KR950702262A - 텅스텐의 화학 증기 증착에 유용한 회전 서셉터를 갖는 반도체 웨이퍼처리 클러스터툴 모듈(Rotating susceptor semiconductor wafer processing cluster tool module useful for tungsten CVD) - Google Patents

텅스텐의 화학 증기 증착에 유용한 회전 서셉터를 갖는 반도체 웨이퍼처리 클러스터툴 모듈(Rotating susceptor semiconductor wafer processing cluster tool module useful for tungsten CVD)

Info

Publication number
KR950702262A
KR950702262A KR1019940704609A KR19940704609A KR950702262A KR 950702262 A KR950702262 A KR 950702262A KR 1019940704609 A KR1019940704609 A KR 1019940704609A KR 19940704609 A KR19940704609 A KR 19940704609A KR 950702262 A KR950702262 A KR 950702262A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
wafer
gas
susceptor
support surface
axis
Prior art date
Application number
KR1019940704609A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100313309B1 (ko
Inventor
에프. 포스터 로버트
이. 레베니 헬렌
이. 레블랑크 린
엘. 화이트 카알
에어로라 리크히트
Original Assignee
투그룰 야살
머티리얼즈 리써치 코포레이션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 투그룰 야살, 머티리얼즈 리써치 코포레이션 filed Critical 투그룰 야살
Publication of KR950702262A publication Critical patent/KR950702262A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100313309B1 publication Critical patent/KR100313309B1/ko

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45563Gas nozzles
    • C23C16/45565Shower nozzles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4412Details relating to the exhausts, e.g. pumps, filters, scrubbers, particle traps
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45502Flow conditions in reaction chamber
    • C23C16/45508Radial flow
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/455Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
    • C23C16/45519Inert gas curtains
    • C23C16/45521Inert gas curtains the gas, other than thermal contact gas, being introduced the rear of the substrate to flow around its periphery
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • C23C16/4584Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally the substrate being rotated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • C23C16/463Cooling of the substrate
    • C23C16/466Cooling of the substrate using thermal contact gas
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/54Apparatus specially adapted for continuous coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

클러스터 툴을 위한 반도체 웨이퍼 처리장치(10) 또는 모듈은 텅스텐 또는 질화 티타늄의 블랭킷 또는 선택증착을 위한 CVD와 탈가스화 및 어닐링 프로세스에서 웨이퍼(44)에서의 재료의 전송을 용이하게 하기 위하여 기체 경계층을 얇게 만드는 단일 웨이퍼 회전 서셉터(40)를 구비한다. 바람직하게도, 하향 샤워헤드(35)는 냉각 혼합실(30)로부터 나오는 기체 혼합물을 예를 들어 500 내지 1500rpm으로 고속 회전하는 웨이퍼에 보내어서 웨이퍼 중심의 정체점에서 방사상 외부로 흐르는 기체에 대해 경계층을 씨닝화 시킨다. 반응로의 원활한 형상의 내부면은 난류를 최소로 줄이기 위해 배플(90,101,102) 및 플라즈마 세척 전극(89,90)을 포함한다. 회전 서셉터(40) 내부에서 나오는 불활성 기체는 구조체내의 갭을 채움으로써 난류를 최소로 줄이고, 이동 부품의 오염을 방지하고, 서셉터와 웨이퍼(44) 사이에 열을 전도하고, 서셉터(40)에 웨이퍼를 진공부착시킨다. 서셉터 립(162)은 웨이퍼(44)를 둘러싸고, 세척을 위해 제거가능하고 다른 크기의 웨이퍼를 수용할 수 있고, 선택 CVD 중에 침전을 방지하거나 또는 블랭킷 CVD에서 소비되지 않은 기체를 닦아내는 그러한 프로세스와 같은 다른 프로세스로 립 재료를 변화시킬 수 있다. 립은 기체 흐름을 원활하게 하고, 웨이퍼 모서리에서 열구배를 감소시킨다.

Description

텅스텐의 화학 증기 증착에 유용한 회전 서셉터를 갖는 반도체 웨이퍼처리 클러스터툴 모듈(Rotating susceptor semiconductor wafer processing dluster tool module useful for tungsten CVD)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 원리를 이용하는 웨이퍼 처리 크러스터 툴을 위한 CVD 모듈의 입면도,
제2도는 제1도의 모듈의 CVD 반응로의 단면도.

Claims (54)

