CN215338831U - 角锥消光比检测装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型提供了一种角锥消光比检测装置,涉及光学测量技术领域,解决了现有技术存在测量角锥消光比时,采用光谱仪测量角锥零件中陪镀片S光与P光的透过率,然后将两者的比值作为角锥消光比,测量结果不能真实反应角锥零件消光比的技术问题。该角锥消光比检测装置包括激光器、入射偏振分光棱镜、出射偏振分光棱镜和功率计,入射偏振分光棱镜与待测角锥依次设置在激光器的激光出射方向,激光经入射偏振分光棱镜后垂直入射到角锥中;出射偏振分光棱镜设置在角锥的激光出射方向,出射偏振分光棱镜将角锥出射激光中的P光和S光分开,使P光和S光分别垂直打在功率计上。本实用新型用于直接测量角锥的消光比。

Description

角锥消光比检测装置
技术领域
本实用新型涉及光学测量技术领域,尤其是涉及一种角锥消光比检测装置。
背景技术
在成像、测量等领域中的特定应用场景,会要求光束通过角锥零件后偏振态不发生改变,或变化的程度在一定范围内,即消光比大于一定比例。例如入射光为S光,要求经角锥内部反射后,出射光仍旧为S光,或者要求出射光中S光和P光的比值大于一定数值。
现有技术中检测消光比最直接的方法,主要是采用光谱仪(分光光度计)直接进行测量,但是由于角锥零件结构以及光线传播的特殊性,使得无法使用光谱仪直接进行检测。角锥零件在镀膜过程中会放置陪镀片,陪镀片为圆形平面镜片。在对角锥的消光比进行测量时,通常是镀制完成后采用光谱仪测量陪镀片S光与P光的透过率,将两者的比值作为消光比。
本申请人发现:现有技术中在对角锥的消光比进行测量时,采用光谱仪测量陪镀片S光与P光的透过率,然后将两者的比值作为消光比,由于陪镀片本身结构与实际角锥零件不同,且陪镀片仅一面镀膜,角锥为三面镀膜,因此测量的结果往往与实际情况存在较大差异。
综上所述,现有技术至少存在以下技术问题:
现有技术中测量角锥消光比时,采用光谱仪测量角锥零件中陪镀片S光与P光的透过率,然后将两者的比值作为角锥消光比,测量结果不能真实反应角锥零件消光比。
实用新型内容
本实用新型的目的是提出一种角锥消光比检测装置,解决了现有技术存在测量角锥消光比时,采用光谱仪测量角锥零件中陪镀片S光与P光的透过率,然后将两者的比值作为角锥消光比,测量结果不能真实反应角锥零件消光比的技术问题。
为实现上述目的,本实用新型提供了以下技术方案:
本实用新型提供实施例的角锥消光比检测装置,包括激光器、入射偏振分光棱镜、出射偏振分光棱镜以及功率计,其中:
入射偏振分光棱镜与待测角锥依次设置在激光器的激光出射方向,激光器发出的激光经入射偏振分光棱镜后垂直入射到待测角锥中;出射偏振分光棱镜设置在待测角锥的激光出射方向,出射偏振分光棱镜将待测角锥出射激光中的P光和S光分开,使被分开的P光和S光分别垂直打在功率计上。
在可选地实施例中,入射偏振分光棱镜包括第一入射偏振分光棱镜和第二入射偏振分光棱镜。
在可选地实施例中,第一入射偏振分光棱镜、第二入射偏振分光棱镜以及待测角锥依次设置在激光器的激光出射方向,激光器发出的激光经第一入射偏振分光棱镜和第二入射偏振分光棱镜后垂直入射到待测角锥中。
在可选地实施例中,功率计包括第一功率计和第二功率计。
在可选地实施例中,通过出射偏振分光棱镜的P光的方向与第一功率计相垂直,经出射偏振分光棱镜反射出的S光与第二功率计相垂直。
在可选地实施例中,还包括样品台,入射偏振分光棱镜、待测角锥以及出射偏振分光棱镜均设置在样品台上。
在可选地实施例中,还包括底座,激光器和样品台均设置在底座上。
在可选地实施例中,功率计为手持功率计。
基于上述技术方案,本实用新型实施例至少可以产生如下技术效果:
