NO162438B - Automatisk testsystem. - Google Patents

Automatisk testsystem. Download PDF

Info

Publication number
NO162438B
NO162438B NO812978A NO812978A NO162438B NO 162438 B NO162438 B NO 162438B NO 812978 A NO812978 A NO 812978A NO 812978 A NO812978 A NO 812978A NO 162438 B NO162438 B NO 162438B
Authority
NO
Norway
Prior art keywords
test
processor
interface
central
digital
Prior art date
Application number
NO812978A
Other languages
English (en)
Other versions
NO162438C (no
NO812978L (no
Inventor
Raymond Allen Lloyd
Larry Lee Charles
William Francis Susie
Allen Wesley Tate Jr
James Richard Reeder
Original Assignee
Westinghouse Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Westinghouse Electric Corp filed Critical Westinghouse Electric Corp
Publication of NO812978L publication Critical patent/NO812978L/no
Publication of NO162438B publication Critical patent/NO162438B/no
Publication of NO162438C publication Critical patent/NO162438C/no

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31907Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G01R31/318342Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences by preliminary fault modelling, e.g. analysis, simulation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31912Tester/user interface
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • G01R31/31926Routing signals to or from the device under test [DUT], e.g. switch matrix, pin multiplexing
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2201/00Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
    • G06F2201/865Monitoring of software

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
  • Selective Calling Equipment (AREA)
  • Hardware Redundancy (AREA)
  • Preparation Of Compounds By Using Micro-Organisms (AREA)