  1. 온도 제어식 CVD 반응으로 증착되는 막을 반도체 웨이퍼에 코팅하기 위한 CVD 반응로 장치에 있어서, 내부 공간을 둘러싸고, 상기 공간을 진공압력 레벨로 유지하기 위한 배출 수단을 갖는 밀봉된 용기와, 축선에 대해서 회전하기 위해 용기의 내부 공간내의 처리 공간내에 지지되며 축선에 대해 수직인 웨이퍼 지지면을 갖는 서셉터와, 상기 공간내에 배치되어서 내부의 기체를 비반응 온도로 유지하기 위해 온도 유지 수단과 연결된 기체 분배실과, 형성해야 할 막의 물질을 함유하는 적어도 하나의 반응 기체를 혼합실에 공급하는 수단과, 비처리 온도에서 분배실로부터 축선에 평행한 처리공간 내로 서셉터의 웨이퍼 지지면으로 향하여 수직하게 반응 기체의 흐름을 지향시키기 위해, 웨이퍼 지지면에 평행하게 배치되고 축선상에 대체로 중심이 있으며 웨이퍼 지지면으로부터 이격된 샤워헤드 수단과, 상기 서셉터에 의해 운반되며, 코팅해야 할 웨이퍼의 표면이 샤워헤드 수단에 면한 상태에서 처리를 위해 축선상에 중심이 있는 지지면에 웨이퍼를 보유하는 수단과, 온도 제어식 CVD 반응이 일어나서 코팅 물질이 기판에 막으로서 코팅하게 될 반응 온도로 지지면에 보유된 웨이퍼를 가열하는 수단과, 혼합 기체가 웨이퍼의 중심에서 축선상의 정체점으로 부터 방사상 외향으로 흐르도록 경계층이 웨이퍼의 표면에 인접하여 발생되는 회전속도로 축선상의 서셉터를 회전시키고 따라서 서셉터의 중심에서 서셉터에 유지된 웨이퍼를 회전시키는 구동수단을 포함하고, 상기 회전 속도는 반응 기체를 웨이퍼 표면에 용이하게 도달하게 하고 CVD 프로세스의 부산물이 웨이퍼 표면에서 용이하게 빠져나가도록 하기 위하여 웨이퍼 표면에 바로 인접한 반응 기체 경계층을 얇게 만들 정도로 충분히 빠른 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  2. 제1항에 있어서, 서셉터의 웨이퍼 지지면으로부터 떨어진 거리보다 샤워헤드 수단으로부터 더 멀리 떨어진 축방향으로 이격된 용기내의 기체 배출구와, 처리 공간내에서 난류를 발생시키지 않고 배출구를 통해 배출시키기 위해 배출구와 서셉터의 웨이퍼 지지면 사이에 축방향 위치되고 축선을 둘러싸는 배플 수단을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 배플 수단은 축선 주위에 환상 통로를 각각 한정하는 다수의 축방향 이격된 배플을 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 통로는 배출구에 접근할수록 감소하는 단면적을 갖는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  5. 제4항에 있어서, 처리 공간은 용기 하우징으로 둘러싸고, 서셉터는 처리공간내에 기체 흐름의 난류를 감소시키기 위한 형상으로 된 원활한 외형을 갖는 외부벽 수단을 가지고, 서셉터의 벽 수단은 하우징에서 이격되어서 통로의 단면적보다 큰 단면적을 갖는 통로를 형성하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  6. 제5항에 있어서, 보유 수단은 웨이퍼 지지면에서 웨이퍼를 정전기식으로 보유하는 작용을 하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  7. 제1항에 있어서, 처리 공간내에서 기체의 원활한 흐름을 용이하게 하는 모양으로 된 표면수단을 포함하는 한쌍의 플라즈마 발생 전극을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  8. 제7항에 있어서, 처리 공간은 용기 하우징으로 둘러싸이고, 상기 한 쌍의 전극은 축선을 둘러싸는 제1환상 전극과 샤워헤드 수단을 포함하며, 상기 제1전극은 처리 공간내의 난류를 최소화하기 위해 샤워헤드 수단으로부터 하우징으로 방사상 외향하는 각도로 형성된 원추형 표면 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  9. 제7항에 있어서, 상기 전극중의 하나는 샤워헤드 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  10. 제7항에 있어서, 상기 배출 수단은 서셉터의 웨이퍼 지지면 보다 샤워헤드 수단에서 더 멀리 축방향으로 떨어진 용기내의 기체 배출구와, 서셉터의 웨이퍼 지지면과 상기 배출구 사이에서 축방향으로 위치하여 축선을 둘러싸고 있는 적어도 하나의 환상 배플을 구비하고, 한쌍의 전극이 배플에 형성되는 제2환상 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  11. 제7항에 있어서, 상기 전극은 용기의 내부 부품의 플라즈마 세척을 위하여 전극 내부에서 전극 주위에 이격된 세척 기체 출구의 원형 배열을 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  12. 제1항에 있어서, 서셉터는 웨이퍼 지지면에서 지탱된 웨이퍼의 원형 외부 모서리에 대해 밀접하게 이격되어 있는 크기의 내측 구멍을 가지면서 웨이퍼 지지면을 둘러싸고 있는 환상 립을 가지고, 상기 립이 웨이퍼의 모서리 부근에서 난류 및 방사상 열구배를 감소시키기 위해 웨이퍼 표면과 동일 평면이 되도록 배치된 외향 표면 수단을 가지고, 상기 립의 표면 수단은 사용되지 않은 반응 기체를 위한 스캐빈저로서 작용하기에 충분한 면적을 가지며, 재료위에 코팅을 증착하기 위해 재료상에서 반응기체가 핵을 형성하는 재료로 되어 있으며, 따라서 립을 지나서 반응 공간내로 흐르는 반응물의 양을 감소시키는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  13. 제1항에 있어서, 서셉터는 웨이퍼 지지면에서 지탱된 웨이퍼의 원형 외부 모서리에 대해 밀접하게 이격되어 있는 크기의 내측 구멍을 가지면서 웨이퍼 지지면을 둘러싸고 있는 환상 립을 가지고, 상기 립이 웨이퍼의 모서리 부근에서 난류 및 방사상 열구배를 감소시키기 위해 웨이퍼 표면과 동일 평면이 되도록 배치된 외향 표면 수단을 가지고, 립과 웨이퍼의 모서리 사이에서 웨이퍼로부터의 반응 기체의 흐름을 방지하여 웨이퍼의 모서리와 하단 마진상의 증착을 감소시키기 위해서, 립과 웨이퍼의 모서리 사이에 비반응 기체를 주입하는 수단을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  14. 제13항에 있어서, 상기 비반응 기체 주입 수단은 헬륨 기체 공급원을 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  15. 제1항에 있어서, 반도체 웨이퍼 처리 클러스터 툴의 운반 모듈의 웨이퍼 전달 포트에 밀봉식으로 연결가능한 용기의 내부 공간과 연통하는 밀봉가능한 웨이퍼 전달 포트와, 축선상에서 샤워헤드 수단과 서셉터의 지지면 사이에 있으며 서셉터의 지지표면으로부터 이격된 전달 위치와 전달 포트 사이에서 웨이퍼를 이동시키는 전달 요소로부터 또한 전달 요소로 향하여 웨이퍼를 수령하고 전달하는 웨이퍼 전달 수단을 추가로 포함하며, 상기 전달 수단은 상기 전달 위치와 웨이퍼 지지면 사이에서 웨이퍼를 이동시키는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  16. 제1항에 있어서, 상기 구동 수단은 상기 서셉터를 약 200RPM을 초과하는 속도로 회전시키는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  17. 제1항에 있어서, 상기 구동 수단은 500 내지 1500RPM에서 서셉터를 회전시키는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  18. 제1항에 있어서, 상기 웨이퍼 지지체는 위를 바라보고, 샤워헤드 수단은 반응기체의 흐름을 분배실로부터 아래로 처리공간내로 향하게 하기 위해 아래를 바라보고, 웨이퍼 지지면은 위를 바라보는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  19. 반도체 웨이퍼에 텅스텐 막을 도포하기 위한 제1항의 CVD 반응로 장치에 있어서, 서셉터는 수직축선을 중심으로 하여 회전가능하게 지탱되고 그 지지면에서 수평 웨이퍼를 가지고, 기체 분배실은 혼합실이고, 이 분배실에 연결된 온도 유지수단이 내부의 기체를 제어된 비반응 온도에서 유지하기 위한 냉각 수단을 포함하고, 또한 반응로 장치는 텅스텐 헥사플루오라이드 반응 기체원과, 환원 반응 기체원과, 텅스텐 헥사플루오라이드 반응 기체를 분배실에 공급하는 수단과, 환원 반응 기체를 분배실에 공급하는 수단을 더 포함하고, 샤워헤드 수단은 수평으로 배치되고, 가열수단은 지지면에 보유된 웨이퍼를 반응 기체가 반응하여 텅스텐 막을 웨이퍼 증착하기에 효과적인 반응 온도로 가열하는 수단을 포함하고, 구동 수단의 회전 속도는 웨이퍼 표면에 바로 인접한 반응 기체 경계층을 얇게 만들어서 혼합된 반응 기체를 웨이퍼 표면에 용이하게 도달하게 하고 또한 가열된 웨이퍼에 의한 텅스텐 헥사플루오라이드 환원 반응에서 나온 생성물이 웨이퍼 표면에서 용이하게 빠져나가게 할 정도로 충분히 빠른 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  20. 