本实用新型提供的角锥消光比检测装置,其入射偏振分光棱镜与待测角锥依次设置在激光器的激光出射方向,激光器发出的激光经入射偏振分光棱镜后垂直入射到待测角锥中;出射偏振分光棱镜设置在待测角锥的激光出射方向,出射偏振分光棱镜将待测角锥出射激光中的P光和S光分开,使被分开的P光和S光分别垂直打在功率计上。
现有技术中,角锥零件在镀膜过程中会放置陪镀片,陪镀片为圆形平面镜片。在对角锥的消光比进行测量时,采用光谱仪测量陪镀片S光与P光的透过率,然后将两者的比值作为消光比,由于陪镀片本身结构与实际角锥零件不同,且陪镀片仅一面镀膜,角锥为三面镀膜,因此测量结果不能真实反应角锥零件消光比。
相对现有技术而言,本实用新型中激光器为整个系统提供光源,激光器发出的光线为输入光束,输入光束中包含S光和P光,两者各占50%。输入光束经入射偏振分光棱镜后,P光穿过入射偏振分光棱镜,而S光则被反射,形成分光束。通过入射偏振分光棱镜过滤后得到的输入光束将垂直入射到待测角锥中。
由于角锥的特性,光束在角锥中经过两次反射后垂直射出,此时的出射光由于受到角锥本身以及膜层的影响,其中少量的P光的偏振态发生变化,转变为S光。此时光束将经过出射偏振分光棱镜,由出射偏振分光棱镜将出射光中的P光和S光分开。P光将穿过出射偏振分光棱镜,垂直打在功率计上,此时功率计将获得P光的能量值。S光将被出射偏振分光棱镜反射,垂直打在功率计上,此时功率计将获得S光的能量值。此时P光的能量值与S光的能量值的比值即为角锥的消光比。从而解决了现有技术存在测量角锥消光比时,采用光谱仪测量角锥零件中陪镀片S光与P光的透过率,然后将两者的比值作为角锥消光比,测量结果不能真实反应角锥零件消光比的技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型实施例提供的角锥消光比检测装置的示意图;
图2是本实用新型实施例提供的角锥消光比检测装置的局部放大示意图。
附图标记:1、激光器;2、入射偏振分光棱镜;21、第一入射偏振分光棱镜;22、第二入射偏振分光棱镜;3、出射偏振分光棱镜;4、功率计;41、第一功率计;42、第二功率计;5、样品台;6、底座;7、待测角锥。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将对本实用新型的技术方案进行详细的描述。显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型实施例之一,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本技术领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式,都属于本实用新型所保护的范围。
实施例1
本实用新型实施例1提供了一种角锥消光比检测装置。
下面结合图1~图2对本实用新型提供的技术方案进行更为详细的阐述。
如图1~图2所示,本实用新型实施例所提供的角锥消光比检测装置包括激光器1、入射偏振分光棱镜2、出射偏振分光棱镜3以及功率计4,其中:
入射偏振分光棱镜2与待测角锥7依次设置在激光器1的激光出射方向,激光器1发出的激光经入射偏振分光棱镜2后垂直入射到待测角锥7中;出射偏振分光棱镜3设置在待测角锥7的激光出射方向,出射偏振分光棱镜3将待测角锥7出射激光中的P光和S光分开,使被分开的P光和S光分别垂直打在功率计4上。
现有技术中,角锥零件在镀膜过程中会放置陪镀片,陪镀片为圆形平面镜片。在对角锥的消光比进行测量时,采用光谱仪测量陪镀片S光与P光的透过率,然后将两者的比值作为消光比,由于陪镀片本身结构与实际角锥零件不同,且陪镀片仅一面镀膜,角锥为三面镀膜,因此测量结果不能真实反应角锥零件消光比。
