JP3314747B2 - 液晶パネルの光学測定装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶パネルの被測
定領域から出射される光を受光して前記被測定領域の色
度や輝度などの光学特性を測定する光学測定装置に関す
るものである。
定領域から出射される光を受光して前記被測定領域の色
度や輝度などの光学特性を測定する光学測定装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】液晶パネルの生産ラインでは、生産され
た液晶パネルのホワイトバランスを調整したり、液晶パ
ネルの品質管理・出荷検査をすべく、液晶パネルの色度
や輝度などの光学特性を測定する光学測定装置が従来よ
り使用されている。その一例としては、例えばミノルタ
株式会社製の「ＬＣＤカラーアナライザーＣＡ−１１
０」を用いた光学測定がある。この光学測定装置は、受
光素子を内蔵し、液晶パネルの被測定領域から出射され
る光を受光素子で受光する測定プローブと、測定プロー
ブの受光素子からの出力値に基づき国際照明委員会（Ｃ
ＩＥ）で制定されているｘｙＹ（色度座標、輝度）、Ｔ
ΔｕｖＹ（相関色温度、黒体軌跡からの色差、輝度）な
どを演算する測定本体とを備えており、こうして測定さ
れた値は装置本体の表示部に表示される。
た液晶パネルのホワイトバランスを調整したり、液晶パ
ネルの品質管理・出荷検査をすべく、液晶パネルの色度
や輝度などの光学特性を測定する光学測定装置が従来よ
り使用されている。その一例としては、例えばミノルタ
株式会社製の「ＬＣＤカラーアナライザーＣＡ−１１
０」を用いた光学測定がある。この光学測定装置は、受
光素子を内蔵し、液晶パネルの被測定領域から出射され
る光を受光素子で受光する測定プローブと、測定プロー
ブの受光素子からの出力値に基づき国際照明委員会（Ｃ
ＩＥ）で制定されているｘｙＹ（色度座標、輝度）、Ｔ
ΔｕｖＹ（相関色温度、黒体軌跡からの色差、輝度）な
どを演算する測定本体とを備えており、こうして測定さ
れた値は装置本体の表示部に表示される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記した従
来の液晶パネルの光学測定装置は、いわゆる非接触型の
装置であり、測定プローブを液晶パネルから所定距離だ
け離隔した位置に配置して液晶パネルの被測定領域の色
度や輝度などの光学特性を測定するものである。したが
って、再現性よく測定するためには、測定プローブを液
晶パネルから所定距離の位置に正確に位置決めする必要
があり、このことが測定者の作業性低下の主要因の一つ
となっていた。
来の液晶パネルの光学測定装置は、いわゆる非接触型の
装置であり、測定プローブを液晶パネルから所定距離だ
け離隔した位置に配置して液晶パネルの被測定領域の色
度や輝度などの光学特性を測定するものである。したが
って、再現性よく測定するためには、測定プローブを液
晶パネルから所定距離の位置に正確に位置決めする必要
があり、このことが測定者の作業性低下の主要因の一つ
となっていた。
【０００４】また、液晶パネルの被測定領域から測定プ
ローブを離隔配置しているため、次のような問題点があ
る。すなわち、非接触型の光学測定装置では、液晶パネ
ルの周辺から被測定領域に入射した光が被測定領域で反
射し、測定プローブの受光素子に迷光として入射するこ
とがある。このように迷光が測定プローブに入射する
と、受光素子からの出力値が変化してしまい、正確な測
定を行うことができないという問題がある。特に、被測
定領域の色が比較的暗い場合には、迷光の影響は大き
く、測定精度に重大な悪影響を及ぼしてしまう。そこ
で、この問題を解消するためには、例えば液晶パネルお
よび測定プローブの周辺照明を落として光学測定を行う
ことが考えられる。しかしながら、周辺照明を落とすこ
とにより測定者の作業性を著しく低下させてしまうとい
う別の問題が生じてしまう。
ローブを離隔配置しているため、次のような問題点があ
る。すなわち、非接触型の光学測定装置では、液晶パネ
ルの周辺から被測定領域に入射した光が被測定領域で反
射し、測定プローブの受光素子に迷光として入射するこ
とがある。このように迷光が測定プローブに入射する
と、受光素子からの出力値が変化してしまい、正確な測
定を行うことができないという問題がある。特に、被測
定領域の色が比較的暗い場合には、迷光の影響は大き
く、測定精度に重大な悪影響を及ぼしてしまう。そこ
で、この問題を解消するためには、例えば液晶パネルお
よび測定プローブの周辺照明を落として光学測定を行う
ことが考えられる。しかしながら、周辺照明を落とすこ
とにより測定者の作業性を著しく低下させてしまうとい
う別の問題が生じてしまう。
【０００５】また、こうした非接触型の光学測定装置の
問題点を解消する別の手段として、カラーＣＲＴの光学
特性を測定する光学測定装置（例えば、ミノルタ株式会
社製の「ＣＲＴカラーアナライザＣＡ−１００」）で採
用しているように、測定プローブを被測定領域に接触さ
せて光学特性を測定する技術を転用することが考えられ
るが、この場合も、次のような問題点がある。すなわ
ち、液晶パネルは、２枚のガラス基板で液晶を挟み込む
ことで液晶パネル全面に亘って液晶の厚みを均一にする
という構成を採っているため、液晶パネルに測定プロー
ブを当接させると、その当接部分での液晶の厚みが変化
し、その当接部分を中心として一定の広がりを持った領
域で表示色が大きく変化してしまう（以下の説明の便宜
のため、このように外部から力が加えられることにより
表示色が変化する領域を「接触影響領域」と称する）。
その結果、測定プローブで測定すべき被測定領域に、接
触影響領域が一部重なり、正確な測定ができなくなって
しまう。
問題点を解消する別の手段として、カラーＣＲＴの光学
特性を測定する光学測定装置（例えば、ミノルタ株式会
社製の「ＣＲＴカラーアナライザＣＡ−１００」）で採
用しているように、測定プローブを被測定領域に接触さ
せて光学特性を測定する技術を転用することが考えられ
るが、この場合も、次のような問題点がある。すなわ
ち、液晶パネルは、２枚のガラス基板で液晶を挟み込む
ことで液晶パネル全面に亘って液晶の厚みを均一にする
という構成を採っているため、液晶パネルに測定プロー
ブを当接させると、その当接部分での液晶の厚みが変化
し、その当接部分を中心として一定の広がりを持った領
域で表示色が大きく変化してしまう（以下の説明の便宜
のため、このように外部から力が加えられることにより
表示色が変化する領域を「接触影響領域」と称する）。
その結果、測定プローブで測定すべき被測定領域に、接
触影響領域が一部重なり、正確な測定ができなくなって
しまう。
【０００６】また、液晶パネルについては、従来より周
知のように、見る角度（中心面法線からの角度）によっ
て輝度や色度が異なる。これは、見る角度をある一定の
角度間隔で変えていったときの出射光の強度が見る角度
に応じて変化することに起因するものであり、液晶パネ
ルは例えば図１９（ａ）に示すように中心面法線Ｎに対
してほぼ対称な配光特性を有している。すなわち、現在
市場に流通している液晶パネルでは、正面から見ると正
常に表示されていたとしても、中心面法線Ｎに対して徐
々に角度をつけて見ると、ある角度αを超えると、輝度
や色度が大きく変化してしまい、液晶パネルの視野角は
狭くなっている。したがって、液晶パネルの中心面法線
Ｎの近軸付近の光線のみならず、上記角度を超えて出射
される光線をも受光し、その強度から液晶パネルの輝度
や色度などの求めていた従来例では、十分な精度および
再現性を有する光学特性の測定は困難であった。
知のように、見る角度（中心面法線からの角度）によっ
て輝度や色度が異なる。これは、見る角度をある一定の
角度間隔で変えていったときの出射光の強度が見る角度
に応じて変化することに起因するものであり、液晶パネ
ルは例えば図１９（ａ）に示すように中心面法線Ｎに対
してほぼ対称な配光特性を有している。すなわち、現在
市場に流通している液晶パネルでは、正面から見ると正
常に表示されていたとしても、中心面法線Ｎに対して徐
々に角度をつけて見ると、ある角度αを超えると、輝度
や色度が大きく変化してしまい、液晶パネルの視野角は
狭くなっている。したがって、液晶パネルの中心面法線
Ｎの近軸付近の光線のみならず、上記角度を超えて出射
される光線をも受光し、その強度から液晶パネルの輝度
や色度などの求めていた従来例では、十分な精度および
再現性を有する光学特性の測定は困難であった。
【０００７】さらに、一部の液晶パネルでは、ある表示
状態で配光特性が中心面法線Ｎに対して対称になってい
たとしても、表示状態を変化させていくと、例えば同図
（ｂ）に示すように、中心面法線Ｎに対する配光特性の
対称性が崩れていき、配光特性の変動が観察される。例
えば表示状態を白から黒に徐々に変化させると、最も明
るく見える角度が中心面法線Ｎに対して上方向へシフト
する現象が確認されている。ただし、このような配光特
性の変動現象は所定方向に限られており、現在市場に流
通している液晶パネルの大部分では、配光特性の変動が
現れるのは上下方向ＸＸに限られている。なお、この明
細書では、説明の便宜から、図１９に示すように配光特
性が変動する方向を「配光特性変動方向」と称する。
状態で配光特性が中心面法線Ｎに対して対称になってい
たとしても、表示状態を変化させていくと、例えば同図
（ｂ）に示すように、中心面法線Ｎに対する配光特性の
対称性が崩れていき、配光特性の変動が観察される。例
えば表示状態を白から黒に徐々に変化させると、最も明
るく見える角度が中心面法線Ｎに対して上方向へシフト
する現象が確認されている。ただし、このような配光特
性の変動現象は所定方向に限られており、現在市場に流
通している液晶パネルの大部分では、配光特性の変動が
現れるのは上下方向ＸＸに限られている。なお、この明
細書では、説明の便宜から、図１９に示すように配光特
性が変動する方向を「配光特性変動方向」と称する。
【０００８】したがって、例えば図２０に示すように、
液晶パネル１２の中心面法線Ｎ上に受光素子Ｒを配置し
た場合、同一の被測定領域１２１からの光を受光してい
るにもかかわらず、配光特性が変動すると、それに応じ
て受光素子Ｒから出力ＳRが変化し、精度および再現性
に優れた光学特性の測定が困難となる。
液晶パネル１２の中心面法線Ｎ上に受光素子Ｒを配置し
た場合、同一の被測定領域１２１からの光を受光してい
るにもかかわらず、配光特性が変動すると、それに応じ
て受光素子Ｒから出力ＳRが変化し、精度および再現性
に優れた光学特性の測定が困難となる。
【０００９】この発明は、上記のような問題に鑑みてな
されたものであり、測定の再現性および測定精度に優れ
た液晶パネルの光学測定装置を提供することを目的とす
る。
されたものであり、測定の再現性および測定精度に優れ
た液晶パネルの光学測定装置を提供することを目的とす
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】この発明は、液晶パネル
の被測定領域から出射される光を受光して前記被測定領
域の光学特性を測定する光学測定装置であって、上記目
的を達成するため、前記被測定領域からその外周方向に
離れた位置で前記液晶パネルと当接可能な当接部を有す
る装置本体と、前記装置本体に取付けられ、前記当接部
が前記液晶パネルに当接された状態で前記被測定領域か
らの光を受光する受光手段とを備えている（請求項
１）。
の被測定領域から出射される光を受光して前記被測定領
域の光学特性を測定する光学測定装置であって、上記目
的を達成するため、前記被測定領域からその外周方向に
離れた位置で前記液晶パネルと当接可能な当接部を有す
る装置本体と、前記装置本体に取付けられ、前記当接部
が前記液晶パネルに当接された状態で前記被測定領域か
らの光を受光する受光手段とを備えている（請求項
１）。
【００１１】この発明では、装置本体の当接部が液晶パ
ネルに当接し、その当接部を中心として接触影響領域
（当接部の液晶パネルへの当接によって表示色が変化す