제19항에 있어서, 웨이퍼 보유수단은 비반응 기체가 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이에서 흐르게 하고 웨이퍼를 서셉터에 유지시키기 위해서 웨이퍼 지지면과 웨이퍼 사이에서 반응 공간내의 압력보다 낮은 진공 압력을 유지하기 위한 수단을 포함하고, 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이의 기체 전도에 의해 열전달을 하기에 충분한 압력을 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이에 비반응 기체를 유지하고, 상기 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이의 비반응 기체는 적어도 1Torr로부터 시작하여, 기체 전도에 의해 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이에서 열을 전달하기에 효과적인 것보다는 크지 않은 압력으로 유지되는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  21. 제19항에 있어서, 내부에 세척 기체 출구를 갖는 처리공간내의 한쌍의 플라즈마 발생 전극과, NF3기체원가, 상기 기체원으로부터 상기 출구로 NF3기체를 공급하는 수단을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  22. 제19항에 있어서, 상기 서셉터는 웨이퍼 지지면상에 지지된 웨이퍼 원형 외부 모서리에 인접한 치수의 내부 구멍을 가지며 또한 웨이퍼 지지면을 둘러싸는 환상 립을 가지고, 상기 립은 웨이퍼의 모서리 부근에서 난류와 방사상 열구배를 감소시키기 위해 웨이퍼의 동일 평면에 위치된 표면 수단을 가지고, 립과 웨이퍼 지지면은 반응 기체가 코팅 증착을 위해 핵을 형성하지 않으므로써 웨이퍼에서 선택 증착을 용이하게 하는 재료로 형성되는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  23. 제22항에 있어서, 상기 보유 수단은 웨이퍼를 웨이퍼 지지면에 정전기적으로 유지하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  24. 제1항에 있어서, 분배실은 내부의 기체를 제어된 비처리 온도에서 유지하기 위하여 연결된 온도 유지수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  25. 제1항에 있어서, 서셉터는 서셉터의 웨이퍼 지지면과 구동 수단으로의 열전달을 감소시키기 위하여 벽위에 고성능 반사표면 수단을 갖는 서셉터 벽의 내부에 의해 한정된 준공 내부를 갖는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  26. 제1항에 있어서, 서셉터는 서셉터 벽으로 둘러싸인 내부를 가지고, 서셉터 벽의 외부는 서셉터로부터 벗어나는 복사 열을 증가시켜 웨이퍼 지지면과 구동 수단 사이의 열 전달을 감소시키기 위하여 저성능 반사표면 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  27. 제1항에 있어서, 서셉터는 웨이퍼 지지면과 구동 수단 사이의 열전달을 감소시키도록 얇은 서셉터 벽 수단으로 둘러싸인 중공 내부를 갖는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  28. 제1항에 있어서, 서셉터를 구동 수단에 고정하고 또한 웨이퍼 지지면과 구동 수단 사이의 열전달을 감소시키는 열 블록을 제공하기 위해 서셉터와 구동 수단 사이에 낮은 열 전도성 장착 수단을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  29. 제28항에 있어서, 서셉터는 서셉터 벽에 둘러싸인 중공 내부를 가지고, 상기 장착 수단은 서셉터 벽상의 제1장착 구조물과, 구동 수단에 고정된 제2장착 구조물을 포함하고, 제1 및 제2 장착 구조물은 상호 접촉되며, 제2장착 구조물은 제1 및 제2 장착 구조물의 경계면에서 작은 열 접촉 표면을 제공하는 감소된 단면적을 갖는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  30. 제1항에 있어서, 상기 서셉터는 처리 공간내의 기체 흐름의 난류를 최소화 하기 위한 외부 형상을 갖는 것을 유연한 형상의 외부벽을 갖는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  31. 제1항에 있어서, 상기 서셉터는 웨이퍼 지지면상에 지지된 웨이퍼의 원형 외부 모서리에 인접한 내부 구멍을 가지며 또한 웨이퍼 지지면을 둘러싸는 환상 립을 가지고, 상기 립은 웨이퍼의 모서리 부근에서 난류와 방사상 열구배를 감소시키기 위해 웨이퍼의 동일 평면에 위치된 외부 표면을 갖는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  32. 제31항에 있어서, 상기 접은 처리 공간내의 난류를 감소시키기 위한 원형 외부 립 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  33. 제31항에 있어서, 상기 립은 서셉터에 착탈가능하게 부착된 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  34. 제1항에 있어서, 서셉터는 웨이퍼 지지면에서 지탱된 제1크기의 웨이퍼의 원형 외부 모서리에 대해 밀접하게 이격되어 있는 크기의 내측 구멍을 가지면서 웨이퍼 지지면을 둘러싸고 있는 환상 립을 가지고, 상기 립이 웨이퍼의 모서리 부근에서 난류 및 방사상 열구배를 감소시키기 위해 웨이퍼 표면과 동일 평면이 되도록 배치된 외부 표면 수단을 가지고, 장치는 서셉터가 여러가지 규격의 웨이퍼를 수용하도록, 제1규격과 다른 제2규격의 웨이퍼의 원형 외부 모서리에 인접한 치수의 내부 구멍을 갖는 제2대체 립을 추가로 포함하고, 상기 립은 서셉터에 착탈가능하고 교환가능하게 부착가능한 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  35. 제1항에 있어서, 비반응 기체원을 더 포함하고, 상기 웨이퍼 보유 수단은 상기 비반응 기체원으로부터 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이로 비반응 기체를 흐르게 만들며 또한 서셉터에 웨이퍼의 보유를 용이하게 하기 위해 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이의 진공 압력을 반응 공간내의 입력보다 낮게 유지하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  36. 제35항에 있어서, 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이의 비반응 기체는 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이의 기체 전도에 의해 열전달을 제공하기에 충분한 압력에서 유지되는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  37. 제1항에 있어서, 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이의 기체 전도에 의해 열전달을 제공하기에 충분한 압력에서 웨이퍼와 웨이퍼 지지면 사이에 비반응 기체를 제공하는 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  38. 제1항에 있어서, 상기 용기는 처리공간을 둘러싸며, 축선상에서 샤워헤드로부터 서셉터에 대향하여 처리 공간내에 구멍을 갖는 고정 하우징을 포함하고, 상기 구동 수단은 하우징내의 구멍을 통하여 연장되며, 하우징과 구동축 사이에 구동축 포위 공간을 형성하는 구동축을 포함하며, 상기 구동축은 용기내에서 상기 구동축의 한 단부에서 서셉터에 연결되고, 상기 장치는 하우징의 구멍에서 하우징상에 구동축을 회전가능하게 지지하는 베어링 수단과, 상기 베어링 수단의 오염을 감소시키기 위해 베어링 수단과 처리공간 사이의 틈새 공간내에 비반응 기체를 순환시키는 수단을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  39. 제38항에 있어서, 상기 순환 수단은 베어링 수단과 처리공간 사이의 틈새 공간과 연통하는 진공 출구 통로와, 베어링 수단과 처리공간 사이의 틈새 공간과 연통하여 진공 출구 통로의 한쪽에 하나씩 2개의 비반응 기체 입구 통로와, 상기 입구 통로에 연결된 비반응 기체원을 포함하는 것을 특징으로 하는 CVD 반응로 장치.
  40. 반도체 웨이퍼의 처리 장치에 있어서, 내부 공간을 둘러싸고, 상기 공간을 진공 압력 레벨로 유지하기 위한 배출 수단을 갖는 밀봉된 용기와, 축선에 대해서 회전하기 위해 용기의 내부 공간내의 처리 공간내에 지지되며, 축선에 대해 수직인 웨이퍼 지지면을 위에 갖는 서셉터와, 상기 공간내에 배치된 기체 분배실과, 상기 분배실로 적어도 하나의 프로세스 기체를 공급하는 수단과, 비처리 온도에서 분배실로부터 축선에 평행한 처리 공간내로 서셉터의 웨이퍼 지지면으로 향하여 수직하게 프로세스 기체의 흐름을 지향시키기 위해, 웨이퍼의 지지면에 평행하게 배치되고 축선상에 대체로 중심이 있으며 웨이퍼 지지면으로부터 이격된 분배실과 교통하는 샤워헤드 수단과, 상기 서셉터에 의해 운반되며, 웨이퍼의 표면이 샤워헤드 수단에 면한 상태에서 처리해야할 웨이퍼 표면을 처리하기 위해 축선상에 중심이 있는 지지면에 웨이퍼를 유지하는 수단과, 지지면에 유지된 웨이퍼의 온도를 처리 온도로 유지하는 수단과, 상기 프로세스 기체가 웨이퍼의 중심에서 축선상의 정체점으로부터 ㅂ방사상 외향으로 흐르도록 경계층이 웨이퍼의 표면에 인접하여 발생되는 회전 속도로 축선상의 서셉터를 회전시키고 따라서 서셉터의 중심에서 서셉터에 유지된 웨이퍼를 회전시키는 구동 수단을 포함하고, 상기 회전 속도는 프러세스 기체가 웨이퍼에 용이하게 흐르게 하고 또한 프로세스 생성물이 웨이퍼의 표면으로부터 용이하게 빠져나가도록 하기 위해 웨이퍼 표면에 바로 인접한 경계층을 얇게 하기에 충분히 빠른 것을 특징으로 한는 반도체 처리 장치.
