KR950012145A - 음성형 포토레지스트 조성물 및 에칭방법 - Google Patents
음성형 포토레지스트 조성물 및 에칭방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR950012145A KR950012145A KR1019940025536A KR19940025536A KR950012145A KR 950012145 A KR950012145 A KR 950012145A KR 1019940025536 A KR1019940025536 A KR 1019940025536A KR 19940025536 A KR19940025536 A KR 19940025536A KR 950012145 A KR950012145 A KR 950012145A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- photoresist composition
- group
- negative photoresist
- carbon atoms
- novolak resin
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/027—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
- G03F7/028—Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with photosensitivity-increasing substances, e.g. photoinitiators
- G03F7/029—Inorganic compounds; Onium compounds; Organic compounds having hetero atoms other than oxygen, nitrogen or sulfur
- G03F7/0295—Photolytic halogen compounds
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08K—Use of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
- C08K5/00—Use of organic ingredients
- C08K5/16—Nitrogen-containing compounds
- C08K5/34—Heterocyclic compounds having nitrogen in the ring
- C08K5/3467—Heterocyclic compounds having nitrogen in the ring having more than two nitrogen atoms in the ring
- C08K5/3477—Six-membered rings
- C08K5/3492—Triazines
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/0045—Photosensitive materials with organic non-macromolecular light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. dissolution inhibitors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
본 발명은 우수한 분해능과 감광도를 가지며 현상액 잔류물에 기인되는 미세한 결함이 없는 음성형 포토 레지스트 조성물에 관한 것이다.
포토레지스트 조성물은 (1) 하기 식(I) 또는 (Ⅱ)로 표시되는 감광성 s-트리아진 화합물, (2) 노볼락 수지, (3) 산가교 화합물, 및 (4) 프로필렌 글리콜 모노알킬 에테르 및/또는 그의 에스테르를 함유한다.
식중, R1및 R2는 동일하거나 상이할 수 있으며, 각각 1~3개의 탄소원자를 갖는 하로알킬기 또는 할로알케닐기를 나타내고 ; R3는 수소원자 또는 메틸기를 나타내며 ; R4는 치환될 수도 있는 6~15개의 탄소원자를 갖는 아릴기 또는 1~3개의 환을 갖는 이종환식기를 나타내고 ; n은 1 또는 2를 나타낸다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
Claims (6)
- (1) 하기 식(I) 또는 (Ⅱ)로 표시되는 감광성 s-트리아진 화합물, (2) 노볼락 수지, (3) 산가교 화합물, 및 (4) 프로필렌 글리콜 모노알킬 에테르 및/또는 그의 에스테르로 구성되는 음성형 포토레지스트 조성물.식중, R1및 R2는 동일하거나 상이할 수 있으며, 각각 1~3개의 탄소원자를 갖는 할로알킬기 또는 할로알케닐기를 나타내고 ; R3는 수소원자 또는 메틸기를 나타내며 ; R4는 치환될 수도 있는 6~15개의 탄소원자를 갖는 아릴기 또는 1~3개의 환을 갖는 이종환식기를 나타내고 ; n은 1 또는 2를 나타낸다.
- 제1항에 있어서, 상기 식(I) 또는 (Ⅱ)로 표시되는 화합물은 포토레지스트 조성물이 총 고체 함유량을 기준으로하여 0.001~4O중량%의 양으로 함유됨을 특징으로 하는 음성형 포토레지스트 조성물.
- 제1항에 있어서, 상기 산가교 화합물은 노볼락 수지의 중량을 기준으로 하여 0.001~3O중량%의 양으로 함유됨을 특징으로 하는 음성형 포토레지스트 조성물.
- 제1항에 있어서, 상기 노볼락 수지는 1,000~30,000의 중량 평균 분자량을 가짐을 특징으로 하는 음성형 포토레지스트 조성물.
- 제1항에 있어서, 상기 노볼락 수지는 포토레지스트 조성물의 총 고체 함유량을 기준으로 하여 4O중량% 이상의 양으로 함유됨을 특징으로 하는 음성형 포토레지스트 조성물,
- (1) 포토레지스트를 기판상에 코우팅하는 단계 ; (2) 코우팅된 포토레지스트를 패턴노출시킨 다음 굽기공정을 행하는 단계 ; (3) 기판의 미노출 부분에서 포토레지스트릅 제거하여 기판상에 레지스트 패턴을 남기기 위해 상기 포토레지스트를 현상하는 단계 및 (4) 기판을 웰-에칭(wet-etching)하는 단계로 구성되며, 상기 포토레지스트 조성물은 (1) 하기 식(I) 또는 (Ⅱ)로 표시되는 감광성 S-트리아진 화합물, (2)노볼락 수지, (3) 산가교 화합물, 및 (4) 프로필렌 글리콜 모노알킬 에테르 및/또는 그의 에스테르로 구성되는 음성형 포토레지스트 조성물임을 특징으로 하는 에칭방법.식중, R1및 R2는 동일하거나 상이할 수 있으며, 각각 1~3개의 탄소원자를 갖는 할로알킬기 또는 할로알케닐기를 나타내고 ; R3는 수소원자 또는 메틸기를 나타내며 ; R4는 치환될 수도 있는 6~15개의 탄소원자를 갖는 아릴기 또는 1~3개의 환을 갖는 이종환식기를 나타내고 ; n은 1 또는 2를 나타낸다.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP93-251778 | 1993-10-07 | ||
JP5251778A JPH07140653A (ja) | 1993-10-07 | 1993-10-07 | ネガ型フオトレジスト組成物及びエツチング方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950012145A true KR950012145A (ko) | 1995-05-16 |
Family
ID=17227787
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940025536A KR950012145A (ko) | 1993-10-07 | 1994-10-06 | 음성형 포토레지스트 조성물 및 에칭방법 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07140653A (ko) |
KR (1) | KR950012145A (ko) |
DE (1) | DE4435791A1 (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0771796B1 (de) * | 1995-11-02 | 2002-06-19 | Agfa-Gevaert | Substituierte s-Triazine und Verfahren zu ihrer Herstellung |
JP4194259B2 (ja) | 2000-08-31 | 2008-12-10 | 富士フイルム株式会社 | ネガ型レジスト組成物 |
-
1993
- 1993-10-07 JP JP5251778A patent/JPH07140653A/ja active Pending
-
1994
- 1994-10-06 KR KR1019940025536A patent/KR950012145A/ko not_active Application Discontinuation
- 1994-10-06 DE DE4435791A patent/DE4435791A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4435791A1 (de) | 1995-04-13 |
JPH07140653A (ja) | 1995-06-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1194765A (en) | Stripping compositions and methods of stripping resists | |
CA1177373A (en) | Stripping compositions and methods of stripping resists | |
CA1194764A (en) | Stripping compositions and methods of stripping resists | |
EP1444551B1 (en) | Photoresist composition for deep uv radiation containing an additive | |
KR920020276A (ko) | 패턴형성용 레지스트 | |
CA1192119A (en) | Stripping compositions and methods of stripping resists | |
EP0075329A1 (en) | Stripping compositions and method of stripping resists | |
KR940005995A (ko) | 고분해능 i-선 고감도 포토레지스트 | |
KR970028825A (ko) | 신규 술포늄염 및 화학 증폭 포지형 레지스트 재료 | |
KR860008476A (ko) | 심부 자외선 석판인쇄 내식막 조성물 및 그의 이용법 | |
KR970028826A (ko) | 신규 술포늄염 및 화학 증폭 포지형 레지스트 재료 | |
KR100198722B1 (ko) | 네가티브형 포토레지스트 조성물 | |
KR970002470A (ko) | 포지티브형 포토레지스트 조성물 | |
KR950012149A (ko) | 감광성 수지 조성물 및 이를 사용한 패턴의 형성 방법 | |
KR950012145A (ko) | 음성형 포토레지스트 조성물 및 에칭방법 | |
CA2081220A1 (en) | Single-phase developers for lithographic printing elements | |
JP3008468B2 (ja) | 感光性組成物、及び該感光性組成物を用いたパターン形成方法及び半導体の製造方法 | |
KR970076092A (ko) | 감광성 조성물, 패턴 형성방법 및 전자부품의 제조방법 | |
US5273856A (en) | Positive working photoresist composition containing mid or near UV radiation sensitive quinone diazide and sulfonic acid ester of imide or oxime which does not absorb mid or near UV radiation | |
Shiraishi et al. | Insolubilization mechanism of a chemical amplification negative-resist system utilizing an acid-catalyzed silanol condensation reaction | |
KR950019944A (ko) | 감광성 수지조성물 및 그를 이용한 패턴 형성방법 | |
JPS561934A (en) | Manufacture of resist image | |
KR950012153A (ko) | 포지티브형 단편 조성물 및 패턴형성방법 | |
EP0564389A1 (en) | Stabilized chemically amplified positive resist composition containing glycol ether polymers | |
KR940012544A (ko) | 레지스트 패턴 형성방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |