KR970703524A - 라만 분광측정 기계 및 방법(raman spectrometry apparatus and method) - Google Patents
라만 분광측정 기계 및 방법(raman spectrometry apparatus and method) Download PDFInfo
- Publication number
- KR970703524A KR970703524A KR1019960706694A KR19960706694A KR970703524A KR 970703524 A KR970703524 A KR 970703524A KR 1019960706694 A KR1019960706694 A KR 1019960706694A KR 19960706694 A KR19960706694 A KR 19960706694A KR 970703524 A KR970703524 A KR 970703524A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- spectrum
- raman
- sample
- reference material
- convolutional
- Prior art date
Links
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 32
- 239000012925 reference material Substances 0.000 claims abstract description 30
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 claims abstract 33
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract 15
- 239000013558 reference substance Substances 0.000 claims abstract 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 30
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 6
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 claims 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F2400/00—Characteristics for processes of polymerization
- C08F2400/02—Control or adjustment of polymerization parameters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J2003/2866—Markers; Calibrating of scan
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
기계의 변화를 측정하고 보정할 수 있는 라만 분광측정 기계는, 거의 단색광인 방사선원; 상기 방사선을 샘플 및 기준 물질과 동시에 연결하기 위한 수단; 하나보다 많은 파장에서 샘플의 회선형 라만 스펙트럼 및 기준 물질의 회선형 스펙트럼을 동시에 얻기 위한 수단; 상기 회선형 스펙트럼의 회선 함수를 결정하고, 상기 회선 함수를 적용하여 상기 샘플의 상기 회선형 라만 스펙트럼을 조절함으로써 상기 샘플의 표준의 라만 스펙트럼을 얻기 위한 수단을 포함함을 특징으로 한다. 샘플의 표준 라만 스펙트럼을 얻기 위한 수단을 포함함을 특징으로 한다. 샘플의 표준 라만 스펙트럼을 얻기 위한 방법은 (a) 샘플 및 기준 물질을 거의 단색광인 방사선원으로 동시에 조사하는 것; (b) 하나보다 많은 파장에서 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼 및 상기 기준 물질의 회선형 스펙트럼을 동시에 획득하는 것; (c) 상기 기준 물질의 표준 스펙트럼을 선택하는 것; (d) 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼, 상기 기준 물질의 회선형 스펙트럼 및 기준 물질의 표준 스펙트럼으로부터 상기 회선형 스펙트럼의 회선 함수를 결정하는 것; 및 (e) 상기 회선 함수를 적용하여 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼을 조절함으로써 상기 샘플의 표준의 라만 스펙트럼을 얻는 것을 포함함을 특징으로 한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 단일 프로브 라만 분광계의 개략적인 도면이다.
제2도는 이중 프로브 라만 분광계의 개략적인 도면이다.
제3도는 샘플 및 기준 물질의 회선형 스펙트럼을 얻기 위한 과정을 예시한 것이다.
제4도는 회선형 샘플 스펙트럼을 표준화하기 위하여 표준 기준 스펙트럼과 회선형 기준 스펙트럼 사이의 차이를 측정하는 푸리에 변환 과정을 예시한 것이다.
제5도는 다중-프로브 라만 분광계의 개략적인 도면이다.
Claims (40)
- 거의 단색광인 방사선원; 상기 방사선을 샘플 및 기준 물질과 동시에 연결하기 위한 수단; 하나보다 많은 파장에서 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼 및 상기 기준 물질의 회선형 스펙트럼을 동시에 얻기 위한 수단; 상기 회선형 스펙트럼의 회선 함수를 결정하고, 상기 회선 함수를 적용하여 상기 샘플의 상기 회선형 라만 스펙트럼을 조절함으로써 상기 샘플의 표준의 라만 스펙트럼을 얻기 위한 수단을 포함함을 특징으로 하는 기계의 변화를 측정하고 보정할 수 있는 라만 분광측정 기계.
- 제1항에 있어서, 상기 방사선원이 레이저인 라만 분광측정 기계.
- 제2항에 있어서, 상기 레이저가 다이오드 레이저인 라만 분광측정 기계.
