KR950033957A - 2차코드인식방법 및 장치 - Google Patents

Abstract

2차 코드 리드장치와 같은 2차 코드 인식장치 및 방법에 관한 것으로써, 원래의 윤곽과 다른 윤곽이 인식된다는 문제점을 해소하기 위해, 2차 코드 도형 또는 2차 코드 도형에 유사한 도형을 리드하여 얻은 화상정보를 화상 메모리내에 저장하는 수단, 화상메모리내에 저장된 화상정보를 수직 및 수평방향으로 주사하여 도형의 에지를 검출하는 에지검출수단, 호크변환 및 최소자승근사에 따라 화상메모리내에 저장된 화상정보에서 서로 교차하는 4개의 직선위치를 검출하는 직선위치 검출수단, 직선위치 검출수단에 의해 검출된 4개의 직선의 길이를 검출하는 길이검출수단, 길이검출수단에 의해 검출된 직선의 길이와 직선위치 검출수단에 의해 검출된 직선의 위치에 따라 인식될 타겟도형을 추출하고 추출된 도형에 따라 매트릭스를 구성하는 매트릭스 요소의 크기를 검출하는 매트릭스 요소 검출수단, 인식될 추출타겟 도형의 크기와 매트릭스 요소의 크기에 따라 매트릭스 정보를 추출하는 정보추출수단을 말한다.

이러한 2차 코드 인식 장치 및 방법을 이용하는 것에 의해, 화상 정보를 고속으로 처리 할 수 있고 또한 원래의 화상을 정확하게 인식할 수 있다.

Description

2차코드인식방법 및 장치

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 본 발명의 제1실시예를 도시한 블럭도, 제2도는 본 발명에 따른 2차화상영역과 2차코드 도형을 도시한 도면, 제3도는 제1실시예에 따른 수평주사에 의한 에지점 추출을 설명하는 도면.

Claims (13)

1. 화상으로써 2차 코드 도형을 광학적으로 리드하여 얻어지는 화상정보를 화상상의 위치에 따라 저장하고, 리드된 정보를 양자화하고, 양자화된 정보를 전기신호로 변화하는 저장스텝, 상기 저장스텝에서 저장된 화상정보를 화상상의 위치에 따라 수직 및 수평 방향으로 주사하여 리드된 샘플정보에 따라 2차 코드 도형의 윤곽을 검출하는 에지검출스텝. 직선근사스텝에 따라 상기 샘플정보에서 상기 2차 코드 도형의 윤곽을 형성하는 2개의 인접한 실선의 직선의 위치를 검출하는 제1의 직선위치 검출스텝. 상기 제1의 직선위치 검출스텝에서 얻어진 2개의 실선의 직선의 길이를 검출하는 제1의 길이 검출스텝, 상기 제1의 직선위치 검출스텝과 상기 제1이 길이 검출스텝에서 결정된 2개의 실선의 직선의 길이와 위치에 따라 상기 2차 코드 도형의 윤곽을 형성하는 2개의 남아있는 인접한 점선의 직선의 위치를 검출하는 제2의 직선위치 검출스텝, 인식타겟으로써의 2차 코드 도형이 상기 제1의 길이검출스텝에서 얻어진 직선의 길이와 상기 제1및 제2의 직선위치 검출스텝에서 얻어진 직선의 위치에 따라 추출된 후 매트릭스 형상으로 배열된 데이타 영역에서 매트릭스 요소의 크기를 검출하는 제1의 매트릭스 요소 검출스텝과 상기 매트릭스 요소의 크기와 인식타겟으로써 상기 추출된 2차 코드 도형의 크기에 따라 상기 데이타 영역에서 매트릭스 형상으로 배열된 2차 코드 정보를 추출하는 정보추출스텝을 포함하는 2차 코드 인식방법.
2. 제1항에 있어서, 상기 직선근사스텝은 호크변환과 최소자승근사에 따라 실행되는 2차 코드 인식방법.
3. 제1항에 있어서, 상기 에지 검출스텝은 몇개의 화소마다 주자선상의 샘플화소에 의해 에지검출을 실행하는 스텝을 포함하는 2차 코드 인식방법.
4. 제1항에 있어서, 상기 화상정보가 기수와 우수계로 분할될 때, 상기 저장스텝은 상기 기수와 우수계의 하나를 리드하고, 계를 보간하며, 데이타를 저장하는 스텝을 포함하는 2차 코드 인식방법.
5. 제1항에 있어서, 상기 에지검출스텝은 연속하는 어드레스를 액세스하여 주사가 실행되는 방향으로 화상정보상의 에지검출을 실행하고, 인식타겟으로써 도형의 존재위치를 특정한후, 다른 방향으로 도형의 존재의 얻어진 위치상의 에지검출을 실행하는 스텝을 포함하는 2차 코드 인식방법.
6. 제1항에 있어서, 원점과 각도 θ를 갖고 샘플정보의 임의의 샘플점을 거친 직선 사이의 거리가 R로 규정될 때, 상기 제1및 제2의 직선위치 검출스텝의 각각은 동일각도 θ또는 서로 근접한 각도를 갖는 직선후보의 거리R을 비교하고, 상기 직선이 동일하다고 결정되면 상기 직선후보에서 직선을 제거하는 2차 코드 인식방법.
7. 제1항에 있어서, 상기 제1의 매트릭스 요소 검출스텝은 점선의 직선의 흑색 매트릭스 요소와 백색 매트릭스 요소의 크기를 각각 검출하고, 매트릭스 요소의 크기로써 매트릭스 요소의 얻어진 크기 사이의 중간값을 사용하는 2차 코드 인식방법.
8. 화상으로서 2차 코드 도형을 광학적으로 리드하여 얻어지는 화상정보를 화상상의 위치에 따라 저장하고, 리드된 정보를 양자화하고, 양자화된 정보를 전기신호로 변화하는 저장스텝, 상기 저장스텝에서 저장된 화상정보를 화상상의 위치에 따라 수직 및 수평 방향으로 주사하여 리드된 샘플정보에 따라 2차 코드 도형의 윤곽을 검출하는 에지검출스텝. 직선근사스텝에 따라 상기 샘플정보에서 상기 2차 코드 도형의 윤곽을 형성하는 4개의 직선의 위치를 검출하는 직선위치 검출스텝. 상기 직선위치 검출스텝에서 얻어진 4개의 직선의 길이를 검출하는 길이 검출스텝, 인식타겟으로써의 2차 코드 도형이 상기 길이검출스텝과 상기 직선위치 검출스텝에서 얻어진 직선의 위치와 길이에 따라 추출된 후 소정의 비율로 할당하여 얻어진 매트릭스 요소의 크기를 얻는 매트릭스 요소 검출스텝과 상기 매트릭스 요소의 크기와 인식타겟으로써 상기 추출된 2차 코드 도형의 크기에 따라 데이타 영역에서 매트릭스 형상으로 배열된 2차 코드 정보를 추출하는 정보추출스텝을 포함하는 2차 코드 인식방법.
9. 제8항에 있어서, 상기 직선근사스텝은 호크변환과 최소자승근사에 따라 실행되는 2차 코드 인식방법.
10. 제8항에 있어서, 상기 에지 검출스텝은 몇개의 화소마다 주자선상의 샘플화소에 의해 에지검출을 실행하는 스텝을 포함하는 2차 코드 인식방법.
11. 제8항에 있어서, 상기 화상정보가 기수와 우수계로 분할될 때, 상기 저장스텝은 상기 기수와 우수계의 하나를 리드하고, 계를 보간하며, 데이타를 저장하는 스텝을 포함하는 2차 코드 인식방법.
12. 제8항에 있어서, 상기 에지검출스텝은 연속하는 어드레스를 액세스하여 주사가 실행되는 방향으로 화상정보상의 에지검출을 실행하고, 인식타겟으로써 도형의 존재위치를 특정한후, 다른 방향으로 도형의 존재의 얻어진 위치상의 에지검출을 실행하는 스텝을 포함하는 2차 코드 인식방법.
13. 제8항에 있어서, 원점과 각도 θ를 갖고 샘플정보의 임의의 샘플점을 거친 직선 사이의 거리가 R로 규정될 때, 상기 직선위치 검출스텝은 동일각도 θ또는 서로 근접한 각도를 갖는 직선후보의 거리R을 비교하고, 상기 직선이 동일하다고 결정되면 상기 직선후보에서 직선을 제거하는 2차 코드 인식방법.

    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.