JPH0763695A - シート状製品の外観検査装置 - Google Patents
シート状製品の外観検査装置Info
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- JPH0763695A JPH0763695A JP5213987A JP21398793A JPH0763695A JP H0763695 A JPH0763695 A JP H0763695A JP 5213987 A JP5213987 A JP 5213987A JP 21398793 A JP21398793 A JP 21398793A JP H0763695 A JPH0763695 A JP H0763695A
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- Japan
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- sheet
- light
- product
- inspection
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 シート状製品のムラや異物混入等の検査を光
学的に自動的に正確に検査できるシート状製品の外観検
査装置を提供する。 【構成】 シート状製品2をその裏面から光を当てる光
源装置1と、シート状製品2を透過した光と共にシート
状製品2を撮像する撮像系3と、撮像系3で得た画像情
報を取り込む画像処理装置4と、画像情報の均一な検査
を行うべく上記光源装置1の光の量を調整し、かつ画像
情報からシート状製品2を抽出すると共に表面ムラや異
物の混入を検査するコンピュータ5とを備えたことを特
徴としている。
学的に自動的に正確に検査できるシート状製品の外観検
査装置を提供する。 【構成】 シート状製品2をその裏面から光を当てる光
源装置1と、シート状製品2を透過した光と共にシート
状製品2を撮像する撮像系3と、撮像系3で得た画像情
報を取り込む画像処理装置4と、画像情報の均一な検査
を行うべく上記光源装置1の光の量を調整し、かつ画像
情報からシート状製品2を抽出すると共に表面ムラや異
物の混入を検査するコンピュータ5とを備えたことを特
徴としている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、紙等のシート状製品の
表面ムラ及び製品内に入り込んだ異物の有無を画像処理
技術を利用して検査し、製品としての合否を自動判定す
るシート状製品の外観検査装置に関するものである。
表面ムラ及び製品内に入り込んだ異物の有無を画像処理
技術を利用して検査し、製品としての合否を自動判定す
るシート状製品の外観検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、紙を初めとするシート状製品の外
観・表面検査は、主として目視によるものであった。こ
のシート状製品の表面ムラや異物の混入の目視による外
観検査は、作業者への負担が大きく、しかも個人差があ
り、統一した検査が行えないという問題がある。
観・表面検査は、主として目視によるものであった。こ
のシート状製品の表面ムラや異物の混入の目視による外
観検査は、作業者への負担が大きく、しかも個人差があ
り、統一した検査が行えないという問題がある。
【0003】そこで、シート状製品を光学装置により検
査することが、試みられている。
査することが、試みられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光学的
に表面ムラを検査使用としてもムラが生じる原因は、被
検査物の一部が薄い、異物が被検査物の内部に埋まって
いる等の原因によるものであり、単に表面を見ただけで
は検査できない。
に表面ムラを検査使用としてもムラが生じる原因は、被
検査物の一部が薄い、異物が被検査物の内部に埋まって
いる等の原因によるものであり、単に表面を見ただけで
は検査できない。
【0005】そこで光源を透過型とし、本出願人が特願
平4−294334号及び特願平4−294335号で
提案したように表面ムラや異物の混入を検出すること
で、上述した問題は解消されるが、光源の照度が不安定
だと同じ被検査物を検査しても同一の判定が下せない場
合があり、統一した検査が実施できない問題があり、ま
た検査結果は、人手により記録しなければならない問題
もある。
平4−294334号及び特願平4−294335号で
