KR940020539A - 저 인덕턴스 반도체 패키지(Low inductance semiconductor package) - Google Patents

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KR940020539A
KR940020539A KR1019940001436A KR19940001436A KR940020539A KR 940020539 A KR940020539 A KR 940020539A KR 1019940001436 A KR1019940001436 A KR 1019940001436A KR 19940001436 A KR19940001436 A KR 19940001436A KR 940020539 A KR940020539 A KR 940020539A
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low inductance
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더블유. 핀더 브렌트
에이. 베린저 케네스
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빈센트 비. 인그라시아
모토로라 인코포레이티드(Motorola Incoporated)
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Abstract

적어도 두 개의 반도체 다이를 수용하기 위한 저 인덕턴스 반도체 패키지(33)는 히트싱크(11), 절연재(13), 다수의 패키지 리드(22), 프레임(19), 캡(21) 및 피복 재료(23)를 포함하며, 적어도 3개의 병렬 금속 스트립(26 내지 29)은 적어도 2개의 반도체 다이에 대해 상호 접속을 제공하는 절연재(13)의 표면(15)상에 형상화되며, 각각 다수의 패키지 리드(22)는 기생 인덕턴스를 최소화하는 적어도 3개의 금속 스트립(26 내지 29)의 대응 금속 스티립에 직접 접속된다.

Description

저 인덕턴스 반도체 패키지(Low inductance semiconductor package)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 반도체 패키지 히트 싱크의 도면.

Claims (2)

  1. 적어도 두 개의 반도체 다이(17)를 수용하기 위한 저 인덕턴스 반도체 패키지(33)에 있어서, 히트 싱크(11)와, 상기 히트 싱크(11)상에 인접 배치된 전기 절연재(13)와, 상호 접속을 제공하기 위해 상기 절연재(13)의 제1표면(15)상에 형상화되며 서로 절연된 적어도 3개의 병렬 금속 스트립(26, 28, 29)과, 프레임(19)과, 캡(21)과, 반도체 패키지(33)의 외부로 상호 접속을 제공하며 수직 방향으로 대응 금속 스트립(26, 28, 29)에 각각 직접 접속되는 다수의 패키지 리드(22)와, 상기 히트 싱크(11), 프레임(19) 및 캡(21)을 서로 결합하기 위한 피복 재료(23)를 포함하는 것을 특징으로 하는 저 인덕턴스 반도체 패키지.
  2. 적어도 두 개의 반도체 다이(17)를 수용하기 위한 저 인덕턴스 반도체 패키지(33)에 있어서, 히트 싱크(11)와, 상기 히트 싱크(11)에 결합되는 전열성 전기 절연재(13)와, 적어도 두 개의 반도체 다이(17)에 상호 접속을 제공하기 위해 상기 절연재(13)의 제2표면상에 형상화되며 서로 절연된 적어도 3개의 금속영역(26, 28, 29)과, 상기 절연재(13)의 상기 제2표면상의 캘빈 접촉부(31)와, 프레임(19)과, 캡(21)과, 반도체 패키지(33)에 대해 외부로 상호 접속을 제공하며 수직 방향으로 상기 절연재(13)의 상기 제2표면상에 대응하는 금속 영역에 접속되는 다수의 패키지 리드(22)와, 상기 히트 싱크(11), 프레임(19) 및 캡(21)을 서로 결합하기 위한 피복재료(23)를 포함하며, 상기 절연재(13)는 제1표면에 결합된 금속층을 가지며, 상기 금속층은 상기 절연재(13)를 상기 히트 싱크(11)에 고정하기 위해 상기 히트싱크(11)에 납땜되는 것을 특징으로 하는 저 인덕턴스 반도체 패키지.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940001436A 1993-02-01 1994-01-27 저 인덕턴스 반도체 패키지(Low inductance semiconductor package) KR940020539A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101243136B1 (ko) * 2010-07-30 2013-03-15 세미컨덕터 콤포넨츠 인더스트리즈 엘엘씨 반도체 장치 및 그 제조 방법

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69535775D1 (de) * 1994-10-07 2008-08-07 Hitachi Ltd Halbleiteranordnung mit einer Mehrzahl von Halbleiterelementen
JP3201187B2 (ja) * 1994-12-08 2001-08-20 富士電機株式会社 半導体装置
JP3429921B2 (ja) * 1995-10-26 2003-07-28 三菱電機株式会社 半導体装置
JP3480771B2 (ja) * 1995-12-20 2003-12-22 三菱電機株式会社 半導体装置
US5838185A (en) * 1996-03-25 1998-11-17 International Rectifier Corporation Multiple individual Kelvin emitter connections to reduce current flow through parasitic diode
WO2000055917A1 (de) * 1999-03-17 2000-09-21 eupec Europäische Gesellschaft für Leistungshalbleiter mbH & Co. KG Leistungshalbleitermodul
DE10037533C1 (de) * 2000-08-01 2002-01-31 Semikron Elektronik Gmbh Induktivitätsarme Schaltungsanordnung
JP4601874B2 (ja) * 2001-07-30 2010-12-22 三菱電機株式会社 半導体装置
EP1324391B1 (en) * 2001-12-24 2007-06-27 Abb Research Ltd. Module housing and power semiconductor module
JP2006253516A (ja) * 2005-03-14 2006-09-21 Hitachi Ltd パワー半導体装置
US8076696B2 (en) 2009-10-30 2011-12-13 General Electric Company Power module assembly with reduced inductance
DE102017218875B4 (de) * 2017-10-23 2022-07-28 Danfoss Silicon Power Gmbh Leistungsmodul-Baugruppe
US10418307B2 (en) 2017-12-22 2019-09-17 Deere & Company Electronic assembly with a direct bonded copper substrate
DE102021112410A1 (de) 2021-05-12 2022-11-17 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Leistungshalbleitermodul mit einem Substrat, Leistungshalbleiterbauelementen und mit einer Gleichspannungsanschlusseinrichtung

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0247109B2 (ja) * 1984-09-29 1990-10-18 Mitsubishi Electric Corp Jushifushigatamojuuru
JPH02222565A (ja) * 1989-02-23 1990-09-05 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
DE59100737D1 (de) * 1991-05-15 1994-01-27 Abb Ixys Semiconductor Gmbh Leistungshalbleitermodul und Verfahren zur Herstellung eines solchen Moduls.
US5170337A (en) * 1992-01-29 1992-12-08 General Electric Company Low-inductance package for multiple paralleled devices operating at high frequency

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101243136B1 (ko) * 2010-07-30 2013-03-15 세미컨덕터 콤포넨츠 인더스트리즈 엘엘씨 반도체 장치 및 그 제조 방법

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