  41. 제40항에 있어서, 상기 웨이퍼의 표면으로부터 바람직하지 않은 재료를 제거하기 위한 반도체 웨이퍼의 처리 장치로서, 상기 프로세스 기체는 처리 온도와 진공 압력 레벨에서 바람직하지 않은 재료가 이동해 들어가는 선택된 프로세스 기체이고, 처리 온도는 처리 전에 웨이퍼의 표면에 존재하는 바람직하지 않은 재료가 선택된 프로세스 기체에 인접할 때에 웨이퍼 표면으로부터 선택된 프로세스 기체내로 이동하는 온도이며, 온도 유지 수단은 지지면상에 유지된 웨이퍼를 처리 온도로 가열하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 처리 장치.
  42. 제41항에 있어서, 웨이퍼로부터 수증기를 제거하기 위해 웨이퍼상에 예열탈가스 공정을 수행하기 위한 반도체 웨이퍼의 처리 장치로서, 프로세스 기체는 그 안으로 수증기가 이동하는 비반응 기체이고, 웨이퍼의 표면은 실리케이트 유리재료로 형성되고, 처리 온도는 대략 450℃ 내지 800℃의 범위인 것을 특징으로 하는 반도체 처리 장치.
  43. 제41항에 있어서, 웨이퍼로부터 염소를 제거하기 위해 웨이퍼에 후 CVD 어닐링 공정을 수행하기 위한 반도체 웨이퍼의 처리 장치로서, 프로세스 기체는 암모니아이고, 어닐링 되는 웨이퍼의 표면은 질화티타늄으로 코팅되며, 처리 온도는 대략 450℃ 내지 800℃의 범위인 것을 특징으로 하는 반도체 처리 장치.
  44. 웨이퍼와 정상 흐름 프로세스 기체 사이에 재료를 전달하기 위해 반도체 웨이퍼에서 온도 제어식 프로세스를 실시하는 방법에 있어서, 밀봉 용기의 내부 공간에서 서셉터의 원형 웨이퍼 지지면에 원형 반도체 웨이퍼를 동심원상에서 보유하고 진공 압력 수준으로 공간을 진공화시키는 단계와, 축선 주위에 균일하게 분배하도록 서셉터상의 웨이퍼를 향해 축선에 평행하게 프로세스 기체를 지향시키는 단계와, 축선 및 서셉터 주위에서균일하게 공간으로부터 기체를 배출시키는 단계와, 웨이퍼의 중심에 대해 수직인 축선상에서 이 축선을 중심으로 서셉터를 회전시키며 이에 의해 프로세스 기체가 웨이퍼 중심에 있는 정체점 에서부터 방사상 외부로 흘러 웨이퍼 부근에서 경계층만큼 이격되도록 만드는 회전 단계와, 서셉터상의 웨이퍼의 온도를 이 프로세스를 발생시키기에 효과적인 처리 온도에서 유지하는 단계를 구비하고, 여기서 웨이퍼는 프로세스 기체와 웨이퍼간의 재료의 전달을 용이하게 하기 위하여 웨이퍼에 바로 인접한 경계층을 얇게 만들 정더로 충분히 빠른 회전 속도에서 회전하는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
  45. 제44항에 있어서, 상기 프로세스 기체 지향 단계는 프로세스 기체를 기체 분배실내로 주입하는 단계와, 기체를 축선에 대하여 평행한 균일한 샤워 형태로 또한 축 주위에 균일한 분포로 상기 기체 분배실로부터 서셉터상의 웨이퍼로 향하게 하는 지향단계를 포함하며, 상기 배출 단계는 혼합실로부터 서셉터에 대향하여 축선 주위에 균일하게 분포된 배출 오리피스 수단으로부터 기체를 배출시키는 단계를 포함하고, 따라서, 프로세스 기체는 혼합실로부터 축선에 평행하게 흐르고, 다음에는 축선에 대하여 대체로 수직하게 웨이퍼로부터 경계층에 대향하여 축선으로부터 방사상 외부로 흐르고, 다음에는 서셉터 주위에서 균일하게 오리피스 수단을 향하여 축선에 대하여 대체로 평행하게 흐르고, 용기의 벽은 비반응 온도에서 유지되는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
  46. 제44항에 있어서, 온도 제어식 CVD 프로세스에 의해 웨이퍼의 표면에 코팅을 적용하기 위한 반도체 웨이퍼상에서 온도 제어식 프로세스를 실시하는 방법으로서, 상기 프로세스 기체는 반응 온도에서 웨이퍼와 밀접한 접촉 상태로 유지될 때 웨이퍼상에 반응하여 증착될 적어도 하나의 물질을 포함하는 적어도 하나의 반응 기체를 포함하고, 비반응 온도에서 웨이처로 향하여, 상기 처리 온도 유지 단계는 서셉터상의 웨이퍼를 반응 온도로 유지하는 단계를 포함하고, 상기 웨이퍼는 재료를 반응 기체로부터 웨이퍼로 이송시키고 또한 반응 부산물을 웨이퍼로부터 외향으로 흐르는 프로세스 기체로 이송시키기 위해 웨이퍼에 바로 인접한 경계층을 얇게 하기에 충분히 높은 회전 속도로 회전하는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
  47. 제46항에 있어서, 상기 프로세스 기체 지향 단계는 반응 기체와 제2 기체를 분배실내에서 비반응 온도로 유지하는 동안에 분배실내에서 상기 반응 기체와 제2 기체를 혼합시키는 단계와, 상기 혼합된 기체를 축선에 대하여 평행한 균일한 샤워 형태로 또한 축선 주위에 균일한 분포로 서셉터상의 웨이퍼로 향하게 하는 지향 단계를 포함하며, 상기 배출 단계는 혼합실로부터 서셉터에 대향하여 축선 주위에 균일하게 분포된 배출 오리피스 수단으로부터 기체를 배출시키는 배출 단계를 포함하고, 따라서, 프러세스 기체는 혼합실로부터 축선에 평행하게 흐르고, 다음에는 축선에 대하여 대체로 수직하게 웨이처로부터 경계층에 대향하여 축선으로부터 방사상 외부로 흐르고, 다음에는 서셉터 주위에서 균일하게 오리피스 수단을 향하게 축선에 대하여 대체로 평행하게 흐르며, 상기 용기의 벽은 비반응 온도로 유지되는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
  48. 제44항에 있어서, 상기 웨이퍼 지지체는 상부에 웨이퍼를 지지한 상태로 위를 바라보고, 상기 프로세스 기체는 아래로 웨이퍼로 향하며, 정체점으로부터 외향으로 수평으로 흐르고, 상기 공간으로부터 서셉터 주위로 균일하게 흐르는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
  49. 제44항에 있어서, 상기 웨이퍼로부터 수증기를 제거하기 위한 반도체 웨이퍼상에 온도 제어식 프로세스를 실시하는 방법으로서, 상기 프로세스 기체는 비반응 기체이고, 웨이퍼의 온도는 약 450℃와 800℃ 사이에 유지되고, 상기 웨이퍼는 수증기를 웨이퍼로부터 외향으로 흐르는 프로세스 기체로 이송시키기 위해 웨이퍼에 바로 인접한 경계층을 얇게 하기에 충분히 높은 회전 속도로 회전하는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
  50. 제44항에 있어서, 상기 반도체 웨이퍼상의 질화티타늄 막으로부터 염소를 제거하기 위한 반도체 웨이퍼상에서 온도 제어식 프로세스를 실시하는 방법으로서, 상기 프로세스 기체는 화학 반응에 의해 염소를 끌어 당기고자 하는 기체이고, 웨이퍼의 온도는 약 450℃와 800℃ 사이에 유지되고, 상기 웨이퍼는 염소를 웨이퍼로부터 외향으로 흐르는 프로세스 기체로 이송시키기 위해 웨이퍼에 바로 인접한 경계층을 얇게 하기에 충분히 높은 회전 속도로 회전하는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
  51. 제50항에 있어서, 상기 반도체 웨이퍼상의 질화티타늄 막으로부터 염소를 제거하기 위한 반도체 웨이퍼상에서 온도 제어식 프로세스를 실시하는 방법으로서, 상기 프로세스 기체는 암모니아를 포함하는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
  52. 제44항에 있어서, 상기 회전 속도는 200rpm을 초과하는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
  53. 제44항에 있어서, 상기 회전 속도는 500과 1500rpm 사이에 있는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
  54. 제44항에 있어서, 상기 세척 기체의 흐름을 축선에 평행하게 서셉터로 향하도록 지향시키는 단계와, 세척 기체의 플라즈마를 발생시키기 위해 세척 기체를 전기식으로 여과시키는 단계와, 플라즈마가 발생되는 동안에 서셉터를 회전시키는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 온도 제어식 프로세스 실시 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940704609A 1992-06-15 1993-06-11 온도제어식프로세스를실시하는방법및반도체웨이퍼의처리장치 KR100313309B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US898826 1992-06-15
US07/898,826 US5370739A (en) 1992-06-15 1992-06-15 Rotating susceptor semiconductor wafer processing cluster tool module useful for tungsten CVD
PCT/US1993/005615 WO1993025723A1 (en) 1992-06-15 1993-06-11 Rotating susceptor semiconductor wafer processing cluster tool module useful for tungsten cvd

