KR950015620A - 마이크로파 플라즈마 처리장치 및 처리방법 - Google Patents

마이크로파 플라즈마 처리장치 및 처리방법 Download PDF

Info

Publication number
KR950015620A
KR950015620A KR1019940029516A KR19940029516A KR950015620A KR 950015620 A KR950015620 A KR 950015620A KR 1019940029516 A KR1019940029516 A KR 1019940029516A KR 19940029516 A KR19940029516 A KR 19940029516A KR 950015620 A KR950015620 A KR 950015620A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
discharge block
processed
substrate
processing chamber
plasma
Prior art date
Application number
KR1019940029516A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100388584B1 (ko
Inventor
요시아끼 사또
미쯔루 가따모또
히로노브 가와하라
미노루 소라오까
쯔요시 우메모또
히데끼 기하라
가쯔요시 구도우
도오루 유끼마사
히로후미 가리따니
Original Assignee
가나이 쯔도무
가부시끼 가이샤 히다찌 세이사꾸쇼
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가나이 쯔도무, 가부시끼 가이샤 히다찌 세이사꾸쇼 filed Critical 가나이 쯔도무
Publication of KR950015620A publication Critical patent/KR950015620A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100388584B1 publication Critical patent/KR100388584B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32458Vessel
    • H01J37/32477Vessel characterised by the means for protecting vessels or internal parts, e.g. coatings
    • H01J37/32495Means for protecting the vessel against plasma
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192Microwave generated discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192Microwave generated discharge
    • H01J37/32211Means for coupling power to the plasma
    • H01J37/32229Waveguides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192Microwave generated discharge
    • H01J37/32211Means for coupling power to the plasma
    • H01J37/32247Resonators
    • H01J37/32256Tuning means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/3266Magnetic control means
    • H01J37/32678Electron cyclotron resonance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32431Constructional details of the reactor
    • H01J37/32798Further details of plasma apparatus not provided for in groups H01J37/3244 - H01J37/32788; special provisions for cleaning or maintenance of the apparatus
    • H01J37/32853Hygiene
    • H01J37/32862In situ cleaning of vessels and/or internal parts

Abstract

〔목 적〕고밀도, 균일한 프라즈마를 발생시켜 시료에 대하여 균일성등이 향상된 고성능한 처리를 행한다.
〔구 성〕원형 도파관(5)내를 통하여 전파하는 마이크로파를 그 공간내에서 임피던스정합하는데 가장 적합한 형상으로 설정된 마이크로파 튜닝판(53)에 의하여 튜닝하고, 균일하고 가장 효율이 좋은 상태에서 마이크로파 도입창(4)을 거쳐 테이퍼상으로 확대한 내면을 가지는 방전블록(3)내에 도입한다. 이로써, 가스공급수단(21)및 진공배기기수단(13)에 의하여 소정 압력으로 제어된 처리가스가 효율좋게 도입된 마이크로파의 전계와 솔레노이드코일(91)에 의한 자계와의 상호 작용에 의하여 더욱 균일하고 고밀도하게 플라즈마화 된다.

Description

마이크로파 플라즈마 처리장치 및 처리방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 일실시예인 마이크로파 플라즈마 처리장치를 나타낸 종단면도.

Claims (14)

  1. 마이크로 프라즈마 처리장치에 있어서, 피처리기판이 배치되는 시료대; 상기 시료대를 내부에 가지고 있으며 상기 피처리기판이 배치되어 있는 상기 시료대의 표면에 대향하는 개구부를 가지는 처리실과; 상기 처리실의 상기 개구부 외측에 설치되며 상기 시료대방향에 대하여 테이퍼상으로 확대된 내면을 가지는 비자성 도전재료제 중공 원통상의 방전블록과; 상기 방전블록의 타단 개구부에 마이크로파 도입창을 거쳐 접속된 원형 도파관과; 상기 원형 도파관내에 설치되어 마이크로파의 튜닝을 행하는 튜닝수단과; 상기 방전블록의 외측에 설치된 솔레노이드코일과; 상기 방전블록내에 처리가스를 공급하는 가스공급수단과; 상기 처리실내를 소정압력으로 감압배기하는 진공배기수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 가스공급수단은 가스공급구가 상기 방전블록의 마이크로파 진행방향에서 상기 방전블록 앞에 형성되어 있고, 복수의 가스분출구가 상기 방전블록의 내주면에 균등하게 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리장치.
  3. 마이크로 플라즈마 처리장치에 있어서, 피처리기판이 배치되는 시료대; 상기 시료대를 내부에 가지고 있으며 상기 피처리기판이 배치되어 있는 상기 시료대의 표면에 대향하는 개구부를 가지는 처리실과; 상기 처리실의 상기 개구부 외측에 설치되며 상기 시료대방향에 대하여 테이퍼상으로 확대된 내면을 가지는 비자성 도전재료제 중공 원통상의 방전블록과; 상기 방전블록의 타단 개구부에 마이크로파 도입창을 거쳐 접속된 원형 도파관과; 상기 원형 도파관내에 설치되어 마이크로파의 튜닝을 행하는 튜닝수단과; 상기 방전블록의 외측에 설치된 솔레노이드코일과; 상기 방전블록내에 처리가스를 공급하는 가스공급수단과; 상기 처리실내를 소정 압력으로 감압배기하는 진공배기 수단을 포함하고, 상기 방전블록의 내벽면상에 보호부재가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 보호부재가 내플라즈마성 재료인 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리장치.
  5. 마이크로 플라즈마 처리장치에 있어서, 피처리기판이 배치되는 시료대; 상기 시료대를 내부에 가지고 있으며 상기 피처리기판이 배치되어 있는 상기 시료대의 표면에 대향하는 개구부를 가지는 처리실과; 상기 처리실의 상기 개구부 외측에 설치되며 상기 시료대방향에 대하여 테이퍼상으로 확대된 내면을 가지는 비자성 도전재료제 중공 원통상의 방전블록과; 상기 방전블록의 타단 개구부에 마이크로파 도입창을 거쳐 접속된 원형 도파관과; 상기 원형 도파관내에 설치되어 마이크로파의 튜닝을 행하는 튜닝수단과; 상기 방전블록의 외측에 설치된 솔레노이드코일과; 상기 방전블록내에 처리가스를 공급하는 가스공급수단과; 상기 처리실내를 소정 압력으로 감압배기하는 진공배기 수단을 포함하고, 상기 방전블록의 온도조절가능한 가열기가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 방전블록부에는 가스를 이용한 냉각기구가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 플라즈마 처리장치.
  7. 제5항에 있어서, 상기 원형 도파관이 설치된 상기 방전블록과 상기 솔레노이드코일을 함께 결합지지하여, 상기 방전블록의 대기 개방시에 바로 상승될 수 있는 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리장치.
  8. 제5항에 있어서, 상기 처리실내 압력을 측정하는 압력 검출기를 격리벨브를 거쳐 설치한 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리장치.
  9. 제5항에 있어서, 상기 진공배기수단은, 고진공펌프와 백업펌프를 직렬로 접속하여 가지고, 상기 고진공펌프와 상기 백업펌프 사이에 가열기구를 갖춘 밸브를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 미이크로파 플라즈마 처리장치.
  10. 제1항 또는 3항 또는 5항에 있어서, 상기 튜닝수단에는 원형 도판관 슬롯안테나와 마이크로파 튜닝판이 설치되어 있는 것을 특징으로 한는 마이크로파 플라즈마 처리장치.
  11. 마이크로 프라즈마 처리방법에 있어서, 프라즈마 발생실을 소정의 온도로 일정하게 유지하면서 피처리기판을 플라즈마 처리하는 단계와; 상기 피처리기판이 플라즈마 처리되어 처리실로부터 반출된후, 시료대에 어떠한 피처리기판도 배치하지 않고 상기 처리실내를 플라즈마 클리닝하는 단계와; 상기 플라즈마 클리닝 단계의 종료후, 새로운 피처리기판을 상기 처리실로 반입하는 단계와; 상기 새로운 피처리기판을 처리하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 플라즈마 클리닝의 사이클은 매 n(n=1,···n)개의 피처리 기판마다 선택되어 실시되는 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리방법.
  13. 제11항에 있어서, 소정 횟수의 플라즈마 처리 종료 후, 상기 플라즈마 발생실을 냉각하고 대기중으로 개방하여 클리닝하는 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리방법.
  14. 제13항에 있어서, 상기 대기개방 클리닝시, 상기 시료대 중앙부에서 웨이퍼 푸시-업이 설치되어 있는 극간내로 클리닝용 불활성가스가 흘러가게 하는 것을 특징으로 하는 마이크로파 플라즈마 처리방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940029516A 1993-11-12 1994-11-11 플라즈마 처리방법 및 플라즈마 처리실의 클리닝 방법 KR100388584B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP93-283028 1993-11-12
JP5283028A JPH07142444A (ja) 1993-11-12 1993-11-12 マイクロ波プラズマ処理装置および処理方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR950015620A true KR950015620A (ko) 1995-06-17
KR100388584B1 KR100388584B1 (ko) 2003-09-19

Family

ID=17660290

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940029516A KR100388584B1 (ko) 1993-11-12 1994-11-11 플라즈마 처리방법 및 플라즈마 처리실의 클리닝 방법

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5861601A (ko)
EP (1) EP0653775B1 (ko)
JP (1) JPH07142444A (ko)
KR (1) KR100388584B1 (ko)
DE (1) DE69416489T2 (ko)
TW (1) TW266307B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7115184B2 (en) 2001-03-28 2006-10-03 Tadahiro Ohmi Plasma processing device

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07263187A (ja) * 1994-03-18 1995-10-13 Hitachi Ltd プラズマ処理装置
US5885353A (en) * 1996-06-21 1999-03-23 Micron Technology, Inc. Thermal conditioning apparatus
DE19713352A1 (de) * 1997-03-29 1998-10-01 Deutsch Zentr Luft & Raumfahrt Plasmabrennersystem
DE69807006T2 (de) * 1997-05-22 2003-01-02 Canon Kk Plasmabehandlungsvorrichtung mit einem mit ringförmigem Wellenleiter versehenen Mikrowellenauftragsgerät und Behandlungsverfahren
US6379575B1 (en) * 1997-10-21 2002-04-30 Applied Materials, Inc. Treatment of etching chambers using activated cleaning gas
JP2000124195A (ja) * 1998-10-14 2000-04-28 Tokyo Electron Ltd 表面処理方法及びその装置
JP3352418B2 (ja) 1999-01-28 2002-12-03 キヤノン株式会社 減圧処理方法及び減圧処理装置
JP3310957B2 (ja) * 1999-08-31 2002-08-05 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
JP2001203099A (ja) 2000-01-20 2001-07-27 Yac Co Ltd プラズマ生成装置およびプラズマ処理装置
JP4504511B2 (ja) * 2000-05-26 2010-07-14 忠弘 大見 プラズマ処理装置
JP3574401B2 (ja) * 2000-12-13 2004-10-06 シャープ株式会社 プラズマプロセス装置
US6589868B2 (en) * 2001-02-08 2003-07-08 Applied Materials, Inc. Si seasoning to reduce particles, extend clean frequency, block mobile ions and increase chamber throughput
US20040221800A1 (en) * 2001-02-27 2004-11-11 Tokyo Electron Limited Method and apparatus for plasma processing
JP3870909B2 (ja) * 2003-01-31 2007-01-24 株式会社島津製作所 プラズマ処理装置
JP4213482B2 (ja) * 2003-02-07 2009-01-21 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
US20060137613A1 (en) * 2004-01-27 2006-06-29 Shigeru Kasai Plasma generating apparatus, plasma generating method and remote plasma processing apparatus
JP5312411B2 (ja) * 2003-02-14 2013-10-09 東京エレクトロン株式会社 プラズマ発生装置およびリモートプラズマ処理装置
JP4836780B2 (ja) * 2004-02-19 2011-12-14 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置における処理室のクリーニング方法およびクリーニングの終点検出方法
JP2006294422A (ja) * 2005-04-11 2006-10-26 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置およびスロットアンテナおよびプラズマ処理方法
US8118946B2 (en) * 2007-11-30 2012-02-21 Wesley George Lau Cleaning process residues from substrate processing chamber components
JP4793662B2 (ja) * 2008-03-28 2011-10-12 独立行政法人産業技術総合研究所 マイクロ波プラズマ処理装置
JP2011124295A (ja) * 2009-12-09 2011-06-23 Hitachi High-Technologies Corp プラズマ処理装置
JP5657953B2 (ja) * 2010-08-27 2015-01-21 株式会社日立ハイテクノロジーズ プラズマ処理装置
EP2707521B1 (en) * 2011-05-13 2018-08-08 Board Of Trustees Of Michigan State University Improved microwave plasma reactors
US20160314939A1 (en) * 2015-04-24 2016-10-27 Surmet Corporation Plasma-resistant Aluminum Oxynitride Based Reactor Components for Semi-Conductor Manufacturing and Processing Equipment
JP6509049B2 (ja) * 2015-06-05 2019-05-08 東京エレクトロン株式会社 マイクロ波プラズマ源およびプラズマ処理装置
CN107680915B (zh) * 2016-08-02 2020-11-10 北京北方华创微电子装备有限公司 等离子体源的冷却机构及半导体加工设备
JP6698560B2 (ja) 2017-02-01 2020-05-27 東京エレクトロン株式会社 マイクロ波プラズマ源、マイクロ波プラズマ処理装置、およびプラズマ処理方法
CN110933956A (zh) * 2018-07-20 2020-03-27 株式会社日立高新技术 等离子处理装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2538987A1 (fr) * 1983-01-05 1984-07-06 Commissariat Energie Atomique Enceinte pour le traitement et notamment la gravure de substrats par la methode du plasma reactif
US4870245A (en) * 1985-04-01 1989-09-26 Motorola, Inc. Plasma enhanced thermal treatment apparatus
JPS6376434A (ja) * 1986-09-19 1988-04-06 Hitachi Ltd プラズマ処理装置及びプラズマクリーニング方法
DE3750115T2 (de) * 1986-10-20 1995-01-19 Hitachi Ltd Plasmabearbeitungsgerät.
US5215619A (en) * 1986-12-19 1993-06-01 Applied Materials, Inc. Magnetic field-enhanced plasma etch reactor
JPH029115A (ja) * 1988-06-28 1990-01-12 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置
JP2680065B2 (ja) * 1988-09-22 1997-11-19 株式会社日立製作所 プラズマクリーニング方法
DE69030140T2 (de) * 1989-06-28 1997-09-04 Canon Kk Verfahren und Anordnung zur kontinuierlichen Bildung einer durch Mikrowellen-Plasma-CVD niedergeschlagenen grossflächigen Dünnschicht
US5084125A (en) * 1989-09-12 1992-01-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus and method for producing semiconductor substrate
US5367139A (en) * 1989-10-23 1994-11-22 International Business Machines Corporation Methods and apparatus for contamination control in plasma processing
DE69123808T2 (de) * 1990-09-26 1997-06-26 Hitachi Ltd Verfahren und Gerät zur Bearbeitung mittels Mikrowellenplasma
EP0502269A1 (en) * 1991-03-06 1992-09-09 Hitachi, Ltd. Method of and system for microwave plasma treatments
DE59202116D1 (de) * 1991-04-23 1995-06-14 Balzers Hochvakuum Verfahren zur Abtragung von Material von einer Oberfläche in einer Vakuumkammer.
US5198725A (en) * 1991-07-12 1993-03-30 Lam Research Corporation Method of producing flat ecr layer in microwave plasma device and apparatus therefor
DE69320963T2 (de) * 1992-06-22 1999-05-12 Lam Res Corp Plasmareinigungsverfahren zum entfernen von rückständen in einer plasmabehandlungskammer
US5410122A (en) * 1993-03-15 1995-04-25 Applied Materials, Inc. Use of electrostatic forces to reduce particle contamination in semiconductor plasma processing chambers
US5454903A (en) * 1993-10-29 1995-10-03 Applied Materials, Inc. Plasma cleaning of a CVD or etch reactor using helium for plasma stabilization
US5507874A (en) * 1994-06-03 1996-04-16 Applied Materials, Inc. Method of cleaning of an electrostatic chuck in plasma reactors

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7115184B2 (en) 2001-03-28 2006-10-03 Tadahiro Ohmi Plasma processing device

Also Published As

Publication number Publication date
KR100388584B1 (ko) 2003-09-19
JPH07142444A (ja) 1995-06-02
EP0653775B1 (en) 1999-02-10
EP0653775A1 (en) 1995-05-17
TW266307B (ko) 1995-12-21
DE69416489D1 (de) 1999-03-25
DE69416489T2 (de) 1999-09-30
US5861601A (en) 1999-01-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950015620A (ko) 마이크로파 플라즈마 처리장치 및 처리방법
US9706635B2 (en) Plasma generator using dielectric resonator
CN101647101B (zh) 等离子加工设备
EP0388800B1 (en) Plasma reactor apparatus and method for treating a substrate
KR920002864B1 (ko) 플라즈마 처리방법 및 그 장치
US3875068A (en) Gaseous plasma reaction apparatus
US7845310B2 (en) Wide area radio frequency plasma apparatus for processing multiple substrates
WO1991006199A1 (en) Improved resonant radio frequency wave coupler apparatus using higher modes
JPS6436769A (en) Plasma treatment device
US5543688A (en) Plasma generation apparatus with interleaved electrodes and corresponding method
KR950007480B1 (ko) 마이크로파 플라즈마 발생장치
US5736818A (en) Resonant radiofrequency wave plasma generating apparatus with improved stage
KR20100101544A (ko) 반도체 제조 장치
JP2595128B2 (ja) マイクロ波プラズマ処理装置
JPS6436021A (en) Microwave plasma processor
JP2784407B2 (ja) プラズマ処理装置
JPS62216638A (ja) 表面処理装置
JPH09191005A (ja) 試料温度制御方法及び真空処理装置
JPH0734253A (ja) マイクロ波プラズマ処理装置
JPS59103331A (ja) プラズマ処理装置
JP2003086398A (ja) プラズマ処理装置
JPH08241797A (ja) プラズマ処理装置
KR880014844A (ko) 플라즈마 처리장치
JPH04304630A (ja) マイクロ波プラズマ生成装置
JPH0382779A (ja) プラズマ処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
AMND Amendment
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
J201 Request for trial against refusal decision
AMND Amendment
B701 Decision to grant
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130524

Year of fee payment: 11

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140522

Year of fee payment: 12

EXPY Expiration of term