KR970028881A - 정전하상 현상용 토너, 화상 형성 방법 및 프로세스 카트리지 - Google Patents
정전하상 현상용 토너, 화상 형성 방법 및 프로세스 카트리지 Download PDFInfo
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Abstract
정전하상 현상용 토너는 적어도 결합제 수지 및 착색제를 함유하는 토너 입자 및 무기 미분의 혼합물로서 형성된다. 무기 미분은 (i) 적어도 실리콘유로 처리된 무기 미분 (A) 및 (ii) 구성 원소로서 적어도 Si를 포함하고 중량 평균 입도 0.3 내지 5㎛인 복합 금속 산화물로 이루어진 무기 미분 (B)를 포함한다. 무기 미분 (A) 및 (B)의 2가지 유형을 함유하므로, 토너에 저습 조건에서 다습 조건을 포함하는 다양한 환경 조건하에 고유동성 및 고마찰전기 전하가 안정적으로 제공된다. 토너는 접촉 대전 수단, 접촉 전사 수단 및 필름(또는 표면) 정착 시스템을 포함하는 화상 형성 시스템에서 적당하게 사용된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명에 따른 프로세스 카트리지의 태양의 개략도.
Claims (68)
- 적어도 결합제 수지 및 착색제를 함유하는 토너 입자 및, (i) 적어도 실리콘유로 처리된 무기 미분 (A) 및 (ii) 구성 원소로서 적어도 Si를 포함하고, 중량 평균 입도 0.3 내지 5㎛인 복합 금속 산화물로 이루어진 무기 미분 (B)를 포함하는 무기 미분으로 이루어지는 정전하상 현상용 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 실리콘유를 사용하여 처리하기 전에 또는 처리와 동시에 실란 결합제로 처리된 것인 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 비표면적 50 내지 400㎡/g 및 소수성 95% 이상인 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)를 제공하기 위한 상기 실리콘유가 25℃에서의 점도 5 내지 2000㎟/초인 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 100중량부 무기 미분을 1.5 내지 60중량부 실리콘유로 처리하여 수득된 것인 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 철 분말로 마찰전기화된 경우, 토너 입자와 동일한 대전 극성을 가지며, |Q11|>150(mC/kg)을 만족시키는 전하 Q1을 갖고, 상기 무기 미분 (B)가 토너 입자로 마찰전기화된 경우, 토너 입자와 반대인 대전 극성을 가지며, |Q2|>3.7(mC/kg)을 만족시키는 전하 Q1을 갖는 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 티타니아, 알루미나 및 실리카로 이루어진 군으로부터 선택된 것으로 이루어진 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 Si 이외에 추가로 구성 원소로서 Sr을 함유하는 복합 금속 산화물로 이루어진 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 토너 입자의 100중량부당 0.05 내지 3중량부로 함유되어 있는 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 토너 입자의 100중량부당 0.05 내지 15중량부로 함유되어 있는 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 중량 평균 입도 0.5 내지 3㎛인 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 하기 화학식 (5)로 나타내어지는 복합 금속 산화물로 이루어진 토너.[M]a[Si]b[O]c(5)상기 식에서, M은 Sr, Mg, Zn, Co, Mn, Ce 및 그의 혼합물로 구성된 군으로부터 선택된 금속 원소를 나타내고, a는 1 내지 9의 정수를 나타내며, b는 1 내지 9의 정수를 나타내고, c는 3 내지 9의 정수를 나타낸다.
- 제12항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 금속 M 및 Si를 1/9 내지 9.0의 비 (a/b)로 함유하는 것인 토너.
- 제12항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 금속 M 및 Si를 0.5 내지 3.0의 비 (a/b)로 함유하는 것인 토너.
- 제12항에 있어서, 복합 금속 산화물이 하기 화학식 (6)으로 나타내어지는 스트론튬 실리케이트로 이루어진 토너.[Sr]a[Si]b[O]c(6)
- 제1항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 SrSiO3, Sr3SiO5, Sr2SiO4및 Sr3Si2O7으로 구성된 군으로부터 선택된 스트론튬 실리케이트로 이루어진 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 SrSiO3로 이루어진 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 토너 입자가 철 분말에 대하여 음전하 마찰전기 대전성을 갖는 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 토너 입자가 중량 평균 입도 5.5 내지 12㎛인 토너.
- 제1항에 있어서, 상기 토너 입자가 중량 평균 입도 5.5 내지 9㎛인 토너.