る領域）が形成されるが、当接位置は被測定領域からそ
の外周方向に離れた位置となっているため、接触影響領
域の被測定領域への重なり合いが防止される。また、光
学特性を測定するために当接部が液晶パネルと当接する
と、受光手段は液晶パネルから所定距離だけ離れた所定
位置に位置決めされ、この位置決め状態で被測定領域か
らの光を受光する。このように装置本体の当接部を液晶
パネルに当接させる、いわゆる接触型の光学測定装置で
は、装置周辺から被測定領域に入射する光はほとんどな
く、迷光による測定精度および再現性の低下が防止され
る。そして、受光手段によって特定の分光感度で被測定
領域からの光を受光するにあたり、その同一の分光感度
特性を有する第１および第２受光部を用い、しかも第１
および第２受光部を、液晶パネルから所定距離だけ離れ
た受光面上で、しかも被測定領域の中心面法線に対して
配光特性が非対称となる方向（配光特性変動方向）にお
いて、被測定領域の中心面法線に対して相互に反対側に
配置すると、次のような作用効果が得られる。すなわ
ち、１つの受光部によって被測定領域からの光を受光す
る場合、同一の被測定領域から出射している光でありな
がら、配光特性変動方向における当該受光部の配設位置
に応じて受光部からの出力値が変化してしまうため、正
確な測定が困難であるのに対し、上記のように配置され
た第１および第２受光部によって被測定領域からの光を
受光し、各受光部からの出力値を加算したり、平均化し
たり、重み付け演算することによって配光変動による影
響を抑制することができ、測定精度を向上させることが
できる。
ネルに当接し、その当接部を中心として接触影響領域
（当接部の液晶パネルへの当接によって表示色が変化す
る領域）が形成されるが、当接位置は被測定領域からそ
の外周方向に離れた位置となっているため、接触影響領
域の被測定領域への重なり合いが防止される。また、光
学特性を測定するために当接部が液晶パネルと当接する
と、受光手段は液晶パネルから所定距離だけ離れた所定
位置に位置決めされ、この位置決め状態で被測定領域か
らの光を受光する。このように装置本体の当接部を液晶
パネルに当接させる、いわゆる接触型の光学測定装置で
は、装置周辺から被測定領域に入射する光はほとんどな
く、迷光による測定精度および再現性の低下が防止され
る。そして、受光手段によって特定の分光感度で被測定
領域からの光を受光するにあたり、その同一の分光感度
特性を有する第１および第２受光部を用い、しかも第１
および第２受光部を、液晶パネルから所定距離だけ離れ
た受光面上で、しかも被測定領域の中心面法線に対して
配光特性が非対称となる方向（配光特性変動方向）にお
いて、被測定領域の中心面法線に対して相互に反対側に
配置すると、次のような作用効果が得られる。すなわ
ち、１つの受光部によって被測定領域からの光を受光す
る場合、同一の被測定領域から出射している光でありな
がら、配光特性変動方向における当該受光部の配設位置
に応じて受光部からの出力値が変化してしまうため、正
確な測定が困難であるのに対し、上記のように配置され
た第１および第２受光部によって被測定領域からの光を
受光し、各受光部からの出力値を加算したり、平均化し
たり、重み付け演算することによって配光変動による影
響を抑制することができ、測定精度を向上させることが
できる。
【００１２】なお、上記のように迷光を防止する観点か
ら、装置本体に対して遮光性を与え、その装置本体の内
部に受光手段を取り付けるのが望ましい（請求項２）。
ら、装置本体に対して遮光性を与え、その装置本体の内
部に受光手段を取り付けるのが望ましい（請求項２）。
【００１３】また、当接部については、被測定領域を部
分的に取り囲むように構成したり、あるいは被測定領域
の全周を取り囲むように構成してもよく（請求項３）、
当接部によって装置周辺からの被測定領域への光の入射
が防止される。特に、当接部を被測定領域の全周を取り
囲むように設けた場合には、装置周辺から被測定領域に
光が入射するのを完全に防止し、より精度の高く、再現
性に優れた測定が可能となる。
分的に取り囲むように構成したり、あるいは被測定領域
の全周を取り囲むように構成してもよく（請求項３）、
当接部によって装置周辺からの被測定領域への光の入射
が防止される。特に、当接部を被測定領域の全周を取り
囲むように設けた場合には、装置周辺から被測定領域に
光が入射するのを完全に防止し、より精度の高く、再現
性に優れた測定が可能となる。
【００１４】また、液晶パネルに対して装置本体を固定
する固定手段をさらに設けてもよく（請求項４）、この
場合、液晶パネルの姿勢に制約されず、液晶パネルに光
学測定装置を取り付けることができる。
する固定手段をさらに設けてもよく（請求項４）、この
場合、液晶パネルの姿勢に制約されず、液晶パネルに光
学測定装置を取り付けることができる。
【００１５】
【００１６】また、第１および第２受光部の分光感度特
性と異なる分光感度特性を有する第３受光部を受光手段
に設けることにより、複数の分光感度で被測定領域から
の光を受光することができる。ここで、第３受光部を、
受光面と上記中心面法線とが交差する交点を通り、しか
も配光特性変動方向とほぼ直交する仮想線上に配置する
のが好ましい（請求項５）。
性と異なる分光感度特性を有する第３受光部を受光手段
に設けることにより、複数の分光感度で被測定領域から
の光を受光することができる。ここで、第３受光部を、
受光面と上記中心面法線とが交差する交点を通り、しか
も配光特性変動方向とほぼ直交する仮想線上に配置する
のが好ましい（請求項５）。
【００１７】さらに、前記装置本体に、前記被測定領域
の各部から出射される光のうち所定角度以下の出射角の
光のみを前記受光手段に導く光学系をさらに設けること
（請求項６）で、出射角が大きい（つまり光強度が大き
く変化した）光線が受光手段に入射するのが防止され
る。
の各部から出射される光のうち所定角度以下の出射角の
光のみを前記受光手段に導く光学系をさらに設けること
（請求項６）で、出射角が大きい（つまり光強度が大き
く変化した）光線が受光手段に入射するのが防止され
る。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明を適用したキャリブ
レーションシステムの全体概略構成および動作について
説明した後、本発明の構成および作用効果について詳細
に説明する。
レーションシステムの全体概略構成および動作について
説明した後、本発明の構成および作用効果について詳細
に説明する。
【００１９】Ａ．キャリブレーションシステムの全体概
略構成および動作 図１は、この発明を用いた液晶パネルのキャリブレーシ
ョンシステムを示す図である。このキャリブレーション
システムでは、コンピュータ本体１１と電気的に接続さ
れた液晶パネル１２の色度（三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚ）が光
学測定装置２で測定され、ＲＳ−２３２ＣやＵＳＢ（=U
niversal Serial Bus）などのインターフェースを介し
てコンピュータ本体１１に与えられ、コンピュータ本体
１１に予めインストールされている校正プログラムにし
たがって液晶パネル１２のホワイトバランス調整が行わ
れる。なお、現在市場に流通している液晶パネル１２は
すでに説明したように上下方向（配光特性変動方向）Ｘ
Ｘに配光特性が大きく変動するが、それと直交する水平
方向ＹＹでは配光特性はほぼ対称となっているものが多
く、以下においては、この前提に基づき本発明の構成、
作用効果などについて説明する。
略構成および動作 図１は、この発明を用いた液晶パネルのキャリブレーシ
ョンシステムを示す図である。このキャリブレーション
システムでは、コンピュータ本体１１と電気的に接続さ
れた液晶パネル１２の色度（三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚ）が光
学測定装置２で測定され、ＲＳ−２３２ＣやＵＳＢ（=U
niversal Serial Bus）などのインターフェースを介し
てコンピュータ本体１１に与えられ、コンピュータ本体
１１に予めインストールされている校正プログラムにし
たがって液晶パネル１２のホワイトバランス調整が行わ
れる。なお、現在市場に流通している液晶パネル１２は
すでに説明したように上下方向（配光特性変動方向）Ｘ
Ｘに配光特性が大きく変動するが、それと直交する水平
方向ＹＹでは配光特性はほぼ対称となっているものが多
く、以下においては、この前提に基づき本発明の構成、
作用効果などについて説明する。
【００２０】図２は、図１のキャリブレーションシステ
ムで採用されている光学測定装置を示す斜視図である。
また、図３は図２の光学測定装置を液晶パネルに装着し
た状態での光学測定装置の断面図である。この光学測定
装置２は、これらの図に示すように、装置本体２１と、
装置本体２１の内部に設けられた受光ユニット（受光手
段）２２と、液晶パネル１２の被測定領域１２１から出
射される光を受光ユニット２２に導く（測定用）光学系
２３と、受光ユニット２２から出力される信号を受けて
被測定領域１２１に表示される画像の輝度と色度を示す
三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚを演算し、コンピュータ本体１１に
出力する制御部２４と、装置本体２１を液晶パネル１２
に対して固定する固定用フック２５とで構成されてい
る。
ムで採用されている光学測定装置を示す斜視図である。
また、図３は図２の光学測定装置を液晶パネルに装着し
た状態での光学測定装置の断面図である。この光学測定
装置２は、これらの図に示すように、装置本体２１と、
装置本体２１の内部に設けられた受光ユニット（受光手
段）２２と、液晶パネル１２の被測定領域１２１から出
射される光を受光ユニット２２に導く（測定用）光学系
２３と、受光ユニット２２から出力される信号を受けて
被測定領域１２１に表示される画像の輝度と色度を示す
三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚを演算し、コンピュータ本体１１に
出力する制御部２４と、装置本体２１を液晶パネル１２
に対して固定する固定用フック２５とで構成されてい
る。
【００２１】装置本体２１では、ＡＢＳ樹脂製の略円筒
形状の筒部２１１の一方端側（図３の左手側）に、ポリ
カーボネート製の略ドーナツ形状のフランジ２１２が固
着されている。また、このフランジ２１２の一方側主面
２１２ｓにフランジ２１２の外周縁に沿って円環状のゴ
ムリングシート２１３が取付けられており、このゴムリ
ングシート２１３が液晶パネル１２に当接可能となって
いる。ここで、図３に示すように、ゴムリングシート２
１３を液晶パネル１２に当接させると、フランジ２１２
が液晶パネル１２からゴムリングシート２１３の厚みｔ
分だけ離隔した状態で位置決めされるとともに、筒部２
１１の内部で固定された受光ユニット２２の液晶パネル
１２に対する位置も正確に位置決めされる。このように
本実施形態では、装置本体２１のゴムリングシート２１
３が液晶パネル１２と当接する当接部として機能し、こ
のゴムリングシート２１３が液晶パネル１２と当接して
光学測定装置２が液晶パネル１２に対して位置決めされ
る、いわゆる接触型構造となっている。このため、図３
に示すように光学測定装置２が液晶パネル１２に固定さ
れて測定可能な状態（以下「測定状態」という）となる
と、液晶パネル１２から受光ユニット２２までの距離Ｌ
1が装置本体２１の機械的な寸法によって決まる所定値
となる。
形状の筒部２１１の一方端側（図３の左手側）に、ポリ
カーボネート製の略ドーナツ形状のフランジ２１２が固
着されている。また、このフランジ２１２の一方側主面
２１２ｓにフランジ２１２の外周縁に沿って円環状のゴ
ムリングシート２１３が取付けられており、このゴムリ
ングシート２１３が液晶パネル１２に当接可能となって
いる。ここで、図３に示すように、ゴムリングシート２
１３を液晶パネル１２に当接させると、フランジ２１２