- 제3항에 있어서, 상기 다이오드 레이저가 다중모드 다이오드 레이저인 라만 분광측정 기계.
- 제1항에 있어서, 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼이 상기 기준 물질의 회선형 라만 스펙트럼을 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제1항에 있어서, 상기 방사선을 샘플 및 기준 물질과 동시에 연결하기 위한 상기 수단이 광학 프로브를 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제6항에 있어서, 상기 광학 프로브가 하나 이상의 광학 섬유를 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제7항에 있어서, 상기 광학 프로브가 상기 기준 물질을 포함하는 윈도우 또는 셀을 추가로 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제1항에 있어서, 하나보다 많은 파장에서 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼 및 상기 기준 물질의 회선형 스펙트럼을 동시에 얻기 위한 상기 수단이 다채널 배열 검출기와 함께 분광사진기를 포함하는 분광측정 기계.
- 제9항에 있어서, 상기 다채널 배열 검출기가 광-다이오드 배열, 강화된 광-다이오드 배열, 전하-커플링된 장치, 사진 필름, 비디콘(Vidicon) 관, 또는 전하 주입 장치인 라만 분광측정 기계.
- 제10항에 있어서, 상기 다채널 배열 검출기가 전하-커플링된 장치인 라만 분광측정 기계.
- 제1항에 있어서, 하나보다 많은 파장에서 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼 및 상기 기준 물질의 회선형 스펙트럼을 동시에 얻기 위한 상기 수단이, 일련의 슬릿을 포함하는 이동가능한 차폐물과 함께 인터페로미터(interferometer) 또는 분산 분광계를 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제1항에 있어서, 상기 회선형 라만 스펙트럼의 회선 함수를 결정하고, 상기 회선 함수를 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼에 적용하여 상기 샘플의 표준의 라만 스펙트럼을 얻기 위한 상기 수단이, 푸리에 변환 알고리즘 또는 반복식 계산을 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제13항에 있어서, 상기 수단이 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼에 적용된 푸리에 변환 알고리즘, 상기 기준 물질의 회선형 스펙트럼, 및 상기 기준 물질의 표준의 스펙트럼을 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제1항에 있어서, 방사선을 둘 이상의 비임(beam)으로 나누기 위한 수단을 추가로 포함하는 분광측정 기계.
- 제15항에 있어서, 방사선을 둘 이상의 비임으로 나누기 위한 상기 수단이 융합된 섬유 광학소자 비임 스플리터(splitter), 프리즘, 또는 반응(half-silvered) 거울을 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제16항에 있어서, 상기 수단이, 융합된 섬유 광학소자 비임 스플리터를 포함하는 라만 분광측정 기계.
- (a) 상기 샘플 및 기준 물질을 거의 단색광인 방사선원으로 동시에 조사하는 것; (b) 하나보다 많은 파장에서 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼 및 상기 기준 물질의 회선형 스펙트럼을 동시에 획득하는 것; (c) 상기 기준 물질의 표준 스펙트럼을 선택하는 것; (d) 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼, 상기 기준 물질의 회선형 스펙트럼 및 상기 기준 물질의 표준 스펙트럼으로부터 상기 회선형 스펙트럼의 회선 함수를 결정하는 것; 및 (e) 상기 회선 함수를 적용하여 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼을 조절함으로써 상기 샘플의 표준의 라만 스펙트럼을 얻는 것을 포함함을 특징으로 하는, 샘플의 표준 라만 스펙트럼을 얻기 위한 방법.
- 제18항에 있어서, 상기 방사선원이 레이저인 방법.
- 제19항에 있어서, 레이저가 다이오드 레이저인 방법.
- 제20항에 있어서, 상기 다이오드 레이저가 다중모드 다이오드 레이저인 방법.
- 제18항에 있어서, 샘플의 회선형 라만 스펙트럼이 기준 물질의 회선형 라만 스펙트럼을 포함하는 방법.
- 제22항에 있어서, 기준 물질의 회선형 라만 스펙트럼이 샘플 용매의 회선형 라만 스펙트럼을 포함하는 방법.
- 제18항에 있어서, 기준 물질의 회선형 스펙트럼이 탄성적으로 산란된 방사를 포함하는 방법.