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR950702262A true KR950702262A (ko) 1995-06-19
KR100313309B1 KR100313309B1 (ko) 2001-12-28

Family

ID=25410084

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940704609A KR100313309B1 (ko) 1992-06-15 1993-06-11 온도제어식프로세스를실시하는방법및반도체웨이퍼의처리장치

Country Status (10)

Country Link
US (1) US5370739A (ko)
EP (1) EP0644953B1 (ko)
JP (1) JP3324754B2 (ko)
KR (1) KR100313309B1 (ko)
AU (1) AU4632993A (ko)
CA (1) CA2138292C (ko)
DE (1) DE69323079T2 (ko)
SG (1) SG54153A1 (ko)
TW (1) TW242193B (ko)
WO (1) WO1993025723A1 (ko)

Families Citing this family (111)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06244269A (ja) * 1992-09-07 1994-09-02 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置並びに半導体製造装置におけるウエハ真空チャック装置及びガスクリーニング方法及び窒化膜形成方法
US5803977A (en) * 1992-09-30 1998-09-08 Applied Materials, Inc. Apparatus for full wafer deposition
US5444217A (en) * 1993-01-21 1995-08-22 Moore Epitaxial Inc. Rapid thermal processing apparatus for processing semiconductor wafers
US5695568A (en) * 1993-04-05 1997-12-09 Applied Materials, Inc. Chemical vapor deposition chamber
JP2934565B2 (ja) * 1993-05-21 1999-08-16 三菱電機株式会社 半導体製造装置及び半導体製造方法
US5511799A (en) * 1993-06-07 1996-04-30 Applied Materials, Inc. Sealing device useful in semiconductor processing apparatus for bridging materials having a thermal expansion differential
US5565382A (en) * 1993-10-12 1996-10-15 Applied Materials, Inc. Process for forming tungsten silicide on semiconductor wafer using dichlorosilane gas
KR100291971B1 (ko) * 1993-10-26 2001-10-24 야마자끼 순페이 기판처리장치및방법과박막반도체디바이스제조방법
US5665640A (en) 1994-06-03 1997-09-09 Sony Corporation Method for producing titanium-containing thin films by low temperature plasma-enhanced chemical vapor deposition using a rotating susceptor reactor
US5628829A (en) 1994-06-03 1997-05-13 Materials Research Corporation Method and apparatus for low temperature deposition of CVD and PECVD films
AU1745695A (en) 1994-06-03 1996-01-04 Materials Research Corporation A method of nitridization of titanium thin films
US5975912A (en) 1994-06-03 1999-11-02 Materials Research Corporation Low temperature plasma-enhanced formation of integrated circuits
US6361618B1 (en) 1994-07-20 2002-03-26 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus for forming and maintaining high vacuum environments
US5562947A (en) * 1994-11-09 1996-10-08 Sony Corporation Method and apparatus for isolating a susceptor heating element from a chemical vapor deposition environment
US5982986A (en) * 1995-02-03 1999-11-09 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for rotationally aligning and degassing semiconductor substrate within single vacuum chamber
US5610106A (en) * 1995-03-10 1997-03-11 Sony Corporation Plasma enhanced chemical vapor deposition of titanium nitride using ammonia
US5569356A (en) * 1995-05-19 1996-10-29 Lam Research Corporation Electrode clamping assembly and method for assembly and use thereof
US5567483A (en) * 1995-06-05 1996-10-22 Sony Corporation Process for plasma enhanced anneal of titanium nitride
TW331652B (en) * 1995-06-16 1998-05-11 Ebara Corp Thin film vapor deposition apparatus
US6086680A (en) * 1995-08-22 2000-07-11 Asm America, Inc. Low-mass susceptor
WO1997009737A1 (en) * 1995-09-01 1997-03-13 Advanced Semiconductor Materials America, Inc. Wafer support system
US6113702A (en) 1995-09-01 2000-09-05 Asm America, Inc. Wafer support system
US5881208A (en) * 1995-12-20 1999-03-09 Sematech, Inc. Heater and temperature sensor array for rapid thermal processing thermal core
WO1998023788A1 (en) * 1996-11-27 1998-06-04 Emcore Corporation Chemical vapor deposition apparatus
US6217655B1 (en) * 1997-01-31 2001-04-17 Applied Materials, Inc. Stand-off pad for supporting a wafer on a substrate support chuck
US5834371A (en) * 1997-01-31 1998-11-10 Tokyo Electron Limited Method and apparatus for preparing and metallizing high aspect ratio silicon semiconductor device contacts to reduce the resistivity thereof
US5989652A (en) * 1997-01-31 1999-11-23 Tokyo Electron Limited Method of low temperature plasma enhanced chemical vapor deposition of tin film over titanium for use in via level applications
US6093645A (en) * 1997-02-10 2000-07-25 Tokyo Electron Limited Elimination of titanium nitride film deposition in tungsten plug technology using PE-CVD-TI and in-situ plasma nitridation
US6271121B1 (en) 1997-02-10 2001-08-07 Tokyo Electron Limited Process for chemical vapor deposition of tungsten onto a titanium nitride substrate surface
US5906866A (en) * 1997-02-10 1999-05-25 Tokyo Electron Limited Process for chemical vapor deposition of tungsten onto a titanium nitride substrate surface
AT407586B (de) * 1997-05-23 2001-04-25 Sez Semiconduct Equip Zubehoer Anordnung zum behandeln scheibenförmiger gegenstände, insbesondere von siliziumwafern
US6161500A (en) 1997-09-30 2000-12-19 Tokyo Electron Limited Apparatus and method for preventing the premature mixture of reactant gases in CVD and PECVD reactions
US6014082A (en) * 1997-10-03 2000-01-11 Sony Corporation Temperature monitoring and calibration system for control of a heated CVD chuck
DE69813014T2 (de) * 1997-11-03 2004-02-12 Asm America Inc., Phoenix Verbesserte kleinmassige waferhaleeinrichtung
DE19750909C1 (de) * 1997-11-17 1999-04-15 Bosch Gmbh Robert Drehvorrichtung zur plasma-immersions-gestützten Behandlung von Substraten
US6210483B1 (en) 1997-12-02 2001-04-03 Applied Materials, Inc. Anti-notch thinning heater
US6077404A (en) * 1998-02-17 2000-06-20 Applied Material, Inc. Reflow chamber and process
US6596086B1 (en) * 1998-04-28 2003-07-22 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Apparatus for thin film growth
US6424733B2 (en) 1998-07-20 2002-07-23 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for inspecting wafers
US6170433B1 (en) * 1998-07-23 2001-01-09 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for processing a wafer
US20030101938A1 (en) * 1998-10-27 2003-06-05 Applied Materials, Inc. Apparatus for the deposition of high dielectric constant films
US6364954B2 (en) 1998-12-14 2002-04-02 Applied Materials, Inc. High temperature chemical vapor deposition chamber
US6159299A (en) * 1999-02-09 2000-12-12 Applied Materials, Inc. Wafer pedestal with a purge ring
US6173673B1 (en) 1999-03-31 2001-01-16 Tokyo Electron Limited Method and apparatus for insulating a high power RF electrode through which plasma discharge gases are injected into a processing chamber
EP1196645B1 (en) * 1999-07-13 2004-09-15 Aixtron AG Seal means and its application in deposition reactor
AU6491600A (en) * 1999-07-26 2001-02-13 Emcore Corporation Apparatus for growing epitaxial layers on wafers
US6582780B1 (en) * 1999-08-30 2003-06-24 Si Diamond Technology, Inc. Substrate support for use in a hot filament chemical vapor deposition chamber
US6461434B1 (en) * 1999-09-27 2002-10-08 Advanced Micro Devices, Inc. Quick-change flange
JP2001284267A (ja) * 2000-04-03 2001-10-12 Canon Inc 排気処理方法、プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
