JPH0455774A - 同期型ｆｆ間のオーバディレイテスト方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 同期型ＦＦ間のオーバディレィテスト方式に関し、 テストの効率化を図ることを目的とし、複数の同期型Ｆ
Ｆから成るディジタル回路にテストパターンを供給して
、テスト対象であるソースＦＦと次段のターゲットＦＦ
との間のバス中のゲートを活性化した状態で、第１クロ
ックとこれに続く第２クロックを加え、その後の当該タ
ーゲットＦＦの出力値と、前記テストパターンによって
与えられる期待値とを比較することにより、両ＦＦ間に
オーバディレィが生じているかどうかを判定するテスト
方式において、前記テストバタンは、更に、前記第１ク
ロックと前記第２クロックとの間で前記ソースＦＦの入
力を反転させ、前記第１クロックで前記ソースＦＦの出
力が反転するように、その出力側初期値を設定し、前記
の両ＦＦ間で、オーバディレィが生じた場合とレーシン
グが生じた場合とで、前記第２クロックの後の前記ター
ゲットＦＦの出力が同一になるようにしてオーバディレ
ィを検出する構成を有する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、複数の同期型ＦＦから成るディジタル回路中
のテスト対象であるソースＦＦ（送り側フリップフロッ
プ）とターゲットＦＦ（受は側フリップフロップ）との
間のオーバディレィテスト方式に関し、特に単一のＩＣ
素子や、多数のＩＣ素子を搭載したプリント基板全体を
単位とするディジタル回路中の、任意のソースＦＦと次
段のターゲットＦＦとの間のオーバディレィテスト方式
〔従来の技術〕 一般に、ディジタル回路中のあるソースＦＦと次段のタ
ーゲットＦＦとの間では、第１クロックによってソース
ＦＦに取り込まれた論理値データがターゲットＦＦの入
力側に伝送され、次の第２クロックによってこの論理値
データがターゲットＦＦに取り込まれることが必要であ
る。以上のことが確保されるためには、各ソースＦＦ出
力側から次段のターゲットＦＦの入力端へのデータ伝送
に要する遅延時間が第１クロックと第２クロックとの間
の時間間隔より長くなるオーバディレィの状態を生じな
いことが必要で、その確認のためにテストが行なわれる
。

そして、従来、このテストは第５図ないし第７図に示さ
れるような方式で行なわれている。

ここで、第５図は、テストパターンの作成及びオーバデ
ィレィテストの手順を示し、また第６図は、テスト対象
であるソ〜スＦＦ、ターゲットＦＦ等の接続状態を示し
ている。

すなわち、 ■′ファイル５１には、対象としているディジタル回路
の構成要素である各ＦＦ、各種ゲート等の接続状態を示
す回路接続情報が回路データベスとして格納されており
、この回路データベスに基づいて、複数の同期型ＦＦか
らテスト対象である同期型ソースＦＦとターゲットＦＦ
とを特定するとともに当該ＦＦ間のバスの中の１つを選
択し、これらの情報をテスト区間テーブル５２に格納す
る。なお、前記選択に際しては、通常、オーバディレィ
状態が最も生じやすいバスが選ばれる。

■′前記ＦＦ間のオーバディレィテスト用のテストパタ
ーンをＡＴＧ　（自動テストパターン作成部）で作成す
るために必要な回路条件を、テスト区間テーブル５２の
内容及びファイル５１の回路データベースに基づいて求
め、これらの情報をＡＴＧ条件テーブル５３に格納する
。

なお、この回路条件は、 ・ソースＦＦとターゲットＦＦとの間のバスを活性化、
すなわち当該バス中の、ＮＯＲゲートの他の入力をｒＯ
Ｊ、ＮＡＮＤゲートの他の入力を「１」等にする。

第６図の回路では、ＮＯＲゲート６３の他の入力をｒＯ
ｊにする。

・ソースＦＦの入力側初期値及び出力側初期値を、第１
クロックで当該ソースＦＦの出力が反転するように設定
する。

第６図の回路では、例えばソースＦＦ６１の入力側初期
値を「１」、出力側初期値を「０」にする。

・ターゲットＦＦの出力側初期値を設定する。

第６図の回路では、例えばターゲットＦＦ６２の出力側
初期値を「１」にする。

等の内容から成っている。

■′この回路条件を満たすテストパターンを作成し、テ
ストパターンファイル５４に格納する。そして、以上の
手順を繰り返すことにより、すべての同期型ＦＦ間につ
いてのテストパターンを作成していく。

