KR970060533A - 반도체가속도 센서 - Google Patents

반도체가속도 센서 Download PDF

Info

Publication number
KR970060533A
KR970060533A KR1019960032361A KR19960032361A KR970060533A KR 970060533 A KR970060533 A KR 970060533A KR 1019960032361 A KR1019960032361 A KR 1019960032361A KR 19960032361 A KR19960032361 A KR 19960032361A KR 970060533 A KR970060533 A KR 970060533A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
sensor chip
thick film
semiconductor acceleration
acceleration sensor
Prior art date
Application number
KR1019960032361A
Other languages
English (en)
Inventor
하지메 카토
Original Assignee
기다오까 다까시
미쓰비시 뎅끼 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 기다오까 다까시, 미쓰비시 뎅끼 가부시끼가이샤 filed Critical 기다오까 다까시
Publication of KR970060533A publication Critical patent/KR970060533A/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/16Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P1/00Details of instruments
    • G01P1/003Details of instruments used for damping
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P1/00Details of instruments
    • G01P1/02Housings
    • G01P1/023Housings for acceleration measuring devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/0802Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/12Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance
    • G01P15/123Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance by piezo-resistive elements, e.g. semiconductor strain gauges
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/84Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by variation of applied mechanical force, e.g. of pressure
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/30Piezoelectric or electrostrictive devices with mechanical input and electrical output, e.g. functioning as generators or sensors
    • H10N30/304Beam type
    • H10N30/306Cantilevers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
    • G01P2015/0825Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass
    • G01P2015/0828Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass the mass being of the paddle type being suspended at one of its longitudinal ends

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

먼지나 이물에 좌우되는 일이 없이 가속도를 정확하게 검출할 수가 있음과 동시에, 반도체가속도 센서에 큰 충격력이 가해져도 센서칩이 파손하는 일이 없는 반도체가속도 센서의 코스트저감을 꾀한다.
다이어프램부를 형성한 반도체센서칩의 한끝을 기판상에 형성된 적어도 1층의 후막으로 이루어지는 대좌부에 고정해서 한쪽만 고정시킨 구조를 형성하고, 다이어프램부의 변위에서 가속도를 검출하는 반도체 가속도 센서에 있어서, 상기 기판상에 적어도 1층으로 이루어지는 후막으로 형성된 센서칩의 자유단에 대해서, 상기 기판 방향에의 변위량을 제한하기 위한 철부를 가지고, 상기센서칩의 자유단에 마주보는 가판상의 위치에, 상기 대좌부보다 낮은 철부를 설치하고, 해당 철부는 상기 대좌부와 함께 상기 기판상에 후막을 성막하는 공정으로 형성된다.

Description

반도체가속도 센서
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 실시예 1에서의 반도체 가속도 센서의 내부구조예를 나타낸 부분 단면도.

Claims (6)

  1. 다이어프그램(diaphragm)부를 형성한 반도체 센서칩의 한 끝을, 기판상에 형성된 적어도 1층의 후막으로 이루어지는 대좌(臺座)부에 고정해서 한쪽만 고정시킨 구조를 형성하고, 상기 다이어프램부의 변위로 가속도를 검출하는 반도체 가속도 센서에 있어서, 상기 기판상에 적어도 1층으로 이루어지는 후막으로 형성된 상기 센서칩의 자유단에 대해서 상기 기판의 방향에의 변위량을 제한하기 위한 철(凸)부를 가지고, 상기 센서칩의 자유단에 마주보는 기판상의 위치에 상기 대좌부보다 낮은 철부를 설치하고, 해당 철부는 상기 대좌부와 함께 상기 판상에 후막을 성박하는 공정으로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체가속도 센서.
  2. 다이어프램부를 형성한 반도체 센서칩의 한끝을, 기판상에 형성된 적어도 한층의 후막으로 이루어지는 대좌부에 고정하고, 한끝만 고정시킨 구조를 형성해서 센서부를 이루며, 해당 센서부를 보호하기 위해 대략 용기 모양의 수지제 패키지를 피장(被裝)해서 이루어지는, 상기 다이어프램부의 변위에서 가속도를 검출하는 반도체 가속도 센서에 있어서, 상기 기판상에 적어도 1층으로 이루어지는 후막으로 형성된, 상기 센서칩의 자유단에 대해서 상기 기판 방향에의 변위량을 제한하기 위한 철부를 가지고, 상기 센서칩의 자유단에 마주보는 기판상의 위치에 상기 대좌부보다 낮은 철부를 설치하고, 해당 철부는 상기 대좌부와 함께 상기기판 상에 후막을 성막하는 공정으로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체가속도 센서.
  3. 제2항에 있어서, 상기 수지제 패키지는 상기 센서칩의 자유단에 대해서 해당 수지제 패키지 방향에의 변위량을 제한하기 위한 돌기부를 가지고, 해당 돌기부는 상기 수지패키지와 동시에 일체성형으로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체가속도 센서.
  4. 제3항에 있어서, 상기 센서칩과 상기 돌기부와의 톱은 10~100㎛의 범위에서 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체가속도 센서.
  5. 제1항~제4항에 있어서, 상기 철부는 도체간의 절연용의 유리로 이루어지는 후막과, 후막 도체로 이루어 지는 후막을 적층해서 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체가속도 센서.
  6. 제1항~제5항에 있어서, 상기 센서칩과 철부와의 틈은 10~100㎛의 범위로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체가속도 센서.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960032361A 1996-01-18 1996-08-02 반도체가속도 센서 KR970060533A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP96-006454 1996-01-18
JP8006454A JPH09196966A (ja) 1996-01-18 1996-01-18 半導体加速度センサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970060533A true KR970060533A (ko) 1997-08-12

Family

ID=11638887

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960032361A KR970060533A (ko) 1996-01-18 1996-08-02 반도체가속도 센서

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5693884A (ko)
JP (1) JPH09196966A (ko)
KR (1) KR970060533A (ko)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7721590B2 (en) 2003-03-21 2010-05-25 MEAS France Resonator sensor assembly
JP2009160677A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Yamaha Corp Memsおよびmems製造方法
JP6103661B2 (ja) * 2014-01-30 2017-03-29 日立オートモティブシステムズ株式会社 力学量測定装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE8607653U1 (de) * 1986-03-20 1987-08-06 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Beschleunigungsaufnehmer
JPH0499964A (ja) * 1990-08-18 1992-03-31 Mitsubishi Electric Corp 半導体加速度センサ
US5351542A (en) * 1992-01-27 1994-10-04 Kansei Corporation Acceleration sensor assembly

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09196966A (ja) 1997-07-31
US5693884A (en) 1997-12-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960020637A (ko) 회로 소자 실장 구조물
JPH11344507A (ja) マイクロマシンの構成エレメント
KR950019738A (ko) 가속도 센서
KR960032698A (ko) 반도체 센서
KR960039444A (ko) 매개물에 적합한 마이크로센서 구조물 및 이의 제조 방법
KR920018916A (ko) 반도체 장치
KR960029775A (ko) 반도체 압력센서
EP0889521A3 (en) Solid state fingerprint sensor packaging apparatus and method
KR970007307A (ko) 유동매체의 질량측정장치
KR970705802A (ko) 칩 카드 모듈 및 그것에 접속된 코일을 가지는 회로 장치 (circuit with a chip card module and a coil connected therewith)
KR950008183A (ko) 창의 면에 외부물체의 존재를 감지하는 초음파 장치가 부착된 자동차 유리
KR960035993A (ko) 반도체장치
KR970060533A (ko) 반도체가속도 센서
KR920702491A (ko) 내연 기관의 연소실 내의 압력 탐지용 압력 센서
KR970018277A (ko) 반도체 압력 센서
KR910016061A (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
KR970072381A (ko) 이에스디(esd) 보호회로의 구조 및 제조방법
JPH102911A (ja) 容量式センサ及びそれを用いたシステム
US5154120A (en) Reduced friction plate cylinder and printing plate
US11538449B2 (en) Electronic percussion instrument, stroke detection device, and stroke detection method
JPH10185946A (ja) 静電容量型センサ
KR910007091A (ko) 반도체제조장치의 클리닝용 기판
JPH06194382A (ja) 容量式加速度センサ
KR910013567A (ko) 이형상의 소자분리영역의 접합구조를 가지는 반도체장치
JP2001337107A (ja) 半導体加速度センサ及び半導体加速度センサパッケージ

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
NORF Unpaid initial registration fee