が液晶パネル１２からゴムリングシート２１３の厚みｔ
分だけ離隔した状態で位置決めされるとともに、筒部２
１１の内部で固定された受光ユニット２２の液晶パネル
１２に対する位置も正確に位置決めされる。このように
本実施形態では、装置本体２１のゴムリングシート２１
３が液晶パネル１２と当接する当接部として機能し、こ
のゴムリングシート２１３が液晶パネル１２と当接して
光学測定装置２が液晶パネル１２に対して位置決めされ
る、いわゆる接触型構造となっている。このため、図３
に示すように光学測定装置２が液晶パネル１２に固定さ
れて測定可能な状態（以下「測定状態」という）となる
と、液晶パネル１２から受光ユニット２２までの距離Ｌ
1が装置本体２１の機械的な寸法によって決まる所定値
となる。
【００２２】このように光学測定装置２を液晶パネル１
２に接触させた状態で固定するために、この実施形態で
は、図２に示すように、フック２５の後端部２５１が略
Ｙ字形状となっており、筒部２１１の外周側部に回動自
在に取付け、フック２５の先端フック部２５２を液晶パ
ネル１２の上端部１２２に引っ掛けて液晶パネル１２に
対して光学測定装置２を固定可能となっている。ただ
し、光学測定装置２を液晶パネル１２に固定する固定手
段としては、本実施形態で示したフック２５以外に、ク
リップ、専用スタンドあるいはマジックテープ等を用い
ることができる。また、表示面を略上方に向けた状態で
液晶パネル１２を倒伏配置している場合には、固定手段
を設けるまでもなく、液晶パネル１２の表示面上に光学
測定装置２を載置することで光学測定装置２を液晶パネ
ル１２に対して実質的に固定位置決めすることができ
る。さらに、固定手段を設ける代わりに、測定者がマニ
ュアルで装置本体２１を液晶パネル１２の表示面に押し
付けたり、専用のロボットによって自動的に装置本体２
１を液晶パネル１２の表示面に押し付けるように構成し
てもよい。
２に接触させた状態で固定するために、この実施形態で
は、図２に示すように、フック２５の後端部２５１が略
Ｙ字形状となっており、筒部２１１の外周側部に回動自
在に取付け、フック２５の先端フック部２５２を液晶パ
ネル１２の上端部１２２に引っ掛けて液晶パネル１２に
対して光学測定装置２を固定可能となっている。ただ
し、光学測定装置２を液晶パネル１２に固定する固定手
段としては、本実施形態で示したフック２５以外に、ク
リップ、専用スタンドあるいはマジックテープ等を用い
ることができる。また、表示面を略上方に向けた状態で
液晶パネル１２を倒伏配置している場合には、固定手段
を設けるまでもなく、液晶パネル１２の表示面上に光学
測定装置２を載置することで光学測定装置２を液晶パネ
ル１２に対して実質的に固定位置決めすることができ
る。さらに、固定手段を設ける代わりに、測定者がマニ
ュアルで装置本体２１を液晶パネル１２の表示面に押し
付けたり、専用のロボットによって自動的に装置本体２
１を液晶パネル１２の表示面に押し付けるように構成し
てもよい。
【００２３】図４は、装置本体内部でのフランジ、光学
系および受光ユニットの配置関係を示す斜視図である。
図３および図４に示すように、フランジ２１２の中心部
には、円形の開口部２１２ａが形成されており、図３に
示す測定状態では、その開口部２１２ａが液晶パネル１
２の被測定領域１２１と近接対向しており、被測定領域
１２１から出射した光のみが光学系２３を介して受光ユ
ニット２２に入射するようになっている。このように、
この実施形態では、フランジ２１２の開口部２１２ａが
実質的に視野絞りとして機能している。
系および受光ユニットの配置関係を示す斜視図である。
図３および図４に示すように、フランジ２１２の中心部
には、円形の開口部２１２ａが形成されており、図３に
示す測定状態では、その開口部２１２ａが液晶パネル１
２の被測定領域１２１と近接対向しており、被測定領域
１２１から出射した光のみが光学系２３を介して受光ユ
ニット２２に入射するようになっている。このように、
この実施形態では、フランジ２１２の開口部２１２ａが
実質的に視野絞りとして機能している。
【００２４】また、光学系２３は被測定領域１２１の各
部から出射される光のうち所定の最大出射角α（例え
ば、１０゜程度）以下の出射角の光のみを受光ユニット
２２に導くように構成されており、配光特性の影響を抑
えて正確な測定可能となっている。なお、出射角を制限
するために本実施形態で採用した具体的な構成、および
その作用効果については、後の「B-2.測定用光学系につ
いて」の項で詳述する。
部から出射される光のうち所定の最大出射角α（例え
ば、１０゜程度）以下の出射角の光のみを受光ユニット
２２に導くように構成されており、配光特性の影響を抑
えて正確な測定可能となっている。なお、出射角を制限
するために本実施形態で採用した具体的な構成、および
その作用効果については、後の「B-2.測定用光学系につ
いて」の項で詳述する。
【００２５】このように開口部２１２ａおよび光学系２
３を介して被測定領域１２１からの光を受光する受光ユ
ニット２２は、図４および図５に示すように、４つの受
光部２２１〜２２４で構成されている。これらの受光部
のうち第１および第２受光部２２１、２２２は、同一の
分光感度特性を有しており、その分光感度は、国際照明
委員会（ＣＩＥ）で標準観察者の分光感度として規定さ
れている３つの分光感度のうち青の波長域に大きな感度
を持っている分光感度（ゼット・バー・ラムダ）に設定
されている。そして、これら２つの受光部２２１、２２
２は、液晶パネル１２から距離Ｌ1だけ離れた受光面上
で、しかも液晶パネル１２の配光特性変動方向ＸＸにお
いて被測定領域１２１の中心面法線（この実施形態で
は、光学系２３の光軸ＯＡと一致している）Ｎに対して
相互に反対側に配置されている。つまり、図５に示すよ
うに、受光部２２１は（＋ＸＸ）側に配置されるのに対
し、受光部２２２は（−ＸＸ）側に配置されている。こ
のように配置することの利点については、後の「B-3.受
光素子の並設構造について」の項で詳述する。
３を介して被測定領域１２１からの光を受光する受光ユ
ニット２２は、図４および図５に示すように、４つの受
光部２２１〜２２４で構成されている。これらの受光部
のうち第１および第２受光部２２１、２２２は、同一の
分光感度特性を有しており、その分光感度は、国際照明
委員会（ＣＩＥ）で標準観察者の分光感度として規定さ
れている３つの分光感度のうち青の波長域に大きな感度
を持っている分光感度（ゼット・バー・ラムダ）に設定
されている。そして、これら２つの受光部２２１、２２
２は、液晶パネル１２から距離Ｌ1だけ離れた受光面上
で、しかも液晶パネル１２の配光特性変動方向ＸＸにお
いて被測定領域１２１の中心面法線（この実施形態で
は、光学系２３の光軸ＯＡと一致している）Ｎに対して
相互に反対側に配置されている。つまり、図５に示すよ
うに、受光部２２１は（＋ＸＸ）側に配置されるのに対
し、受光部２２２は（−ＸＸ）側に配置されている。こ
のように配置することの利点については、後の「B-3.受
光素子の並設構造について」の項で詳述する。
【００２６】一方、残りの第３および第４受光部２２
３、２２４は、受光面と中心面法線Ｎとが交差する交点
ＣＰを通り、しかも配光特性変動方向ＸＸとほぼ直交す
る方向ＹＹ方向に延びる仮想線ＶＬに配置されている。
しかも、交点ＣＰを挟んで第３受光部２２３が（＋Ｙ
Ｙ）側に配置されるとともに、第４受光部２２４が（−
ＹＹ）側に配置されている。このように配置された第３
受光部２２３は、第１および第２受光部２２１、２２２
とは異なり、赤の波長域に大きな感度を持っている分光
感度（エックス・バー・ラムダ）を有する一方、第４受
光部２２４は、第１ないし第３受光部２２１〜２２３と
は異なり、緑の波長域に大きな感度を持っている分光感
度（ワイ・バー・ラムダ）を有している。
３、２２４は、受光面と中心面法線Ｎとが交差する交点
ＣＰを通り、しかも配光特性変動方向ＸＸとほぼ直交す
る方向ＹＹ方向に延びる仮想線ＶＬに配置されている。
しかも、交点ＣＰを挟んで第３受光部２２３が（＋Ｙ
Ｙ）側に配置されるとともに、第４受光部２２４が（−
ＹＹ）側に配置されている。このように配置された第３
受光部２２３は、第１および第２受光部２２１、２２２
とは異なり、赤の波長域に大きな感度を持っている分光
感度（エックス・バー・ラムダ）を有する一方、第４受
光部２２４は、第１ないし第３受光部２２１〜２２３と
は異なり、緑の波長域に大きな感度を持っている分光感
度（ワイ・バー・ラムダ）を有している。
【００２７】このように、この実施形態では、人間の目
に対応する分光感度とほぼ同じ感度を持つ３種類の受光
部２２１〜２２４を設けて、被測定領域１２１からの光
を受光するように構成しているので、被測定領域１２１
の色を三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚ（Ｚ1，Ｚ2）で測定すること
ができるようになっている。そして、こうして得られた
三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚ（Ｚ1，Ｚ2）に関連する４つのアナ
ログ信号ＳX，ＳY，ＳZ1，ＳZ2が制御部２４に与えられ
て校正処理された後、その校正済みの三刺激値Ｘ，Ｙ，
Ｚに関連するディジタル信号が光学測定装置２から出力
される。なお、受光ユニット２２における受光部の構成
については、この実施形態のそれに限定されるものでは
なく、受光部２２１、２２２を設ける代わりに、それら
と同一の分光感度（ゼット・バー・ラムダ）を有する受
光部を図５の仮想線ＶＬ上に配置し、この受光部によっ
て色刺激値Ｚを測定するようにしてもよい。
に対応する分光感度とほぼ同じ感度を持つ３種類の受光
部２２１〜２２４を設けて、被測定領域１２１からの光
を受光するように構成しているので、被測定領域１２１
の色を三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚ（Ｚ1，Ｚ2）で測定すること
ができるようになっている。そして、こうして得られた
三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚ（Ｚ1，Ｚ2）に関連する４つのアナ
ログ信号ＳX，ＳY，ＳZ1，ＳZ2が制御部２４に与えられ
て校正処理された後、その校正済みの三刺激値Ｘ，Ｙ，
Ｚに関連するディジタル信号が光学測定装置２から出力
される。なお、受光ユニット２２における受光部の構成
については、この実施形態のそれに限定されるものでは
なく、受光部２２１、２２２を設ける代わりに、それら
と同一の分光感度（ゼット・バー・ラムダ）を有する受
光部を図５の仮想線ＶＬ上に配置し、この受光部によっ
て色刺激値Ｚを測定するようにしてもよい。
【００２８】図６は、光学測定装置の制御部の電気的な
構成を示すブロック図である。この制御部２４では、４
つのアンプ回路２４１ａ〜２４１ｄからなる増幅部２４
１が設けられている。これらのアンプ回路２４１ａ〜２
４１ｄはそれぞれ受光部２２１〜２２４と電気的に接続
されており、各受光部２２１〜２２４から出力されるア
ナログ信号ＳX，ＳY，ＳZ1，ＳZ2をそれぞれ増幅してマ
ルチプレクサ２４２の対応端子に供給する。
構成を示すブロック図である。この制御部２４では、４
つのアンプ回路２４１ａ〜２４１ｄからなる増幅部２４
１が設けられている。これらのアンプ回路２４１ａ〜２
４１ｄはそれぞれ受光部２２１〜２２４と電気的に接続
されており、各受光部２２１〜２２４から出力されるア
ナログ信号ＳX，ＳY，ＳZ1，ＳZ2をそれぞれ増幅してマ
ルチプレクサ２４２の対応端子に供給する。
【００２９】このマルチプレクサ２４２は、ＣＰＵ２４
４からの切換指令信号に基づき、各アンプ回路２４１ａ
〜２４１ｄとＡ／Ｄ変換回路２４３との接続関係を順次
切換えてアナログ信号ＳX，ＳY，ＳZ1，ＳZ2を順番にＡ
／Ｄ変換回路２４３に与えてそれぞれディジタル信号Ｄ
X，ＤY，ＤZ1，ＤZ2に変換する。そして、こうして変換
されたディジタル信号ＤX，ＤY，ＤZ1，ＤZ2を受け取っ
たＣＰＵ２４４はＥＥＰＲＯＭ２４５に予め記憶されて
いる校正値ＫX，ＫY，ＫZに基づき真の三刺激値Ｘ，
Ｙ，Ｚを演算し、それらに関連する信号をコンピュータ
本体１１に出力する。
４からの切換指令信号に基づき、各アンプ回路２４１ａ
〜２４１ｄとＡ／Ｄ変換回路２４３との接続関係を順次
切換えてアナログ信号ＳX，ＳY，ＳZ1，ＳZ2を順番にＡ
／Ｄ変換回路２４３に与えてそれぞれディジタル信号Ｄ
X，ＤY，ＤZ1，ＤZ2に変換する。そして、こうして変換
されたディジタル信号ＤX，ＤY，ＤZ1，ＤZ2を受け取っ
たＣＰＵ２４４はＥＥＰＲＯＭ２４５に予め記憶されて
いる校正値ＫX，ＫY，ＫZに基づき真の三刺激値Ｘ，
Ｙ，Ｚを演算し、それらに関連する信号をコンピュータ
本体１１に出力する。
【００３０】次に、上記のように構成された光学測定装
置を用いた液晶パネル１２のキャリブレーション処理手
順について図７および図８を参照しつつ説明する。な
お、図７はキャリブレーション処理に先立ってＥＥＰＲ
ＯＭ２４５に校正値ＫX，ＫY，ＫZを記憶させる手順を
示すフローチャートであり、図８はキャリブレーション
処理の手順を示すフローチャートである。
置を用いた液晶パネル１２のキャリブレーション処理手
順について図７および図８を参照しつつ説明する。な
お、図７はキャリブレーション処理に先立ってＥＥＰＲ
ＯＭ２４５に校正値ＫX，ＫY，ＫZを記憶させる手順を
示すフローチャートであり、図８はキャリブレーション
処理の手順を示すフローチャートである。
【００３１】まず、基準となる液晶パネル（ＬＣＤ）を
準備し、この基準液晶パネルに測定用画像、例えば白色
画像を映し出す（ステップＳＴ１）。そして、その基準
液晶パネル上に映し出された測定用画像の三刺激値Ｘ
0，Ｙ0，Ｚ0を測定器、例えばミノルタ株式会社製の分
光放射輝度計「ＣＳ−１０００」によって測定する（ス
テップＳＴ２）。
準備し、この基準液晶パネルに測定用画像、例えば白色
画像を映し出す（ステップＳＴ１）。そして、その基準
液晶パネル上に映し出された測定用画像の三刺激値Ｘ
0，Ｙ0，Ｚ0を測定器、例えばミノルタ株式会社製の分
光放射輝度計「ＣＳ−１０００」によって測定する（ス
テップＳＴ２）。
【００３２】次に、上記基準液晶パネルの上端部に、光
学測定装置２の先端フック部２５２を引っ掛けて基準液
晶パネルに対して光学測定装置２を固定し（ステップＳ
Ｔ３）、ＣＰＵ２４４からの切換指令信号に基づき各ア
ンプ回路２４１ａ〜２４１ｄとＡ／Ｄ変換回路２４３と
の接続関係を順次切換えながら、Ａ／Ｄ変換回路２４３
から出力されるディジタル値（ディジタル信号）Ｄ0X，
Ｄ0Y，Ｄ0Z1，Ｄ0Z2を求める。さらに、ディジタル値Ｄ
0Z1，Ｄ0Z2を足し合わせてディジタル値Ｄ0Zを求めてお
く（ステップＳＴ４）。
学測定装置２の先端フック部２５２を引っ掛けて基準液
晶パネルに対して光学測定装置２を固定し（ステップＳ
Ｔ３）、ＣＰＵ２４４からの切換指令信号に基づき各ア
ンプ回路２４１ａ〜２４１ｄとＡ／Ｄ変換回路２４３と
の接続関係を順次切換えながら、Ａ／Ｄ変換回路２４３
から出力されるディジタル値（ディジタル信号）Ｄ0X，
Ｄ0Y，Ｄ0Z1，Ｄ0Z2を求める。さらに、ディジタル値Ｄ
0Z1，Ｄ0Z2を足し合わせてディジタル値Ｄ0Zを求めてお
く（ステップＳＴ４）。
【００３３】そして、次式に基づき校正値ＫX，ＫY，Ｋ
Zを求め（ステップＳＴ５）、ＥＥＰＲＯＭ２４５に記
憶しておく（ステップＳＴ６）。
Zを求め（ステップＳＴ５）、ＥＥＰＲＯＭ２４５に記
憶しておく（ステップＳＴ６）。
【００３４】 ＫX＝Ｘ0／Ｄ0X ＫY＝Ｙ0／Ｄ0Y ＫZ＝Ｚ0／Ｄ0Z なお、この実施形態では、三刺激値Ｘ0，Ｙ0，Ｚ0につ
いては、図示を省略するキーボードをオペレータが操作
してＲＡＭ（図示省略）に一時的に記憶させる一方、デ
ィジタル値Ｄ0X，Ｄ0Y，Ｄ0Zについては、Ａ／Ｄ変換回
路２４３から出力されるディジタル値Ｄ0X，Ｄ0Y，Ｄ0Z
1，Ｄ0Z2についてはそのまま一時的にＲＡＭに記憶した
後で、ＣＰＵ２４４がディジタル値Ｄ0Z1，Ｄ0Z2をＲＡ
Ｍから読み出し、両者を足し合わせてディジタル値Ｄ0Z
を演算する。さらに、ＣＰＵ２４４がＲＡＭから三刺激
値Ｘ0，Ｙ0，Ｚ0を読み出し、上記式に基づき校正値Ｋ
X，ＫY，ＫZを求めた後、それらをＥＥＰＲＯＭ２４５
に自動的に記憶させているが、ディジタル値Ｄ0Zおよび
校正値ＫX，ＫY，ＫZの計算をマニュアルで行い、オペ
レータがキーボードを介してＥＥＰＲＯＭ２４５に記憶
させるようにしてもよい。
いては、図示を省略するキーボードをオペレータが操作
してＲＡＭ（図示省略）に一時的に記憶させる一方、デ
ィジタル値Ｄ0X，Ｄ0Y，Ｄ0Zについては、Ａ／Ｄ変換回
路２４３から出力されるディジタル値Ｄ0X，Ｄ0Y，Ｄ0Z
1，Ｄ0Z2についてはそのまま一時的にＲＡＭに記憶した
後で、ＣＰＵ２４４がディジタル値Ｄ0Z1，Ｄ0Z2をＲＡ
Ｍから読み出し、両者を足し合わせてディジタル値Ｄ0Z
を演算する。さらに、ＣＰＵ２４４がＲＡＭから三刺激
値Ｘ0，Ｙ0，Ｚ0を読み出し、上記式に基づき校正値Ｋ
X，ＫY，ＫZを求めた後、それらをＥＥＰＲＯＭ２４５
に自動的に記憶させているが、ディジタル値Ｄ0Zおよび
校正値ＫX，ＫY，ＫZの計算をマニュアルで行い、オペ
レータがキーボードを介してＥＥＰＲＯＭ２４５に記憶
させるようにしてもよい。
【００３５】次に、上記のようにして校正値ＫX，ＫY，
ＫZが予め設定記憶されている光学測定装置２を用い
て、測定対称となる液晶パネル（ＬＣＤ）１２の輝度と
色度を測定し、その結果に基づいて液晶パネルのキャリ
ブレーション処理を行う手順について図８を参照しつつ
説明する。
ＫZが予め設定記憶されている光学測定装置２を用い
て、測定対称となる液晶パネル（ＬＣＤ）１２の輝度と
色度を測定し、その結果に基づいて液晶パネルのキャリ
ブレーション処理を行う手順について図８を参照しつつ
説明する。
【００３６】まず、図３に示すように、フック２５の先
端フック部２５２を液晶パネル１２の上端部１２２に引
っ掛けて液晶パネル１２に対して光学測定装置２を装着
固定する（ステップＳＴ１１）。そして、コンピュータ
本体１１から液晶パネル１２に画像信号を与えて基準液
晶パネルに表示したのと同一の測定用画像を液晶パネル
１２の被測定領域１２１に映し出す（ステップＳＴ１
２）。
端フック部２５２を液晶パネル１２の上端部１２２に引
っ掛けて液晶パネル１２に対して光学測定装置２を装着
固定する（ステップＳＴ１１）。そして、コンピュータ
本体１１から液晶パネル１２に画像信号を与えて基準液
晶パネルに表示したのと同一の測定用画像を液晶パネル
１２の被測定領域１２１に映し出す（ステップＳＴ１
２）。
【００３７】こうして測定用画像が映し出されると、各
受光部２２１〜２２４から三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚ（Ｚ1，
Ｚ2）に関連する４つのアナログ信号ＳX，ＳY，ＳZ1，
ＳZ2が出力されるが、ここでＣＰＵ２４４からの切換指
令信号に基づき各アンプ回路２４１ａ〜２４１ｄとＡ／
Ｄ変換回路２４３との接続関係を順次切換えてディジタ
ル値（ディジタル信号）Ｄ0X，Ｄ0Y，Ｄ0Z1，Ｄ0Z2を求
め、ＲＡＭ（図示省略）に一時的に記憶する（ステップ
ＳＴ１３）。
受光部２２１〜２２４から三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚ（Ｚ1，
Ｚ2）に関連する４つのアナログ信号ＳX，ＳY，ＳZ1，
ＳZ2が出力されるが、ここでＣＰＵ２４４からの切換指
令信号に基づき各アンプ回路２４１ａ〜２４１ｄとＡ／
Ｄ変換回路２４３との接続関係を順次切換えてディジタ
ル値（ディジタル信号）Ｄ0X，Ｄ0Y，Ｄ0Z1，Ｄ0Z2を求
め、ＲＡＭ（図示省略）に一時的に記憶する（ステップ
ＳＴ１３）。
【００３８】次に、ＣＰＵ２４４は、ＥＥＰＲＯＭ２４
５に予め記憶されている校正値ＫX，ＫY，ＫZを読み出
し、以下の演算処理を行って測定用画像の真の三刺激値
を求める（ステップＳＴ１４）。すなわち、まずディジ
タル値Ｄ0Z1，Ｄ0Z2を足し合わせてディジタル値Ｄ0Zを
求めた後、次式 Ｘ＝ＫX・Ｄ0X Ｙ＝ＫY・Ｄ0Y Ｚ＝ＫZ・Ｄ0Z にしたがって三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚの校正を行う。なお、
この実施形態では、受光部２２１，２２２から出力され
る信号をそれぞれ別個のアンプ回路２４１ｃ，２４１ｄ
で増幅しているが、受光部２２１，２２２から出力され
る信号を１つのアンプ回路に入力して電流増幅処理する
場合には、当該アンプ回路から加算状態の信号が出力さ
れるため、上記したディジタル値Ｄ0Z1，Ｄ0Z2の加算処
理は不要となる。
５に予め記憶されている校正値ＫX，ＫY，ＫZを読み出
し、以下の演算処理を行って測定用画像の真の三刺激値
を求める（ステップＳＴ１４）。すなわち、まずディジ
タル値Ｄ0Z1，Ｄ0Z2を足し合わせてディジタル値Ｄ0Zを
求めた後、次式 Ｘ＝ＫX・Ｄ0X Ｙ＝ＫY・Ｄ0Y Ｚ＝ＫZ・Ｄ0Z にしたがって三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚの校正を行う。なお、
この実施形態では、受光部２２１，２２２から出力され
る信号をそれぞれ別個のアンプ回路２４１ｃ，２４１ｄ
で増幅しているが、受光部２２１，２２２から出力され
る信号を１つのアンプ回路に入力して電流増幅処理する
場合には、当該アンプ回路から加算状態の信号が出力さ
れるため、上記したディジタル値Ｄ0Z1，Ｄ0Z2の加算処
理は不要となる。
【００３９】こうして、真の三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚが求ま
ると、その演算結果を光学測定装置２からＲＳ−２３２
ＣやＵＳＢなどのインターフェースを介してコンピュー
タ本体１１に出力する（ステップＳＴ１５）。そして、
このデータ（被測定領域１２１上の測定用画像の三刺激
値Ｘ，Ｙ，Ｚ）を受け取ったコンピュータ本体１１は、
予めインストールされている液晶パネルのキャリブレー
ション用プログラムに従って液晶パネル１２のホワイト
バランス調整を行う（ステップＳＴ１６）。
ると、その演算結果を光学測定装置２からＲＳ−２３２
ＣやＵＳＢなどのインターフェースを介してコンピュー
タ本体１１に出力する（ステップＳＴ１５）。そして、
このデータ（被測定領域１２１上の測定用画像の三刺激
値Ｘ，Ｙ，Ｚ）を受け取ったコンピュータ本体１１は、
予めインストールされている液晶パネルのキャリブレー
ション用プログラムに従って液晶パネル１２のホワイト
バランス調整を行う（ステップＳＴ１６）。
【００４０】なお、このキャリブレーションシステムで
は、光学特性として三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚを測定している
が、これ以外の光学特性を測定し、出力するように構成
してもよい。つまり、本発明の適用対象は三刺激値Ｘ，
Ｙ，Ｚを測定するものに限定されず、色度および輝度な
どの光学特定を測定する光学測定装置全般を適用対象と
するものである。
は、光学特性として三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚを測定している
が、これ以外の光学特性を測定し、出力するように構成
してもよい。つまり、本発明の適用対象は三刺激値Ｘ，
Ｙ，Ｚを測定するものに限定されず、色度および輝度な
どの光学特定を測定する光学測定装置全般を適用対象と
するものである。
【００４１】Ｂ．本発明の詳細構成および作用効果 次に、この発明の詳細構成および作用効果について説明
するが、本発明は大きく３つの特徴を有している。まず
第１点目として液晶パネル１２の光学特性を測定すべく
接触型構造を採用している点、また第２点目として被測
定領域１２１から出射される光のうち所定の出射角α以
下の光のみを受光部２２１〜２２４に導くための（測定
用）光学系２３を採用している点、さらに第三点目とし