DE10104319C1 (de) * 2001-01-25 2002-07-25 Erich Thallner Rotierende Halterung für einen Wafer
US20020126437A1 (en) * 2001-03-12 2002-09-12 Winbond Electronics Corporation Electrostatic chuck system and method for maintaining the same
US9076843B2 (en) 2001-05-22 2015-07-07 Novellus Systems, Inc. Method for producing ultra-thin tungsten layers with improved step coverage
US20030168174A1 (en) 2002-03-08 2003-09-11 Foree Michael Todd Gas cushion susceptor system
US6921556B2 (en) * 2002-04-12 2005-07-26 Asm Japan K.K. Method of film deposition using single-wafer-processing type CVD
DE10217806A1 (de) * 2002-04-22 2003-10-30 Aixtron Ag Verfahren und Vorrichtung zum Abscheiden dünner Schichten auf einem Substrat in einer höherverstellbaren Prozesskammer
US7122844B2 (en) * 2002-05-13 2006-10-17 Cree, Inc. Susceptor for MOCVD reactor
US20050170314A1 (en) * 2002-11-27 2005-08-04 Richard Golden Dental pliers design with offsetting jaw and pad elements for assisting in removing upper and lower teeth and method for removing teeth utilizing the dental plier design
US8366830B2 (en) * 2003-03-04 2013-02-05 Cree, Inc. Susceptor apparatus for inverted type MOCVD reactor
US7235139B2 (en) * 2003-10-28 2007-06-26 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier for growing GaN wafers
US8033245B2 (en) * 2004-02-12 2011-10-11 Applied Materials, Inc. Substrate support bushing
CN100358098C (zh) 2005-08-05 2007-12-26 中微半导体设备(上海)有限公司 半导体工艺件处理装置
US8603248B2 (en) * 2006-02-10 2013-12-10 Veeco Instruments Inc. System and method for varying wafer surface temperature via wafer-carrier temperature offset
US8257790B2 (en) * 2006-02-24 2012-09-04 Tokyo Electron Limited Ti-containing film formation method and storage medium
DE102006042501B4 (de) * 2006-09-07 2010-11-25 Eisenmann Anlagenbau Gmbh & Co. Kg Verfahren und Anlage zum Trocknen von Gegenständen
US7670964B2 (en) * 2007-03-22 2010-03-02 Tokyo Electron Limited Apparatus and methods of forming a gas cluster ion beam using a low-pressure source
US8092606B2 (en) 2007-12-18 2012-01-10 Asm Genitech Korea Ltd. Deposition apparatus
US20100101491A1 (en) * 2008-10-29 2010-04-29 Asm Japan K.K. Wafer lift pins suspended and supported at underside of susceptor
US8801857B2 (en) 2008-10-31 2014-08-12 Asm America, Inc. Self-centering susceptor ring assembly
US8895107B2 (en) * 2008-11-06 2014-11-25 Veeco Instruments Inc. Chemical vapor deposition with elevated temperature gas injection
US20100267230A1 (en) 2009-04-16 2010-10-21 Anand Chandrashekar Method for forming tungsten contacts and interconnects with small critical dimensions
US9159571B2 (en) 2009-04-16 2015-10-13 Lam Research Corporation Tungsten deposition process using germanium-containing reducing agent
KR101536257B1 (ko) * 2009-07-22 2015-07-13 한국에이에스엠지니텍 주식회사 수평 흐름 증착 장치 및 이를 이용한 증착 방법
US10256142B2 (en) 2009-08-04 2019-04-09 Novellus Systems, Inc. Tungsten feature fill with nucleation inhibition
US10381266B2 (en) 2012-03-27 2019-08-13 Novellus Systems, Inc. Tungsten feature fill with nucleation inhibition
JP6273257B2 (ja) 2012-03-27 2018-01-31 ノベラス・システムズ・インコーポレーテッドNovellus Systems Incorporated タングステンによるフィーチャ充填
US11437269B2 (en) 2012-03-27 2022-09-06 Novellus Systems, Inc. Tungsten feature fill with nucleation inhibition
DE102012103204A1 (de) * 2012-04-13 2013-10-17 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Beschichtung eines Substrates mit einem Halbleitermaterial
US20130284092A1 (en) * 2012-04-25 2013-10-31 Applied Materials, Inc. Faceplate having regions of differing emissivity
US8853080B2 (en) 2012-09-09 2014-10-07 Novellus Systems, Inc. Method for depositing tungsten film with low roughness and low resistivity
US8859417B2 (en) 2013-01-03 2014-10-14 Globalfoundries Inc. Gate electrode(s) and contact structure(s), and methods of fabrication thereof
US9153486B2 (en) 2013-04-12 2015-10-06 Lam Research Corporation CVD based metal/semiconductor OHMIC contact for high volume manufacturing applications
JP5971870B2 (ja) * 2013-11-29 2016-08-17 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法及び記録媒体
US9589808B2 (en) 2013-12-19 2017-03-07 Lam Research Corporation Method for depositing extremely low resistivity tungsten
SG11201606084RA (en) 2014-01-27 2016-08-30 Veeco Instr Inc Wafer carrier having retention pockets with compound radii for chemical vapor deposition systems
KR102346064B1 (ko) 2014-03-12 2021-12-30 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 반도체 챔버에서의 웨이퍼 회전
JP6379550B2 (ja) * 2014-03-18 2018-08-29 東京エレクトロン株式会社 成膜装置
US9349637B2 (en) 2014-08-21 2016-05-24 Lam Research Corporation Method for void-free cobalt gap fill
US9748137B2 (en) 2014-08-21 2017-08-29 Lam Research Corporation Method for void-free cobalt gap fill
US9997405B2 (en) 2014-09-30 2018-06-12 Lam Research Corporation Feature fill with nucleation inhibition
US9953984B2 (en) 2015-02-11 2018-04-24 Lam Research Corporation Tungsten for wordline applications
US10170320B2 (en) 2015-05-18 2019-01-01 Lam Research Corporation Feature fill with multi-stage nucleation inhibition
US9613818B2 (en) 2015-05-27 2017-04-04 Lam Research Corporation Deposition of low fluorine tungsten by sequential CVD process
US9978605B2 (en) 2015-05-27 2018-05-22 Lam Research Corporation Method of forming low resistivity fluorine free tungsten film without nucleation
US9754824B2 (en) 2015-05-27 2017-09-05 Lam Research Corporation Tungsten films having low fluorine content
US10403474B2 (en) * 2016-07-11 2019-09-03 Lam Research Corporation Collar, conical showerheads and/or top plates for reducing recirculation in a substrate processing system
US10573522B2 (en) 2016-08-16 2020-02-25 Lam Research Corporation Method for preventing line bending during metal fill process
JP7065857B2 (ja) * 2016-09-19 2022-05-12 キング・アブドゥッラー・ユニバーシティ・オブ・サイエンス・アンド・テクノロジー サセプター
TWI614365B (zh) * 2016-11-11 2018-02-11 優材科技有限公司 薄膜沉積方法
US10211099B2 (en) 2016-12-19 2019-02-19 Lam Research Corporation Chamber conditioning for remote plasma process
CN111095488A (zh) 2017-08-14 2020-05-01 朗姆研究公司 三维竖直nand字线的金属填充过程
CN112262457A (zh) 2018-05-03 2021-01-22 朗姆研究公司 在3d nand结构中沉积钨和其他金属的方法
JP2022510428A (ja) 2018-12-05 2022-01-26 ラム リサーチ コーポレーション ボイドフリーの低応力充填
US11972952B2 (en) 2018-12-14 2024-04-30 Lam Research Corporation Atomic layer deposition on 3D NAND structures
CN111446185A (zh) 2019-01-17 2020-07-24 Asm Ip 控股有限公司 通风基座
USD914620S1 (en) 2019-01-17 2021-03-30 Asm Ip Holding B.V. Vented susceptor
USD920936S1 (en) 2019-01-17 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Higher temperature vented susceptor
KR20210141762A (ko) 2019-04-11 2021-11-23 램 리써치 코포레이션 고 단차 커버리지 (step coverage) 텅스텐 증착
US11404302B2 (en) 2019-05-22 2022-08-02 Asm Ip Holding B.V. Substrate susceptor using edge purging
US11764101B2 (en) 2019-10-24 2023-09-19 ASM IP Holding, B.V. Susceptor for semiconductor substrate processing
CN111867167A (zh) * 2020-08-19 2020-10-30 辽宁省检验检测认证中心 一种氢化物发生器加热控制装置
USD1031676S1 (en) 2020-12-04 2024-06-18 Asm Ip Holding B.V. Combined susceptor, support, and lift system

Family Cites Families (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4930319B1 (ko) * 1969-08-29 1974-08-12
US3889632A (en) * 1974-05-31 1975-06-17 Ibm Variable incidence drive for deposition tooling
US4261762A (en) * 1979-09-14 1981-04-14 Eaton Corporation Method for conducting heat to or from an article being treated under vacuum
US4743570A (en) * 1979-12-21 1988-05-10 Varian Associates, Inc. Method of thermal treatment of a wafer in an evacuated environment
JPS5772318A (en) * 1980-10-24 1982-05-06 Seiko Epson Corp Vapor growth method
US4512391A (en) * 1982-01-29 1985-04-23 Varian Associates, Inc. Apparatus for thermal treatment of semiconductor wafers by gas conduction incorporating peripheral gas inlet
US4565157A (en) * 1983-03-29 1986-01-21 Genus, Inc. Method and apparatus for deposition of tungsten silicides
US4599135A (en) * 1983-09-30 1986-07-08 Hitachi, Ltd. Thin film deposition
JPS60137016A (ja) * 1983-12-26 1985-07-20 Mitsubishi Electric Corp 成膜装置
US4851295A (en) * 1984-03-16 1989-07-25 Genus, Inc. Low resistivity tungsten silicon composite film
FR2566808B1 (fr) * 1984-06-27 1986-09-19 Mircea Andrei Procede et reacteur de croissance epitaxiale en phase vapeur
US4649859A (en) * 1985-02-19 1987-03-17 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Reactor design for uniform chemical vapor deposition-grown films without substrate rotation
US4789771A (en) * 1985-10-07 1988-12-06 Epsilon Limited Partnership Method and apparatus for substrate heating in an axially symmetric epitaxial deposition apparatus
US4654509A (en) * 1985-10-07 1987-03-31 Epsilon Limited Partnership Method and apparatus for substrate heating in an axially symmetric epitaxial deposition apparatus
US4798165A (en) * 1985-10-07 1989-01-17 Epsilon Apparatus for chemical vapor deposition using an axially symmetric gas flow
NL8602357A (nl) * 1985-10-07 1987-05-04 Epsilon Ltd Partnership Inrichting en werkwijze voor het chemisch uit damp neerslaan met gebruik van een axiaal symmetrische gasstroming.
US4994301A (en) * 1986-06-30 1991-02-19 Nihon Sinku Gijutsu Kabusiki Kaisha ACVD (chemical vapor deposition) method for selectively depositing metal on a substrate
US4838983A (en) * 1986-07-03 1989-06-13 Emcore, Inc. Gas treatment apparatus and method
US4772356A (en) * 1986-07-03 1988-09-20 Emcore, Inc. Gas treatment apparatus and method
US4800105A (en) * 1986-07-22 1989-01-24 Nihon Shinku Gijutsu Kabushiki Kaisha Method of forming a thin film by chemical vapor deposition
US4839145A (en) * 1986-08-27 1989-06-13 Massachusetts Institute Of Technology Chemical vapor deposition reactor
US4868003A (en) * 1986-11-26 1989-09-19 Optical Coating Laboratory, Inc. System and method for vacuum deposition of thin films
JPS63137158A (ja) * 1986-11-27 1988-06-09 Nissin Electric Co Ltd アルミ薄膜の作製方法
US4926793A (en) * 1986-12-15 1990-05-22 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Method of forming thin film and apparatus therefor
US4807562A (en) * 1987-01-05 1989-02-28 Norman Sandys Reactor for heating semiconductor substrates
JPS63186875A (ja) * 1987-01-29 1988-08-02 Tadahiro Omi 表面反応成膜装置
US4976996A (en) * 1987-02-17 1990-12-11 Lam Research Corporation Chemical vapor deposition reactor and method of use thereof
US4993355A (en) * 1987-03-31 1991-02-19 Epsilon Technology, Inc. Susceptor with temperature sensing device
US4821674A (en) * 1987-03-31 1989-04-18 Deboer Wiebe B Rotatable substrate supporting mechanism with temperature sensing device for use in chemical vapor deposition equipment
US4996942A (en) * 1987-03-31 1991-03-05 Epsilon Technology, Inc. Rotatable substrate supporting susceptor with temperature sensors
US4828224A (en) * 1987-10-15 1989-05-09 Epsilon Technology, Inc. Chemical vapor deposition system
US4846102A (en) * 1987-06-24 1989-07-11 Epsilon Technology, Inc. Reaction chambers for CVD systems
DE3854875T2 (de) * 1987-06-26 1996-05-23 Applied Materials Inc Verfahren zur Selbstreinigung einer Reaktionskammer
US4981550A (en) * 1987-09-25 1991-01-01 At&T Bell Laboratories Semiconductor device having tungsten plugs
DE3839413A1 (de) * 1988-11-22 1990-05-23 Rieter Ag Maschf Trichteranordnung am ausgang einer karde
JPH02295116A (ja) * 1989-05-10 1990-12-06 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置
US5156820A (en) * 1989-05-15 1992-10-20 Rapro Technology, Inc. Reaction chamber with controlled radiant energy heating and distributed reactant flow
EP0403293B1 (en) * 1989-06-16 1995-12-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of manufacturing III-V group compound semiconductor device
US5186756A (en) * 1990-01-29 1993-02-16 At&T Bell Laboratories MOCVD method and apparatus
DE69108285T2 (de) * 1990-04-23 1995-12-14 Genus Inc Peripherieabdichtung für Halbleiterplättchen durch Gasinjektion.
US5221403A (en) * 1990-07-20 1993-06-22 Tokyo Electron Limited Support table for plate-like body and processing apparatus using the table
US5148714A (en) * 1990-10-24 1992-09-22 Ag Processing Technology, Inc. Rotary/linear actuator for closed chamber, and reaction chamber utilizing same
KR100243784B1 (ko) * 1990-12-05 2000-02-01 조셉 제이. 스위니 웨이퍼의 전방부 모서리와후방부에서의 증착을 방지하는 cvd웨이퍼 처리용 수동 실드
US5173336A (en) * 1991-01-22 1992-12-22 Santa Barbara Research Center Metal organic chemical vapor deposition (MOCVD) reactor with recirculation suppressing flow guide
GB2255857A (en) * 1991-05-13 1992-11-18 Integrated Plasma Ltd Plasma deposition and etching of semiconductor substrates