- 제18항에 있어서, 상기 기준 물질이 다이아몬드를 포함하는 방법.
- 제18항에 있어서, 다채널 배열 검출기와 조합된 제1분광사진기를 사용하여, 하나보다 많은 파장에서 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼 및 상기 기준 물질의 회선형 라만 스펙트럼을 동시에 얻는 것을 수행하는 방법.
- 제26항에 있어서, 상기 다채널 배열 검출기가 전하-커플링된 장치를 포함하는 방법.
- 제18항에 있어서, 다수의 미리 획득한 상기 기준 물질의 회선형 스펙트럼을 평균함으로써, 상기 기준 물질의 표준 스펙트럼을 선택하는 것을 수행하는 방법.
- 제18항에 있어서, 상기 기준 물질의 미리 획득한 스펙트럼을 조절함으로써, 상기 기준 물질의 표준 스펙트럼을 선택하는 것을 수행하는 방법.
- 제18항에 있어서, 푸리에 변환 알고리즘에 의해 상기 회선 함수를 결정하는 것을 수행하는 방법.
- 제26항에 있어서, 상기 기준 물질의 표준 스펙트럼을 제2분광사진기를 사용하여 획득하는 방법.
- 거의 단색광인 방사선원, 광학 도파관, 방사 여파기, 광학 프로브, 분광사진기, 하나보다 많은 파장에서 샘플의 회선형 라만 스펙트럼 및 기준 물질의 회선형 스펙트럼을 동시에 모니터링하는 검출기, 및 상기 기준 물질의 선택된 표준 스펙트럼과 함께 상기 회선형 스펙트럼으로부터 상기 회선형 스펙트럼의 회선 함수를 결정하는 수학적 루틴(routine)이 제공된 컴퓨터를 포함함을 특징으로 하고, 이후 상기 회선함수를 적용하여 상기 샘플의 회선형 라만 스펙트럼을 조절함으로써 상기 샘플의 표준 라만 스펙트럼을 얻는 것을 특징으로 하는, 기계의 가변성을 측정 및 보정할 수 있는 라만 분광측정 기계.
- 제32항에 있어서, 비임 스플리터를 추가로 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제32항에 있어서, 상기 방사선원이 레이저인 라만 분광측정 기계.
- 제34항에 있어서, 상기 레이저가 다중모드 다이오드 레이저인 라만 분광측정 기계.
- 제32항에 있어서, 상기 광학 브로브가 하나 이상의 광학 섬유률 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제33항에 있어서, 상기 비임 스플리터가 융합된 섬유 광학소자 비임 스플리터를 포함하는 라만 분광측정 기계.
- 제32항에 있어서, 상기 분광사진이 분산 분광사진기 또는 FT-인터페로미터인 라만 분관측정 기계.
- 제32항에 있어서, 상기 검출기가 다채널 배열 검출기 또는 다중 검출기인 라만 분관측정 기계.
