MD1240G2 - Metodă de testare a dispozitivului de memorie operativă - Google Patents

Abstract

Invenţia se referă la tehnica de calcul şi microelectronică şi poate fi aplicată la producerea şi exploatarea circuitelor supraintegrate cu mijloace compacte implementate de testare şi de diagnostic.Metoda de testare a dispozitivului de memorie operativă cu celule logice unipoziţionale constă în aceea că numărul semnalelor de test se alege egal cu cel al stărilor stabile diferite ale unei celule de memorie, la începutul iteraţiei de test primul şi al doilea semnale de test se înscriu corespunzător în primele două celule ale dispozitivului de capacitatea m (m - numărul de celule). Apoi se repetă de m-2 ori următoarele operaţii: se citeşte şi se adună modulo doi conţinutul celulelor, în care se păstrează semnalele actuale de test, apoi al doilea semnal de test este interpretat în calitate de primul semnal de test, iar rezultatul adunării modulo doi este interpretat în calitate de al doilea semnal de test, se înscrie al doilea semnal de test în următoarea celulă a dispozitivului de memorie operativă. Se compară combinaţia rezultantă de semnale de test cu cea de control şi în cazul coincidenţei se efectuează iteraţiile de test cu alte combinaţii iniţiale nenule ale valorilor semnalelor de test până la prima necoincidenţă a combinaţiei rezultante cu cea de control şi în caz de necoincidenţă se decide că dispozitivul de memorie operativă este defectat.Rezultatul tehnic constă în detectarea defectărilor constante şi a defectărilor de influenţă reciprocă a celulelor de memorie pe contul introducerii “legăturii de reacţie” şi formării succesiunii semnalelor de test cu mijloacele dispozitivului.