KR940016768A - 트렌치를 이용한 소자분리막 형성방법 - Google Patents

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KR940016768A
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KR
South Korea
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trench
device isolation
forming
oxide film
isolation film
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KR1019920026731A
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최봉호
박재수
정종호
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 트렌치를 이용한 소자분리막 형성방법에 관것으로 트렌치를 형성한후 그 내부에 산화막 - 질화막 - 산화막을 적층하여 소자분리막 패턴을 형성시킴으로써 질화막에 의한 소자의 절연효과를 증대시키고 열산화공정으로 인한 버즈비크를 방지하여 소자의 신뢰성을 향상시키는 반도체소자 제조공정시 트렌치를 이용한 소자분리막 형성방법이다.

Description

트렌치를 이용한 소자분리막 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2A도 내지 제2D도는 본 발명의 의하여 형성된 트랜치 소자분리막을 나타낸 단면도.

Claims (1)

  1. 반도체 소자의 트렌치를 이용한 소자분리막 형성방법에 있어서, 버즈비크를 감소시키고 소자의 절연효과를 증대시키기 위하여, 트렌치를 형성한후 그 상부에 얇은 두께의 제1산화막과 질화막을 증착하고 전체적으로 제 2 산화막을 적층하는 단계와, 감광막 마스크를 형성하고 예정된 부분을 식각하되 제 2 산화막의 일부분만 식각하고 감광막 마스크를 제거하는 단계와, 블랭킷 에치백으로 식각하여 제 3 산화막의 일부분과 질화막, 제 1 산화막을 식각하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 트렌치를 이용한 소자분리막 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920026731A 1992-12-30 1992-12-30 트렌치를 이용한 소자분리막 형성방법 KR940016768A (ko)

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