て配光特性変動方向ＸＸに配光特性が大きく異なること
に適切に対応すべく色刺激値Ｚに関して受光素子の並設
構造を採用している、つまり同一の分光感度特性を有す
る第１および第２受光部２２１，２２２を設けている点
である。以下、これらについて順次説明する。
するが、本発明は大きく３つの特徴を有している。まず
第１点目として液晶パネル１２の光学特性を測定すべく
接触型構造を採用している点、また第２点目として被測
定領域１２１から出射される光のうち所定の出射角α以
下の光のみを受光部２２１〜２２４に導くための（測定
用）光学系２３を採用している点、さらに第三点目とし
て配光特性変動方向ＸＸに配光特性が大きく異なること
に適切に対応すべく色刺激値Ｚに関して受光素子の並設
構造を採用している、つまり同一の分光感度特性を有す
る第１および第２受光部２２１，２２２を設けている点
である。以下、これらについて順次説明する。
【００４２】B-1.接触型構造について この発明の一実施形態である光学測定装置２の基本的構
成は、すでに「Ａ．キャリブレーションシステムの全体
概略構成および動作」の項で説明した通りであり、光学
測定装置２を液晶パネル１２に装着固定すると、図３に
示すように、ゴムリングシート２１３が液晶パネル１２
と当接する。このため、同図において破線で示すよう
に、その当接部を中心として一定の広がりを持った接触
影響領域１２３が形成されて表示色が変化する。
成は、すでに「Ａ．キャリブレーションシステムの全体
概略構成および動作」の項で説明した通りであり、光学
測定装置２を液晶パネル１２に装着固定すると、図３に
示すように、ゴムリングシート２１３が液晶パネル１２
と当接する。このため、同図において破線で示すよう
に、その当接部を中心として一定の広がりを持った接触
影響領域１２３が形成されて表示色が変化する。
【００４３】ところで、この実施形態では、ゴムリング
シート２１３の内径がフランジ２１２の開口部２１２ａ
の外径よりも充分に大きくなっており、当接位置（接触
影響領域１２３の中心位置）は被測定領域１２１からそ
の外周方向に離れた位置となっているため、接触影響領
域１２３の被測定領域１２１への重なり合いが防止さ
れ、この状態で上記のようにして被測定領域１２１の輝
度と色度を示す三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚを測定している。し
たがって、たとえ光学測定装置２の一部が液晶パネル１
２と接触したとしても、接触影響領域１２３の影響を受
けることなく、被測定領域１２１の輝度と色度を正確に
測定することができる。
シート２１３の内径がフランジ２１２の開口部２１２ａ
の外径よりも充分に大きくなっており、当接位置（接触
影響領域１２３の中心位置）は被測定領域１２１からそ
の外周方向に離れた位置となっているため、接触影響領
域１２３の被測定領域１２１への重なり合いが防止さ
れ、この状態で上記のようにして被測定領域１２１の輝
度と色度を示す三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚを測定している。し
たがって、たとえ光学測定装置２の一部が液晶パネル１
２と接触したとしても、接触影響領域１２３の影響を受
けることなく、被測定領域１２１の輝度と色度を正確に
測定することができる。
【００４４】また、このように接触型構造を採用した実
施形態では、上記したように光学測定装置２が液晶パネ
ル１２に固定されて測定可能な状態となっており、液晶
パネル１２から受光ユニット２２までの距離Ｌ1が一定
値に固定されるため、高い測定精度および再現性で、被
測定領域１２１の輝度と色度を測定することができる。
施形態では、上記したように光学測定装置２が液晶パネ
ル１２に固定されて測定可能な状態となっており、液晶
パネル１２から受光ユニット２２までの距離Ｌ1が一定
値に固定されるため、高い測定精度および再現性で、被
測定領域１２１の輝度と色度を測定することができる。
【００４５】また、接触型構造の光学測定装置２によれ
ば、装置周辺から被測定領域１２１に入射する光はほと
んどなく、迷光による測定精度の低下を防止することが
でき、測定精度の向上を図ることができる。特に、迷光
の発生を防止する観点から、装置本体２１全体に対して
遮光性を持たせるのが好ましく、上記のように筒部２１
１をＡＢＳ樹脂で製造するとともに、フランジ２１２を
ポリカーボネートで製造する場合には、筒部２１１およ
びフランジ２１２の製造にあたって樹脂材料中に遮光性
に優れた顔料を混合して樹脂成形したり、成形された筒
部２１１およびフランジ２１２の外面または内面に遮光
性に優れたコーティングを施すのが望ましい。また、こ
れらの構成要素（筒部２１１およびフランジ２１２）を
樹脂材料の代わりに遮光性を有する他の材料、例えば金
属材料やセラミック材料などで構成するようにしてもよ
い。
ば、装置周辺から被測定領域１２１に入射する光はほと
んどなく、迷光による測定精度の低下を防止することが
でき、測定精度の向上を図ることができる。特に、迷光
の発生を防止する観点から、装置本体２１全体に対して
遮光性を持たせるのが好ましく、上記のように筒部２１
１をＡＢＳ樹脂で製造するとともに、フランジ２１２を
ポリカーボネートで製造する場合には、筒部２１１およ
びフランジ２１２の製造にあたって樹脂材料中に遮光性
に優れた顔料を混合して樹脂成形したり、成形された筒
部２１１およびフランジ２１２の外面または内面に遮光
性に優れたコーティングを施すのが望ましい。また、こ
れらの構成要素（筒部２１１およびフランジ２１２）を
樹脂材料の代わりに遮光性を有する他の材料、例えば金
属材料やセラミック材料などで構成するようにしてもよ
い。
【００４６】また、この実施形態では図１〜図３から明
らかなように円環状のゴムリングシート２１３を当接部
として機能させているため、ゴムリングシート２１３に
よって被測定領域１２１の全周が取り囲まれており、装
置周辺から被測定領域１２１への外光の入射をより確実
に防止している。
らかなように円環状のゴムリングシート２１３を当接部
として機能させているため、ゴムリングシート２１３に
よって被測定領域１２１の全周が取り囲まれており、装
置周辺から被測定領域１２１への外光の入射をより確実
に防止している。
【００４７】なお、この実施形態では、フランジ２１２
の外周縁に沿って円環状のゴムリングシート２１３を取
り付けて当接部を構成しているが、複数の平板状ゴム片
をフランジ２１２の外周縁に沿って取り付けることで当
接部を構成し、この当接部によって被測定領域１２１を
部分的に取り囲むように構成してもよい。また、上記実
施形態では当接部を構成する材質としてゴムを用いてい
るが、当該材質はこれに限定されるものではなく、任意
の材料を用いることができる。
の外周縁に沿って円環状のゴムリングシート２１３を取
り付けて当接部を構成しているが、複数の平板状ゴム片
をフランジ２１２の外周縁に沿って取り付けることで当
接部を構成し、この当接部によって被測定領域１２１を
部分的に取り囲むように構成してもよい。また、上記実
施形態では当接部を構成する材質としてゴムを用いてい
るが、当該材質はこれに限定されるものではなく、任意
の材料を用いることができる。
【００４８】B-2.測定用光学系について 図９は、この発明の一実施形態である測定用光学系２３
の配置関係を示す図である。光学系２３は、上記「Ａ．
キャリブレーションシステムの全体概略構成および動
作」の項で説明したように、フランジ２１２と受光ユニ
ット２２との間に配置されている。より詳しくは、光学
系２３は単一の正のパワーを有する平凸レンズ２３１に
よって構成されており、その凸面が被測定領域１２１側
を向き、しかも次の２つの条件式を満足するように配置
することで、液晶パネル（被測定物）の被測定領域１２
１から出射される光のうち所定の最大出射角α以下の光
線のみが受光ユニット２２の受光面ＲＳに導光されるよ
うに構成されている。すなわち、平凸レンズ２３１は、 ＜条件式１＞ ｆ＝｜２・ｈ／ｔａｎα｜ ただし、ｆは平凸レンズ（光学素子）２３１の焦点距離
であり、ｈは平凸レンズ２３１の光軸ＯＡからの受光面
ＲＳの最大高さである ＜条件式２＞ Ｌ＝（Ｈ−ｈ）・ｆ／Ｈ ただし、Ｌは平凸レンズ２３１の像側主点位置ＰＰから
受光面ＲＳまでの距離であり、Ｈは前記光軸ＯＡからの
被測定領域１２１の最大高さである。
の配置関係を示す図である。光学系２３は、上記「Ａ．
キャリブレーションシステムの全体概略構成および動
作」の項で説明したように、フランジ２１２と受光ユニ
ット２２との間に配置されている。より詳しくは、光学
系２３は単一の正のパワーを有する平凸レンズ２３１に
よって構成されており、その凸面が被測定領域１２１側
を向き、しかも次の２つの条件式を満足するように配置
することで、液晶パネル（被測定物）の被測定領域１２
１から出射される光のうち所定の最大出射角α以下の光
線のみが受光ユニット２２の受光面ＲＳに導光されるよ
うに構成されている。すなわち、平凸レンズ２３１は、 ＜条件式１＞ ｆ＝｜２・ｈ／ｔａｎα｜ ただし、ｆは平凸レンズ（光学素子）２３１の焦点距離
であり、ｈは平凸レンズ２３１の光軸ＯＡからの受光面
ＲＳの最大高さである ＜条件式２＞ Ｌ＝（Ｈ−ｈ）・ｆ／Ｈ ただし、Ｌは平凸レンズ２３１の像側主点位置ＰＰから
受光面ＲＳまでの距離であり、Ｈは前記光軸ＯＡからの
被測定領域１２１の最大高さである。
【００４９】このように構成された測定用光学系２３で
は、レンズ２３１の収差が全くない、あるいは非常に小
さいと仮定すれば、被測定領域１２１の一方端部１２１
ａから出射する光線のうち被測定領域１２１から法線方
向ＺＺに出射する光線Ｒa1と、被測定領域１２１の他方
端部１２１ｂから出射する光線のうち出射角が最大出射
角αの光線Ｒb2とが、受光面RＲＳの一方端部（受光部
２２１の上方端部２２１ａ）で交差する。また、被測定
領域１２１の他方端部１２１ｂから出射する光線のうち
被測定領域１２１から法線方向ＺＺに出射する光線Ｒb1
と、被測定領域１２１の一方端部１２１ａから出射する
光線のうち出射角が最大出射角αの光線Ｒa2とが、受光
面ＲＳの他方端部（受光部２２２の下方端部２２２ａ）
で交差する。このことは、上下方向ＸＸと直交する水平
方向ＹＹにおいても成立する。
は、レンズ２３１の収差が全くない、あるいは非常に小
さいと仮定すれば、被測定領域１２１の一方端部１２１
ａから出射する光線のうち被測定領域１２１から法線方
向ＺＺに出射する光線Ｒa1と、被測定領域１２１の他方
端部１２１ｂから出射する光線のうち出射角が最大出射
角αの光線Ｒb2とが、受光面RＲＳの一方端部（受光部
２２１の上方端部２２１ａ）で交差する。また、被測定
領域１２１の他方端部１２１ｂから出射する光線のうち
被測定領域１２１から法線方向ＺＺに出射する光線Ｒb1
と、被測定領域１２１の一方端部１２１ａから出射する
光線のうち出射角が最大出射角αの光線Ｒa2とが、受光
面ＲＳの他方端部（受光部２２２の下方端部２２２ａ）
で交差する。このことは、上下方向ＸＸと直交する水平
方向ＹＹにおいても成立する。
【００５０】したがって、受光部２２１〜２２４のそれ
ぞれには、被測定領域１２１の各部から出射した光を受
光し、しかも、その出射角は最大出射角α以下となって
いる。このため、次のような効果が得られる。
ぞれには、被測定領域１２１の各部から出射した光を受
光し、しかも、その出射角は最大出射角α以下となって
いる。このため、次のような効果が得られる。
【００５１】まず第１点目として、正のパワーを有する
平凸レンズ２３１を用いているので、受光部２２１〜２
２４の受光エリアに比べて充分に広い被測定領域１２１
からの光を各受光部２２１〜２２４に導光し、受光部２
２１〜２２４からの出力レベルを高めることができ、そ
の結果、測定精度および再現性を向上させることができ
る。
平凸レンズ２３１を用いているので、受光部２２１〜２
２４の受光エリアに比べて充分に広い被測定領域１２１
からの光を各受光部２２１〜２２４に導光し、受光部２
２１〜２２４からの出力レベルを高めることができ、そ
の結果、測定精度および再現性を向上させることができ
る。
【００５２】また、第２点目として、上記のように広い
被測定領域１２１から光を集光しているにも拘らず、受
光される光線の出射角を最大出射角α以下に制限するこ
とができる。すでに説明したように、中心面法線Ｎに対
して徐々に角度をつけて液晶パネル１２を見ると、ある
角度αを超えると、輝度や色度が大きく変化してしま
い、液晶パネル１２の視野角は狭いといわざるを得ず、
例えば図１９（ａ）に示すように最大出射角αを超える
と、光強度が極端に小さくなる。そのため、出射角が大
きな光線を受光部２２１〜２２４で受光し、その出力信
号に基づき被測定領域１２１の輝度や色度を求めると、
測定誤差が大きくなってしまう。これに対し、本発明の
如く出射角を最大出射角α以下に制限した場合、測定誤
差を抑えて精度および再現性のよい測定が可能となる。
被測定領域１２１から光を集光しているにも拘らず、受
光される光線の出射角を最大出射角α以下に制限するこ
とができる。すでに説明したように、中心面法線Ｎに対
して徐々に角度をつけて液晶パネル１２を見ると、ある
角度αを超えると、輝度や色度が大きく変化してしま
い、液晶パネル１２の視野角は狭いといわざるを得ず、
例えば図１９（ａ）に示すように最大出射角αを超える
と、光強度が極端に小さくなる。そのため、出射角が大
きな光線を受光部２２１〜２２４で受光し、その出力信
号に基づき被測定領域１２１の輝度や色度を求めると、
測定誤差が大きくなってしまう。これに対し、本発明の
如く出射角を最大出射角α以下に制限した場合、測定誤
差を抑えて精度および再現性のよい測定が可能となる。
【００５３】なお、上記説明においては、測定用光学系
２３を構成する単一のレンズ２３１が収差を有さない、
あるいは非常に小さいという仮定に基づきレンズ２３１
の配設位置を説明したが、レンズ２３１の収差が比較的
大きな場合には、光線追跡法によって被測定領域１２１
から出射される光線の経路が上記実施形態と同様になる
ようにレンズ２３１の配置を確定すればよい。すなわ
ち、被測定領域１２１の一方端部から出射する光線のう
ち被測定領域１２１から法線方向Ｎに出射する光線と、
被測定領域１２１の他方端部から出射する光線のうち出
射角が最大出射角αの光線とが、受光面ＲＳの端部で交
差するように、レンズ２３１を配置することで、上記仮
定の場合と同様の効果が得られる。
２３を構成する単一のレンズ２３１が収差を有さない、
あるいは非常に小さいという仮定に基づきレンズ２３１
の配設位置を説明したが、レンズ２３１の収差が比較的
大きな場合には、光線追跡法によって被測定領域１２１
から出射される光線の経路が上記実施形態と同様になる
ようにレンズ２３１の配置を確定すればよい。すなわ
ち、被測定領域１２１の一方端部から出射する光線のう
ち被測定領域１２１から法線方向Ｎに出射する光線と、
被測定領域１２１の他方端部から出射する光線のうち出
射角が最大出射角αの光線とが、受光面ＲＳの端部で交
差するように、レンズ２３１を配置することで、上記仮
定の場合と同様の効果が得られる。
【００５４】また、上記実施形態では、フランジ２１２
の開口部２１２ａを平凸レンズ２３１と被測定領域１２
１との間に配設して被測定領域１２１を規制する規制手
段として機能させているが、これは測定用光学系２３の
必須の構成要素というわけではない。ただし、受光部２
２１〜２２４で受光される光線の出射角を最大出射角α
に精度良く規制するためには、本実施形態の如く、被測
定領域１２１の近傍に規制手段を設けるのが好ましい。
の開口部２１２ａを平凸レンズ２３１と被測定領域１２
１との間に配設して被測定領域１２１を規制する規制手
段として機能させているが、これは測定用光学系２３の
必須の構成要素というわけではない。ただし、受光部２
２１〜２２４で受光される光線の出射角を最大出射角α
に精度良く規制するためには、本実施形態の如く、被測
定領域１２１の近傍に規制手段を設けるのが好ましい。
【００５５】また、上記実施形態では、単一の平凸レン
ズ２３１で測定用光学系２３を構成しているが、複数枚
のレンズを組み合わせて正のパワーを有する測定用光学
系２３を構成するようにしてもよいことはいうまでもな
い。
ズ２３１で測定用光学系２３を構成しているが、複数枚
のレンズを組み合わせて正のパワーを有する測定用光学
系２３を構成するようにしてもよいことはいうまでもな
い。
【００５６】また、出射角を最大出射角α以下に制限す
る手段としては、図１０に示すように、レンズを設ける
ことなく、フランジ２１２の開口部２１２ａと受光面Ｒ
Ｓとの距離の調整したり、あるいは開口部２１２ａ（視
野絞り）の径とを調整することで、被測定領域１２１の
他方端部から出射する光線のうち出射角が最大出射角α
の光線とが、受光ユニット２２の受光面ＲＳの端部に入
射するように構成してもよい。
る手段としては、図１０に示すように、レンズを設ける
ことなく、フランジ２１２の開口部２１２ａと受光面Ｒ
Ｓとの距離の調整したり、あるいは開口部２１２ａ（視
野絞り）の径とを調整することで、被測定領域１２１の
他方端部から出射する光線のうち出射角が最大出射角α
の光線とが、受光ユニット２２の受光面ＲＳの端部に入
射するように構成してもよい。
【００５７】また、測定用光学系２３を図１１に示すよ
うに構成してもよい。この変形形態では、正のパワーを
有する焦点距離ｆのレンズ２３２の物体側主点ＰＰ（こ
の実施形態および後で説明する実施形態で採用されてい
るレンズはすべて薄レンズであり、物体側主点と像側主
点はほぼ一致している）を、図１１に示すように、被測
定領域１２１から距離ｆだけ受光ユニット２２側に離れ
た位置に配設し、レンズ２３２の像側主点ＰＰから距離
ｆだけ離れた位置に受光ユニット２２の受光面ＲＳが位
置している。すなわち、この測定用光学系２３はいわゆ
るテレセントリック光学系となっており、受光ユニット
２２自体がテレセントリック光学系用の絞りとして機能
している。
うに構成してもよい。この変形形態では、正のパワーを
有する焦点距離ｆのレンズ２３２の物体側主点ＰＰ（こ
の実施形態および後で説明する実施形態で採用されてい
るレンズはすべて薄レンズであり、物体側主点と像側主
点はほぼ一致している）を、図１１に示すように、被測
定領域１２１から距離ｆだけ受光ユニット２２側に離れ
た位置に配設し、レンズ２３２の像側主点ＰＰから距離
ｆだけ離れた位置に受光ユニット２２の受光面ＲＳが位
置している。すなわち、この測定用光学系２３はいわゆ
るテレセントリック光学系となっており、受光ユニット
２２自体がテレセントリック光学系用の絞りとして機能
している。
【００５８】このように構成された測定用光学系２３で
は、図１２に示すように、被測定領域１２１の各部から
出射された光のうち所定の出射角β以上で、しかも出射
角α以下の光線が各受光部２２１〜２２４に入射するこ
とになる。なお、出射角α，βは、レンズ２３２の焦点
距離ｆおよび受光ユニット２２の構成によって決まるも
のであり、これらを適切に調整することによって出射角
を最大出射角α以下に制限することができ、図９に示し
た実施形態と同様の効果、つまり測定誤差を抑えて精度
および再現性のよい測定が可能となるという効果が得ら
れる。
は、図１２に示すように、被測定領域１２１の各部から
出射された光のうち所定の出射角β以上で、しかも出射
角α以下の光線が各受光部２２１〜２２４に入射するこ
とになる。なお、出射角α，βは、レンズ２３２の焦点
距離ｆおよび受光ユニット２２の構成によって決まるも
のであり、これらを適切に調整することによって出射角
を最大出射角α以下に制限することができ、図９に示し
た実施形態と同様の効果、つまり測定誤差を抑えて精度
および再現性のよい測定が可能となるという効果が得ら
れる。
【００５９】なお、上記実施形態では、被測定領域１２
１から出射する光を受光部２２１〜２２４のそれぞれに
光学系２３によって導光し、被測定領域１２１の三刺激
値Ｘ，Ｙ，Ｚを測定しているが、被測定領域１２１から
出射される光のうち最大出射角α以下の光のみを受光ユ
ニット２２に導光するためには、光学系２３を以下のよ
うに構成してもよい。
１から出射する光を受光部２２１〜２２４のそれぞれに
光学系２３によって導光し、被測定領域１２１の三刺激
値Ｘ，Ｙ，Ｚを測定しているが、被測定領域１２１から
出射される光のうち最大出射角α以下の光のみを受光ユ
ニット２２に導光するためには、光学系２３を以下のよ
うに構成してもよい。
【００６０】図１３は測定用光学系の他の実施形態を示
す図である。同図に示す光学系２３は、被測定領域１２
１の中心面法線Ｎとほぼ平行に延び、その断面がハニカ
ム形状となっているハニカム導光部材２３３を備えてい
る。このハニカム導光部材２３３を構成するハニカム部
分２３３ａの開口数は最大出射角αに対応するように設
定されており、各ハニカム部分２３３ａは被測定領域１
２１のうち一方側開口（被測定領域側開口）と対面する
微小領域から出射した光を受光ユニットに向けて導光
し、他方側開口（受光ユニット側開口）を介して出射す
る。したがって、各ハニカム部分２３３ａを介して導光
される光の出射角は最大出射角α以下に制限される。
す図である。同図に示す光学系２３は、被測定領域１２
１の中心面法線Ｎとほぼ平行に延び、その断面がハニカ
ム形状となっているハニカム導光部材２３３を備えてい
る。このハニカム導光部材２３３を構成するハニカム部
分２３３ａの開口数は最大出射角αに対応するように設
定されており、各ハニカム部分２３３ａは被測定領域１
２１のうち一方側開口（被測定領域側開口）と対面する
微小領域から出射した光を受光ユニットに向けて導光
し、他方側開口（受光ユニット側開口）を介して出射す
る。したがって、各ハニカム部分２３３ａを介して導光
される光の出射角は最大出射角α以下に制限される。
【００６１】なお、このように構成されたハニカム導光
部材２３３によって導光される光を受光して被測定領域
１２１の三刺激値を求めるべく、ハニカム導光部材２３
３の他方端側には、赤の波長域に大きな感度を持ってい
る分光感度（エックス・バー・ラムダ）を有する受光部
２２３と、緑の波長域に大きな感度を持っている分光感
度（ワイ・バー・ラムダ）を有する受光部２２４と、青
の波長域に大きな感度を持っている分光感度（ゼット・
バー・ラムダ）を有する受光部２２５が中心面法線Ｎを
中心として相互に対称配置されている。このため、上記
のようにして被測定領域１２１の各微小領域から出射さ
れた光が対応する受光部２２３〜２２５に入射し、受光
部２２３〜２２５から三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚを示すアナロ
グ電気信号がそれぞれ出力される。
部材２３３によって導光される光を受光して被測定領域
１２１の三刺激値を求めるべく、ハニカム導光部材２３
３の他方端側には、赤の波長域に大きな感度を持ってい
る分光感度（エックス・バー・ラムダ）を有する受光部
２２３と、緑の波長域に大きな感度を持っている分光感
度（ワイ・バー・ラムダ）を有する受光部２２４と、青
の波長域に大きな感度を持っている分光感度（ゼット・
バー・ラムダ）を有する受光部２２５が中心面法線Ｎを
中心として相互に対称配置されている。このため、上記
のようにして被測定領域１２１の各微小領域から出射さ
れた光が対応する受光部２２３〜２２５に入射し、受光
部２２３〜２２５から三刺激値Ｘ，Ｙ，Ｚを示すアナロ
グ電気信号がそれぞれ出力される。
【００６２】図１４は測定用光学系の別の実施形態を示
す図である。この実施形態が図１３の実施形態と大きく
相違する点は、ハニカム導光部材２３３の代わりに、複
数の光ファイバ２３４ａを束ねた光ファイバ束２３４を
採用している点であり、その他の基本的構成は同一であ
る。この実施形態においても、光ファイバ２３４ａの開
口数が最大出射角αに対応するように設定されており、
各光ファイバ２３４ａは被測定領域１２１のうち一方側
開口（被測定領域側開口）と対面する微小領域から出射
した光を内部で全反射しながら、他方側開口（受光ユニ
ット側開口）を介して出射する。したがって、各光ファ
イバ２３４ａを介して導光される光の出射角は最大出射
角α以下に制限される。
す図である。この実施形態が図１３の実施形態と大きく
相違する点は、ハニカム導光部材２３３の代わりに、複
数の光ファイバ２３４ａを束ねた光ファイバ束２３４を
採用している点であり、その他の基本的構成は同一であ
る。この実施形態においても、光ファイバ２３４ａの開
口数が最大出射角αに対応するように設定されており、
各光ファイバ２３４ａは被測定領域１２１のうち一方側
開口（被測定領域側開口）と対面する微小領域から出射
した光を内部で全反射しながら、他方側開口（受光ユニ
ット側開口）を介して出射する。したがって、各光ファ
イバ２３４ａを介して導光される光の出射角は最大出射
角α以下に制限される。
【００６３】図１５は測定用光学系のまた別の実施形態
を示す図である。この実施形態が図１４の実施形態と大
きく相違する点は、光ファイバ束２３４の代わりに、ラ
ンダムファイバ２３５を採用している点であり、その他
の基本的構成は同一である。この実施形態においては、
ランダムファイバ２３５の他方端側が３つに分岐してお
り、分岐部２３５ｘ、２３５ｙ、２３５ｚにＸ，Ｙ，Ｚ
色刺激値測定用の受光部２２３〜２２５がそれぞれ取付
けられている。
を示す図である。この実施形態が図１４の実施形態と大
きく相違する点は、光ファイバ束２３４の代わりに、ラ
ンダムファイバ２３５を採用している点であり、その他
の基本的構成は同一である。この実施形態においては、
ランダムファイバ２３５の他方端側が３つに分岐してお
り、分岐部２３５ｘ、２３５ｙ、２３５ｚにＸ，Ｙ，Ｚ
色刺激値測定用の受光部２２３〜２２５がそれぞれ取付
けられている。
【００６４】図１６は測定用光学系のさらに別の実施形
態を示す図である。この測定用光学系２３は、複数の正
のパワーを有する焦点距離ｆのレンズ２３６により構成
されており、各レンズ２３６は受光部２２６と１対１で
対応して設けられている。すなわち、一のレンズ２３６
は、その物体側主点ＰＰが被測定領域１２１から距離ｆ
だけ受光ユニット２２側に離れた位置に位置するように
配設され、レンズ２３６の像側主点ＰＰから距離ｆだけ
離れた位置に受光ユニット２２の受光面ＲＳが位置して
いる。すなわち、この測定用光学系２３も、図１１の光
学系と同様に、いわゆるテレセントリック光学系となっ
ており、受光ユニット２２自体がテレセントリック光学
系用の絞りとして機能している。
態を示す図である。この測定用光学系２３は、複数の正
のパワーを有する焦点距離ｆのレンズ２３６により構成
されており、各レンズ２３６は受光部２２６と１対１で
対応して設けられている。すなわち、一のレンズ２３６
は、その物体側主点ＰＰが被測定領域１２１から距離ｆ
だけ受光ユニット２２側に離れた位置に位置するように
配設され、レンズ２３６の像側主点ＰＰから距離ｆだけ
離れた位置に受光ユニット２２の受光面ＲＳが位置して
いる。すなわち、この測定用光学系２３も、図１１の光
学系と同様に、いわゆるテレセントリック光学系となっ
ており、受光ユニット２２自体がテレセントリック光学
系用の絞りとして機能している。
【００６５】このように構成された測定用光学系２３で
は、被測定領域１２１のうちレンズ２３６に対応する部
分１２１ｃから出射する光線が対応する受光部２２６に
入射することになる。したがって、レンズ２３６の焦点
距離ｆおよび受光部２２６の構成を適切に調整すること
で対応部分１２１ｃからの光の出射角を最大出射角α以
下に制限することができる。
は、被測定領域１２１のうちレンズ２３６に対応する部
分１２１ｃから出射する光線が対応する受光部２２６に
入射することになる。したがって、レンズ２３６の焦点
距離ｆおよび受光部２２６の構成を適切に調整すること
で対応部分１２１ｃからの光の出射角を最大出射角α以
下に制限することができる。
【００６６】図１７は測定用光学系のさらに他の実施形
態を示す図である。この測定用光学系２３は、正のパワ
ーを有する焦点距離ｆのレンズ２３７の物体側主点ＰＰ
を被測定領域１２１から距離ｆだけ受光ユニット２２側
に離れた位置に配設して物体側テレセントリック系とす
るとともに、レンズ２３７と受光ユニット２２との間に
テレセントリック用絞り２３８を配置して被測定領域１
２１と受光面ＲＳとを光学的に共役なものとしている。
態を示す図である。この測定用光学系２３は、正のパワ
ーを有する焦点距離ｆのレンズ２３７の物体側主点ＰＰ
を被測定領域１２１から距離ｆだけ受光ユニット２２側
に離れた位置に配設して物体側テレセントリック系とす
るとともに、レンズ２３７と受光ユニット２２との間に
テレセントリック用絞り２３８を配置して被測定領域１
２１と受光面ＲＳとを光学的に共役なものとしている。
【００６７】このように構成された光学系２３では、図
１８に示すように、被測定領域１２１の一部分１２１ｄ
から出射した光がレンズ２３７および絞り２３８を介し
て受光ユニット２２の一の受光部２２７に導光される。
そして、絞り２３８の径を調整することで対応部分１２
１ｄの大きさおよび該部分１２１ｄからの光の出射角を
最大出射角α以下に制限することができる。
１８に示すように、被測定領域１２１の一部分１２１ｄ
から出射した光がレンズ２３７および絞り２３８を介し
て受光ユニット２２の一の受光部２２７に導光される。
そして、絞り２３８の径を調整することで対応部分１２
１ｄの大きさおよび該部分１２１ｄからの光の出射角を
最大出射角α以下に制限することができる。
【００６８】また、図１１および図１７に示す変形形態
では、単一のレンズ２３２，２３７で測定用光学系２３
を構成しているが、複数枚のレンズを組み合わせて正の
パワーを有するレンズ２３２，２３７を構成するように
してもよいことはいうまでもない。また、図１６に示す
変形形態においても、所定の部分１２１ｃから出射する
光を単一のレンズ２３６で対応する受光部２２６に導光
しているが、複数のレンズで該レンズ２３６を構成して
もよい。
では、単一のレンズ２３２，２３７で測定用光学系２３
を構成しているが、複数枚のレンズを組み合わせて正の
パワーを有するレンズ２３２，２３７を構成するように
してもよいことはいうまでもない。また、図１６に示す
変形形態においても、所定の部分１２１ｃから出射する
光を単一のレンズ２３６で対応する受光部２２６に導光
しているが、複数のレンズで該レンズ２３６を構成して
もよい。
【００６９】さらに、上記実施形態では、液晶パネル１
２の光学測定装置２に測定用光学系を適用しているが、
測定用光学系２３の適用対象はこれに限定されるもので
はなく、被測定領域から出射する光の出射角を所定角度
以下に制限する必要がある装置全般に適用することがで
きる。
２の光学測定装置２に測定用光学系を適用しているが、
測定用光学系２３の適用対象はこれに限定されるもので
はなく、被測定領域から出射する光の出射角を所定角度
以下に制限する必要がある装置全般に適用することがで
きる。
【００７０】B-3.受光素子の並設構造について この発明に係る液晶パネルの光学測定装置２では、図４
および図５に示すように、色刺激値Ｚを測定すべく、２
つの受光部２２１，２２２を用いている。具体的には、
略正方形の基板Ｗの一方主面側において、受光素子２２
１ｃ，２２２ｃが形成されるとともに、各受光素子２２
１ｃ，２２２ｃの上面に青の波長域の光を比較的透過さ
せる青フィルタ２２１ｆ，２２２ｆが取付けられて、青
の波長域に大きな感度を持っている分光感度（ゼット・
バー・ラムダ）を有する受光部２２１，２２２が形成さ
れている。また、これら以外に、基板Ｗの同一面側に受
光素子２２３ｃ（図４への図示は省略），２２４ｃが形
成されるとともに、受光素子２２３ｃの上面に赤の波長
域の光を比較的透過させる赤フィルタ２２３ｆが形成さ
れて赤の波長域に大きな感度を持っている分光感度（エ
ックス・バー・ラムダ）を有する受光部２２３が形成さ
れる一方、受光素子２２４ｃの上面に緑の波長域の光を
比較的透過させる緑フィルタ２２４ｆが形成されて緑の
波長域に大きな感度を持っている分光感度（ワイ・バー
・ラムダ）を有する受光部２２４が形成されている。
および図５に示すように、色刺激値Ｚを測定すべく、２
つの受光部２２１，２２２を用いている。具体的には、
略正方形の基板Ｗの一方主面側において、受光素子２２
１ｃ，２２２ｃが形成されるとともに、各受光素子２２
１ｃ，２２２ｃの上面に青の波長域の光を比較的透過さ
せる青フィルタ２２１ｆ，２２２ｆが取付けられて、青
の波長域に大きな感度を持っている分光感度（ゼット・
バー・ラムダ）を有する受光部２２１，２２２が形成さ
れている。また、これら以外に、基板Ｗの同一面側に受
光素子２２３ｃ（図４への図示は省略），２２４ｃが形
成されるとともに、受光素子２２３ｃの上面に赤の波長
域の光を比較的透過させる赤フィルタ２２３ｆが形成さ
れて赤の波長域に大きな感度を持っている分光感度（エ
ックス・バー・ラムダ）を有する受光部２２３が形成さ
れる一方、受光素子２２４ｃの上面に緑の波長域の光を
比較的透過させる緑フィルタ２２４ｆが形成されて緑の
波長域に大きな感度を持っている分光感度（ワイ・バー
・ラムダ）を有する受光部２２４が形成されている。
【００７１】これらの受光部のうち、受光部２２１，２
２２はいずれも色刺激値Ｚを検出するためのセンサであ
り、この実施形態では液晶パネル１２の配光特性変動方
向ＸＸにおいて被測定領域１２１の中心面法線Ｎに対し
て相互に反対側に配置されている。このため、次のよう
な作用効果が得られる。
２２はいずれも色刺激値Ｚを検出するためのセンサであ
り、この実施形態では液晶パネル１２の配光特性変動方
向ＸＸにおいて被測定領域１２１の中心面法線Ｎに対し
て相互に反対側に配置されている。このため、次のよう
な作用効果が得られる。
【００７２】ここで、１つの受光部によって被測定領域
１２１からの光を受光した場合について考えてみる。こ
の場合、同一の被測定領域１２１から出射している光で
ありながら、配光特性変動方向ＸＸにおいて配光特性が
例えば図１９（ａ）の状態から同図（ｂ）の状態に変動
すると、当該受光部からの出力値が変化してしまい、正
確な測定が困難である。これに対し、本実施形態の如く
配置された２つの受光部２２１，２２２によって被測定
領域１２１からの光を受光し、各受光部２２１，２２２
によって検出された値を加算し、これを色刺激値Ｚを示
す値としているので、配光変動による影響を抑制するこ
とができ、測定精度を向上させることができる。
１２１からの光を受光した場合について考えてみる。こ
の場合、同一の被測定領域１２１から出射している光で
ありながら、配光特性変動方向ＸＸにおいて配光特性が
例えば図１９（ａ）の状態から同図（ｂ）の状態に変動
すると、当該受光部からの出力値が変化してしまい、正
確な測定が困難である。これに対し、本実施形態の如く
配置された２つの受光部２２１，２２２によって被測定
領域１２１からの光を受光し、各受光部２２１，２２２
によって検出された値を加算し、これを色刺激値Ｚを示
す値としているので、配光変動による影響を抑制するこ
とができ、測定精度を向上させることができる。
【００７３】また、残りの受光部２２３，２２４は、受
光面と中心面法線Ｎとが交差する交点ＣＰを通り、しか
も配光特性変動方向ＸＸとほぼ直交する仮想線ＶＬ上に
おいて、交点ＣＰを挟んで相互に反対側に配置されてい
る。
光面と中心面法線Ｎとが交差する交点ＣＰを通り、しか
も配光特性変動方向ＸＸとほぼ直交する仮想線ＶＬ上に
おいて、交点ＣＰを挟んで相互に反対側に配置されてい
る。
【００７４】なお、加算する代わりに、各受光部２２
１，２２２からの出力値を平均化したり、重み付け演算
し、その演算結果を色刺激値Ｚを示す値としてもよい。
１，２２２からの出力値を平均化したり、重み付け演算
し、その演算結果を色刺激値Ｚを示す値としてもよい。
【００７５】また、上記実施形態では、色刺激値Ｚを測
定するための２つの受光部２２１，２２２を設けている
が、３つ以上の受光部を設けて色刺激値Ｚを測定するよ
うにしてもよい。
定するための２つの受光部２２１，２２２を設けている