- 제39항에 있어서, 상기 다채널 배열 검출기가 전하-커플링된 장치인 라만 분광측정 기계.※ 참고사항:최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US250,396 | 1988-09-28 | ||
US08/250,396 US5455673A (en) | 1994-05-27 | 1994-05-27 | Apparatus and method for measuring and applying a convolution function to produce a standard Raman spectrum |
PCT/US1995/005991 WO1995033189A1 (en) | 1994-05-27 | 1995-05-15 | Raman spectrometry apparatus and method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970703524A true KR970703524A (ko) | 1997-07-03 |
Family
ID=22947564
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960706694A KR970703524A (ko) | 1994-05-27 | 1995-05-15 | 라만 분광측정 기계 및 방법(raman spectrometry apparatus and method) |
Country Status (20)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5455673A (ko) |
EP (1) | EP0760938B1 (ko) |
JP (1) | JPH10501333A (ko) |
KR (1) | KR970703524A (ko) |
CN (1) | CN1079533C (ko) |
AT (1) | ATE186981T1 (ko) |
AU (1) | AU682118B2 (ko) |
BR (1) | BR9507781A (ko) |
CA (1) | CA2190627C (ko) |
CO (1) | CO4340571A1 (ko) |
CZ (1) | CZ345196A3 (ko) |
DE (1) | DE69513517T2 (ko) |
ES (1) | ES2139212T3 (ko) |
HU (1) | HUT76508A (ko) |
MY (1) | MY111464A (ko) |
PL (1) | PL317399A1 (ko) |
SK (1) | SK136396A3 (ko) |
TW (1) | TW300280B (ko) |
WO (1) | WO1995033189A1 (ko) |
ZA (1) | ZA954309B (ko) |
Families Citing this family (76)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5638172A (en) * | 1994-05-27 | 1997-06-10 | Eastman Chemical Company | On-line quantitative analysis of chemical compositions by raman spectrometry |
US5856869A (en) * | 1995-05-01 | 1999-01-05 | Ashland Inc | Distributed bragg reflector diode laser for Raman excitation and method for use |
US5935755A (en) * | 1995-08-21 | 1999-08-10 | Xerox Corporation | Method for document marking and recognition |
US5610836A (en) * | 1996-01-31 | 1997-03-11 | Eastman Chemical Company | Process to use multivariate signal responses to analyze a sample |
US6028667A (en) * | 1996-05-13 | 2000-02-22 | Process Instruments, Inc. | Compact and robust spectrograph |
US6100975A (en) * | 1996-05-13 | 2000-08-08 | Process Instruments, Inc. | Raman spectroscopy apparatus and method using external cavity laser for continuous chemical analysis of sample streams |
AU6956096A (en) * | 1996-08-22 | 1998-03-06 | Eastman Chemical Company | On-line quantitative analysis of chemical compositions by raman spectrometry |
JP2001515597A (ja) | 1997-03-14 | 2001-09-18 | ローズマウント アナリティカル インコーポレイテッド | 改良されたレイリー後方散乱制御装置および方法 |
EP0966670A1 (en) * | 1997-03-14 | 1999-12-29 | Rosemount Analytical Inc. | Improved low noise raman analyzer system |
JP2001515595A (ja) * | 1997-03-14 | 2001-09-18 | ローズマウント アナリティカル インコーポレイテッド | 改良されたレイリー後方散乱制御装置および方法 |
US5850623A (en) * | 1997-03-14 | 1998-12-15 | Eastman Chemical Company | Method for standardizing raman spectrometers to obtain stable and transferable calibrations |
DE19736310A1 (de) * | 1997-08-21 | 1999-02-25 | Bayer Ag | Verfahren zur Herstellung von teilhydrierten Acrylnitril-Butadien-Kautschuken (HNBR) unter on-line-Anwendung der Raman-Spektroskopie |
US5982484A (en) * | 1998-02-26 | 1999-11-09 | Clarke; Richard H. | Sample analysis using low resolution Raman spectroscopy |
US6141095A (en) * | 1998-06-10 | 2000-10-31 | New Chromex, Inc. | Apparatus for measuring and applying instrumentation correction to produce a standard Raman spectrum |
US6028666A (en) * | 1998-11-19 | 2000-02-22 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Fiber optic Raman sensor |
