KR950009462B1 - 화면검사장치 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

화면검사장치
제1도는 본 발명의 일실시예의 화면검사장치의 구성도.
제2도는 동실시예의 동작의 순서도.
제3도는 동실시예에 있어서의 화상 및 화상데이터의 설명도.
제4도는 종래예의 화면검사장치의 구성도.
제5도는 동종래예의 동작의 순서도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
2 : 액정패널 4 : 텔레비젼카메라
9 : 구동전압변동회로 11 : 화상데이터기억회로
13 : 농도비율연산회로 14 : 농도비율기억회로
15 : 양, 불양판정회로
본 발명은 액정패널등의 표시장치의 표시관능검사의 자동화를 도모하기 위한 화면검사장치에 관한 것이다.
최근, 액정패널의 개발이 중시되고 있다. 이 액정패널의 제조공정에 있어서, 액정패널내의 고무, 이물, 얼룩등, 똑같은 배경속의 농도변화부분을 검사하는 공정이 있으나, 현상에서는 외관검사가 행하여지고 있다. 그래서, 이 검사를 자동화하는 검사장치나, 개발된 액정패널의 표시품위평가에 사용하는 검사 ·평가장치의 연구개발이 활발하게 행하여지고 있다.
특히, 표시관능검사의 자동화에 있어서는, 텔레비젼카메라등으로부터 얻어지는 화상을 처리하므로서의 검사의 자동화의 개발이 행하여지고 있다.
이하, 제4도, 제5도를 참조하면서, 상기한 종래의 화면검사장치의 일예에 대해서 설명한다. 즉 제4도는 화면검사장치의 구성도이다. 위치결정테이블(21)위에 검사대상물인 액정패널(22)이 놓여지고, 이 액정패널(22)을 조명하기 위하여 조명장치(23)가 설치되어 있다. 액정패럴(22)의 화면을 촬상하는 텔레비젼카메라(24)가 가동텔레비젼카메라지지부(25)에 설치되어 있다. 텔레비젼카메라(24)는 텔레비젼카메라제어회로(26)에 의해 제어되고 있다.
텔레비젼카메라(24)에 의해 입력된 영상신호는, 애널로그디지틀변환(이하, A/D변환이라고 한다) 회로(27)에 들어가, 화상의 농도에 의해 0∼255의 계조(256계조)등의 화상데이터에 수치화되고, 화면검사장치의 주요부를 구성하는 CPU, ROM, RAM 및 입출력포트등으로 구성되는 마이크로컴퓨터에 입력된다.
화면검사장치로서는, 주제어기 혹은 조작반으로부터 지령이 부여되는 판정제어회로(CPU)(28)와, 입력화상을 LUT변환등에 의해 배경에 대해서 불량부분을 강조하는 불량부분 강조회로(29)와, 이 강조된 화상을 2치화하는 2치화회로(30)와, 이 2치화회로(30)에 의해 배경과 분계된 불량부분의 크기등으로부터 양, 불량을 판단하는 양, 불량판정회로(31)로 구성된다.
이상과 같이 구성된 화면검사장치에 대해서, 이하 그 동작을 설명한다.