相对现有技术而言,本实用新型中激光器1为整个系统提供光源,激光器1发出的光线为输入光束,输入光束中包含S光和P光,两者各占50%。输入光束经入射偏振分光棱镜2后,P光穿过入射偏振分光棱镜2,而S光则被反射,形成分光束。通过入射偏振分光棱镜2过滤后得到的输入光束将垂直入射到待测角锥7中。
由于角锥的特性,光束在角锥中经过两次反射后垂直射出,此时的出射光由于受到角锥本身以及膜层的影响,其中少量的P光的偏振态发生变化,转变为S光。此时光束将经过出射偏振分光棱镜3,由出射偏振分光棱镜3将出射光中的P光和S光分开。P光将穿过出射偏振分光棱镜3,垂直打在功率计4上,此时功率计4将获得P光的能量值。S光将被出射偏振分光棱镜3反射,垂直打在功率计4上,此时功率计4将获得S光的能量值。此时P光的能量值与S光的能量值的比值则为角锥的消光比。所以解决了现有技术存在测量角锥消光比时,采用光谱仪测量角锥零件中陪镀片S光与P光的透过率,然后将两者的比值作为角锥消光比,测量结果不能真实反应角锥零件消光比的技术问题。
实施例2
本实用新型实施例2提供了一种角锥消光比检测装置。
下面结合图1~图2对本实用新型提供的技术方案进行更为详细的阐述。
如图1~图2所示,本实用新型实施例所提供的角锥消光比检测装置包括激光器1、入射偏振分光棱镜2、出射偏振分光棱镜3以及功率计4,其中:
入射偏振分光棱镜2与待测角锥7依次设置在激光器1的激光出射方向,激光器1发出的激光经入射偏振分光棱镜2后垂直入射到待测角锥7中;出射偏振分光棱镜3设置在待测角锥7的激光出射方向,出射偏振分光棱镜3将待测角锥7出射激光中的P光和S光分开,使被分开的P光和S光分别垂直打在功率计4上。
现有技术中,角锥零件在镀膜过程中会放置陪镀片,陪镀片为圆形平面镜片。在对角锥的消光比进行测量时,采用光谱仪测量陪镀片S光与P光的透过率,然后将两者的比值作为消光比,由于陪镀片本身结构与实际角锥零件不同,且陪镀片仅一面镀膜,角锥为三面镀膜,因此测量结果不能真实反应角锥零件消光比。
相对现有技术而言,本实用新型中激光器1为整个系统提供光源,激光器1发出的光线为输入光束,输入光束中包含S光和P光,两者各占50%。输入光束经入射偏振分光棱镜2后,P光穿过入射偏振分光棱镜2,而S光则被反射,形成分光束。通过入射偏振分光棱镜2过滤后得到的输入光束将垂直入射到待测角锥7中。
由于角锥的特性,光束在角锥中经过两次反射后垂直射出,此时的出射光由于受到角锥本身以及膜层的影响,其中少量的P光的偏振态发生变化,转变为S光。此时光束将经过出射偏振分光棱镜3,由出射偏振分光棱镜3将出射光中的P光和S光分开。P光将穿过出射偏振分光棱镜3,垂直打在功率计4上,此时功率计4将获得P光的能量值。S光将被出射偏振分光棱镜3反射,垂直打在功率计4上,此时功率计4将获得S光的能量值。此时P光的能量值与S光的能量值的比值则为角锥的消光比。所以解决了现有技术存在测量角锥消光比时,采用光谱仪测量角锥零件中陪镀片S光与P光的透过率,然后将两者的比值作为角锥消光比,测量结果不能真实反应角锥零件消光比的技术问题。
作为可选地实施方式,入射偏振分光棱镜2包括第一入射偏振分光棱镜21和第二入射偏振分光棱镜22。上述结构便于实现。
作为可选地实施方式,第一入射偏振分光棱镜21、第二入射偏振分光棱镜22以及待测角锥7依次设置在激光器1的激光出射方向,激光器1发出的激光经第一入射偏振分光棱镜21和第二入射偏振分光棱镜22后垂直入射到待测角锥7中。
由于偏振分光棱镜制造工艺的影响,仅使用一个偏振分光棱镜难以做到全部的S光都被反射,因此在第一入射偏振分光棱镜21后放置第二入射偏振分光棱镜22,再次对输入光束进行过滤,此时输入光束中剩余的少量S光被第二入射偏振分光棱镜2反射,形成分光束。通过第一入射偏振分光棱镜21和第二入射偏振分光棱镜22的双重过滤后,得到的输入光束中全部为P光,且将垂直入射到待测角锥7中。
