KR950021183A - 반도체 소자의 세정방법 - Google Patents

반도체 소자의 세정방법 Download PDF

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KR950021183A
KR950021183A KR1019930029800A KR930029800A KR950021183A KR 950021183 A KR950021183 A KR 950021183A KR 1019930029800 A KR1019930029800 A KR 1019930029800A KR 930029800 A KR930029800 A KR 930029800A KR 950021183 A KR950021183 A KR 950021183A
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KR
South Korea
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cleaning
semiconductor device
sulfuric acid
ammonium hydroxide
aqueous
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KR1019930029800A
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Inventor
박창서
이완기
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 반도체 소자의 세정(Cleaning) 방법에 관한 것으로, 반도체 소자의 제조공정중 세정공정을 실시함에 있어,HF 기체(Vapor)세정하기 전에 황산(H2SO4)수용액과 수산화암모늄(NH4OH) 수용액등의 습식세정용액으로 세정한 후 HF 기체로 세정하므로써, 유기물과 파티클(Particle)을 효과적으로 제거하여 반도체 소자의 신뢰성을 향상시킬 수 있도록 한 반도체 소자의 세정방법에 관해 기술된다.

Description

반도체 소자의 세정방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

Claims (5)

  1. 반도체 소자의 세정방법에 있어서, 유기물 또는 파티클을 습식세정으로 제거한 후 건식세정인 HF 기체로 불필요한 산화막 또는 자연 산화막을 제거하여 세정효과를 높이는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 세정방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 습식세정은 H2SO4:H2O2=3:1인 황산 수용액을 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 세정방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 습식세정은 NH4OH:H2O2:DI=1:1:5인 수산화암모늄 수용액을 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 세정방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 습식세정은 황산 수용액과 수산화암모늄 수용액을 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 세정방법.
  5. 제1항 또는 제4항에 있어서, 상기 습식세정공정시 황산 수용액으로 유기물을 제거한 후, 수산화 암모늄 수용액으로 파티클을 제거하고, 이후 HF 기체로 건식세정 공정을 실시하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 세정방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930029800A 1993-12-27 1993-12-27 반도체 소자의 세정방법 KR950021183A (ko)

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