먼저, 제5도의 순서도에 도시한 바와같이, 액정패널(22)의 불량부분을 검사하기 위하여 액정패널(22)을 동작시켜, 액정패널(22)의 화면을 텔레비젼카메라(24)로 거둬들이고, 그 화상을 입력하고(스텝 #11), 이 입력한 화상에 대해서 불량부분강조회로(29)에서 LUT변환, 혹은 화상적분등을 행하여 불량부품을 강조하고 (스텝 #12), 이 불량부분이 강조된 화상에 대해서 2치화회로(30)에서 배경과 불량부분을 분계하기 위하여 2치화를 행하고(스텝 #13), 양, 불량판정회로(31)에서 검출된 불량부분의 크기등에 의해, 양, 불량을 판단한다(스텝 #14), 그러나, 상기와 같이 일구동전압에 있어서의 화면상태만의 정보로부터는, 예를들면 배향얼룩 등에 의한 콘트라스트가 낮은 불량, 또는 농도변화가 완한만 불량은, 불량부분의 강조가 어렵고, 안정된 검출이 곤란하다고하는 문제점을 가지고 있었다.
본 발명은 상기 종래의 문제점을 해결하는 것으로서, 불량부품을 강조하고, 또한 화면이 본래 지니고 있는 세이딩의 영향을 경감하먼서 불량부분을 검출하는 화면검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은, 이 목적을 달성하기 위하여, 화면을 동작시키기 위한 구동전압을 변화시키는 구동전압변동수단과, 다른 구동전압에 있어서의 화면의 표시상태를 촬상하는 텔레비젼카메라와 텔레비젼카메라로 촬상한 구동전압이 다른 화상에 대해서 농도에 관한 화상데이터를 기억하는 수단과, 그 농도비율을 연산해서 기억하는 농도비율 연산기억수단과, 농도비율의 변화에 의해서 화면의 양, 불량을 판정하는 판정수단을 구비한 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 배향얼룩등에 의한 콘트라스트가 낮은, 또 농도변화가 완만한 불량도, 다른 구동전압에 의해 화면을 동작시켜서 텔레비젼카메라로 그 화상을 입력하고, 다른 구동전압에 의한 화상의 농도비율을 연산하고, 농도비율에 의한 화상데이터를 작성하는 것으로 세이딩의 영향을 받지않고 불량부분을 강조하므로서, 불량검출능력이 향상된다.
왜냐하면, 화면의 정상부분은 구동전압을 변화시키면 농도로 비례해서 변화하기 때문에, 일정농도비율로 되고, 불량부분은 정상부분과는 다른 농도변화를하기 위하여, 농도비율도 다른 값을 취하기 때문이다.
이하, 본 발명의 일실시예에 대해서, 제1도∼제3도를 참조하면서 설명한다.
제1도는 화면검사장치의 구성도다. 위치결정테이블(1)위에 검사해야 할, 대상물인 액정패널(2)이 놓여지고, 이 액정패널(2)을 조명하기 위하며 조명장치(3)가 설치되어 있다. 액정패널(2)의 표시화면을 인식하기 위한 텔레비젼카메라(4)가 가동텔레비젼카메라지지분(5)에 설치되어 있다. 여기서, 텔레비젼카메라(4)는 텔레비젼카메라제어회로(6)에 의해 제어되고 있다.