Description

Foreliggende oppfinnelse angår et automatisk testsystem for tilførsel av testsignaler av den art som angitt i innledningen til krav 1.
Tidligere kjente automatiske testsystemer har
anvendt en vanlig digital datamaskin som er programmert for å betjene et antall testinstrumenter via prosessorens utgang. Ved slike systemer leveres instrumentene fra forskjellige fabrikanter som hver krever sine bestemte instruksjoner for å utføre bestemte testfunksjoner. Ved disse systemer er det nødvendig å reprogrammere digitalprosessoren for å endre testinstrumentet til sin funksjonelle ekvivalent, f.eks. de forskjellige fabrikanter.
Hensikten med oppfinnelsen er å tilveiebringe et forbedret automatisk testsystem for å overvinne manglene ved de kjente systemer.
Videre er formålet med oppfinnelsen å tilveiebringe
et forbedret automatisk testsystem for testing av flere bestemte testinstrumenter, som hvert har deres eget bestemte sett med testinstruksjoner, fra en enkel prosess og ut-gangsbuss ved å anvende et høynivåspråk.
Typiske tidligere kjente systemer har fordelt arkitekturskjemaene, men bruker fremdeles en sentral prosessor kun for å kontrollere syntaksen til testinstruk-sjonene og krever fremdeles programmering for hvert testinstrument.
US patent nr. 4 212 059 beskriver et system ved hvilket en mikroprosessor utfører operatørstyringen fra konsollen i både drifts- og vedlikeholdsmodiene.
Britisk patent nr. 2 019 013 viser to prosessorer
ved forskjellige operasjonshastigheter for å teste anordninger ved hvilke mikroprosessortrykte kretser og klokkegene-rerte kretser er på samme anordning.
Britisk patent nr. 1 401 194 viser ruting av testsignaler til de forskjellige anordninger ved hjelp av en mikroprosessor.
Foreliggende oppfinnelse har til formål å unngå begrensningen ved reprogranunering for hvert testinstrument iboende i alle tidligere kjente systemer.
Ved foreliggende oppfinnelse er formålet å anvende
en programmerbar prosessor for å frembringe en kompakt versjon av et høynivåspråk, og så bruke kompaktversjonen for å teste forskjellige testenheter. På denne måten unngås om-programmering for hvert testinstrument i motsetning til de ved tidligere kjente anordninger.
Ovenfornevnte tilveiebringes ved hjelp av testsys-temet angitt i innledningen og hvis karakteristiske trekk fremgår av karakteristikken til krav 1.
Ytterligere trekk ved oppfinnelsen vil fremgå av kravene 2-5.
Et utførelseseksempel på oppfinnelsen skal nedenfor forklares nærmere under henvisning til tegningene. Fig. 1 viser et blokkskjerna for det foretrukne ut-førelseseksempel på oppfinnelsen. Fig. 2 viser et forenklet blokkskjema for en kontrollinnretning anvendbar i systemet som er vist på fig. 1, Fig. 3 viser et funksjonsskjema for en typisk kontrollinnretning. Fig. 4A-4H viser et komplett koplingsskjerna innbefattet delbetegnelsesnummer og fabrikant for grensesjiktprosessoren og I/O-kanalene, hukommelsene og koplingskretsene.
Utførelseseksempelet på fig. 1 omfatter en vanlig sentral digitalprosessor 20 som kommuniserer med operatøren via et antall perifere innretninger 22. De perifere innretninger 22 kan f.eks. omfatte skrivemaskiner, teleprintere, ytre hukommelser og andre innretninger generelt anvendt som I/O, perifere innretninger for digitalprosessorer. Den sentrale digitalprosessor 20 kommuniserer med forskjellige kontrollinnretninger for utførelse av kontroller via en standard IEEE 4 88 busstruktur. Typiske kontrollinnretninger er antydet med henvisningstallene 24,26 og 30. IEEE 488 busstrukturen er vel kjent og skal ikke beskrives nærmere her. Andre databusser er også brukbare.
