosessorene (44) omfatter direktelager (RAM) (48) for inn- og avlesning for drift av testinstrumentet tilknyttet grensesnittprosessoren (44).
4.
System ifølge et av de foregående krav, karakterisert ved at hver grensesnittprosessor (44) er koblet med den sentrale prosessor (20) for selektivt å motta instruksjoner fra den sentrale prosessor og som reaksjon av disse å utføre testen spesifisert av instruksjonene og koble resultatene av testen med den sentrale prosessor.
5.
System ifølge krav 4, karakterisert ved at brytermatrisen (28) omfatter en programmerbar grensesnittprosessor for å motta instruksjoner fra den sentrale prosessor (20) og som reaksjon koble en av testanordningene (24, 26, 30) med enheten (41) som skal testes.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/229,029 US4402055A (en) | 1981-01-27 | 1981-01-27 | Automatic test system utilizing interchangeable test devices |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NO812978L NO812978L (no) | 1982-07-28 |
NO162438B true NO162438B (no) | 1989-09-18 |
NO162438C NO162438C (no) | 1989-12-27 |
Family
ID=22859550
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NO812978A NO162438C (no) | 1981-01-27 | 1981-09-02 | Automatisk testsystem. |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4402055A (no) |
EP (1) | EP0056895B1 (no) |
JP (1) | JPS57125818A (no) |
AU (1) | AU7402581A (no) |
CA (1) | CA1174732A (no) |
DE (1) | DE3176236D1 (no) |
DK (1) | DK426981A (no) |
ES (1) | ES505763A0 (no) |
GR (1) | GR75766B (no) |
IE (1) | IE52897B1 (no) |
IL (1) | IL63596A (no) |
NO (1) | NO162438C (no) |
Families Citing this family (96)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3116079A1 (de) * | 1981-04-23 | 1982-11-11 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Pruefsystem |
FR2506045A1 (fr) * | 1981-05-15 | 1982-11-19 | Thomson Csf | Procede et dispositif de selection de circuits integres a haute fiabilite |
US4397021A (en) * | 1981-06-15 | 1983-08-02 | Westinghouse Electric Corp. | Multi-processor automatic test system |
US4517661A (en) * | 1981-07-16 | 1985-05-14 | International Business Machines Corporation | Programmable chip tester having plural pin unit buffers which each store sufficient test data for independent operations by each pin unit |
US4507740A (en) * | 1981-09-08 | 1985-03-26 | Grumman Aerospace Corporation | Programmable signal analyzer |
US4626996A (en) * | 1982-02-17 | 1986-12-02 | British Aerospace Plc | Aircraft data instrumentation and acquisition system |
US4617642A (en) * | 1982-05-06 | 1986-10-14 | Data General Corporation | Select switch responsive to a break code |
EP0095517B1 (de) * | 1982-05-28 | 1985-11-21 | Ibm Deutschland Gmbh | Verfahren und Einrichtung zur automatischen optischen Inspektion |
US4592003A (en) * | 1982-08-12 | 1986-05-27 | Omron Tateisi Electronics Co. | Measuring circuit device |
JPS59111596A (ja) * | 1982-12-16 | 1984-06-27 | 横河電機株式会社 | テストシステム |
US4578761A (en) * | 1983-03-25 | 1986-03-25 | At&T Bell Laboratories | Separating an equivalent circuit into components to detect terminating networks |
US4617663A (en) * | 1983-04-13 | 1986-10-14 | At&T Information Systems Inc. | Interface testing of software systems |
US4538269A (en) * | 1983-04-18 | 1985-08-27 | International Telephone And Telegraph Corporation | Programmable coding and decoding arrangement |
US4590581A (en) * | 1983-05-09 | 1986-05-20 | Valid Logic Systems, Inc. | Method and apparatus for modeling systems of complex circuits |
US4606025A (en) * | 1983-09-28 | 1986-08-12 | International Business Machines Corp. | Automatically testing a plurality of memory arrays on selected memory array testers |
CA1242486A (en) * | 1983-11-25 | 1988-09-27 | John J. Comfort | Automatic test equipment |
US4558426A (en) * | 1983-12-14 | 1985-12-10 | Mcdonnell Douglas Corporation | Transducer multiplexer |
US4644486A (en) * | 1984-01-09 | 1987-02-17 | Hewlett-Packard Company | Vector network analyzer with integral processor |
JPS60195417A (ja) * | 1984-03-19 | 1985-10-03 | Toshiba Corp | 発電プラントの警報監視装置 |
US4630224A (en) * | 1984-04-19 | 1986-12-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Automation initialization of reconfigurable on-line automatic test system |
JPS6125229A (ja) * | 1984-07-13 | 1986-02-04 | Sony Corp | Ic装置 |
ATE49303T1 (de) * | 1984-09-21 | 1990-01-15 | Siemens Ag | Einrichtung fuer die funktionspruefung integrierter schaltkreise. |
US4686627A (en) * | 1984-12-24 | 1987-08-11 | Honeywell Inc. | Electrical test apparatus |
US4937827A (en) * | 1985-03-01 | 1990-06-26 | Mentor Graphics Corporation | Circuit verification accessory |
DE3515802A1 (de) * | 1985-05-02 | 1986-11-06 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Anordnung zur schnellen erzeugung von grossen pruefdatenwortmengen in einer pruefeinrichtung |
US4687107A (en) * | 1985-05-02 | 1987-08-18 | Pennwalt Corporation | Apparatus for sizing and sorting articles |
IE851998L (en) * | 1985-08-14 | 1987-05-11 | Francis Anthony Purcell | Test apparatus for electronic equipment |
US4899306A (en) * | 1985-08-26 | 1990-02-06 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Test interface circuit which generates different interface control signals for different target computers responding to control signals from host computer |
US4706208A (en) * | 1985-09-03 | 1987-11-10 | American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories | Technique for the operational life test of microprocessors |
US4775930A (en) * | 1985-11-12 | 1988-10-04 | Westinghouse Electric Corp. | Electronic key check for ensuring proper cradles insertion by respective processing board |
US4831560A (en) * | 1986-01-15 | 1989-05-16 | Zaleski James V | Method for testing auto electronics systems |
US4744084A (en) * | 1986-02-27 | 1988-05-10 | Mentor Graphics Corporation | Hardware modeling system and method for simulating portions of electrical circuits |
US4719459A (en) * | 1986-03-06 | 1988-01-12 | Grumman Aerospace Corporation | Signal distribution system switching module |
US4864512A (en) * | 1986-08-20 | 1989-09-05 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Measurement apparatus with plural displays of measured parameter and selectable function thereof |
US4841456A (en) * | 1986-09-09 | 1989-06-20 | The Boeing Company | Test system and method using artificial intelligence control |
US5021997A (en) * | 1986-09-29 | 1991-06-04 | At&T Bell Laboratories | Test automation system |
US4816750A (en) * | 1987-01-16 | 1989-03-28 | Teradyne, Inc. | Automatic circuit tester control system |
US4760329A (en) * | 1987-04-23 | 1988-07-26 | Grumman Aerospace Corporation | Programmable tester with bubble memory |
FR2615975A1 (fr) * | 1987-05-29 | 1988-12-02 | Mo Aviat I | Formateur de donnees et testeur automatique mettant des groupes de tels formateurs en application |
US4982325A (en) * | 1988-03-18 | 1991-01-01 | At&T Bell Laboratories | Applications processor module for interfacing to a database system |
US4894829A (en) * | 1988-04-21 | 1990-01-16 | Honeywell Inc. | Comprehensive design and maintenance environment for test program sets |
US4926363A (en) * | 1988-09-30 | 1990-05-15 | Advanced Micro Devices, Inc. | Modular test structure for single chip digital exchange controller |
US5307290A (en) * | 1988-10-18 | 1994-04-26 | Fiat Auto S.P.A. | System for the automatic testing, preferably on a bench, of electronic control systems which are intended to be fitted in vehicles |
JPH07101474B2 (ja) * | 1988-10-20 | 1995-11-01 | ニッタン株式会社 | 監視警報装置 |
CN1045655A (zh) * | 1988-11-23 | 1990-09-26 | 约翰弗兰克制造公司 | 系统自动诊断的内核测试接口和方法 |
US4958347A (en) * | 1988-11-23 | 1990-09-18 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Apparatus, method and data structure for validation of kernel data bus |
US4989207A (en) * | 1988-11-23 | 1991-01-29 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Automatic verification of kernel circuitry based on analysis of memory accesses |
US5293374A (en) * | 1989-03-29 | 1994-03-08 | Hewlett-Packard Company | Measurement system control using real-time clocks and data buffers |
US5036479A (en) * | 1989-04-20 | 1991-07-30 | Trw Inc. | Modular automated avionics test system |
IE80813B1 (en) * | 1989-05-16 | 1999-03-10 | Formia Limited | Electronic test systems |
US5029166A (en) * | 1989-05-31 | 1991-07-02 | At&T Bell Laboratories | Method and apparatus for testing circuit boards |
US5025205A (en) * | 1989-06-22 | 1991-06-18 | Texas Instruments Incorporated | Reconfigurable architecture for logic test system |
US5068852A (en) * | 1989-11-23 | 1991-11-26 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Hardware enhancements for improved performance of memory emulation method |
US5131272A (en) * | 1990-03-15 | 1992-07-21 | Harris Corporation | Portable deployable automatic test system |
EP0454316A3 (en) * | 1990-04-23 | 1993-08-18 | Communications Manufacturing Company | Data terminal for communicating over a telephone circuit |
US5287528A (en) * | 1990-07-03 | 1994-02-15 | National Instruments Corporation | IEEE 488 interface for message handling method |
JP2608167B2 (ja) * | 1990-08-21 | 1997-05-07 | 三菱電機株式会社 | Icテスタ |
US5343144A (en) * | 1991-02-28 | 1994-08-30 | Sony Corporation | Electronic device |
JP2641816B2 (ja) * | 1991-07-23 | 1997-08-20 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路の測定方法 |
US5774377A (en) * | 1991-07-30 | 1998-06-30 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for monitoring a subsystem within a distributed system for providing an archive of events within a certain time of a trap condition |
US5196803A (en) * | 1991-08-01 | 1993-03-23 | Xerox Corporation | Apparatus and method for determining the voltage breakdown and conductivity of particulate material |
US5223788A (en) * | 1991-09-12 | 1993-06-29 | Grumman Aerospace Corporation | Functional avionic core tester |
US5391984A (en) * | 1991-11-01 | 1995-02-21 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Method and apparatus for testing integrated circuit devices |
US5349660A (en) * | 1992-01-24 | 1994-09-20 | Hewlett-Packard Company | Method of improving performance in an automated test system |
US5241277A (en) * | 1992-02-28 | 1993-08-31 | United Technologies Corporation | Test system for automatic testing of insulation resistance, capacitance and attenuation of each contact pair in a filter pin connector |
US5638383A (en) * | 1992-07-24 | 1997-06-10 | Trw Inc. | Advanced integrated avionics testing system |
US5432711A (en) * | 1992-10-16 | 1995-07-11 | Elcon Instruments, Inc. | Interface for use with a process instrumentation system |
JPH06167362A (ja) * | 1992-11-27 | 1994-06-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | マスタ・スレーブ切り替え式計測装置 |
EP0646802B1 (en) * | 1993-09-20 | 1999-08-11 | Hewlett-Packard GmbH | High-throughput testing apparatus |
US5497378A (en) * | 1993-11-02 | 1996-03-05 | International Business Machines Corporation | System and method for testing a circuit network having elements testable by different boundary scan standards |
US5696772A (en) * | 1994-05-06 | 1997-12-09 | Credence Systems Corporation | Test vector compression/decompression system for parallel processing integrated circuit tester |
US5566088A (en) * | 1994-06-13 | 1996-10-15 | Motorola, Inc. | Modular radio test system and method |
US5748642A (en) * | 1995-09-25 | 1998-05-05 | Credence Systems Corporation | Parallel processing integrated circuit tester |
GB2307051B (en) * | 1995-11-06 | 1999-11-03 | Marconi Instruments Ltd | An equipment for testing electronic circuitry |
US5793218A (en) * | 1995-12-15 | 1998-08-11 | Lear Astronics Corporation | Generic interface test adapter |
FR2751082B1 (fr) * | 1996-07-10 | 1998-11-06 | Aerospatiale | Dispositif de commutation notamment de systeme sous test |
US6134674A (en) * | 1997-02-28 | 2000-10-17 | Sony Corporation | Computer based test operating system |
US6064721A (en) | 1997-10-22 | 2000-05-16 | Telecommunications Techniques Corporation | Modular test instrument |
US6100815A (en) * | 1997-12-24 | 2000-08-08 | Electro Scientific Industries, Inc. | Compound switching matrix for probing and interconnecting devices under test to measurement equipment |
US6891803B1 (en) | 1998-12-18 | 2005-05-10 | Sunrise Telecom, Inc. | Telecommunications transmission test set |
US6269319B1 (en) * | 1999-01-29 | 2001-07-31 | The Mcdonnell Douglas Corporation | Reconfigurable integration test station |
US6629048B1 (en) * | 2000-11-20 | 2003-09-30 | Tektronix, Inc. | Measurement test instrument and associated voltage management system for accessory device |
US6971045B1 (en) | 2002-05-20 | 2005-11-29 | Cyress Semiconductor Corp. | Reducing tester channels for high pinout integrated circuits |
US6966019B2 (en) * | 2002-06-28 | 2005-11-15 | Teradyne, Inc. | Instrument initiated communication for automatic test equipment |
WO2004003583A1 (en) * | 2002-06-28 | 2004-01-08 | Teradyne, Inc. | Instrument initiated communication for automatic test equipment |
US20040066794A1 (en) * | 2002-10-08 | 2004-04-08 | Hill Gregory S. | Instrument module locator |
US7188044B1 (en) * | 2004-07-29 | 2007-03-06 | National Semiconductor Corporation | World-wide distributed testing for integrated circuits |
US7627456B2 (en) * | 2005-02-03 | 2009-12-01 | Raytheon Company | Dynamically tasking one or more surveillance resources |
ES2303415B2 (es) * | 2005-10-20 | 2010-03-04 | Universidad De Malaga | Banco de ensayos automatizado para ensayos de rutina segun dc 73/23/cee. |
US7532492B2 (en) * | 2005-12-20 | 2009-05-12 | Tektronix, Inc. | Host controlled voltage input system for an accessory device |
US20080133308A1 (en) * | 2006-11-27 | 2008-06-05 | Harris James E | Leakage location methods |
US7707000B2 (en) * | 2007-04-19 | 2010-04-27 | Agilent Technologies, Inc. | Test instrument and system responsive to execution time data |
US20090300534A1 (en) * | 2008-05-30 | 2009-12-03 | Trilithic, Inc. | Apparatus and method for displaying network status |
US20100064078A1 (en) * | 2008-08-15 | 2010-03-11 | Powell Thomas J | Wireless communication between testing instrument and network |
US9672127B2 (en) * | 2015-04-16 | 2017-06-06 | Teradyne, Inc. | Bus interface system for interfacing to different buses |
US20180225249A1 (en) * | 2017-02-08 | 2018-08-09 | Automatic Labs, Inc. | Application-specific integrated circuit configured to interface with automotive diagnostic port |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3694632A (en) * | 1969-12-31 | 1972-09-26 | Hawker Siddeley Dynamics Ltd | Automatic test equipment utilizing a matrix of digital differential analyzer integrators to generate interrogation signals |
US3854125A (en) * | 1971-06-15 | 1974-12-10 | Instrumentation Engineering | Automated diagnostic testing system |
US3825901A (en) * | 1972-11-09 | 1974-07-23 | Ibm | Integrated diagnostic tool |
GB1504112A (en) * | 1976-03-17 | 1978-03-15 | Ibm | Interactive enquiry systems |
US4212059A (en) * | 1977-03-14 | 1980-07-08 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. | Information processing system |
US4200930A (en) * | 1977-05-23 | 1980-04-29 | Burroughs Corporation | Adapter cluster module for data communications subsystem |
US4174805A (en) * | 1978-04-13 | 1979-11-20 | Ncr Corporation | Method and apparatus for transmitting data to a predefined destination bus |
US4280220A (en) * | 1979-09-17 | 1981-07-21 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | Electronic testing system |
-
1981
- 1981-01-27 US US06/229,029 patent/US4402055A/en not_active Expired - Fee Related
- 1981-08-10 IE IE1825/81A patent/IE52897B1/en unknown
- 1981-08-12 AU AU74025/81A patent/AU7402581A/en not_active Abandoned
- 1981-08-17 IL IL63596A patent/IL63596A/xx unknown
- 1981-09-02 NO NO812978A patent/NO162438C/no unknown
- 1981-09-04 GR GR65953A patent/GR75766B/el unknown
- 1981-09-15 CA CA000385929A patent/CA1174732A/en not_active Expired
- 1981-09-16 EP EP81304251A patent/EP0056895B1/en not_active Expired
- 1981-09-16 DE DE8181304251T patent/DE3176236D1/de not_active Expired
- 1981-09-24 ES ES505763A patent/ES505763A0/es active Granted
- 1981-09-25 DK DK426981A patent/DK426981A/da not_active Application Discontinuation
- 1981-09-25 JP JP56150851A patent/JPS57125818A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ES8303752A1 (es) | 1983-02-01 |
NO162438C (no) | 1989-12-27 |
ES505763A0 (es) | 1983-02-01 |
EP0056895B1 (en) | 1987-06-03 |
EP0056895A2 (en) | 1982-08-04 |
IE52897B1 (en) | 1988-04-13 |
DE3176236D1 (en) | 1987-07-09 |
EP0056895A3 (en) | 1983-11-16 |
JPS57125818A (en) | 1982-08-05 |
DK426981A (da) | 1982-07-28 |
CA1174732A (en) | 1984-09-18 |
AU7402581A (en) | 1982-08-05 |
IE811825L (en) | 1982-07-27 |
IL63596A (en) | 1984-07-31 |
US4402055A (en) | 1983-08-30 |
NO812978L (no) | 1982-07-28 |
GR75766B (no) | 1984-08-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NO162438B (no) | Automatisk testsystem. | |
US4300207A (en) | Multiple matrix switching system | |
EP0067496B1 (en) | Automatic test system | |
US4125763A (en) | Automatic tester for microprocessor board | |
US4196386A (en) | Method and portable apparatus for testing digital printed circuit boards | |
KR100471544B1 (ko) | 실장과 에이티이가 통합된 반도체 소자 테스트 장치 | |
US20200064405A1 (en) | Combinatorial serial and parallel test access port selection in a jtag interface | |
US5515382A (en) | Process for testing the operation of an application specific integrated circuit and application specific integrated circuit relating thereto | |
EP0073630B1 (en) | Apparatus for external control of computer program flow | |
US4174805A (en) | Method and apparatus for transmitting data to a predefined destination bus | |
NO843374L (no) | Undersoekelses og vedlikeholdsmetode for et databehandlingssystem og anordning til metodens utfoerelse | |
US4422141A (en) | Microprocessor architecture for improved chip testability | |
US4563736A (en) | Memory architecture for facilitating optimum replaceable unit (ORU) detection and diagnosis | |
US3814920A (en) | Employing variable clock rate | |
EP0157028B1 (en) | Programmable tester | |
US5339320A (en) | Architecture of circuitry for generating test mode signals | |
US7404122B2 (en) | Mapping logic for loading control of crossbar multiplexer select RAM | |
US5965957A (en) | Switching apparatus, in particular for systems under test | |
US20040064763A1 (en) | Apparatus and method for a trace system on a chip having multiple processing units | |
US5121393A (en) | System for testing a microprocessor | |
US4462029A (en) | Command bus | |
CN113533930B (zh) | 单板测试装置和方法 | |
JP2611359B2 (ja) | 半導体テストシステム | |
KR20010043554A (ko) | 스캔 레지스터 체인을 포함하는 집적 회로 | |
JPH10253714A (ja) | 電子部品の測定装置及びこの測定装置を用いた電子部品の測定方法 |