Also Published As

Publication number Publication date
JP3324754B2 (ja) 2002-09-17
WO1993025723A1 (en) 1993-12-23
AU4632993A (en) 1994-01-04
DE69323079D1 (de) 1999-02-25
EP0644953A1 (en) 1995-03-29
KR100313309B1 (ko) 2001-12-28
EP0644953B1 (en) 1999-01-13
DE69323079T2 (de) 1999-06-02
JPH07507843A (ja) 1995-08-31
US5370739A (en) 1994-12-06
TW242193B (ko) 1995-03-01
CA2138292C (en) 2000-04-25
SG54153A1 (en) 1998-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950702262A (ko) 텅스텐의 화학 증기 증착에 유용한 회전 서셉터를 갖는 반도체 웨이퍼처리 클러스터툴 모듈(Rotating susceptor semiconductor wafer processing cluster tool module useful for tungsten CVD)
KR100277807B1 (ko) 열흐름과 기체유동을 제어한 반도체웨이퍼처리방법 및 장치
US4989540A (en) Apparatus for reaction treatment
EP0644954B1 (en) Semiconductor wafer processing cvd reactor
US4926793A (en) Method of forming thin film and apparatus therefor
JP2000299315A (ja) パージリングを有するウェハペデスタル
JPH03287770A (ja) 枚葉式常圧cvd装置
KR20090131384A (ko) 가스분사조립체 및 이를 이용한 박막증착장치
JPS63144513A (ja) バレル型エピタキシヤル成長装置
JPH07100861B2 (ja) 気体の軸対称的な流れを使用して化学蒸着を行なう方法及び装置
JP3273247B2 (ja) エピタキシャル成長炉
JPH0588537B2 (ko)
JP4620288B2 (ja) バッチ式熱処理装置
JPH0555150A (ja) マイクロ波プラズマ処理装置
JPS60257129A (ja) 膜形成装置
JP3665491B2 (ja) エピタキシャル成長炉
JPH01297820A (ja) 基体へのフィルム被着装置およびその方法
TW200300459A (en) Device and method to produce, remove or process the layers on a substrate
JP3318741B2 (ja) エピタキシャル成長炉
JPH02224222A (ja) 気相成長装置
EP0926259A2 (en) Reactor for chemical vapour phase deposition
JPH11186170A (ja) 成膜方法及び成膜装置
KR960002545Y1 (ko) 저압화학증착장치
JP2001176801A (ja) エピタキシャル成長装置
JPH03287772A (ja) 枚葉式常圧cvd装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20091009

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee