KR950028145A - 반도체 메모리 장치의 커패시터 제조방법 - Google Patents

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최창원
안대혁
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김광호
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L28/00Passive two-terminal components without a potential-jump or surface barrier for integrated circuits; Details thereof; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L28/40Capacitors
    • H01L28/60Electrodes
    • H01L28/82Electrodes with an enlarged surface, e.g. formed by texturisation
    • H01L28/90Electrodes with an enlarged surface, e.g. formed by texturisation having vertical extensions
    • H01L28/92Electrodes with an enlarged surface, e.g. formed by texturisation having vertical extensions made by patterning layers, e.g. by etching conductive layers

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Abstract

대용량의 셀커패시턴스를 갖는 고집적 반도체 메모리 장치의 커패시터 제조방법에 관하여 개시한다. 반도체 기판상에 제1도전물질층, 제1물질층 및 제2도전물질층을 형성하고 상기 제2도전물질층 및 상기 제1물질층을 패터닝하여 예비 패턴을 형성한다. 다음에, 상기 예비 패턴상에 제3도전물질층을 형성한후, 상기 제3도전물층이 형성되어 있는 예비 패턴의 측벽에 제1스페이서를 형성하고, 상기 제1스페이서를 식각마스크로 하여 상기 제3도전물질층 및 상기 제1도전물질층을 식각하여 제1기둥전극과 그 사이에 홈으로 이격되어 원통전극을 형성한다. 다음에 상기 제1스페이서의 측벽에 제2 스페이서를 형성한다. 상기 제2스페이서를 식각마스크로 하여 상기 원통전극을 식각하여 제2기둥전극을 형성하여 스토리지 전극을 완성한다. 따라서, 스토리지 전극에 이중의 전극기둥들을 형성하여 커패시터의 유효 표면적을 넓힘으로써 셀커패시턴스의 증가를 도모할 수 있다.

Description

반도체 메모리 장치의 커패시터 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제8도 내지 제10도는 본 발명에 의한 반도체 메모리 장치의 커패시터 제조방법을 공정순서대로 나타낸 단면도들이다.

Claims (5)

  1. 반도체 기판상에 제1도전물질층, 제1물질층 및 제2도전물질층을 형성하는 공정; 상기 제2도전물질층 및 상기 제1물질층을 패터닝하여 예비 패턴을 형성하는 공정; 상기 예비 패턴상에 제3도전물질층을 형성하는 공정; 상기 제3도전물질층이 형성되어 있는 예비 패턴의 측벽에 제1스페이서를 형성하는 공정; 상기 제1스페이서를 식각마스크로 하여 상기 제3도전물질층 및 상기 제1도전물질층을 식각하여 제1기둥전극과 그 사이에 형성되는 홈으로 이격되어 있는 원통전극을 형성하는 공정; 상기 제1스페이서의 측벽에 제2스페이서를 형성하는 공정; 상기 제2스페이서를 식각마스크로 하여 상기 원통전극을 식각하여 제2기둥전극을 형성하여 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 커패시터 제조방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1스페이서에 의한 제1도전물질층을 식각시, 상기 홈의 하부에 상기 제1도전물질층의 일부가 남아있는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 커패시터 제조방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제2스페이서는 상기 원통전극의 일부를 덮개 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 커패시터 제조방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 제2스페이서를 위한 물질층 형성시 인접한 커패시터의 기둥전극의 손상을 방지하기 위해, 상기 물질층으로 인접한 커패시터 사이에 형성된 홈을 매몰시키는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 커패시터 제조방법.
  5. 제1항에 있어서, 이때 상기 예비 패턴은 그 측벽경사가 상기 제1도전물질층 표면을 기준으로 했을때 네거티브하거나 수직하게 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 커패시터 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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