Ved de fleste anvendelser vil kontrollsystemet på fig. 1 bli programmert for å utføre forskjellige kontroller av et apparat som skal kontrolleres. Et apparat som skal kontrolleres er betegnet UUT og kan være et radarsystem med henvisningstallet 41. Det kan f.eks. være nødvendig at systemet leverer et matespenning, strøm eller en signal-frekvens til apparatet som skal kontrolleres og det kan være nødvendig å måle apparatets reaksjoner under kontrollen i form av spenning, strøm, frekvens eller andre kjente elektriske parametere. Det kan også stå til rådighet mange programmerbare digitale kontrollinstrumenter på markedet for å utføre disse kontrollfunksjoner og betjene et antall av disse slik det skal beskrives nærmere nedenfor. Hver fabrikant av en type kontrollinstrumenter f.eks. voltmetere har imidlertid.forskjellig grensesjiktkrav, dvs. logisk nivå, ordrestruktur, ordreformat, tilkoplingsutstyr og ordreprogram som gjør omkopling av et kontrollsystem for et utskiftbart kontrollinstrument for en samme eller forskjellig fabrikant vanskelig fordi tidligere kjente systemer ikke har noen mulighet for å kompensere slike forskjeller uten å reprogrammere den sentrale prosessor.
En typisk sentral digital prosessor 20 vil omfatte et antall standard IEEE 488 databusser. Ved systemet på fig. 1 er f.eks. tre av disse databusser vist. Databuss 1
er vist som kommunikasjon med to kontrollinnretninger 24 og 26 betegnet 1 og 2. De to kontrollinnretninger 24 og 26 er eksempler og ekstrainstrumenter kan også tilsluttes databuss 1. Dette er mulig fordi hver kontrollinnretning har en adresse kompatibel med databusstrukturen 488. Databuss 2 kommuniserer med en koplingsmatriks 28, mens databuss 3 kommuniserer med et generalisert kontrollinstrument N og har henvisningstallet 30. Som tidligere nevnt i forbindelse med databuss 1, kan ekstra kontrollinstrumenter anvendes for å kommunisere med prosessoren 20 via en av de viste databusser eller via ekstra databusser.
Fig. 2 er et funksjonelt blokkskjema for en typisk kontrollinnretning som er anvendt i det beskrevne system. For eksempel anvendes et DANA 6000 voltmeter som kontrollinstrument fer spenning. Det skal imidlertid bemerkes at DANA 6000 er et typisk kontrollinstrument og andre instru-menter med samme målemuligheter kan anvendes. Hvis systemet skal omformes for å anvende et annet kontrollinstrument, vil datautvekslingen mellom den sentrale prosessor 20 og kontrollinnretningen via databuss 488 ikke bli endret hverken i innhold eller form. Mulige endringer i instrument-ets krav og karakteristikk skjer ved reprogrammering av grensesjiktprosessoren 44.
Fra hardware-standpunkt omfatter kontrollinnretningen på fig. 2 fire -basisseks joner. En første 488 grensesjiktenhet 34 er vist for å kople en programmerbar digital grensesjiktprosessor 44 til IEEE 488 databuss 1. På samme måte kopler en andre 488 grensesjiktenhet 38 grensesjiktprosessoren 44 til kontrollinstrumentet 40 f.eks. et DANA 6000 voltmeter. Funksjonelt kopler den første 488 grensesjiktenhet- 34 grensesjiktprosessoren 44 til 488 databuss for kommunikasjon med den sentrale prosessor 20. Grensesjiktprosessoren 44 godkjenner disse programinstruksjoner fra sentralprosessoren 20 og omformer dem til et format som er akseptabelt for kontrollinstrument og kopler disse instruksjoner til kontrollinstrumentet 40 via en andre IEEE 488 grensesjiktenhet 38. Som reaksjon på instruksjonene fra grensesjiktprosessoren 44 utfører kontrollinstrumentet 40
de bestemte målefunksjoner inkludert det å levere resultatene av målingene tilbake til sentralprosessoren 20.
Det skal bemerkes at oppsetningen av systemet for utførelse av spenningsmålinger ved anvendelse av f.eks.
DANA 6000, blir også tilstrekkelige instruksjoner sendt til koplingsmatriksen 28 fra prosessoren 20 for å forbinde riktige klemmer i DANA 6000 med apparatet 41 som skal kontrolleres. Denne funksjon lettes ved innføringen av koplingsmatriksen 28 og grensesjiktprosessoren.