提案したように表面ムラや異物の混入を検出すること
で、上述した問題は解消されるが、光源の照度が不安定
だと同じ被検査物を検査しても同一の判定が下せない場
合があり、統一した検査が実施できない問題があり、ま
た検査結果は、人手により記録しなければならない問題
もある。
【0006】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、シート状製品のムラや異物混入等の検査を光学的に
自動的に正確に検査できるシート状製品の外観検査装置
を提供することにある。
し、シート状製品のムラや異物混入等の検査を光学的に
自動的に正確に検査できるシート状製品の外観検査装置
を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、シート状製品をその裏面から光を当てる光
源装置と、シート状製品を透過した光と共にシート状製
品を撮像する撮像系と、撮像系で得た画像情報を取り込
む画像処理装置と、画像情報の均一な検査を行うべく上
記光源装置の光の量を調整し、かつ画像情報からシート
状製品を抽出すると共に表面ムラや異物の混入を検査す
るコンピュータとを備えたものである。
に本発明は、シート状製品をその裏面から光を当てる光
源装置と、シート状製品を透過した光と共にシート状製
品を撮像する撮像系と、撮像系で得た画像情報を取り込
む画像処理装置と、画像情報の均一な検査を行うべく上
記光源装置の光の量を調整し、かつ画像情報からシート
状製品を抽出すると共に表面ムラや異物の混入を検査す
るコンピュータとを備えたものである。
【0008】
【作用】上記構成によれば、表面ムラや異物の混入を検
出するに際して、光源装置の光の量を制御し、かつ画像
からシート状製品を抽出することで、自動的に適確な検
査が可能となる。
出するに際して、光源装置の光の量を制御し、かつ画像
からシート状製品を抽出することで、自動的に適確な検
査が可能となる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の一実施例を添付図面に基づい
て詳述する。
て詳述する。
【0010】先ず、図1により本発明のシステム構成を
説明する。
説明する。
【0011】照明制御機能を有する光源装置1上にはシ
ート状製品2が配置され、その上部にシート状製品2を
透過した光と共にシート状製品2を撮像する撮像系3
(CCDカメラ)が配置される。
ート状製品2が配置され、その上部にシート状製品2を
透過した光と共にシート状製品2を撮像する撮像系3
(CCDカメラ)が配置される。
【0012】撮像系3で得た画像信号は、画像処理系4
(画像処理装置等)に入力され、コンピュータ5により
検査される。画像処理系4には画像処理系用モニタ7が
接続され、またコンピュータ5にも検査結果を表示する
コンピュータ用モニタ6が接続される。
(画像処理装置等)に入力され、コンピュータ5により
検査される。画像処理系4には画像処理系用モニタ7が
接続され、またコンピュータ5にも検査結果を表示する
コンピュータ用モニタ6が接続される。
【0013】コンピュータ5は、RAMファイル,ハー
ドディスクなど内装する記憶部9、フロッピーディスク
などの外部記憶部10、判定用の基準値等を選択・選定
するオペレーションボード11を有し、また検査結果等
をプリントする出力装置8が接続されている。これら画
像処理系4,コンピュータ5、モニタ6,7、出力装置
8は制御盤12に収納される。
ドディスクなど内装する記憶部9、フロッピーディスク
などの外部記憶部10、判定用の基準値等を選択・選定
するオペレーションボード11を有し、また検査結果等
をプリントする出力装置8が接続されている。これら画
像処理系4,コンピュータ5、モニタ6,7、出力装置
8は制御盤12に収納される。
【0014】尚、表示方法は両モニタ6,7双方を利用
する必要はなく、ランプ表示により表示してもよい。ま
た検査の開始は人手によってもよいし、他システムから
の接点信号入力としてもよい。
する必要はなく、ランプ表示により表示してもよい。ま
た検査の開始は人手によってもよいし、他システムから
の接点信号入力としてもよい。
【0015】図2は本発明の機能構成を示したものであ
り、また図3はそのフローチャートを示したものであ
る。
り、また図3はそのフローチャートを示したものであ
る。
【0016】先ず検査における順序は、(1) 〜(5) の順
で行う。
で行う。
【0017】(1) センサ部の調整(レンズ絞り調整) 光源装置1上に標準となる被検査物を載せ、後述する図
4に示すように適切な検査ができるように自動或いは手
動にて撮像系3のレンズ絞りを調整する。
4に示すように適切な検査ができるように自動或いは手
動にて撮像系3のレンズ絞りを調整する。
【0018】(2) 検査判定基準値の選択 被検査物の種類に合せて判定基準値を選択,設定する。
判定基準値は予め図1のコンピュータ5の内部の記憶装
置に保存しておくこともできる。
判定基準値は予め図1のコンピュータ5の内部の記憶装
置に保存しておくこともできる。
【0019】(3) 検査 図1の撮像系3から入力した画像から後述する図5に示
す方法で、シート状製品のみを抽出し、表面ムラ、異物
混入を検査して、製品としての合否を表示,保存する。
す方法で、シート状製品のみを抽出し、表面ムラ、異物
混入を検査して、製品としての合否を表示,保存する。
【0020】(4) 結果出力(日報) 検査結果を図1のモニタ6、出力装置8で確認する。
【0021】(5) バックアップ 検査結果を必要に応じて図1の記憶装置10にバックア
ップを取る。
ップを取る。
【0022】通常は(1) 〜(5) の順に操作を行うが、種
々のシート状製品を繰返し検査する場合には、(1) を終
えた後、(2) と(3) を繰り返し行い、検査が全て終了し
た後、(4) ,(5) を行ってもよい。
々のシート状製品を繰返し検査する場合には、(1) を終
えた後、(2) と(3) を繰り返し行い、検査が全て終了し
た後、(4) ,(5) を行ってもよい。
【0023】次にレンズ絞り調整方法を説明する。
【0024】自動絞り調整は、撮像系(CCDカメラ)
3より入力した画像からシート状製品部のみを抽出し
(抽出方法は後述する)、シート状製品部分の平均濃淡
値が特定範囲内に入るように絞りを開閉制御することに
よって行う。
3より入力した画像からシート状製品部のみを抽出し
(抽出方法は後述する)、シート状製品部分の平均濃淡
値が特定範囲内に入るように絞りを開閉制御することに
よって行う。
【0025】絞り開閉制御方法の一例を図4(a),
(b)を用いて説明する。
(b)を用いて説明する。
【0026】撮像系より入力した画像信号は濃淡値8ビ
ット階調で表現されているものとする。このとき黒(透
過光無し)を0のレベル、白(100%透過)を255
のレベルで表す。
ット階調で表現されているものとする。このとき黒(透
過光無し)を0のレベル、白(100%透過)を255
のレベルで表す。
【0027】平均濃度値とは、撮像系から得た図4
(a)に示す画像aにシート部抽出処理を施して抽出し
た領域bの各画素の濃淡値の平均値を指す。
(a)に示す画像aにシート部抽出処理を施して抽出し
た領域bの各画素の濃淡値の平均値を指す。
【0028】検査に適切な平均濃淡値は、0から255
の間に設定し、これを目標値と呼ぶ。先ず図4(b)に
示すようにレンズ絞りを全閉lc、全開loの状態で画
像の平均濃淡値yを求め、目標値cが全開、全閉の平均
濃淡値の間にあることを確認する。
の間に設定し、これを目標値と呼ぶ。先ず図4(b)に
示すようにレンズ絞りを全閉lc、全開loの状態で画
像の平均濃淡値yを求め、目標値cが全開、全閉の平均
濃淡値の間にあることを確認する。
【0029】レンズ絞りの開度と平均濃淡値の関係は、
単調増加関数fで表されると仮定する。定義域を全開l
oと全閉lcの間のレンズ絞り開度l、域値yを0から
255の濃淡値として、単調増加関数y=f(l)に対
して2分法を適用することにより絞りを調整する。
単調増加関数fで表されると仮定する。定義域を全開l
oと全閉lcの間のレンズ絞り開度l、域値yを0から
255の濃淡値として、単調増加関数y=f(l)に対
して2分法を適用することにより絞りを調整する。
【0030】目標値cを一つの値とすると調整時の周囲
環境の影響により調整が円滑に行かなくなる場合がある
ので、目標値にある程度の範囲eを持たせて調整を行っ
てもよい。
環境の影響により調整が円滑に行かなくなる場合がある
ので、目標値にある程度の範囲eを持たせて調整を行っ
てもよい。
【0031】シート状製品部の抽出方法:シート状製品
部の抽出法を図5,図6により説明する。
部の抽出法を図5,図6により説明する。
【0032】図5(a)に示すように撮像系より画像g
を入力すると画像内には、光源部hとシート状製品部i
が混在する。ここで画像gの信号値は上述したレンズ絞
り方法と同様であるとする。
を入力すると画像内には、光源部hとシート状製品部i
が混在する。ここで画像gの信号値は上述したレンズ絞
り方法と同様であるとする。
【0033】線j−jの濃淡値は、図5(b)に示すグ
ラフkのように光源部hについては、撮像部が直接、光
を受光するので255に近い値を取り、シート部iにつ
いては光源部に比して低い値を取る。
ラフkのように光源部hについては、撮像部が直接、光
を受光するので255に近い値を取り、シート部iにつ
いては光源部に比して低い値を取る。
【0034】この性質を用いてシート部を抽出する。以
下にその方法を説明する。
下にその方法を説明する。
【0035】(a) 図5(b)に示すように光源部hが取
る濃淡値とシート部iが取る濃淡値との間にしきい値m
を設け、図5(c)に示すように、しきい値mよりも濃
淡値が低い部分、すなわちシート部iには濃淡値25
5、しきい値mよりも濃淡値が高い部分、すなわち光源
部hにはそれを0とする2値化画像nを作成する。
る濃淡値とシート部iが取る濃淡値との間にしきい値m
を設け、図5(c)に示すように、しきい値mよりも濃
淡値が低い部分、すなわちシート部iには濃淡値25
5、しきい値mよりも濃淡値が高い部分、すなわち光源
部hにはそれを0とする2値化画像nを作成する。
【0036】(b) 図5(a)の画像gと図5(c)の画
像nの論理積を取ることにより、光源部hの濃淡値は0
となるが、シート部iのそれは撮像時の濃淡値を持つ図
5(d)に示す画像oを得ることができる。
像nの論理積を取ることにより、光源部hの濃淡値は0
となるが、シート部iのそれは撮像時の濃淡値を持つ図
5(d)に示す画像oを得ることができる。
【0037】(c) 次に図5(c)の画像nの濃淡値25
5に外接する四角形pを求める。図5(d)の画像o上
で、この領域pに対応した部分がシート状製品部であ
り、今後の検査対象領域となる。
5に外接する四角形pを求める。図5(d)の画像o上
で、この領域pに対応した部分がシート状製品部であ
り、今後の検査対象領域となる。
【0038】なお、撮像時には図6(a)に示す画像q
のようにごみ等のほこりd1 ,d2が入る恐れがある。
このときは、上記処理(a) においてほこりの部分d1 ,
d2の濃淡値も255となる。シート状製品の面積より
も小さい面積しきい値sを設け、画像qに対して上記処
理(a) を施した画像内の濃淡値が255でも面積がしき
い値sよりも小さい場合には、ノイズとみなし除去する
ことにより(濃淡値を0とする)(b) (c) の処理を適確
に実施できる。
のようにごみ等のほこりd1 ,d2が入る恐れがある。
このときは、上記処理(a) においてほこりの部分d1 ,
d2の濃淡値も255となる。シート状製品の面積より
も小さい面積しきい値sを設け、画像qに対して上記処
理(a) を施した画像内の濃淡値が255でも面積がしき
い値sよりも小さい場合には、ノイズとみなし除去する
ことにより(濃淡値を0とする)(b) (c) の処理を適確
に実施できる。
【0039】また、上述の抽出法により、図6(b)に
示すようにシート部(i1 ,i2 ,i3 )が水平垂直方
向に平行に位置すれば、画像内のどこであっても確実に
シート部を抽出できる。
示すようにシート部(i1 ,i2 ,i3 )が水平垂直方
向に平行に位置すれば、画像内のどこであっても確実に
シート部を抽出できる。
【0040】処理(a) においてシート部iの濃淡値すべ
てが、しきい値m以下である必要はなく、光源部hとシ
ート部iの境界部のそれがしきい値m以下であれば、本
抽出処理はシート部iを抽出できる。
てが、しきい値m以下である必要はなく、光源部hとシ
ート部iの境界部のそれがしきい値m以下であれば、本
抽出処理はシート部iを抽出できる。
【0041】更に、図6(c)に示す画像tのようにシ
ート部i、光源部h以外の領域rがある場合には、図6
(d)に示すように、その部分にマスク画像uを設け、
図6(d)に示すように画像tと画像uの論理和をとっ
た結果画像vに対して上述処理(a) 〜(c) を適用すれ
ば、シート部iを抽出できる。
ート部i、光源部h以外の領域rがある場合には、図6
(d)に示すように、その部分にマスク画像uを設け、
図6(d)に示すように画像tと画像uの論理和をとっ
た結果画像vに対して上述処理(a) 〜(c) を適用すれ
ば、シート部iを抽出できる。
【0042】次にこの様にシート部iを抽出したなら
ば、表面ムラ,異物混入検査を行う。これを図7,図8
により説明する。
ば、表面ムラ,異物混入検査を行う。これを図7,図8
により説明する。
【0043】先ず図7により表面ムラの検出を説明す
る。
る。
【0044】上述のようにして抽出された一画面の画像
20は(a)で示すように縦横数百画素で構成されてお
り、これらの画素の信号は0〜255のレベルまで可変
であり、各画素信号を高いしきい値レベルLH(例えば
220)で2値化した画像は(b)で示した2値化画像
21となり、図中黒で示した部分22が高いしきい値レ
ベルLHより高い部分、すなわち白っぽい部分を示して
いる。また同様に低いしきい値レベルLL(例えば18
0)で2値化すると、その画像は(c)で示した2値化
画像23となり、低いしきい値レベルLLより高い部分
24が斜線で示したように現れる。
20は(a)で示すように縦横数百画素で構成されてお
り、これらの画素の信号は0〜255のレベルまで可変
であり、各画素信号を高いしきい値レベルLH(例えば
220)で2値化した画像は(b)で示した2値化画像
21となり、図中黒で示した部分22が高いしきい値レ
ベルLHより高い部分、すなわち白っぽい部分を示して
いる。また同様に低いしきい値レベルLL(例えば18
0)で2値化すると、その画像は(c)で示した2値化
画像23となり、低いしきい値レベルLLより高い部分
24が斜線で示したように現れる。
【0045】そこで両画像21,23を合成して共にし
きい値を越えた部分26は、画像21,23の双方に現
れており、これを表面ムラがある部分と認識しその評価
を行う。すなわち、画像20のAL −AR 線の位置の各
画素のレベルを示すと(e)に示した状態にある。そし
て画像25で現れた表面ムラがある部分26は、高いし
きい値レベルLHと低いしきい値レベルLLを越えた最
大変化を示すピークP1 となり、また低いしきい値レベ
ルLLのみ越えたピークP2 は比較的小変化を示すピー
クとなる。従ってレベル変化の大きい部分が表面ムラが
ある部分として認識でき、さらに縦線で示した部分26
の各位置、面積、サイズなどの画像統計量を用いてムラ
の有無の判定を行う。またしきい値レベルLは、多数の
しきい値レベルでの2値化と画像統計量とを用いるとよ
り完全な表面ムラが検査できる。
きい値を越えた部分26は、画像21,23の双方に現
れており、これを表面ムラがある部分と認識しその評価
を行う。すなわち、画像20のAL −AR 線の位置の各
画素のレベルを示すと(e)に示した状態にある。そし
て画像25で現れた表面ムラがある部分26は、高いし
きい値レベルLHと低いしきい値レベルLLを越えた最
大変化を示すピークP1 となり、また低いしきい値レベ
ルLLのみ越えたピークP2 は比較的小変化を示すピー
クとなる。従ってレベル変化の大きい部分が表面ムラが
ある部分として認識でき、さらに縦線で示した部分26
の各位置、面積、サイズなどの画像統計量を用いてムラ
の有無の判定を行う。またしきい値レベルLは、多数の
しきい値レベルでの2値化と画像統計量とを用いるとよ
り完全な表面ムラが検査できる。
【0046】次に図8により異物混入検査を説明する。
【0047】先ず異物の混入は、図7で説明した表面ム
ラ検査と違い、異物混入があると透過光が遮られるた
め、異物部分がある設定レベルよりも黒くなる点にあ
る。図8(a)は、画像30上でこの黒く写った部分3
1a,31b,32c〜eを斜線で示している。
ラ検査と違い、異物混入があると透過光が遮られるた
め、異物部分がある設定レベルよりも黒くなる点にあ
る。図8(a)は、画像30上でこの黒く写った部分3
1a,31b,32c〜eを斜線で示している。
【0048】この各部分31a,31b,32c〜eの
異物は、各面積が面積しきい値S1以下ならば濃淡モフ
ォロジーによって、面積しきい値S2 以上ならば画像統
計量の利用により抽出できる。
異物は、各面積が面積しきい値S1以下ならば濃淡モフ
ォロジーによって、面積しきい値S2 以上ならば画像統
計量の利用により抽出できる。
【0049】この濃淡モフォロジーによる異物検査につ
いて説明する。
いて説明する。
【0050】面積しきい値S1 に合わせてフィルタのサ
イズを決定し、フィルタサイズに合わせて画像30に対
して最大値フィルタを施した結果に、引き続き最小値フ
ィルタを施すと、しきい値面積S1 よりも大きな部分3
1a,32dのみを残した画像34が得られる。この結
果、画像30のA−A線の位置の各画素のレベルが
(d)の曲線36で表されていたものが、画像34では
A−A線の位置の各画素のレベルは(d)の曲線35で
表わされる。(d)の曲線35から曲線36を減算し、
(e)に示すように濃淡差を求める。同様に各縦方向を
すべてに対して上述のように濃淡差を求めて、つまり画
像34から画像30を減算して各画素の濃淡差を求め、
設定したしきい値T1 と比較し、しきい値T1 を越えた
部分のみを画素値レベル255、それ以外を画素レベル
0として残すと、(f)に示したように、面積が面積し
きい値S1 以下で、かつ周囲との濃淡差がしきい値T1
よりも大きい部分32c,32eを2値化した画像37
が得られる。
イズを決定し、フィルタサイズに合わせて画像30に対
して最大値フィルタを施した結果に、引き続き最小値フ
ィルタを施すと、しきい値面積S1 よりも大きな部分3
1a,32dのみを残した画像34が得られる。この結
果、画像30のA−A線の位置の各画素のレベルが
(d)の曲線36で表されていたものが、画像34では
A−A線の位置の各画素のレベルは(d)の曲線35で
表わされる。(d)の曲線35から曲線36を減算し、
(e)に示すように濃淡差を求める。同様に各縦方向を
すべてに対して上述のように濃淡差を求めて、つまり画
像34から画像30を減算して各画素の濃淡差を求め、
設定したしきい値T1 と比較し、しきい値T1 を越えた
部分のみを画素値レベル255、それ以外を画素レベル
0として残すと、(f)に示したように、面積が面積し
きい値S1 以下で、かつ周囲との濃淡差がしきい値T1
よりも大きい部分32c,32eを2値化した画像37
が得られる。
【0051】次に画像統計量による異物検出について説
明する。
明する。
【0052】検査前に、予め良品の画像を入力し、画像
の平均濃淡値m及び標準偏差σを求めた後、平均濃淡値
mと標準偏差σから2値化用しきい値T2 (=m+k*
σ+b、k:任意係数、b:バイアス値)を決定してお
く。画像30に対してしきい値T2 で2値化をし、面積
しきい値S2 以上の部分を残すと、(b)に示したよう
に、画像レベルが特に低く、かつ面積が面積しきい値S
2 以上の部分31aを含んだ画像33が得られる。
の平均濃淡値m及び標準偏差σを求めた後、平均濃淡値
mと標準偏差σから2値化用しきい値T2 (=m+k*
σ+b、k:任意係数、b:バイアス値)を決定してお
く。画像30に対してしきい値T2 で2値化をし、面積
しきい値S2 以上の部分を残すと、(b)に示したよう
に、画像レベルが特に低く、かつ面積が面積しきい値S
2 以上の部分31aを含んだ画像33が得られる。
【0053】濃淡モフォロジー処理により求めた画像3
7と画像統計量処理により求めた画像33とを合成して
(g)に示すように異物画像38を求める。そしてこの
異物として認識された部分31a,32c,32eの個
数を求めると共にその面積も求め、これらから製品の良
否を判断する。
7と画像統計量処理により求めた画像33とを合成して
(g)に示すように異物画像38を求める。そしてこの
異物として認識された部分31a,32c,32eの個
数を求めると共にその面積も求め、これらから製品の良
否を判断する。
【0054】以上のようにして、表面ムラ検査と異物混
入検査を終えた後は、図3に示すようにそれぞれの結果
表示出力を行うと共にその結果を保存する。
入検査を終えた後は、図3に示すようにそれぞれの結果
表示出力を行うと共にその結果を保存する。
【0055】
【発明の効果】以上要するに本発明によれば、次の用に
効果を発揮する。
効果を発揮する。
【0056】(1) シート状製品の裏面から光を当てその
透過光を撮像し、得た画像に対して多段階のしきい値処
理や濃淡画像処理等の画像処理、統計量処理を行うこと
により、表面ムラや異物混入の有無を容易に判定でき
る。
透過光を撮像し、得た画像に対して多段階のしきい値処
理や濃淡画像処理等の画像処理、統計量処理を行うこと
により、表面ムラや異物混入の有無を容易に判定でき
る。
【0057】(2) 一定した照度下で画像を入力できるの
で、目視に代って安定した自動検査が実施できる。
で、目視に代って安定した自動検査が実施できる。
【0058】(3) 検査結果は、コンピュータ内部の記憶
装置やフロッピディスクに保存したり、プリンタに出力
できるので人手による結果の記録は不要である。
装置やフロッピディスクに保存したり、プリンタに出力
できるので人手による結果の記録は不要である。
【図1】本発明のシステム構成の一例を示す図である。
【図2】本発明の機能構成の一例を示す図である。
【図3】本発明のフローチャートを示す図である。
【図4】本発明において、レンズ絞りの調整方法を説明
する図である。
する図である。
【図5】本発明において、撮像した画像からシート状製
品を抽出するための説明図である。
品を抽出するための説明図である。
【図6】同じく本発明において、撮像した画像からシー
ト状製品を抽出するための説明図である。
ト状製品を抽出するための説明図である。
【図7】本発明において、表面ムラを検出するための説
明図である。
明図である。
【図8】本発明において、異物混入を検出するための説
明図である。
明図である。
1 光源装置 2 シート状製品 3 撮像系 4 画像処理装置 5 コンピュータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G06T 1/00 (72)発明者 矢ヶ部 政宏 東京都江東区豊洲二丁目1番1号 石川島 播磨重工業株式会社東京第一工場内 (72)発明者 伊藤 順一 東京都江東区豊洲二丁目1番1号 石川島 播磨重工業株式会社東京第一工場内
Claims (1)
- 【請求項1】 シート状製品をその裏面から光を当てる
光源装置と、シート状製品を透過した光と共にシート状
製品を撮像する撮像系と、撮像系で得た画像情報を取り
込む画像処理装置と、画像情報の均一な検査を行うべく
上記光源装置の光の量を調整し、かつ画像情報からシー
ト状製品を抽出すると共に表面ムラや異物の混入を検査
するコンピュータとを備えたことを特徴とするシート状
製品の外観検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5213987A JPH0763695A (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | シート状製品の外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5213987A JPH0763695A (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | シート状製品の外観検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0763695A true JPH0763695A (ja) | 1995-03-10 |
Family
ID=16648380
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5213987A Pending JPH0763695A (ja) | 1993-08-30 | 1993-08-30 | シート状製品の外観検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0763695A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006038784A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-02-09 | Suncall Corp | 磁気ヘッドサスペンションの溶接位置測定方法及び装置 |
JP2008089420A (ja) * | 2006-10-02 | 2008-04-17 | Yamatake Corp | 移動速度検出装置 |
JP2011179987A (ja) * | 2010-03-01 | 2011-09-15 | Sugino Machine Ltd | 残留物測定方法及び残留物測定装置 |
-
1993
- 1993-08-30 JP JP5213987A patent/JPH0763695A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006038784A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-02-09 | Suncall Corp | 磁気ヘッドサスペンションの溶接位置測定方法及び装置 |
JP2008089420A (ja) * | 2006-10-02 | 2008-04-17 | Yamatake Corp | 移動速度検出装置 |
JP2011179987A (ja) * | 2010-03-01 | 2011-09-15 | Sugino Machine Ltd | 残留物測定方法及び残留物測定装置 |
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