NL1015524C2 - Werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces, alsmede substraat verkregen volgens een dergelijke werkwijze. - Google Patents

Werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces, alsmede substraat verkregen volgens een dergelijke werkwijze. Download PDF

Info

Publication number
NL1015524C2
NL1015524C2 NL1015524A NL1015524A NL1015524C2 NL 1015524 C2 NL1015524 C2 NL 1015524C2 NL 1015524 A NL1015524 A NL 1015524A NL 1015524 A NL1015524 A NL 1015524A NL 1015524 C2 NL1015524 C2 NL 1015524C2
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
substrate
cross
carried out
chemical composition
layer
Prior art date
Application number
NL1015524A
Other languages
English (en)
Inventor
Roland Anthony Tacken
Christian Etienne Hendriks
Original Assignee
Otb Group Bv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to NL1015524A priority Critical patent/NL1015524C2/nl
Application filed by Otb Group Bv filed Critical Otb Group Bv
Priority to JP2002514722A priority patent/JP2004505398A/ja
Priority to AT01948126T priority patent/ATE257618T1/de
Priority to EP01948126A priority patent/EP1295287B1/en
Priority to US10/312,085 priority patent/US7067238B2/en
Priority to CN01814652.XA priority patent/CN1199169C/zh
Priority to DE60101744T priority patent/DE60101744T2/de
Priority to AU2001269608A priority patent/AU2001269608A1/en
Priority to PCT/NL2001/000472 priority patent/WO2002009103A1/en
Application granted granted Critical
Publication of NL1015524C2 publication Critical patent/NL1015524C2/nl
Priority to HK03109395A priority patent/HK1057124A1/xx
Priority to US11/273,435 priority patent/US20060099532A1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/26Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
    • G11B7/261Preparing a master, e.g. exposing photoresist, electroforming
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/146Laser beam
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31678Of metal

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Polyesters Or Polycarbonates (AREA)
  • Reinforced Plastic Materials (AREA)

Description

Korte aanduiding: Werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces, alsmede substraat verkregen volgens een dergelijke werkwijze.
5
De onderhavige uitvinding heeft betrekking op een werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces. Verder heeft de onderhavige uitvinding betrekking op een substraat dat wordt toegepast in een stampervervaardi-10 gingsproces en op een werkwijze voor het vervaardigen van een stamper voor het voortbrengen van optische schijven, omvattende het belichten, ontwikkelen en verwarmen van een voor licht gevoelige laag aangebracht op een substraat.
Optische schijven bevatten in een geometrische structuur 15 vastgelegde informatie. Meer in het bijzonder bestaat deze geometrische structuur uit putten en landen, welke putten in concentrische cirkels of in een spiraal in een oppervlak van een desbetreffende optische schijf zijn aangebracht. Ook groeven komen voor als structuur van optische schijven. Voor het in grote aantallen produceren van dergelijke optische 20 schijven wordt een stamper in de matrijs van een spuitgietmachine geplaatst waarna tenslotte de optische schijven worden gemetalliseerd en voorzien van een beschermende lak en een label, ofwel bedrukking.
Het stampervervaardigingsproces, zoals vermeld in de aanhef, is op zich bekend uit de ten name van onderhavige aanvrager eerder 25 ingediende Nederlandse octrooiaanvragen 9400225 en 1007216, volgens welk proces een ongestructureerde stamperplaat wordt voorbereid, welke voorbereiding het reinigen en het eventueel aanbrengen van een hechtlaag voor de nog op te brengen fotolak omvat. Op een aldus voorbereide, ongestructureerde stamperplaat wordt vervolgens een negatief werkende 30 fotolak aangebracht die selectief met laserlicht wordt belicht waarna de selectief belichte, aangebrachte fotolaklaag wordt verwarmd en vervolgens integraal belicht. Tenslotte wordt de integraal belichte, aangebrachte fotolaklaag ontwikkeld om te voorzien in de gestructureerde fotolaklaag die daarna wordt verwarmd. In het op dit moment toegepaste direct stamper 35 recording (DSR) proces, waarvoor de onderhavige aanvrager reeds eerder het Nederlandse octrooi 1009106 heeft verkregen, wordt een stamper onder toepassing van een galvanische behandeling direct op een substraat van nikkel gevormd. Het daarbij toegepaste substraat bestaat in feite uit een 1015524 2 ronde schijf van nikkel met een diameter van ongeveer 200 mm en een dikte van ongeveer 300 micrometer, op welke schijf onder toepassing van een hechtmiddellaag een op Νονοίak gebaseerde fotoresist is aangebracht. De functie van deze hechtlaag, die slechts een zodanige dikte bezit dat deze 5 als een "monolaag" is te beschouwen, is het vormen van een geschikte ondergrond waarop de op Novolak gebaseerde fotoresist hechtbaar is. In de volgende stap van het DSR-proces wordt de op het substraat aangebrachte foto!akiaag selectief met laserlicht belicht, vervolgens verwarmd en integraal belicht. Na het ontwikkelen wordt fotoresist verwijderd, met 10 uitzondering van fotolakpaaltjes die op het nikkel substraat achterblijven. Deze fotolakpaaltjes worden vervolgens onder toepassing van een belichtingsstap met een golflengte in het diep UV-gebied gehard, gevolgd door een verwarmingsstap bij hoge temperatuur (hard bake) om de belichte en dus verknoopte gebieden door verdere verknoping van polymeerketens 15 aanvullend te verstevigen. Een met een dergelijke methode verkregen stamper omvat aldus een nikkel schil voorzien van fotolakpaaltjes. Door het verder uitharden van de fotolakpaaltjes is het mogelijk om met een dergelijke stamper, die in de matrijs van een spuitgietmachine voor het massaprodu-ceren van CD-replicatie wordt toegepast, ten minste 5000 replica’s te 20 vervaardigen.
Uit onderzoek is gebleken dat op het oppervlak van het nikkel substraat tijdens de galvanische behandeling defecten, zoals strepen en vlekken, kunnen worden geïntroduceerd. Deze defecten zijn soms op een nog niet bewerkt nikkel substraat met behulp van halogeen licht zichtbaar. 25 Echter, dergelijke defecten worden na de hiervoor beschreven bewerkings-stappen in het DSR-proces zichtbaar. Dit fenomeen wordt verondersteld te zijn veroorzaakt door een lokaal verschil in het diffractiepatroon, welk patroon door de structuur van fotolakpaaltjes wordt gevormd. Niet alleen het menselijk oog is zeer gevoelig voor verschillen in het diffractie-30 patroon maar ook het elektrische signaal van de stamper kan door de kwaliteit van de substraten worden beïnvloed.
Het doel van de onderhavige uitvinding is aldus het vervaardigen van een substraat om in een stampervervaardigingsproces, in het bijzonder in het DSR-proces, te worden toegepast, waarbij de kwaliteit 35 van het substraat van ondergeschikt belang is in de uiteindelijk vervaardigde stamper.
Een ander doel van de onderhavige uitvinding is het verschaffen van een stamper, welke stamper een verhoogde technische 101 5524 3 levensduur bezit ten opzichte van de op dit moment in de handel verkrijgbare DSR-stampers.
Een ander doel van de onderhavige uitvinding is het verschaffen van een werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te 5 worden toegepast in een stampervervaardigingsproces waarbij van de op dit moment als hechtmiddel toegepaste monolaag eventueel kan worden afgezien.
De werkwijze zoals vermeld in de aanhef wordt volgens de onderhavige uitvinding gekenmerkt doordat de werkwijze de volgende stappen omvat: 10 a) het op het substraat in een laag aanbrengen van een verknoopbare chemische samenstelling, b) de in stap a) aangebrachte onderlaag onderwerpen aan een verknopingsreactie, en c) het op de in stap b) verknoopte onderlaag aanbrengen 15 van een bovenlaag van een voor licht gevoelig materiaal.
Als geschikte, verknoopbare chemische samenstelling verdient een op Νονοίak gebaseerde fotoresist de voorkeur.
Het verdient met name de voorkeur dat stap b) wordt uitgevoerd onder toepassing van een warmtebehandeling, in het bijzonder 20 bij een temperatuur liggend in het gebied van 150-250 °C. In een dergelijk temperatuurtraject zal een driedimensionale verknoping van de polymeer-ketens van de in stap a) aangebrachte chemische samenstelling ontstaan, welke onderlaag de eventuele defecten van het substraat maskeert.
Volgens een bijzondere uitvoeringsvorm van de onder-25 havige werkwijze wordt stap b) uitgevoerd onder toepassing van een belich-tingshandeling, in het bijzonder in het golflengtegebied van 200-320 nm.
De belichtingstijd bedraagt in het bijzonder 5-180 seconden waarbij het belichten met name onder rotatie en/of verwarmen wordt uitgevoerd. Doordat in stap b) de verknoopbare chemische samenstelling 30 een verknopingsreactie heeft ondergaan, is de aldus verknoopte samenstelling niet of slechts in geringe mate oplosbaar in het oplosmiddel dat in het in stap c) aangebrachte, voor licht gevoelige materiaal wordt toegepast.
Volgens de onderhavige werkwijze wordt in een 35 aanvullende stap d) de bovenlaag onderworpen aan een warmte-behandeling, welke stap d) bij een zodanige temperatuur wordt uitgevoerd dat geen verknoping van het reeds in stap c) aangebrachte, voor licht gevoelige materiaal optreedt. Dit betekent dat stap d) met name wordt uitgevoerd 1015524 4 bij een temperatuur van ten hoogste 130 °C. Door het uitvoeren van stap d) wordt het in de bovenlaag aanwezige oplosmiddel verwijderd.
Het is voor de onderhavige uitvinding met name van belang dat geen verknoping in de bovenlaag van het voor licht gevoelige 5 materiaal optreedt omdat deze bovenlaag in het verdere DSR-proces zal worden gestructureerd ter vorming van de hiervoor beschreven fotolak-paaltjes.
In een bijzondere uitvoeringsvorm is het gewenst dat voordat stap a) wordt uitgevoerd, het substraat aan een voorbereiding wordt 10 onderworpen, welke voorbereiding het reinigen en eventueel het aanbrengen van een hechtlaag voor de in stap a) op te brengen verknoopbare chemische samenstelling omvat.
Een dergelijke voorbereiding heeft met name tot doel het met het substraat verbeteren van de hechting van de in stap a) op te 15 brengen onderlaag, waarbij aldus de onderlaag zich bevindt op de eerder op het substraat aangebrachte hechtlaag.
Als substraat wordt bij voorkeur een metaal toegepast, in het bijzonder nikkel.
Voor het verkrijgen van lagen met een uniforme dikte 20 verdient het de voorkeur dat zowel stap a) als stap c) door middel van spincoaten wordt uitgevoerd, waarbij het mogelijk is dat de in stap a) aangebrachte, verknoopbare chemische samenstelling overeenkomt met het in stap c) voor licht gevoelige materiaal.
De onderhavige uitvinding heeft verder betrekking op 25 een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces, welk substraat door de onderhavige uitvinding wordt gekenmerkt doordat het achtereenvolgens een onderlaag van een verknoopte chemische samenstelling en een bovenlaag van een voor licht gevoelig materiaal omvat, waarbij in het bijzonder de dikte van de onderlaag in de orde ligt van 30 10-100 nm en de dikte van de bovenlaag in de orde van 150-200 nm.
Het onderhavige substraat is met name geschikt om te worden toegepast in een werkwijze voor het vervaardigen van een stamper, welke stamper in de matrijs van een spuitgietmachine voor het massaproduce-ren van CD-replica’s wordt geplaatst en een dergelijke werkwijze omvat 35 het belichten, ontwikkelen en verwarmen van de voor licht gevoelige laag die in stap c) is aangebracht op het substraat.
1015524

Claims (23)

1. Werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces, met het kenmerk, dat 5 de werkwijze de volgende stappen omvat: a) het op het substraat in een laag aanbrengen van een verknoopbare chemische samenstelling, b) de in stap a) aangebrachte onderlaag onderwerpen aan een verknopingsreactie, en 10 c) het op de in stap b) verknoopte onderlaag aanbrengen van een bovenlaag van een voor licht gevoelig materiaal.
2. Werkwijze volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat een op Νονοίak gebaseerde fotoresist als verknoopbare chemische samenstelling wordt toegepast.
3. Werkwijze volgens conclusies 1-2, met het kenmerk, dat de werkwijze verder een aanvullende stap d) omvat, te weten d) de in stap c) aangebrachte bovenlaag onderwerpen aan een warmtebehandeling.
4. Werkwijze volgens conclusies 1-3, met het kenmerk, dat 20 stap b) wordt uitgevoerd onder toepassing van een warmtebehandeling, in het bijzonder bij een temperatuur liggend in het gebied van 150-250 °C.
5. Werkwijze volgens conclusies 1-3, met het kenmerk, dat stap b) wordt uitgevoerd onder toepassing van een belichtingshandeling.
6. Werkwijze volgens conclusie 5, met het kenmerk, dat 25 de belichtingshandeling wordt uitgevoerd in het golflengtegebied van 200- 320 nm .
7. Werkwijze volgens conclusies 5-6, met het kenmerk, dat de belichtingstijd 5-180 seconden bedraagt.
8. Werkwijze volgens conclusies 5-7, met het kenmerk, dat 30 de belichtingshandeling onder rotatie wordt uitgevoerd.
9. Werkwijze volgens conclusies 5-8, met het kenmerk, dat de belichtingshandeling onder verwarmen wordt uitgevoerd.
10. Werkwijze volgens conclusies 1-9, met het kenmerk, dat in stap a) een laagdikte voor de onderlaag in de orde van 10-100 nm wordt 35 toegepast.
11. Werkwijze volgens conclusies 1-10, met het kenmerk, dat in stap c) een laagdikte voor de bovenlaag in de orde van 150-200 nm wordt toegepast. m 1 ft
12. Werkwijze volgens conclusies 3-11, met het kenmerk, dat stap d) wordt uitgevoerd bij een zodanige temperatuur dat geen verknoping van het in stap c) aangebrachte, voor licht gevoelige materiaal optreedt.
13. Werkwijze volgens conclusie 12, met het kenmerk, dat stap d) wordt uitgevoerd bij een temperatuur van ten hoogste 130 °C.
14. Werkwijze volgens conclusies 1-13, met het kenmerk, dat voordat stap a) wordt uitgevoerd, het substraat aan een voorbereiding wordt onderworpen, welke voorbereiding het reinigen en eventueel het 10 aanbrengen van een hechtlaag voor de in stap a) op te brengen verknoopbare chemische samenstelling omvat.
15. Werkwijze volgens conclusies 1-14, met het kenmerk, dat als substraat een metaal wordt toegepast, in het bijzonder nikkel.
16. Werkwijze volgens conclusies 1-15, met het kenmerk, 15 dat de in stap a) aan te brengen verknoopbare chemische samenstelling overeenkomt met het in stap c) voor licht gevoelige materiaal.
17. Werkwijze volgens conclusies 1-16, met het kenmerk, dat stap a) en stap c) door middel van spincoaten worden uitgevoerd.
18. Substraat om te worden toegepast in een stampervervaar-20 digingsproces, met het kenmerk, dat het substraat achtereenvolgens een onderlaag van een verknoopte chemische samenstelling en een bovenlaag van een voor licht gevoelig materiaal omvat.
19. Substraat volgens conclusie 18, met het kenmerk, dat een op Novolak gebaseerde fotoresist is toegepast als verknoopte chemische 25 samenstelling.
20. Substraat volgens conclusies 18-19, met het kenmerk, dat het substraat een metaal, in het bijzonder nikkel is.
21. Substraat volgens conclusies 18-20, met het kenmerk, dat de dikte van de onderlaag 10-100 nm bedraagt.
22. Substraat volgens conclusies 18-21, met het kenmerk, dat de dikte van de bovenlaag 150-200 nm bedraagt.
23. Werkwijze voor het vervaardigen van een stamper voor het voortbrengen van optische schijven omvattende het belichten, ontwikkelen en verwarmen van een voor licht gevoelige laag aangebracht 35 op een substraat, met het kenmerk, dat het substraat volgens de werkwijze beschreven in conclusie 1-17 of het substraat volgens conclusies 18-22 wordt toegepast. 015524 SAMENWERKINGSVERDRAG (POT) RAPPORT BETREFFENDE NIEUWHEIDSONDERZOEK VAN INTERNATIONAAL TYPE IDENTIFICATIE VAN DE NATIONALE AANVRAGE KENMERK VAN DE AANVRAGER OF VAN DE GEMACHTIGDE 42401/AB/pr Nederlands aanvraag nr. Indieningsdatum 1015524 26 juni 2000 Ingeroepen voorrangsdatum Aanvrager (Naam) ODME INTERNATIONAL B.V. Datum van het verzoek voor een onderzoek van Door de Instantie voor Internationaal Onderzoek (ISA) aan internationaal type het verzoek voor een onderzoek van internationaal type toegekend nr. SN 35408 NL I. CLASSIFICATIE VAN HET ONDERWERP (bij toepassing van verschillende classificaties, alle dassHicatiesymbolen opgeven) Volgens de internationale classificatie (IPC) lnt.CI.7: G11B7/26 II. ONDERZOCHTE GEBIEDEN VAN DE TECHNIEK Onderzochte minimum documentatie Classificatiesysteem dassificatiesymbolen lnt.CI.7: G11B Onderzochte andere documentatie dan de minimum documentatie, voor zover dergelijke documenten in de onderzochte gebieden zijn opgenomen III. □ GEEN ONDERZOEK MOGELMK VOOR BEPAALDE CONCLUSIES (opmerkingen op aanvullingsblad) IV. □ GEBREK AAN EENHEID VAN UITVINDING (opmerkingen op aanvutKngsUad) /j.— Form PCT/1SA 201 a (11/2000)
NL1015524A 2000-06-26 2000-06-26 Werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces, alsmede substraat verkregen volgens een dergelijke werkwijze. NL1015524C2 (nl)