Driften av kontrollsystemet på fig. 1 skal ikke beskrives under henvisning til en typisk spenningsmåling. Den sentrale digitale prosessor 20 antas å være programmert i Atlas. En kompakt form for Atlas anvendes for kommunikasjon med DANA 6000 via en standard 488 grensesjiktbuss. Spenningsmålinger er en typisk funksjon som utføres av systemet og programmering og drift av systemet for utførelse av andre arter funksjoner er tilsvarende med tilsvarende endringer på bekostning av de forskjellige typer av kontroller som skal foretas.
Spenningsmålingen som skal beskrives i detalj an-vender et DANA 6000 voltmeter og det antas å være innbefattet i måleinstrumentet 1 som en del av denne innretning. For å utføre denne måling må følgende program anvendes:
Sampleprogram
Måling,(spenning) likespenningssignal (anvendelse av DANA 6000) spenning
Atlasprogram for sentralprosessor 20
28,46V, støyundertrykkelse 46 dB, CNX HI Jl-6,LO J3^4 &
open til bryter
kople fra bryter
oppsetning til DANA/IAU
tilslutning til bryter
slutt til bryter
avlesning til DANA/IAU
Kompaktatlas til kontrollinstrument 24
Anta DANA 6000 forbundet som lytter/taler 3
Buss 1
sett opp ordre
ICP T10, L13, SET, DCS, (V), V 28.46V, NREJ 46DB CK ABCD £ £ DANA F1R6T3D1P1I5J1V1^ £
Instruksjon fra grensesjiktprosessor til D ANA 6000
Avles
ICP T10, L13, RED,DCS, (V,4C67) &; CK A476 £ £ Compact DATA TO £ p Atlas
D ANA 6000 til grensesjiktprosessor
Måling sendt tilbake
DANA + 29 5E+2 <£> £ +29.5
K r
ICP T13, L10,MEA, ( 4C67) ,+295E+2V,CK4762 £ £
Fig. 3 viser mere detaljert blokkskjerna for prøve-innretningen som er vist på fig. 2. På fig. 3 er IEEE 488 grensesjiktsjiktenhetene 34 og 38, grensesjiktprosessoren 44 ug måleinstrumentet 4 0 gitt samme henvisningstall som på fig. 2 for å indikere identitet. IEEE grensesjiktenhetene 34 og 38 kommuniserer med grensesjiktprosessoren 44. Grensesjiktprosessoren 44 er en mikroprosessor og har en intern program- eller datahukommelse. Programmer for drift av grensesjiktprosessoren 44 er lagret i en bare avlesbar hukommelse 46. Detaljene for dette program endres fra måleinstrument til måleinstrument og i alle tilfelle vil levere tilstrekkelig data for omforming fra språk som står til rådighet på IEEE 488 bussen i den sentrale prosessor 20 til formatinstruksjoner som er nødvendig for vedkommende kontrollinstrument. Hver måleinnretning vil innbefatte sin egen grensesjiktprosessor som er programmert for at måleinstrumentet som anvendes av kontrollinnretningen gjøres kompatibelt med databussen i sentralprosessoren 20. Dette muliggjør at kontrollinnretninger med kontrollinstrumenter med lignende funksjonsegenskaper lett kan byttes ut.
Ved utførelse av databehandlingen som er nødvendig for å drive kontrollinstrumentet i forbindelse med grensesjiktprosessoren 44 vil det være nødvendig med hukommelse med vilkårlig tilgang for avlesning og innføring. Dette er mulig ved hukommelsen 48 med vilkårlig tilgang. Grensesjiktprosessoren 4 4 kommunikerer med begge disse hukommelser via standard busstrukturen i grensesjiktprosessoren.
Rekkefølgen av operasjoner som grensesjiktprosessoren 44 utfører styres av en avbrytningskrets 50. Avbrytningskretsen 50 mottar inngangssignaler fra en software paritetskontroller 52. Paritetskontrolleren 52 anvendes på alle data inn og ut av IEEE 488 grensesjikten-heten 38 for å sikre at ingen feil er innført. Tidsstyringen av hele operasjonen leveres av en tidsstyrekrets 54.
Fig. 4A-4H viser et komplett koplingsskjerna for grensesjiktprosessoren 44, grensesjiktenhetene 34 og 38, hukommelsene 46 og 48, avbryteren 50 og tidsstyreinnretningen 54. Prikkede linjer er anvendt på fig. 4 for å identifisere funksjonene som er vist på fig. 3. Kretsen på fig. 4 kan settes sammen av standard komponenter med delbetegnelser og fabrikant som angitt. Det er derfor ikke nødvendig med noen detaljert beskrivelse av kretsene på fig. 4.
Sentralprosessoren 20, koplingsmatriksen 28 og de perifere kretser 22 kan også være standardinnretninger. Programmeringsteknikk for den bare avlesbare hukommelse 46 er avhengig av den valgte hukommelse. Imidlertid , i alle tilfelle er egnet programmeringsteknikk til rådighet.

Claims (5)

1. Automatisk testsystem for tilførsel av testsignaler til enheten (41) som skal bli testet, og for evaluering av reak-sjonen til enheten (41) på testsignalene, innbefattende i kombinasjon en sentral digital prosessor (2 0) for behandling av testpro-grammer i et høynivåspråk, idet testprogrammene innbefatter flere programsekvenser som hver spesifiserer en test som skal bli utført på en enhet (41) som testes, flere testanordninger (24, 26, 30) som hver innbefatter et testinstrument (40) og er koblet for å kommunisere med sentraldigitalprosessoren (20) via en første databuss (#1), en brytermatrise (28) tilkoblet sentraldigitalprosessoren (20) via en andre databuss (#2) for å motta bryterkommandoer for å styre strømmen av testsignaler fra testanordningene til enheten som testes, karakterisert ved at hver testanordning (24,26,30) innbefatter en grensesnitt-digitalprosessor (44) programmert for å tilveiebringe kommunikasjonsbaner mellom testinstrumentet (40) til test-anordningen (24, 26, 30) og den sentrale digitale prosessoren (20) , at hver av programsekvensene er sendt i en kompakt versjon fra sentraldigitalprosessoren (20) via den første databussen (#1) til i det minste en av grensesnitt-digitalprosessorene (44), og at grensesnittdigitalprosessorene (44) omformer den kompakte versjonen av programsekvensen til et format godtagbar av en av testinstrumentene (40)I som utfører tester spesifisert av programsekvensene og grensesnittdigitalprosessoren (44) sender resultatet av testene til sentralprosessoren (20).
2. System ifølge krav 1, karakterisert ved at grensesnittprosessorene (44) omfatter leselager (ROM) (46) for lagring av programmer for å drive grensesnittprosessoren (44).
3. System ifølge krav 1 eller 2 , karakterisert ved at grensesnittprosessorene (44) omfatter direktelager (RAM) (48) for inn- og avlesning for drift av testinstrumentet tilknyttet grensesnittprosessoren (44).
4. System ifølge et av de foregående krav, karakterisert ved at hver grensesnittprosessor (44) er koblet med den sentrale prosessor (20) for selektivt å motta instruksjoner fra den sentrale prosessor og som reaksjon av disse å utføre testen spesifisert av instruksjonene og koble resultatene av testen med den sentrale prosessor.
5. System ifølge krav 4, karakterisert ved at brytermatrisen (28) omfatter en programmerbar grensesnittprosessor for å motta instruksjoner fra den sentrale prosessor (20) og som reaksjon koble en av testanordningene (24, 26, 30) med enheten (41) som skal testes.
NO812978A 1981-01-27 1981-09-02 Automatisk testsystem. NO162438C (no)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/229,029 US4402055A (en) 1981-01-27 1981-01-27 Automatic test system utilizing interchangeable test devices

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NO812978L NO812978L (no) 1982-07-28
NO162438B true NO162438B (no) 1989-09-18
NO162438C NO162438C (no) 1989-12-27

Family

ID=22859550

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NO812978A NO162438C (no) 1981-01-27 1981-09-02 Automatisk testsystem.

Country Status (12)

Country Link
US (1) US4402055A (no)
EP (1) EP0056895B1 (no)
JP (1) JPS57125818A (no)
AU (1) AU7402581A (no)
CA (1) CA1174732A (no)
DE (1) DE3176236D1 (no)
DK (1) DK426981A (no)
ES (1) ES505763A0 (no)
GR (1) GR75766B (no)
IE (1) IE52897B1 (no)
IL (1) IL63596A (no)
NO (1) NO162438C (no)

Families Citing this family (96)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3116079A1 (de) * 1981-04-23 1982-11-11 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Pruefsystem
FR2506045A1 (fr) * 1981-05-15 1982-11-19 Thomson Csf Procede et dispositif de selection de circuits integres a haute fiabilite
US4397021A (en) * 1981-06-15 1983-08-02 Westinghouse Electric Corp. Multi-processor automatic test system
US4517661A (en) * 1981-07-16 1985-05-14 International Business Machines Corporation Programmable chip tester having plural pin unit buffers which each store sufficient test data for independent operations by each pin unit
US4507740A (en) * 1981-09-08 1985-03-26 Grumman Aerospace Corporation Programmable signal analyzer
US4626996A (en) * 1982-02-17 1986-12-02 British Aerospace Plc Aircraft data instrumentation and acquisition system
US4617642A (en) * 1982-05-06 1986-10-14 Data General Corporation Select switch responsive to a break code
EP0095517B1 (de) * 1982-05-28 1985-11-21 Ibm Deutschland Gmbh Verfahren und Einrichtung zur automatischen optischen Inspektion
US4592003A (en) * 1982-08-12 1986-05-27 Omron Tateisi Electronics Co. Measuring circuit device
JPS59111596A (ja) * 1982-12-16 1984-06-27 横河電機株式会社 テストシステム
US4578761A (en) * 1983-03-25 1986-03-25 At&T Bell Laboratories Separating an equivalent circuit into components to detect terminating networks
US4617663A (en) * 1983-04-13 1986-10-14 At&T Information Systems Inc. Interface testing of software systems
US4538269A (en) * 1983-04-18 1985-08-27 International Telephone And Telegraph Corporation Programmable coding and decoding arrangement
US4590581A (en) * 1983-05-09 1986-05-20 Valid Logic Systems, Inc. Method and apparatus for modeling systems of complex circuits
US4606025A (en) * 1983-09-28 1986-08-12 International Business Machines Corp. Automatically testing a plurality of memory arrays on selected memory array testers
CA1242486A (en) * 1983-11-25 1988-09-27 John J. Comfort Automatic test equipment
US4558426A (en) * 1983-12-14 1985-12-10 Mcdonnell Douglas Corporation Transducer multiplexer
US4644486A (en) * 1984-01-09 1987-02-17 Hewlett-Packard Company Vector network analyzer with integral processor
JPS60195417A (ja) * 1984-03-19 1985-10-03 Toshiba Corp 発電プラントの警報監視装置
US4630224A (en) * 1984-04-19 1986-12-16 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Automation initialization of reconfigurable on-line automatic test system
JPS6125229A (ja) * 1984-07-13 1986-02-04 Sony Corp Ic装置
ATE49303T1 (de) * 1984-09-21 1990-01-15 Siemens Ag Einrichtung fuer die funktionspruefung integrierter schaltkreise.
US4686627A (en) * 1984-12-24 1987-08-11 Honeywell Inc. Electrical test apparatus
US4937827A (en) * 1985-03-01 1990-06-26 Mentor Graphics Corporation Circuit verification accessory
DE3515802A1 (de) * 1985-05-02 1986-11-06 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Anordnung zur schnellen erzeugung von grossen pruefdatenwortmengen in einer pruefeinrichtung
US4687107A (en) * 1985-05-02 1987-08-18 Pennwalt Corporation Apparatus for sizing and sorting articles
IE851998L (en) * 1985-08-14 1987-05-11 Francis Anthony Purcell Test apparatus for electronic equipment
US4899306A (en) * 1985-08-26 1990-02-06 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Test interface circuit which generates different interface control signals for different target computers responding to control signals from host computer
US4706208A (en) * 1985-09-03 1987-11-10 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Technique for the operational life test of microprocessors
US4775930A (en) * 1985-11-12 1988-10-04 Westinghouse Electric Corp. Electronic key check for ensuring proper cradles insertion by respective processing board
US4831560A (en) * 1986-01-15 1989-05-16 Zaleski James V Method for testing auto electronics systems
US4744084A (en) * 1986-02-27 1988-05-10 Mentor Graphics Corporation Hardware modeling system and method for simulating portions of electrical circuits
US4719459A (en) * 1986-03-06 1988-01-12 Grumman Aerospace Corporation Signal distribution system switching module
US4864512A (en) * 1986-08-20 1989-09-05 John Fluke Mfg. Co., Inc. Measurement apparatus with plural displays of measured parameter and selectable function thereof
US4841456A (en) * 1986-09-09 1989-06-20 The Boeing Company Test system and method using artificial intelligence control
US5021997A (en) * 1986-09-29 1991-06-04 At&T Bell Laboratories Test automation system
US4816750A (en) * 1987-01-16 1989-03-28 Teradyne, Inc. Automatic circuit tester control system
US4760329A (en) * 1987-04-23 1988-07-26 Grumman Aerospace Corporation Programmable tester with bubble memory
FR2615975A1 (fr) * 1987-05-29 1988-12-02 Mo Aviat I Formateur de donnees et testeur automatique mettant des groupes de tels formateurs en application
US4982325A (en) * 1988-03-18 1991-01-01 At&T Bell Laboratories Applications processor module for interfacing to a database system
US4894829A (en) * 1988-04-21 1990-01-16 Honeywell Inc. Comprehensive design and maintenance environment for test program sets
US4926363A (en) * 1988-09-30 1990-05-15 Advanced Micro Devices, Inc. Modular test structure for single chip digital exchange controller
US5307290A (en) * 1988-10-18 1994-04-26 Fiat Auto S.P.A. System for the automatic testing, preferably on a bench, of electronic control systems which are intended to be fitted in vehicles
JPH07101474B2 (ja) * 1988-10-20 1995-11-01 ニッタン株式会社 監視警報装置
CN1045655A (zh) * 1988-11-23 1990-09-26 约翰弗兰克制造公司 系统自动诊断的内核测试接口和方法
US4958347A (en) * 1988-11-23 1990-09-18 John Fluke Mfg. Co., Inc. Apparatus, method and data structure for validation of kernel data bus
US4989207A (en) * 1988-11-23 1991-01-29 John Fluke Mfg. Co., Inc. Automatic verification of kernel circuitry based on analysis of memory accesses
US5293374A (en) * 1989-03-29 1994-03-08 Hewlett-Packard Company Measurement system control using real-time clocks and data buffers
US5036479A (en) * 1989-04-20 1991-07-30 Trw Inc. Modular automated avionics test system
IE80813B1 (en) * 1989-05-16 1999-03-10 Formia Limited Electronic test systems
US5029166A (en) * 1989-05-31 1991-07-02 At&T Bell Laboratories Method and apparatus for testing circuit boards
US5025205A (en) * 1989-06-22 1991-06-18 Texas Instruments Incorporated Reconfigurable architecture for logic test system
US5068852A (en) * 1989-11-23 1991-11-26 John Fluke Mfg. Co., Inc. Hardware enhancements for improved performance of memory emulation method
US5131272A (en) * 1990-03-15 1992-07-21 Harris Corporation Portable deployable automatic test system
EP0454316A3 (en) * 1990-04-23 1993-08-18 Communications Manufacturing Company Data terminal for communicating over a telephone circuit
US5287528A (en) * 1990-07-03 1994-02-15 National Instruments Corporation IEEE 488 interface for message handling method
JP2608167B2 (ja) * 1990-08-21 1997-05-07 三菱電機株式会社 Icテスタ
US5343144A (en) * 1991-02-28 1994-08-30 Sony Corporation Electronic device
JP2641816B2 (ja) * 1991-07-23 1997-08-20 三菱電機株式会社 半導体集積回路の測定方法
US5774377A (en) * 1991-07-30 1998-06-30 Hewlett-Packard Company Method and apparatus for monitoring a subsystem within a distributed system for providing an archive of events within a certain time of a trap condition
US5196803A (en) * 1991-08-01 1993-03-23 Xerox Corporation Apparatus and method for determining the voltage breakdown and conductivity of particulate material
US5223788A (en) * 1991-09-12 1993-06-29 Grumman Aerospace Corporation Functional avionic core tester
US5391984A (en) * 1991-11-01 1995-02-21 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Method and apparatus for testing integrated circuit devices
US5349660A (en) * 1992-01-24 1994-09-20 Hewlett-Packard Company Method of improving performance in an automated test system
US5241277A (en) * 1992-02-28 1993-08-31 United Technologies Corporation Test system for automatic testing of insulation resistance, capacitance and attenuation of each contact pair in a filter pin connector
US5638383A (en) * 1992-07-24 1997-06-10 Trw Inc. Advanced integrated avionics testing system
US5432711A (en) * 1992-10-16 1995-07-11 Elcon Instruments, Inc. Interface for use with a process instrumentation system
JPH06167362A (ja) * 1992-11-27 1994-06-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd マスタ・スレーブ切り替え式計測装置
EP0646802B1 (en) * 1993-09-20 1999-08-11 Hewlett-Packard GmbH High-throughput testing apparatus
US5497378A (en) * 1993-11-02 1996-03-05 International Business Machines Corporation System and method for testing a circuit network having elements testable by different boundary scan standards
US5696772A (en) * 1994-05-06 1997-12-09 Credence Systems Corporation Test vector compression/decompression system for parallel processing integrated circuit tester
US5566088A (en) * 1994-06-13 1996-10-15 Motorola, Inc. Modular radio test system and method
US5748642A (en) * 1995-09-25 1998-05-05 Credence Systems Corporation Parallel processing integrated circuit tester
GB2307051B (en) * 1995-11-06 1999-11-03 Marconi Instruments Ltd An equipment for testing electronic circuitry
US5793218A (en) * 1995-12-15 1998-08-11 Lear Astronics Corporation Generic interface test adapter
FR2751082B1 (fr) * 1996-07-10 1998-11-06 Aerospatiale Dispositif de commutation notamment de systeme sous test
US6134674A (en) * 1997-02-28 2000-10-17 Sony Corporation Computer based test operating system
US6064721A (en) 1997-10-22 2000-05-16 Telecommunications Techniques Corporation Modular test instrument
US6100815A (en) * 1997-12-24 2000-08-08 Electro Scientific Industries, Inc. Compound switching matrix for probing and interconnecting devices under test to measurement equipment
US6891803B1 (en) 1998-12-18 2005-05-10 Sunrise Telecom, Inc. Telecommunications transmission test set
US6269319B1 (en) * 1999-01-29 2001-07-31 The Mcdonnell Douglas Corporation Reconfigurable integration test station
US6629048B1 (en) * 2000-11-20 2003-09-30 Tektronix, Inc. Measurement test instrument and associated voltage management system for accessory device
US6971045B1 (en) 2002-05-20 2005-11-29 Cyress Semiconductor Corp. Reducing tester channels for high pinout integrated circuits
US6966019B2 (en) * 2002-06-28 2005-11-15 Teradyne, Inc. Instrument initiated communication for automatic test equipment
WO2004003583A1 (en) * 2002-06-28 2004-01-08 Teradyne, Inc. Instrument initiated communication for automatic test equipment
US20040066794A1 (en) * 2002-10-08 2004-04-08 Hill Gregory S. Instrument module locator
US7188044B1 (en) * 2004-07-29 2007-03-06 National Semiconductor Corporation World-wide distributed testing for integrated circuits
US7627456B2 (en) * 2005-02-03 2009-12-01 Raytheon Company Dynamically tasking one or more surveillance resources
ES2303415B2 (es) * 2005-10-20 2010-03-04 Universidad De Malaga Banco de ensayos automatizado para ensayos de rutina segun dc 73/23/cee.
US7532492B2 (en) * 2005-12-20 2009-05-12 Tektronix, Inc. Host controlled voltage input system for an accessory device
US20080133308A1 (en) * 2006-11-27 2008-06-05 Harris James E Leakage location methods
US7707000B2 (en) * 2007-04-19 2010-04-27 Agilent Technologies, Inc. Test instrument and system responsive to execution time data
US20090300534A1 (en) * 2008-05-30 2009-12-03 Trilithic, Inc. Apparatus and method for displaying network status
US20100064078A1 (en) * 2008-08-15 2010-03-11 Powell Thomas J Wireless communication between testing instrument and network
US9672127B2 (en) * 2015-04-16 2017-06-06 Teradyne, Inc. Bus interface system for interfacing to different buses
US20180225249A1 (en) * 2017-02-08 2018-08-09 Automatic Labs, Inc. Application-specific integrated circuit configured to interface with automotive diagnostic port

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3694632A (en) * 1969-12-31 1972-09-26 Hawker Siddeley Dynamics Ltd Automatic test equipment utilizing a matrix of digital differential analyzer integrators to generate interrogation signals
US3854125A (en) * 1971-06-15 1974-12-10 Instrumentation Engineering Automated diagnostic testing system
US3825901A (en) * 1972-11-09 1974-07-23 Ibm Integrated diagnostic tool
GB1504112A (en) * 1976-03-17 1978-03-15 Ibm Interactive enquiry systems
US4212059A (en) * 1977-03-14 1980-07-08 Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd. Information processing system
US4200930A (en) * 1977-05-23 1980-04-29 Burroughs Corporation Adapter cluster module for data communications subsystem
US4174805A (en) * 1978-04-13 1979-11-20 Ncr Corporation Method and apparatus for transmitting data to a predefined destination bus
US4280220A (en) * 1979-09-17 1981-07-21 Fairchild Camera & Instrument Corp. Electronic testing system

Also Published As

Publication number Publication date
ES8303752A1 (es) 1983-02-01
NO162438C (no) 1989-12-27
ES505763A0 (es) 1983-02-01
EP0056895B1 (en) 1987-06-03
EP0056895A2 (en) 1982-08-04
IE52897B1 (en) 1988-04-13
DE3176236D1 (en) 1987-07-09
EP0056895A3 (en) 1983-11-16
JPS57125818A (en) 1982-08-05
DK426981A (da) 1982-07-28
CA1174732A (en) 1984-09-18
AU7402581A (en) 1982-08-05
IE811825L (en) 1982-07-27
IL63596A (en) 1984-07-31
US4402055A (en) 1983-08-30
NO812978L (no) 1982-07-28
GR75766B (no) 1984-08-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NO162438B (no) Automatisk testsystem.
US4300207A (en) Multiple matrix switching system
EP0067496B1 (en) Automatic test system
US4125763A (en) Automatic tester for microprocessor board
US4196386A (en) Method and portable apparatus for testing digital printed circuit boards
KR100471544B1 (ko) 실장과 에이티이가 통합된 반도체 소자 테스트 장치
US20200064405A1 (en) Combinatorial serial and parallel test access port selection in a jtag interface
US5515382A (en) Process for testing the operation of an application specific integrated circuit and application specific integrated circuit relating thereto
EP0073630B1 (en) Apparatus for external control of computer program flow
US4174805A (en) Method and apparatus for transmitting data to a predefined destination bus
NO843374L (no) Undersoekelses og vedlikeholdsmetode for et databehandlingssystem og anordning til metodens utfoerelse
US4422141A (en) Microprocessor architecture for improved chip testability
US4563736A (en) Memory architecture for facilitating optimum replaceable unit (ORU) detection and diagnosis
US3814920A (en) Employing variable clock rate
EP0157028B1 (en) Programmable tester
US5339320A (en) Architecture of circuitry for generating test mode signals
US7404122B2 (en) Mapping logic for loading control of crossbar multiplexer select RAM
US5965957A (en) Switching apparatus, in particular for systems under test
US20040064763A1 (en) Apparatus and method for a trace system on a chip having multiple processing units
US5121393A (en) System for testing a microprocessor
US4462029A (en) Command bus
CN113533930B (zh) 单板测试装置和方法
JP2611359B2 (ja) 半導体テストシステム
KR20010043554A (ko) 스캔 레지스터 체인을 포함하는 집적 회로
JPH10253714A (ja) 電子部品の測定装置及びこの測定装置を用いた電子部品の測定方法