DE19919091C2 (de) | 1999-04-27 | 2002-01-17 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Anordnung zur Einstellung der Laserleistung und/oder der Pulslänge eines Kurzpulslasers in einem Mikroskop |
US6353476B1 (en) * | 1999-06-07 | 2002-03-05 | New Chromex, Inc. | Apparatus and method for substantially simultaneous measurement of emissions |
US6208887B1 (en) | 1999-06-24 | 2001-03-27 | Richard H. Clarke | Catheter-delivered low resolution Raman scattering analyzing system for detecting lesions |
EP1203219B1 (en) * | 1999-08-19 | 2010-06-02 | Bruker Optics Inc. | Apparatus for measuring and applying instrumentation correction to produce standard raman spectrum |
US6610351B2 (en) | 2000-04-12 | 2003-08-26 | Quantag Systems, Inc. | Raman-active taggants and their recognition |
FI111191B (fi) * | 2000-10-12 | 2003-06-13 | Valtion Teknillinen | Optinen mittapää ja optisen mittapään valmistusmenetelmä |
US6608678B1 (en) | 2000-10-19 | 2003-08-19 | General Electric Company | Situ determination of DPC and BPA in polycarbonate by Raman spectroscopy |
US6707548B2 (en) | 2001-02-08 | 2004-03-16 | Array Bioscience Corporation | Systems and methods for filter based spectrographic analysis |
EP1442283A1 (de) * | 2001-10-30 | 2004-08-04 | Bayer Aktiengesellschaft | Verfahren zur herstellung von pfropfpolymerisaten |
DE10207733B4 (de) * | 2002-02-22 | 2006-03-23 | Perkin Elmer Bodenseewerk Zweigniederlassung Der Berthold Gmbh & Co. Kg | Spektroskopieverfahren |
FR2841984B1 (fr) * | 2002-07-03 | 2004-11-12 | Jobin Yvon Sa | Systeme differentiel d'analyse pour la spectrometrie raman analytique et industrielle |
US7244937B1 (en) * | 2002-10-15 | 2007-07-17 | Raytheon Company | Optical measurement apparatus with laser light source |
US8213007B2 (en) * | 2003-05-27 | 2012-07-03 | Optotrace Technologies, Inc. | Spectrally sensing chemical and biological substances |
US7002679B2 (en) * | 2004-05-11 | 2006-02-21 | Duke University | Encoded excitation source Raman spectroscopy methods and systems |
EP1766375A1 (en) * | 2004-07-02 | 2007-03-28 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Spectroscopic system with multiple probes |
US7502105B2 (en) * | 2004-09-15 | 2009-03-10 | General Electric Company | Apparatus and method for producing a calibrated Raman spectrum |
CN100351624C (zh) * | 2005-01-13 | 2007-11-28 | 上海众毅工业控制技术有限公司 | 基于喇曼技术的电力变压器油中溶解气体分析装置 |
US7524671B2 (en) | 2005-01-27 | 2009-04-28 | Prescient Medical, Inc. | Handheld raman blood analyzer |
US7688440B2 (en) | 2005-01-27 | 2010-03-30 | Prescient Medical, Inc. | Raman spectroscopic test strip systems |
US7651851B2 (en) * | 2005-01-27 | 2010-01-26 | Prescient Medical, Inc. | Handheld Raman body fluid analyzer |
US7130062B2 (en) * | 2005-01-28 | 2006-10-31 | Raytheon Company | Rapid-response electron-beam deposition system having a controller utilizing leading and trailing deposition indicators |
WO2007075426A2 (en) * | 2005-12-16 | 2007-07-05 | Chemimage Corporation | Method and apparatus for automated spectral calibration |
US8582099B2 (en) * | 2005-12-19 | 2013-11-12 | Optotrace Technologies, Inc. | Monitoring network based on nano-structured sensing devices |
KR100786873B1 (ko) | 2006-09-26 | 2007-12-20 | 삼성에스디아이 주식회사 | 다결정 실리콘 기판의 결정화도 측정방법, 이를 이용한유기 발광 표시 장치의 제조방법 및 유기 발광 표시 장치 |
JP2010529465A (ja) | 2007-06-08 | 2010-08-26 | プレサイエント メディカル, インコーポレイテッド | ラマン分光法を光ファイバ系低コヒーレンスリフレクトメトリと結合した光カテーテル構成 |
GB0810761D0 (en) * | 2008-06-12 | 2008-07-23 | Avacta Ltd | Apparatus and method for raman signal detection |
CN102608094A (zh) * | 2008-06-27 | 2012-07-25 | 同方威视技术股份有限公司 | 拉曼光谱系统及拉曼光谱测量方法 |
WO2010034017A2 (en) * | 2008-09-22 | 2010-03-25 | Life Technologies Corporation | Systems and methods for signal normalization using raman scattering |
US8440959B2 (en) * | 2008-11-18 | 2013-05-14 | Chemimage Corporation | Method and apparatus for automated spectral calibration |
EP2389568A4 (en) * | 2009-01-21 | 2013-11-20 | Rare Light Inc | CORRELATION INTERFEROMETRIC METHODS, DEVICES AND SYSTEMS FOR ROBUST AND LOW COST SPECTROSCOPY |
JP4965706B2 (ja) * | 2010-02-26 | 2012-07-04 | Idec株式会社 | 蛍光スペクトルの識別方法 |
JP5092104B2 (ja) | 2010-08-30 | 2012-12-05 | ナノフォトン株式会社 | 分光測定装置、及び分光測定方法 |
JP5516486B2 (ja) * | 2011-04-14 | 2014-06-11 | 株式会社島津製作所 | 分光測定装置及びプログラム |
JP6113730B2 (ja) * | 2011-09-08 | 2017-04-12 | サーモ エレクトロン サイエンティフィック インストルメンツ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 放出及び透過光学分光計 |
CN102445273A (zh) * | 2011-09-22 | 2012-05-09 | 中国科学院半导体研究所 | 一种用于测量低波数拉曼信号的装置 |
KR20150003715A (ko) * | 2012-04-25 | 2015-01-09 | 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피. | 모드 간섭에 의해 광을 분석하기 위한 장치 및 시스템 |
US9255844B2 (en) * | 2012-09-12 | 2016-02-09 | Teknologian Tutkimuskeskus Vtt | System and method for optical measurement of a target at multiple positions |
WO2014070158A1 (en) * | 2012-10-31 | 2014-05-08 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Multiple spectral measurement acquisition apparatus and the methods of using same |
CN103175822B (zh) * | 2013-02-06 | 2015-08-05 | 中国食品药品检定研究院 | 消除拉曼光谱仪台间差的方法 |
CN104749158B (zh) | 2013-12-27 | 2020-12-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 珠宝玉石鉴定方法及装置 |
US9958327B2 (en) | 2014-10-01 | 2018-05-01 | Nanometrics Incorporated | Deconvolution to reduce the effective spot size of a spectroscopic optical metrology device |
US10031083B2 (en) * | 2014-10-16 | 2018-07-24 | Hitachi High-Technologies Corporation | Fixed position controller and method |
CN104655278B (zh) * | 2015-02-13 | 2016-11-09 | 上海交通大学 | 一种波长定标仪 |
CN105158233B (zh) * | 2015-09-24 | 2017-12-29 | 东北大学 | 一种基于外参照物法和光致漂白的实时拉曼光谱稳定的方法 |
DE102015225871B4 (de) * | 2015-12-18 | 2017-07-27 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren der Stimulierten Raman-Mikroskopie und Mikroskop |
US10495550B2 (en) * | 2016-05-20 | 2019-12-03 | Pulmostics Limited | Identification of chemicals in a sample using GC/SAW and Raman spectroscopy |
US10458962B2 (en) * | 2016-07-22 | 2019-10-29 | Pulmostics Limited | Temperature control for surface acoustic wave sensor |
US10345242B2 (en) * | 2016-11-08 | 2019-07-09 | B&W Tek Llc | Reverse intensity correction for Raman spectral library search |
WO2019077955A1 (ja) * | 2017-10-16 | 2019-04-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | スペクトル分析装置およびスペクトル分析方法 |
WO2019156497A1 (ko) * | 2018-02-08 | 2019-08-15 | 주식회사 스킨어세이 | 광대역 여기광에 의한 라만 분광법 및 장치 |
EP3803293A4 (en) | 2018-05-30 | 2022-06-15 | Pendar Technologies, LLC | METHODS AND DEVICES FOR GAP DIFFERENTIAL RAMAN SPECTROSCOPY WITH INCREASED OCULAR SAFETY AND REDUCED RISK OF EXPLOSION |
CN109520941B (zh) * | 2018-11-20 | 2021-02-09 | 天津大学 | 在线光谱测量仪器的响应函数校正方法 |
EP3734243A1 (en) * | 2019-05-01 | 2020-11-04 | Kaiser Optical Systems Inc. | Standard reference material interface for raman probe |
IT201900006954A1 (it) * | 2019-05-17 | 2020-11-17 | Pietro Fiorentini Spa | Dispositivo per l’analisi della composizione di gas, e relativo metodo di analisi della composizione di gas. |