が、３つ以上の受光部を設けて色刺激値Ｚを測定するよ
うにしてもよい。
【００７６】ところで、この実施形態では色刺激値Ｚを
測定するための受光部について並設構造を採用している
が、これは現在市場に供給されている液晶パネルの三刺
激値Ｘ，Ｙ，Ｚのうち色刺激値Ｚの値が最も低いことに
鑑みたものであり、本実施形態のように色刺激値Ｚを２
つの受光部２２１，２２２で測定し、これらの値を加算
することによって色刺激値Ｚの出力レベルを高めること
ができ、測定精度および再現性をより一層向上させるこ
とができるからである。すなわち、要は、白色画像など
の測定用画像を被測定領域１２１に表示し、各受光部か
ら出力される信号レベルが最も低くなるものについて、
本実施形態の如く複数の受光部によって測定すれば上記
実施形態と同様の効果が得られる。
測定するための受光部について並設構造を採用している
が、これは現在市場に供給されている液晶パネルの三刺
激値Ｘ，Ｙ，Ｚのうち色刺激値Ｚの値が最も低いことに
鑑みたものであり、本実施形態のように色刺激値Ｚを２
つの受光部２２１，２２２で測定し、これらの値を加算
することによって色刺激値Ｚの出力レベルを高めること
ができ、測定精度および再現性をより一層向上させるこ
とができるからである。すなわち、要は、白色画像など
の測定用画像を被測定領域１２１に表示し、各受光部か
ら出力される信号レベルが最も低くなるものについて、
本実施形態の如く複数の受光部によって測定すれば上記
実施形態と同様の効果が得られる。
【００７７】また、この実施形態では、受光素子２２１
ｃ〜２２４ｃには、国際照明委員会（ＣＩＥ）で標準観
察者の分光感度として規定されている３つの分光感度に
対応した青フィルタ２２１ｆ，２２２ｆ、赤フィルタ２
２３ｆおよび緑フィルタ２２４ｆがそれぞれ形成されて
受光部２２１〜２２４によって色刺激値Ｚ1，Ｚ2，Ｘ，
Ｙを検出するようにしているが、フィルタの種類はこれ
に限定されるものではない。
ｃ〜２２４ｃには、国際照明委員会（ＣＩＥ）で標準観
察者の分光感度として規定されている３つの分光感度に
対応した青フィルタ２２１ｆ，２２２ｆ、赤フィルタ２
２３ｆおよび緑フィルタ２２４ｆがそれぞれ形成されて
受光部２２１〜２２４によって色刺激値Ｚ1，Ｚ2，Ｘ，
Ｙを検出するようにしているが、フィルタの種類はこれ
に限定されるものではない。
【００７８】
【発明の効果】以上のように、この発明に係る液晶パネ
ルの光学測定装置によれば、装置本体の当接部が被測定
領域からその外周方向に離れた位置で液晶パネルと当接
して被測定領域と受光手段との距離を常に一定とするこ
とができ、精度良く、しかも再現性に優れた測定が可能
となる。また、この光学測定装置は、上記のように、い
わゆる接触型となっているため、その当接部を中心とし
て接触影響領域（当接部の液晶パネルへの当接によって
表示色が変化する領域）が形成されるが、当接位置は被
測定領域からその外周方向に離れた位置となっているた
め、接触影響領域の被測定領域への重なり合いが防止さ
れて接触影響領域の影響を受けることなく、光学特性を
測定することができる。そして、装置周辺から被測定領
域に光が入射するのを抑えて、迷光による測定精度の低
下を防止し、高精度で、しかも再現性に優れた測定を可
能としている。さらに、受光手段によって特定の分光感
度で被測定領域からの光を受光するにあたり、その同一
の分光感度特性を有する第１および第２受光部を用い、
しかも第１および第２受光部を、液晶パネルから所定距
離だけ離れた受光面上で、しかも液晶パネルの配光特性
変動方向において、被測定領域の中心面法線に対して相
互に反対側に配置することで、配光変動による影響を抑
制することができ、測定精度を向上させることができ
る。
ルの光学測定装置によれば、装置本体の当接部が被測定
領域からその外周方向に離れた位置で液晶パネルと当接
して被測定領域と受光手段との距離を常に一定とするこ
とができ、精度良く、しかも再現性に優れた測定が可能
となる。また、この光学測定装置は、上記のように、い
わゆる接触型となっているため、その当接部を中心とし
て接触影響領域（当接部の液晶パネルへの当接によって
表示色が変化する領域）が形成されるが、当接位置は被
測定領域からその外周方向に離れた位置となっているた
め、接触影響領域の被測定領域への重なり合いが防止さ
れて接触影響領域の影響を受けることなく、光学特性を
測定することができる。そして、装置周辺から被測定領
域に光が入射するのを抑えて、迷光による測定精度の低
下を防止し、高精度で、しかも再現性に優れた測定を可
能としている。さらに、受光手段によって特定の分光感
度で被測定領域からの光を受光するにあたり、その同一
の分光感度特性を有する第１および第２受光部を用い、
しかも第１および第２受光部を、液晶パネルから所定距
離だけ離れた受光面上で、しかも液晶パネルの配光特性
変動方向において、被測定領域の中心面法線に対して相
互に反対側に配置することで、配光変動による影響を抑
制することができ、測定精度を向上させることができ
る。
【００７９】また、装置本体に対して遮光性を与え、そ
の装置本体の内部に受光手段を取り付けることで、迷光
をさらに抑制し、測定精度および再現性をさらに向上さ
せることができる。
の装置本体の内部に受光手段を取り付けることで、迷光
をさらに抑制し、測定精度および再現性をさらに向上さ
せることができる。
【００８０】また、当接部が被測定領域の全周を取り囲
むように構成することにより、装置周辺から被測定領域
に光が入射するのを完全に防止し、より精度の高い測定
が可能となる。
むように構成することにより、装置周辺から被測定領域
に光が入射するのを完全に防止し、より精度の高い測定
が可能となる。
【００８１】また、液晶パネルに対して装置本体を固定
する固定手段をさらに設けることで、液晶パネルの姿勢
に制約されず、液晶パネルに光学測定装置を取り付ける
ことができ、利用範囲が広がる。
する固定手段をさらに設けることで、液晶パネルの姿勢
に制約されず、液晶パネルに光学測定装置を取り付ける
ことができ、利用範囲が広がる。
【００８２】
【図１】この発明を用いた液晶パネルのキャリブレーシ
ョンシステムを示す図である。
ョンシステムを示す図である。
【図２】図１のキャリブレーションシステムで採用され
ている光学測定装置を示す斜視図である。
ている光学測定装置を示す斜視図である。
【図３】図２の光学測定装置を液晶パネルに装着した状
態での光学測定装置の断面図である。
態での光学測定装置の断面図である。
【図４】装置本体内部でのフランジ、光学系および受光
ユニットの配置関係を示す斜視図である。
ユニットの配置関係を示す斜視図である。
【図５】受光ユニットの正面図である。
【図６】光学測定装置の制御部の電気的な構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図７】キャリブレーション処理に先立ってＥＥＰＲＯ
Ｍに校正値を記憶させる手順を示すフローチャートであ
る。
Ｍに校正値を記憶させる手順を示すフローチャートであ
る。
【図８】キャリブレーション処理の手順を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図９】この発明の一実施形態である測定用光学系の配
置関係を示す図である。
置関係を示す図である。
【図１０】測定用光学系の他の実施形態を示す図であ
る。
る。
【図１１】測定用光学系の別の実施形態を示す図であ
る。
る。
【図１２】図１１の測定用光学系による受光ユニットへ
の導光状態を説明するための図である。
の導光状態を説明するための図である。
【図１３】測定用光学系の他の実施形態を示す図であ
る。
る。
【図１４】測定用光学系の別の実施形態を示す図であ
る。
る。
【図１５】測定用光学系のまた別の実施形態を示す図で
ある。
ある。
【図１６】測定用光学系のさらに別の実施形態を示す図
である。
である。
【図１７】測定用光学系のさらに他の実施形態を示す図
である。
である。
【図１８】図１７の測定用光学系による受光ユニットへ
の導光状態を説明するための図である。
の導光状態を説明するための図である。
【図１９】液晶パネルの配光特性および配光特性の変動
の一例を示す図である。
の一例を示す図である。
【図２０】従来の光学測定装置における問題点を説明す
るための模式図である。
るための模式図である。
２…光学測定装置 １２…液晶パネル ２１…装置本体 ２２…受光ユニット（受光手段） ２３…（測定用）光学系 ２４…制御部 ２５…フック（固定手段） １２１…被測定領域 １２３…接触影響領域 ２１１…筒部 ２１２…フランジ ２１２ａ…開口部 ２１３…ゴムリングシート（当接部） ２２１〜２２４…受光部 ＣＰ…交点 Ｎ…中心面法線 ＯＡ…光軸 ＲＳ…受光面 ＶＬ…仮想線 ＸＸ…配光特性変動方向 ＹＹ…水平方向 ＺＺ…法線方向 α…最大出射角
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 雑賀 崇 大阪府泉南市信達大苗代1130−１ ＮＴ Ｔ社宅１−304 (56)参考文献 特開 平８−292129（ＪＰ，Ａ) 特開 平９−72824（ＪＰ，Ａ) 特開2000−221109（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−317469（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−5537（ＪＰ，Ａ) 実開 平２−24880（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭63−2982（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 G01J 1/00 - 1/02 G02F 1/13 101 G09F 9/00 352 G09G 3/18 G09G 3/36
Claims (6)
- 【請求項１】 液晶パネルの被測定領域から出射される
光を受光して前記被測定領域の光学特性を測定する光学
測定装置であって、 前記被測定領域からその外周方向に離れた位置で前記液
晶パネルと当接可能な当接部を有する装置本体と、 前記装置本体に取付けられ、前記当接部が前記液晶パネ
ルに当接された状態で前記被測定領域からの光を受光す
る受光手段とを備え、前記受光手段は、 同一の分光感度特性を有する第１および第２受光部を備
え、 該第１および第２受光部は、前記液晶パネルから所定距
離だけ離れた受光面上で、しかも前記被測定領域の中心
面法線に対して配光特性が非対称となる方向において、
前記被測定領域の中心面法線に対して相互に反対側に配
置されたこと を特徴とする液晶パネルの光学測定装置。 - 【請求項２】 前記装置本体は遮光性を有しており、し
かも、前記受光手段は前記装置本体の内部に取付けられ
ている請求項１記載の液晶パネルの光学測定装置。 - 【請求項３】 前記当接部は、前記被測定領域を部分的
に、あるいは前記被測定領域の全周を取り囲むように設
けられた請求項１または２記載の液晶パネルの光学測定
装置。 - 【請求項４】 前記液晶パネルに対して前記装置本体を
固定する固定手段をさらに備えた請求項１ないし３のい
ずれかに記載の液晶パネルの光学測定装置。 - 【請求項５】 前記受光手段は、前記第１および第２受
光部と異なる分光感度特性を有する第３受光部をさらに
備え、 前記第３受光部は、前記受光面と前記中心面法線とが交
差する交点を通り、しかも前記被測定領域の中心面法線
に対して配光特性が非対称となる方向とほぼ直交する仮
想線上に配置されたこと を特徴とする請求項１に 記載の液晶パネルの光学測定装
置。 - 【請求項６】 前記装置本体に配置され、前記被測定領
域の各部から出射される光のうち所定角度以下の出射角
の光のみを前記受光手段に導く光学系をさら に備えた請
求項１ないし５のいずれかに記載の液晶パネルの光学測
定装置。
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