텔레비젼카메라(4)에 의해 입력된 영상신호는, A/D변환회로(7)에 들어가, 화상의 농도에 의해 0∼255의 계조(256계조)등의 화상데이터로 수치화되고, 화면검사장치의 주요부를 구성하는 CPU, ROM, RAM 및 입출력포트등으로 구성되는 마이크로컴퓨터에 입력된다.
화면검사장치로서는, 주제어기 혹은 조작반으로부터 지령이 부여되는 판정제어회로(CPU)(8)와, 액저패널(2)의 구동전압을 변화시키기 위한 구동전압변동회로(9)와, 액정패널(2)애 패턴을 표시시키는 패턴발생회로(10)와, 다른 구동전압에 있어서의 액정패널(2)의 동작상태를 텔레비젼카메라(4)로 촬상한 화상데이터를 기억하는 화상데이터기억회로(11)와, 처리하는 에리어를 지정하는 창롤제어회로(12)와, 화상데이터의 농도 비율등을 연산하는 농도비율연산회로(13)와, 연산한 비율을 기억하는 농도비율기억회로(14)와, 농도비율의 불균일을 평가하기 위하여 분산을 구하고, 분산이 소정치이상의 경우에 불량부분이 있는 것으로해서 판단하는 양, 불량판정회로(15)로 구성되어 있다.
이상과 같이 구성된 화면검사장치에 대해서, 이하 그 동작을 제2도, 제3도를 참조해서 설명한다.
액정패널(2)의 불량부분(2a)(제3도(a)참조)를 검출하기 위하여, 제2도의 순서도에 도시된 바와같이, 먼저 액정패널(2)에 도트표시시키거나, 무표시상태로 해서 구동전압을 변화시켜(스텝 #1), 다른 구동전압에 의해서 동작하고 있는 액정패널(2)의 화면을 텔레비젼카메라(4)에 의해서 도입하고, 그 화상의 농도에 관한 화상데이터 f, g(제3도(b), (c)참조)를 입수하고(스텝 #2), 처리하는 에리어를 지정하고(스텝 3), 입수한 2개의 화상데이터 f, g의 대응하는 각 화소의 농도비율 f/g를 연산하고(스텝 #4), 새롭게 농도비율의 화상데이터(제3도(d)참조)를 작성하고(스텝 #5), 화상데이터에 있어서 불량부품을 검출한다. 양품액정패널이면, 구동전압을 변화시키면 액정패널의 농도로 비례해서 변화한다. 따라서, 농도비율의 화상데이터에 있어서는 양품부분은 동일정도의 농도비율이고, 불량부분이 있으면 양품부분의 농도비율에 대해서 차이가 있는 것으로 된다(제3도(e)에 농도비율의 히스토그램을 표시한다). 그래서, 양품, 불량품의 판정에는, 농도비율의 불균일에 의해 판단하는 것을 고려하여, 농도비율의 분산을 산출하고, 양, 불량을 판단한다(스텝 #6).
또한, 농도비율화상데이터를 사용하여 2치화처리를 행하거나, 미분을 행하여 농도비율의 변화부분을 검출하고, 그 크기등에 의해, 양, 불량을 판정하는 것도 가능하다.
이상과 같이 본 실시예에 의하면, 콘트라스트가 낮은, 또 농도변화가 완만한 불량을 세이딩이 있는 액정 패널(2)속으로부터 안정되게 검출할 수 있다.
본 발명에 의하면, 이상과 같이 저콘트라스트나 완만한 농도변화의 화면불량을 강조해서 검출할 수 있며, 또 구동전압변동에 의한 화면불량이 검출가능하고, 검사능력이 높은 화면검사장치를 실현할 수 있다.