- 제1대전 부재에 의하여 정전하상 수반 부재를 대전시기는 단계; 광선에 노출시킴으로써 대전된 정전하상 수반 부재상에 정전하상을 형성시키는 단계; 현상 수단에 보유된 상기 토너를 사용하여 정전하상을 현상시켜 정전하상 수반 부재 상에 토너 화상을 형성시키는 단계; 중간체 전사 부재를 통하거나 통하지 않고 전사 수단에 의하여 정전하상 수반 부재 상의 토너 화상을 전사 수용 부재 상으로 전사시키는 단계; 열 정착 수단에 의하여 전사 수용 부재 상의 토너 화상을 열 정착시키는 단계로 이루어지고, 상기 토너가 적어도 결합제 수지 및 착색제를 함유하는 토너 입자 및, (i) 적어도 실리콘유로 처리된 무기 미분 (A) 및 (ii) 구성 원소로서 적어도 Si를 포함하고, 중량 평균 입도 0.3 내지 5㎛인 복합 금속 산화물로 이루어진 무기 미분 (B)를 포함하는 무기 미분으로 이루어지는 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 정전하상 수반 부재가 정전하상 수반 부재에 대하여 인접한 제1대전 수단인 접촉 대전 부재에 의해 대전되는 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 정전하상 수반 부재상의 토너 화상을 전사 수용 재료를 통하여 정전하상 수반 부재에 인접한 전사 수단인 접촉 전사 부재에 의하여 전사 수용 재료 상으로 전사시키는 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 가열 부재, 가열 부재를 따라 배치된 필름 및 반대로 배치된 압착 부재로 이루어진 열 정착 수단인 열 정착 장치에 의하여 전사 수용 재료상으로 토너 화상을 열 정착시키고, 필름을 통하여 가열 부재에 대하여 전사 수용 재료를 밀접하게 압착시키기 위하여, 필름을 통하여 가열 부재에 대하여 압착시키는 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 정전하상 수반 부재를 정전하상 수반 부재에 대하여 인접한 제1대전 수단인 접촉 대전 부재에 의해 대전시키고; 정전하상 수반 부재 상의 토너 화상을 전사 수용 재료를 통하여 정전하상 수반 부재에 대하여 인접한 전사 수단인 접촉 전사 부재에 의하여 전사 수용 재료 상으로 전사시키는 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 정전하상 수반 부재를 정전하상 수반 부재에 대하여 인접한 제1대전 수단인 접촉 대전 부재에 의해 대전시키고; 정전하상 수반 부재 상의 토너 화상을 전사 수용 재료를 통하여 정전하상 수반 부재에 대하여 인접한 전사 수단인 접촉 전사 부재에 의하여 전사 수용 재료 상으로 전사시키며; 토너 화상을 가열 부재, 가열 부재를 따라 배치된 필름 및 반대로 배치된 압착 부재로 이루어진 열 정착 수단인 열 정착 장치에 의하여 전사 수용 재료 상으로 열 정착시키고, 필름을 통하여 가열 부재에 대하여 전사 수용 재료를 밀접하게 압착시키기 위하여, 필름을 통하여 가열 부재에 대하여 압착시키는 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 실리콘유를 사용하여 처리하기 전에 또는 처리와 동시에 실란 결합제로 처리된 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 비표면적 50 내지 400㎡/g 및 소수성 95% 이상을 갖는 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)를 제공하기 위한 상기 실리콘유가 25℃에서의 점도 5 내지 2000㎟/초를 갖는 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 100중량부 무기 미분을 1.5 내지 60중량부 실리콘유로 처리하여 수득된 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 철 분말로 마찰전기화된 경우, 토너 입자와 동일한 대전 극성을 가지며, |Q11|>150(mC/kg)을 만족시키는 전하 Q1을 갖고, 상기 무기 미분 (B)가 토너 입자로 마찰전기화된 경우, 토너 입자와 반대인 대전 극성을 가지며, |Q2|>3.7(mC/kg)을 만족시키는 전하 Q1을 갖는 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 티타니아, 알루미나 및 실리카로 이루어진 군으로부터 선택된 것으로 이루어진 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 Si 이외에 추가로 구성 원소로서 Sr을 함유하는 복합 금속 산화물로 이루어진 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 토너 입자의 100중량부당 0.05 내지 3중량부로 함유되어 있는 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 토너 입자의 100중량부당 0.05 내지 15중량부로 함유되어 있는 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 중량 평균 입도 0.5 내지 3㎛인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 하기 화학식 (5)로 나타내어지는 복합 금속 산화물로 이루어진 것인 화상 형성 방법.[M]a[Si]b[O]c(5)상기 식에서, M은 Sr, Mg, Zn, Co, Mn, Ce 및 그의 혼합물로 구성된 군으로부터 선택된 금속 원소를 나타내고, a는 1 내지 9의 정수를 나타내며, b는 1 내지 9의 정수를 나타내고, c는 3 내지 9의 정수를 나타낸다.
- 제37항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 금속 M 및 Si를 1/9 내지 9.0의 비 (a/b)로 함유하는 것인 화상 형성 방법.
- 제37항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 금속 M 밋 Si를 0.5 내지 3.0의 비 (a/b)로 함유하는 것인 화상 형성 방법.