US11415519B2 (en) * | 2020-01-16 | 2022-08-16 | Nova Ltd | Accurate Raman spectroscopy |
US11698301B2 (en) | 2020-07-31 | 2023-07-11 | Massachusetts Institute Of Technology | Multiplexed sensor network using swept source Raman spectroscopy |
CN111879752A (zh) * | 2020-08-05 | 2020-11-03 | 公安部第三研究所 | 基于双探头采样和自适应机器学习的紫外拉曼光谱检测装置 |
US11899375B2 (en) | 2020-11-20 | 2024-02-13 | Kla Corporation | Massive overlay metrology sampling with multiple measurement columns |
US11828649B2 (en) * | 2021-03-01 | 2023-11-28 | Metrohm Spectro, Inc. | Apparatus and method for calibrating Raman shift |
DE102021107229A1 (de) | 2021-03-23 | 2022-09-29 | Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Online- oder In-situ-Messeinrichtung für eine Konzentrationsmessung eines Gases |
CN113720824B (zh) * | 2021-11-01 | 2022-02-11 | 北京理工大学 | 一种荧光探测系统及荧光光谱拼接方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB8314340D0 (en) * | 1983-05-24 | 1983-06-29 | British Petroleum Co Plc | Separation technique |
US4573761A (en) * | 1983-09-14 | 1986-03-04 | The Dow Chemical Company | Fiber-optic probe for sensitive Raman analysis |
US4620284A (en) * | 1983-12-29 | 1986-10-28 | Uop Inc. | Qualitative and quantitative analysis using Raman scattering |
US4630923A (en) * | 1985-02-04 | 1986-12-23 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Fiberoptic spectrophotometer |
US4802762A (en) * | 1986-10-14 | 1989-02-07 | Southwest Research Institute | Optical inspection of polymer-based materials |
US4927269A (en) * | 1989-01-31 | 1990-05-22 | Bruke Analytische Messtechnik Gmbh | Correction of non-linearities in detectors in fourier transform spectroscopy |
US5311445A (en) * | 1989-04-19 | 1994-05-10 | Board Of Regents Of The University Of Oklahoma | Deconvoluted band representation for infrared spectrum compression |
US5112127A (en) * | 1989-11-28 | 1992-05-12 | Eic Laboratories, Inc. | Apparatus for measuring Raman spectra over optical fibers |
US5048959A (en) * | 1990-06-01 | 1991-09-17 | The Regents Of The University Of Michigan | Spectrographic imaging system |
US5139334A (en) * | 1990-09-17 | 1992-08-18 | Boston Advanced Technologies, Inc. | Hydrocarbon analysis based on low resolution raman spectral analysis |
US5245406A (en) * | 1991-01-11 | 1993-09-14 | Jeol Ltd. | Fourier transform spectroscopy and spectrometer |
US5309217A (en) * | 1991-04-27 | 1994-05-03 | Bruker Analytische Messtechnik | Fourier spectrometer |
US5357337A (en) * | 1992-11-20 | 1994-10-18 | General Electric Company | High speed interferometer fourier transform spectrometer including a weighted capacitive matrix |
-
1994
- 1994-05-27 US US08/250,396 patent/US5455673A/en not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-04-25 TW TW084104094A patent/TW300280B/zh active
- 1995-05-15 WO PCT/US1995/005991 patent/WO1995033189A1/en active IP Right Grant
- 1995-05-15 AU AU25882/95A patent/AU682118B2/en not_active Ceased
- 1995-05-15 KR KR1019960706694A patent/KR970703524A/ko not_active Application Discontinuation
- 1995-05-15 AT AT95920430T patent/ATE186981T1/de not_active IP Right Cessation
- 1995-05-15 BR BR9507781A patent/BR9507781A/pt not_active IP Right Cessation
- 1995-05-15 CN CN95193313A patent/CN1079533C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1995-05-15 DE DE69513517T patent/DE69513517T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-05-15 SK SK1363-96A patent/SK136396A3/sk unknown
- 1995-05-15 HU HU9603124A patent/HUT76508A/hu unknown
- 1995-05-15 CZ CZ963451A patent/CZ345196A3/cs unknown