Priority Applications (11)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL1015524A NL1015524C2 (nl) 2000-06-26 2000-06-26 Werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces, alsmede substraat verkregen volgens een dergelijke werkwijze.
AT01948126T ATE257618T1 (de) 2000-06-26 2001-06-25 Verfahren zur herstellung eines für ein matrizenherstellungsverfahren geeignetes substrats, sowie ein in diesem verfahren hergestelltes substrat
EP01948126A EP1295287B1 (en) 2000-06-26 2001-06-25 A method for manufacturing a substrate for use in a stamper manufacturing process, as well as a substrate obtained by using such a method
US10/312,085 US7067238B2 (en) 2000-06-26 2001-06-25 Method for manufacturing a substrate for use in a stamper manufacturing process, as well as a substrate obtained by using such a method
JP2002514722A JP2004505398A (ja) 2000-06-26 2001-06-25 スタンパの製造プロセスで用いる基板の製造方法、及びその方法を用いて得られる基板
CN01814652.XA CN1199169C (zh) 2000-06-26 2001-06-25 模子生产过程中所用基片的一种制造方法及利用该方法得到的一种基片
DE60101744T DE60101744T2 (de) 2000-06-26 2001-06-25 Verfahren zum Herstellen eines für ein Matrizenherstellungsverfahren geeigneten Substrats und durch das Verfahren erhaltenes Substrat
AU2001269608A AU2001269608A1 (en) 2000-06-26 2001-06-25 A method for manufacturing a substrate for use in a stamper manufacturing process, as well as a substrate obtained by using such a method
PCT/NL2001/000472 WO2002009103A1 (en) 2000-06-26 2001-06-25 A method for manufacturing a substrate for use in a stamper manufacturing process, as well as a substrate obtained by using such a method
HK03109395A HK1057124A1 (en) 2000-06-26 2003-12-24 A method for manufacturing a substrate for use in a stamper manufacturing process, as well as a substrate obtained by using such a method.
US11/273,435 US20060099532A1 (en) 2000-06-26 2005-11-15 Method for manufacturing a substrate for use in a stamper manufacturing process, as well as a substrate obtained by using such a method

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL1015524A NL1015524C2 (nl) 2000-06-26 2000-06-26 Werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces, alsmede substraat verkregen volgens een dergelijke werkwijze.
NL1015524 2000-06-26

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL1015524C2 true NL1015524C2 (nl) 2001-12-28

Family

ID=19771594

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL1015524A NL1015524C2 (nl) 2000-06-26 2000-06-26 Werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces, alsmede substraat verkregen volgens een dergelijke werkwijze.

Country Status (10)

Country Link
US (2) US7067238B2 (nl)
EP (1) EP1295287B1 (nl)
JP (1) JP2004505398A (nl)
CN (1) CN1199169C (nl)
AT (1) ATE257618T1 (nl)
AU (1) AU2001269608A1 (nl)
DE (1) DE60101744T2 (nl)
HK (1) HK1057124A1 (nl)
NL (1) NL1015524C2 (nl)
WO (1) WO2002009103A1 (nl)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3592678B2 (ja) * 2002-02-27 2004-11-24 松下電器産業株式会社 ブランク盤の製造方法とダイレクトスタンパーの製作方法
NL1021760C2 (nl) * 2002-10-28 2004-05-03 Otb Groep B V Moederplaat voor het fabriceren van een stempelplaat alsmede een stempelplaat en opslagmedium en een werkwijze voor het fabriceren van de moederplaat, stempelplaat en opslagmedium.
GB2406543B (en) * 2003-10-04 2006-06-07 Agilent Technologies Inc A method for fabricating masters for imprint lithography and related imprint process

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5877044A (ja) * 1981-10-29 1983-05-10 Sanyo Electric Co Ltd デイスク原盤製造方法
EP0596439A2 (en) * 1992-11-05 1994-05-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of making a master disc usable for the production of optical discs
EP0667608A1 (en) * 1994-02-14 1995-08-16 ODME International B.V. A method of manufacturing a matrix for producing optical disks without the medium of a master
WO1997037348A1 (en) * 1996-04-01 1997-10-09 Bifano Thomas G Process for manufacturing optical data storage disk stamper
WO1999018572A1 (nl) * 1997-10-07 1999-04-15 Odme International B.V. Werkwijze voor het vervaardigen van een stamper voor het voortbrengen van optische schijven, aldus verkregen stamper en optische schijf verkregen onder toepassing van een dergelijke stamper
WO1999052105A1 (en) * 1998-04-06 1999-10-14 Imation Corp. Reverse optical mastering for data storage disks

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4316279A (en) * 1978-09-04 1982-02-16 Rca Corporation Optical recording in thin photoresist
US4790134A (en) * 1987-06-11 1988-12-13 Brunswick Corporation Outboard motor exhaust tube divider
DE3719844A1 (de) * 1987-06-13 1988-12-29 Basf Ag Durch photopolymersisation vernetzbares gemisch
US4964958A (en) * 1988-10-14 1990-10-23 Philips & Du Pont Optical Company Method of producing a metal matrix
JPH02162716A (ja) * 1988-12-15 1990-06-22 Nec Corp 微細パターンの形成方法
US5455145A (en) * 1988-12-24 1995-10-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of manufacturing double layer resist pattern and double layer resist structure
JP2708847B2 (ja) * 1989-02-02 1998-02-04 三洋電機株式会社 光学式ディスク用スタンパー及びその製造方法
US6165697A (en) * 1991-11-15 2000-12-26 Shipley Company, L.L.C. Antihalation compositions
US5635267A (en) * 1992-09-17 1997-06-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical information recording medium of phase change type having variably grooved tracks depending on their radial locations
DE69426482T2 (de) 1993-12-24 2001-07-12 Koninklijke Philips Electronics N.V., Eindhoven Verfahren zur Herstellung eines optischen Informationsträgers, Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens, und nach diesem Verfahren hergestellter optischer Informationsträger
JP3436843B2 (ja) * 1996-04-25 2003-08-18 東京応化工業株式会社 リソグラフィー用下地材及びそれを用いたリソグラフィー用レジスト材料
JP2000021033A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Toshiba Corp 光ディスク原盤
US6303416B1 (en) * 1999-10-07 2001-10-16 International Business Machines Corporation Method to reduce plasma etch fluting

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5877044A (ja) * 1981-10-29 1983-05-10 Sanyo Electric Co Ltd デイスク原盤製造方法
EP0596439A2 (en) * 1992-11-05 1994-05-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of making a master disc usable for the production of optical discs
EP0667608A1 (en) * 1994-02-14 1995-08-16 ODME International B.V. A method of manufacturing a matrix for producing optical disks without the medium of a master
WO1997037348A1 (en) * 1996-04-01 1997-10-09 Bifano Thomas G Process for manufacturing optical data storage disk stamper
WO1999018572A1 (nl) * 1997-10-07 1999-04-15 Odme International B.V. Werkwijze voor het vervaardigen van een stamper voor het voortbrengen van optische schijven, aldus verkregen stamper en optische schijf verkregen onder toepassing van een dergelijke stamper
WO1999052105A1 (en) * 1998-04-06 1999-10-14 Imation Corp. Reverse optical mastering for data storage disks

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 007, no. 172 (P - 213) 29 July 1983 (1983-07-29) *

Also Published As

Publication number Publication date
US7067238B2 (en) 2006-06-27
ATE257618T1 (de) 2004-01-15
EP1295287A1 (en) 2003-03-26
JP2004505398A (ja) 2004-02-19
DE60101744D1 (de) 2004-02-12
DE60101744T2 (de) 2004-10-14
CN1449563A (zh) 2003-10-15
US20040091721A1 (en) 2004-05-13
WO2002009103A1 (en) 2002-01-31
CN1199169C (zh) 2005-04-27
HK1057124A1 (en) 2004-03-12
EP1295287B1 (en) 2004-01-07
US20060099532A1 (en) 2006-05-11
AU2001269608A1 (en) 2002-02-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3006199B2 (ja) 光ディスクの製造方法
JP4204088B2 (ja) プラスチックディスク上に一般および特定アートワークを形成する方法およびプラスチックディスク
NL9400225A (nl) Werkwijze voor het zonder tussenkomst van een master vervaardigen van een stamper voor het voortbrengen van optische schijven.
NL1015524C2 (nl) Werkwijze ter vervaardiging van een substraat om te worden toegepast in een stampervervaardigingsproces, alsmede substraat verkregen volgens een dergelijke werkwijze.
EP1027702B1 (en) A method of manufacturing a stamper for producing optical discs, a stamper thus obtained and an optical disc obtained by using such a stamper
TW200901188A (en) Method of making an optical disc
NL9102062A (nl) Optische schijf en werkwijze voor het vervaardigen daarvan.
US6190748B1 (en) Optical discs
TWI223257B (en) Manufacturing method of stamper for optical information medium, photoresist master therefor, stamper for optical information medium and optical information medium
JP3187067B2 (ja) 光ディスク製造方法
JPH0963130A (ja) 光学的記録担体作製用スタンパ及びその製造方法
TW200306567A (en) Stamper original and its manufacturing method, stamper and its manufacturing method, and optical disk
JPWO2003088235A6 (ja) スタンパ原盤及びその製造方法、スタンパ及びその製造方法、並びに光ディスク
JP2004358923A (ja) 樹脂成形用金属原版の作製方法及びその金属原版
JP3212628B2 (ja) 光ディスク製造方法
JP2001338444A (ja) 原盤、スタンパ及び情報記録媒体の製造方法
JPH0247007A (ja) 裏当て部材付きの型製造方法
JP4213428B2 (ja) 計算機ホログラム成形用樹脂組成物
NL8301070A (nl) Matrijs en methode voor de vervaardiging van voorwerpen uit kunststof door toepassing van de matrijs.
JP3257825B2 (ja) 複製ホログラムの製造方法
JPH01260650A (ja) 光記録媒体の製造方法
JP2001005175A (ja) 情報記録媒体用フォトレジスト
JPH0469296A (ja) 光カード基板の製造方法
JPH03280231A (ja) 光ディスク用スタンパの製造方法
JPS63181141A (ja) 光学的記録媒体の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
PD2B A search report has been drawn up
SD Assignments of patents

Owner name: ODME B.V.

TD Modifications of names of proprietors of patents

Owner name: SINGULUS MASTERING B.V.

VD1 Lapsed due to non-payment of the annual fee

Effective date: 20060101