- 제37항에 있어서, 복합 금속 산화물이 하기 화학식 (6)으로 나타내어지는 스트론튬 실리케이트로 이루어진 것인 화상 형성 방법.[Sr]a[Si]b[O]c(6)
- 제21항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 SrSiO3, Sr3SiO5, Sr2SiO4및 Sr3Si2O7으로 구성된 군으로부터 선택된 스트론튬 실리케이트로 이루어지는 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 SrSiO3로 이루어지는 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 토너 입자가 철 분말에 대하여 음전하 마찰전기 대전성을 갖는 것인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 토너 입자가 중량 평균 입도 5.5 내지 12㎛인 화상 형성 방법.
- 제21항에 있어서, 상기 토너 입자가 중량 평균 입도 5.5 내지 9㎛인 화상 형성 방법.
- 정전하상 수반 부재, 및 정전하상 수반 부재상에 형성된 정전하상을 현상시키기 위한, 내부에 상기한 토너가 함유된 현상 수단으로 이루어지고; 이 정전하상 수반 부재 및 현상 수단이 일체로 통합되어 화상 형성 장치의 주요 어셈블리에 탈착가능하게 장착되며, 상기 토너가 적어도 결합제 수지 및 착색제를 함유하는 토너 입자 및, (i) 적어도 실리콘유로 처리된 무기 미분 (A) 및 (ii) 구성 원소로서 적어도 Si를 포함하고, 중량 평균 입도 0.3 내지 5㎛인 복합 금속 산화물로 이루어진 무기 미분 (B)를 포함하는 무기 미분으로 이루어지는 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 정전하상 수반 부재를 대전시키기 위하여 정전하상 수반 부재에 인접한 접촉 대전 부재를 추가로 포함하는 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 정전하상 수반 부재를 소제하기 위하여 정전하상 수반 부재에 대한 소제 부재를 추가로 포함하는 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 정전하상 수반 부재를 대전시키기 위한 정전하상 수반 부재에 인접한 접촉 대전 부재; 정전하상 수반 부재를 소제하기 위한 정전하상 수반 부재에 인접한 소제 부재를 추가로 포함하는 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 실리콘유를 사용하여 처리하기 전에 또는 처리와 동시에 실란 결합제로 처리된 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 비표면적 50 내지 400㎡/g 및 소수성 95% 이상을 갖는 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)를 제공하기 위한 상기 실리콘유가 25℃에서의 점도 5 내지 2000㎟/초를 갖는 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 100중량부 무기 미분을 1.5 내지 60중량부 실리콘유로 처리하여 수득된 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 철 분말로 마찰전기화된 경우, 토너 입자와 동일한 대전 극성을 가지며, |Q11|>150(mC/kg)을 만족시키는 전하 Q1을 갖고, 상기 무기 미분 (B)가 토너 입자로 마찰전기화된 경우, 토너 입자와 반대인 대전 극성을 가지며, |Q2|>3.7(mC/kg)을 만족시키는 전하Q1을 갖는 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 티타니아, 알루미나 및 실리카로 이루어진 군으로부터 선택된 것으로 이루어진 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 Si 이외에 추가로 구성 원소로서 Sr을 함유하는 복합 금속 산화물로 이루어진 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무기 미분 (A)가 토너 입자의 100중량부당 0.05 내지 3중량부로 함유되어 있는 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 토너 입자의 100중량부당 0.05 내지 15중량부로 함유되어 있는 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무가 미분 (B)가 중량 평균 입도 0.5 내지 3㎛인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 무기 미분 (B)가 하기 화학식 (5)로 나타내어지는 복합 금속 산화물로 이루어진 것인 프로세스 카트리지.[M]a[Si]b[O]c(5)상기 식에서, M은 Sr, Mg, Zn, Co, Mn, Ce 및 그의 혼합물로 구성된 군으로부터 선택된 금속 원소를 나타내고, a는 1 내지 9의 정수를 나타내며, b는 1 내지 9의 정수를 나타내고, c는 3 내지 9의 정수를 나타낸다.
- 제60항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 금속 M 및 Si를 1/9 내지 9.0의 비 (a/b)로 함유하는 것인 프로세스 카트리지.
- 제60항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 금속 M 및 Si를 0.5 내지 3.0의 비 (a/b)로 함유하는 것인 프로세스 카트리지.
- 제60항에 있어서, 복합 금속 산화물이 하기 화학식 (6)으로 나타내어지는 스트론튬 실리케이트로 이루어진 것인 프로세스 카트리지.[Sr]a[Si]b[O]c(6)
- 제46항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 SrSiO3, Sr3SiO5, Sr2SiO4및 Sr3Si2O7으로 구성된 군으로부터 선택된 스트론튬 실리케이트로 이루어지는 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 복합 금속 산화물이 SrSiO3로 이루어지는 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 토너 입자가 철 분말에 대하여 음전하 마찰전기 대전성을 갖는 것인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 토너 입자가 중량 평균 입도 5.5 내지 12㎛인 프로세스 카트리지.
- 제46항에 있어서, 상기 토너 입자가 중량 평균 입도 5.5 내지 9㎛인 프로세스 카트리지.※ 참고사항:최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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