- 1995-05-15 PL PL95317399A patent/PL317399A1/xx unknown
- 1995-05-15 JP JP8500907A patent/JPH10501333A/ja not_active Ceased
- 1995-05-15 CA CA002190627A patent/CA2190627C/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-05-15 EP EP95920430A patent/EP0760938B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-05-15 ES ES95920430T patent/ES2139212T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1995-05-22 MY MYPI95001328A patent/MY111464A/en unknown
- 1995-05-25 CO CO95022659A patent/CO4340571A1/es unknown
- 1995-05-26 ZA ZA954309A patent/ZA954309B/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1149334A (zh) | 1997-05-07 |
AU2588295A (en) | 1995-12-21 |
CN1079533C (zh) | 2002-02-20 |
DE69513517T2 (de) | 2000-07-06 |
CZ345196A3 (cs) | 1998-02-18 |
SK136396A3 (en) | 1997-08-06 |
AU682118B2 (en) | 1997-09-18 |
ATE186981T1 (de) | 1999-12-15 |
HUT76508A (en) | 1997-09-29 |
EP0760938B1 (en) | 1999-11-24 |
CO4340571A1 (es) | 1996-07-30 |
ES2139212T3 (es) | 2000-02-01 |
CA2190627C (en) | 2000-03-07 |
PL317399A1 (en) | 1997-04-14 |
BR9507781A (pt) | 1997-08-19 |
TW300280B (ko) | 1997-03-11 |
JPH10501333A (ja) | 1998-02-03 |
ZA954309B (en) | 1996-08-14 |
EP0760938A1 (en) | 1997-03-12 |
HU9603124D0 (en) | 1997-01-28 |
US5455673A (en) | 1995-10-03 |
WO1995033189A1 (en) | 1995-12-07 |
MY111464A (en) | 2000-05-31 |
DE69513517D1 (de) | 1999-12-30 |
CA2190627A1 (en) | 1995-12-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970703524A (ko) | 라만 분광측정 기계 및 방법(raman spectrometry apparatus and method) | |
US7808634B2 (en) | Method and apparatus for automated spectral calibration | |
EP3637069B1 (en) | Spectrum measurement method, spectrum measurement device, and broadband pulse light source unit | |
US6351306B1 (en) | Optical measurement probe calibration configurations | |
US6281971B1 (en) | Method for adjusting spectral measurements to produce a standard Raman spectrum | |
US5357336A (en) | Method and apparatus for multivariate characterization of optical instrument response | |
US6204919B1 (en) | Double beam spectrometer | |
CA2240185A1 (en) | Programmable standard for use in an apparatus and process for the noninvasive measurement of optically absorbing compounds | |
US6141095A (en) | Apparatus for measuring and applying instrumentation correction to produce a standard Raman spectrum | |
US6067156A (en) | Wavelength calibration and tracking methods and apparatus | |
Archibald et al. | Raman spectroscopy over optical fibers with the use of a near-IR FT spectrometer | |
US8440959B2 (en) | Method and apparatus for automated spectral calibration | |
US6353476B1 (en) | Apparatus and method for substantially simultaneous measurement of emissions | |
CN101213428A (zh) | 用于测量位移的光谱分布的光谱设备 | |
JP2000283960A (ja) | マイクロチップ電気泳動装置 | |
US11181423B2 (en) | Birefringent interferometer for measuring photoluminescence properties of samples | |
CN104316629A (zh) | 一种液相多通道检测器装置 | |
RU96124777A (ru) | Рамановское спектрометрическое устройство и способ его использования | |
NL7905871A (nl) | Spectrofotometer. | |
EP1203219B1 (en) | Apparatus for measuring and applying instrumentation correction to produce standard raman spectrum | |
CN114235700B (zh) | 一种多组分气体浓度检测装置及方法 | |
Daehler | The Solar Disk Spectrum Near 6708 Å | |
JPH04270943A (ja) | 分光分析装置 | |
Vaganov et al. | The parallel spectrum analyzer of optical signals | |
SU587323A1 (ru) | Устройство дл исследовани напр женно-деформированного соста ни моделей объектов |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |