KR970018126A - 미세 패턴 형성 방법 - Google Patents

미세 패턴 형성 방법

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KR970018126A
KR970018126A KR1019950032998A KR19950032998A KR970018126A KR 970018126 A KR970018126 A KR 970018126A KR 1019950032998 A KR1019950032998 A KR 1019950032998A KR 19950032998 A KR19950032998 A KR 19950032998A KR 970018126 A KR970018126 A KR 970018126A
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KR
South Korea
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spin
glass
photoresist pattern
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insulating layer
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KR1019950032998A
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여정호
반효동
성낙근
김진하
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

반사 방지막 대신에 스핀-온 글라스를 이용한 미세 패턴 형성 방법에 관하여 개시한다. 본 발명은 요철을 가지고 있는 반도체 기판 위에 반사 방지를 위하여 스핀-온 글라스를 도포하여 평탄화시키고, 상기 스핀-온 글라스 위에 포토레지스트 패턴을 형성한다. 본 발명에 의하여 상기 스핀-온 글라스를 이용하여 미세 패턴을 형성하는 경우, 상기 포토레지스트 패턴을 마스크로 상기 스핀-온 글라스를 식각하는 단계에서 식각 선택비가 충분히 높기 때문에 상기 포토레지스트 패턴의 옆모습이 나빠지는 문제가 발생하지 않는다. 또한, 상기 스핀-온 글라스 패턴을 불산 수용액으로 용이하게 제거되기 때문에 후속 공정에서 이로 인한 불량을 발생시키지 않는다.

Description

미세 패턴 형성 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도 내지 제8도는 본 발명에 의하여 스핀-온 글라스를 이용하여 게이트 전극을 형성하는 미세 패턴 형성 방법을 보여주는 단면도들이다.

Claims (3)

  1. 요철을 가지고 있는 반도체 기판 위에 대상 물질층을 증착하는 단계; 상기 대상 물질층 위에 보조 절연층을 증착하는 단계; 상기 보조 절연층 위에 스핀-온 글라스를 도포하여 평탄화시키는 단계; 상기 스핀-온 글라스 위에 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계; 상기 포토레지스트 패턴을 마스크로 상기 스핀-온 글라스, 상기 보조 절연층 및 상기 대상 물질층을 식각하는 단계; 및 상기 포토레지스트 패턴 및 식각된 스핀-온 글라스를 제거하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 패턴 형성 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 보조 절연층은 고온 실리콘 산화막인 것을 특징으로 하는 미세 패턴 형성 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 식각된 스핀-온 글라스를 불산 수용액으로 제거하는 것을 특징으로 하는 미세패턴 형성 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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