作为可选地实施方式,功率计4包括第一功率计41和第二功率计42。上述结构便于实现。
作为可选地实施方式,通过出射偏振分光棱镜3的P光的方向与第一功率计41相垂直,经出射偏振分光棱镜3反射出的S光与第二功率计42相垂直。上述结构便于实现P光垂直打在第一功率计41上,S光垂直打在第二功率计42上,分开测量更加便捷。
作为可选地实施方式,还包括样品台5,入射偏振分光棱镜2、待测角锥7以及出射偏振分光棱镜3均设置在样品台5上。上述结构便于加工制造,样品台5便于将入射偏振分光棱镜2、待测角锥7以及出射偏振分光棱镜3的高度调整到与激光器1发出的输入光束的高度相匹配。
作为可选地实施方式,还包括底座6,激光器1和样品台5均设置在底座6上。上述结构便于加工制造。
作为可选地实施方式,功率计4为手持功率计4。上述结构方便测量,当然,也可以将功率计4置于样品台5或者底座6上。
本实用新型实施例提出的基于激光器1、偏振分光棱镜及手持功率计4,形成的高可靠性和准确性的消光比检测装置,结构简单,搭建方便,可直接对角锥的消光比进行测量,解决了传统检测方案无法直接检测的问题。该检测装置也可推广用于其他各种零件的消光比检测,应用范围广。
附图中“P、S”为激光器1发出的光线为输入光束,输入光束中包含S光和P光,两者各占50%;“S”为经偏振分光棱镜反射出的S光;“P”为通过出射偏振分光棱镜的P光。
以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上;术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“前端”、“后端”、“头部”、“尾部”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可视具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

Claims (8)

1.一种角锥消光比检测装置,其特征在于,包括激光器、入射偏振分光棱镜、出射偏振分光棱镜以及功率计,其中:
所述入射偏振分光棱镜与待测角锥依次设置在所述激光器的激光出射方向,所述激光器发出的激光经所述入射偏振分光棱镜后垂直入射到待测角锥中;所述出射偏振分光棱镜设置在待测角锥的激光出射方向,所述出射偏振分光棱镜将待测角锥出射激光中的P光和S光分开,使被分开的P光和S光分别垂直打在所述功率计上。
2.根据权利要求1所述的角锥消光比检测装置,其特征在于,所述入射偏振分光棱镜包括第一入射偏振分光棱镜和第二入射偏振分光棱镜。
3.根据权利要求2所述的角锥消光比检测装置,其特征在于,所述第一入射偏振分光棱镜、所述第二入射偏振分光棱镜以及待测角锥依次设置在所述激光器的激光出射方向,所述激光器发出的激光经所述第一入射偏振分光棱镜和所述第二入射偏振分光棱镜后垂直入射到待测角锥中。
4.根据权利要求1所述的角锥消光比检测装置,其特征在于,所述功率计包括第一功率计和第二功率计。
5.根据权利要求4所述的角锥消光比检测装置,其特征在于,通过所述出射偏振分光棱镜的P光的方向与所述第一功率计相垂直,经所述出射偏振分光棱镜反射出的S光与所述第二功率计相垂直。
6.根据权利要求1所述的角锥消光比检测装置,其特征在于,还包括样品台,所述入射偏振分光棱镜、待测角锥以及所述出射偏振分光棱镜均设置在所述样品台上。
7.根据权利要求6所述的角锥消光比检测装置,其特征在于,还包括底座,所述激光器和所述样品台均设置在所述底座上。
8.根据权利要求1所述的角锥消光比检测装置,其特征在于,所述功率计为手持功率计。
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