Claims (1)

  1. 화면을 동작시키기 위한 구동전압을 변화시키는 구동전압변동수단과, 다른 구동전압에 있어서의 화면의 표시상태를 촬상하는 텔레비젼카메라와, 텔레비젼카메라로 촬상한 구동전압이 다른 화상에 대해서 농도에 관한 화상 데이터를 기억하는 수단과, 그 농도비율을 연산해서 기억하는 농도비율연산기억, 수단과, 농도비율의 변화에 의해화면의 양, 불량을 판정하는 판정수단을 구비한 것을 특징으로 하는 화면검사장치.
KR1019920010998A 1991-06-27 1992-06-24 화면검사장치 KR950009462B1 (ko)

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Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5764209A (en) * 1992-03-16 1998-06-09 Photon Dynamics, Inc. Flat panel display inspection system
JP3297950B2 (ja) * 1993-07-13 2002-07-02 シャープ株式会社 平面型表示パネル検査装置
JP3211570B2 (ja) * 1994-06-08 2001-09-25 カシオ計算機株式会社 液晶駆動装置及び液晶駆動装置検査方法
JP3471436B2 (ja) * 1994-08-19 2003-12-02 株式会社アドバンテスト 画質検査装置及びその画像合成方法
JPH0875542A (ja) * 1994-09-05 1996-03-22 Otsuka Denshi Kk 表示画素の光量測定方法並びに表示画面の検査方法及び装置
US5703671A (en) * 1995-08-28 1997-12-30 Fuji Photo Film Co., Ltd. Shading correction method, photographic printer and index print production apparatus
KR100192036B1 (ko) * 1995-11-22 1999-06-15 손욱 액정표시장치의 패널 검사시스템
KR0176661B1 (ko) * 1995-12-28 1999-05-15 김광호 납땜부 검사방법 및 검사장치
JP3333686B2 (ja) * 1996-06-28 2002-10-15 松下電器産業株式会社 表示画面検査方法
US6714670B1 (en) * 1998-05-20 2004-03-30 Cognex Corporation Methods and apparatuses to determine the state of elements
KR20000008597A (ko) * 1998-07-14 2000-02-07 윤종용 텔레비젼 선명도 검사장치
US6219443B1 (en) * 1998-08-11 2001-04-17 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for inspecting a display using a relatively low-resolution camera
JP3314747B2 (ja) 1999-01-29 2002-08-12 ミノルタ株式会社 液晶パネルの光学測定装置
JP3284997B2 (ja) 1999-01-29 2002-05-27 ミノルタ株式会社 測定用光学系
CA2418030C (en) 2000-08-03 2010-10-26 Martin Sauter Isolation of glucan particles and uses thereof
GB2368635B (en) * 2000-11-01 2004-12-22 Nokia Mobile Phones Ltd Testing an image display device
DE10134458B4 (de) * 2001-07-16 2006-10-19 Autronic-Melchers Gmbh Messsystem und Messkopf zum Messen der Optischen Eigenschaften eines Displays
CA2460485A1 (en) * 2001-09-14 2003-03-27 American Panel Corporation Visual display testing, optimization and harmonization method and system
DE60227183D1 (de) * 2001-09-21 2008-07-31 Datacolor Holding Ag Farbmesser
FR2833743B1 (fr) * 2001-12-17 2004-02-20 Eldim Procede et dispositif a faible resolution d'acquisition pour le controle d'un ecran d'affichage
DE10228579A1 (de) * 2002-06-26 2004-01-15 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Bildqualität des Displays eines Mobiltelefons
KR101034923B1 (ko) * 2004-05-31 2011-05-17 엘지디스플레이 주식회사 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법
JP4383302B2 (ja) * 2004-09-29 2009-12-16 富士通株式会社 評価結果出力プログラム
TW200700799A (en) * 2005-06-24 2007-01-01 Innolux Display Corp Testing system of liquid crystal display
KR101137867B1 (ko) * 2005-08-30 2012-04-20 엘지디스플레이 주식회사 액정 표시장치의 검사장치 및 검사방법
KR101182324B1 (ko) * 2006-07-28 2012-09-20 엘지디스플레이 주식회사 평판표시장치의 화질제어 방법
TWI345093B (en) * 2006-11-10 2011-07-11 Chimei Innolux Corp Method of manufacturing liquid crystal display
US8436632B2 (en) * 2008-06-27 2013-05-07 American Panel Corporation System and method for optimizing LCD displays
US20120133761A1 (en) * 2010-11-30 2012-05-31 Angstrom, Inc. Uneven area inspection system
CN102671720B (zh) * 2012-05-17 2014-06-11 湖北航天技术研究院总体设计所 红外成像器热障试验装置
CN104345481B (zh) * 2013-07-30 2017-11-10 北京京东方光电科技有限公司 一种液晶屏的质量检测方法、装置及设备
WO2024029170A1 (ja) * 2022-08-01 2024-02-08 株式会社ジャパンディスプレイ 電波反射装置の検査方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3432247C2 (de) * 1984-09-01 1986-12-18 Mannesmann Kienzle GmbH, 7730 Villingen-Schwenningen Anordnung zur Anzeige einer fehlerhaften Funktionsweise einer Flüssigkristallanzeige
US4870357A (en) * 1988-06-03 1989-09-26 Apple Computer, Inc. LCD error detection system
US5136373A (en) * 1989-06-22 1992-08-04 Hamamatsu Photonics K. K. Image processing apparatus
US5081687A (en) * 1990-11-30 1992-01-14 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for testing LCD panel array prior to shorting bar removal

Also Published As

Publication number Publication date
JPH055709A (ja) 1993-01-14
KR930001743A (ko) 1993-01-16
US5293178A (en) 1994-03-08

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