なお、このテストパターンには、「期待値」、すなわち
テスト対象である同期型ＦＦ間でオバディレイが生じな
いときのターゲットＦＦの出力側論理値が含まれている
。

第６図の回路では、この期待値は「０」である。

■′以上の条件を満足するように作成されたテストパタ
ーンを、対象のディジタル回路の外部入力ビンまたはス
キャンラッチに与える。

■′　ソースＦＦ６１．　ターゲットＦＦ６２のそれぞ
れに第１クロック及びこれに続く第２クロックを与え、
両ＦＦを動作させる。

■′第２クロックの後のターゲットＦＦ６２の出力値と
、テストパターン中の期待値とが一致するかどうかを調
べる。

といった処理が行なわれている。

なお、各クロックを与える前後でのソースＦＦ。

ターゲットＦＦそれぞれの人出力値は第７図のように変
化する。

〔発明が解決しようとする課題〕

以上のように、従来の同期型ＦＦ間のオーバディレィテ
スト方式では、第２クロックの後のターゲットＦＦ６２
の出力値がテストパターン中の期待値に一致するかどう
かを調べ、両者が一致したときはオーバディレィが生じ
ていないと判定している。そして、このテストパターン
では、第１クロックを与えた後のソースＦＦ６１の入力
値について規定していない。このため、第１クロックを
与えてもソースＦＦ６１の入力値が変わらないようなテ
ストパターンを用いる場合には、レーシング、すなわち
第１クロックまたは第２クロックによってソースＦＦ６
１が取り込んだ値「工」をそのまま（ＮＯＲ回路６３で
反転した「０」として）ターゲットＦＦ６２が取り込ん
でしまったとき、第２クロックを与えた後のターゲット
ＦＦ６２の出力値は「０」となり、期待値と一致する。

したがって、テスト対象の同期型ＦＦ間でオバディレイ
が生じていないと判定した、すなわち第２クロックを与
えた後のターゲットＦＦ６２の出力値と期待値とが一致
した場合でも、別のテストを行なってこのＦＦ間でレー
シングが生じていないかどうかを判定しなければならな
かった。

そこで、本発明では、第１クロックと第２クロックとの
間でソースＦＦの入力を反転させ、かつ第１クロックで
ソースＦＦの出力が反転するようにその出力側初期値を
設定するようにしたテストパターンを用い、ソースＦＦ
とターゲットＦＦとの間でオーバディレィまたはレーシ
ングが生じたときは、第２クロックの後のターゲットＦ
Ｆの出力値がともに期待値とは異なる、例えば「１」と
なるようにすることにより、当該ターゲットＦＦの出力
値が「０」となったときは両ＦＦ間でオーバディレィ、
レーシングのいずれも生じていない旨の判定を可能とし
、テストの効率化を図ることを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理説明図である。

第１図において、 １は、ソースＦＦであり、その入力と出力側初期値はテ
ストパターン４により設定される。

２は、ターゲットＦＦであり、その出力はテストパター
ン４の期待値と比較される。

３は、ソースＦＦＩとターゲットＦＦ２との間のデータ
バスであり、このデータバスにおいてオーバディレィが
生じているかどうかが判定される。

４は、テストパターンであり、少なくとも、データバス
３を活性化（ＮＯＲゲートについては、他方の入力を「
０」にする）するとともに、第１クロックと第２クロッ
クとの間でソースＦＦの入力を反転させ、かつ第１クロ
ックでソースＦＦの出力が反転するようにその出力側初
期値を設定するものである。

ここで、例えばソースＦＦＩの入力側初期値を「１」、
出力側初期値を「０」、またターゲットＦＦ２の出力側
初期値を「１」に設定した状態で両ＦＦに第１クロック
及び第２クロックを与えたときの各ＦＦの人出力値はそ
れぞれ第２図のように変化する。

〔作用〕

本発明においては、第１クロックと第２クロックとの間
でソースＦＦの人力が反転するように設定したテストパ
ターンを用いているため、ソースＦＦとターゲットＦＦ
との間でレーシングが生じた場合のターゲットＦＦの出
力値は、当該ＦＦ間でオーバディレィが生じた場合のタ
ーゲットＦＦの出力値と同じ値になる。そして、この値
はターゲットＦＦが正しい動作、すなわちソースＦＦの
出力変化を第２クロックで取り込む動作をしたときの値
とは異なっている。

〔実施例〕

第３図〜第４図を参照して本発明の詳細な説明する。

第３図は、テストパターンの作成及びオーバディレィテ
ストの手順を示し、また第４図は、テスト対象であるソ
ースＦＦ、　ターゲットＦＦ等の接続状態を示している
。

すなわち、 ■　ＡＴＧ　（自動テストパターン作成部）により、少
なくとも次の回路条件 （ａ）　　ソースＦＦとターゲットＦＦとの間のバスを
活性化する。

第４図の回路では、ＮＯＲゲート４３の他の入力を「０
」にする。

（ハ）第１クロックと第２クロックとの間でソースＦＦ
の入力を反転させる。

第４図の回路では、例えばソースＦＦ４２に接続されて
いる前段ＦＦ４０の入力端初期値を「０」、出力側初期
値を「１」にする。

（Ｃ）　　第１クロックでソースＦＦの出力を反転させ
る。

第４図の回路では、例えばソースＦＦ４１の出力側初期
値を「０」にする。

（ｄ）　　ターゲットＦＦの出力側初期値を所定値に設
定する。

第４図の回路では、例えばターゲットＦＦ４２の出力側
初期値を「１」にする。

（ｅ）「期待値」、すなわちソースＦＦとターゲットＦ
Ｆとの間でオーバディレィデイレイが生じていないとき
の、第２クロックの後のターゲットＦＦの出力値を設定
する。

第４図の回路では、この期待値は「Ｏ」である。

を満足するテストパターンを作成する。

■　以上の条件を満足するように作成したテストパター
ンを、対象のディジタル回路の外部入力ピンまたはスキ
ャンラッチに与える。

■　テスト対象であるソースＦ　Ｆ　４１．ターゲット
ＦＦ４２及び前段ＦＦ４０のそれぞれに第１り２０ツク
を与え、各ＦＦを動作させる。

■　ソースＦＦの入力を反転させる。すなわち、ＦＦ４
０に第１クロックを与えてその出力値を「０」にする。

なお、ソースＦＦ４１の人力の決定を支配するのが外部
入力ピンの場合には、第１クロックとこれに続く第２ク
ロックきの開で当該入力を反転させるテストパターンを
外部人力ピンに与えればよい。

■　各ＦＦに第２クロックを与えて動作させ、そのとき
のターゲットＦＦ６２の出力値と、テストパターン中の
期待値とが一致するかどうかを調べる。

といった処理が行なわれている。

〔発明の効果〕

本発明は、第１クロックと第２クロックとの間でソース
ＦＦの入力を反転させ、かつ第１クロックでソースＦＦ
の出力を反転させるようにしたテストパターンを用い、
テスト対象であるソースＦＦとターゲットＦＦとの間に
おいてオーバディレィが生じたときとレーシングが生じ
たときとで、ターゲットＦＦの出力値が同じ値になる構
成にしているため、第２クロックの後のターゲットＦＦ
の出力値がテストパターンで設定される期待値、すなわ
ちターゲットＦＦが正しい動作をしたときの出力値と一
致する場合には、ソースＦＦとタゲッ）ＦＦとの間でオ
ーバディレィが生じていないことに加えてレーシングも
生じていないことの判定が一度に行なわれ、オーバディ
レィテストのテスト効率を高めることができる。

第１図において、 １・・・ソースＦＦ ２・　・　・ターゲットＦＦ ３・・・データバス ４・・・テストパターン

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理説明図、第２図は第１図における
ソースＦＦ、ターゲットＦＦそれぞれの入力値及び出力
値の変化を例示する説明図、第３図は本発明のテストパ
ターン作成及びオーバディレィテストの手順を示す説明
図、第４図は本発明のオーバディレィテストの対象であ
る同期型ＦＦ等の接続状態説明図、第５図は従来のテス
トパターン作成及びオーバディレィテストの手順を示す
説明図、第６図は従来のオーバディレィテストの対象で
ある同期型ＦＦ等の接続状態説明図、第７図は第６図に
おけるソースＦＦ、ターゲットＦＦそれぞれの入力値及
び出力値の変化を例示する説明図である。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数の同期型ＦＦから成るディジタル回路にテス
   トパターンを供給して、当該複数のＦＦの中のテスト対
   象であるソースＦＦと次段のターゲットＦＦとの間のパ
   ス中のゲートを活性化した状態で、第１クロックとこれ
   に続く第２クロックを加え、この第２クロックの後の当
   該ターゲットＦＦの出力値と、前記テストパターンによ
   って与えられる期待値とを比較することにより、両ＦＦ
   間にオーバディレィが生じているかどうかを判定するテ
   スト方式において、 前記テストパターンは、更に、 前記第１クロックと前記第２クロックとの間で前記ソー
   スＦＦの入力を反転させ、 前記第１クロックで前記ソースＦＦの出力が反転するよ
   うに、その出力側初期値を設定し、前記の両ＦＦ間で、
   オーバディレィが生じた場合とレーシングが生じた場合
   とで、前記第２クロックの後の前記ターゲットＦＦの出
   力が同一になるようにしてオーバディレィを検出するこ
   とを特徴とする同期型ＦＦ間のオーバディレィテスト方
   式。
2. （２）前記ソースＦＦの入力の決定が、当該ソースＦＦ
   の前段のＦＦによって行なわれる請求項１記載の同期型
   ＦＦ間のオーバディレィテスト方式。