KR940012405A - 롬(ROM;Read Only Memory)데이타 테스트 회로 - Google Patents

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    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation

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  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

ROM데이타 테스트를 위한 회로장치에 있어서, 테스팅 모드시 상기 ROM출력에 의해 업 또는 다운 카운팅하여 ROM 어드레스 값을 출력하는 업／다운 카운터와, 상기 업／다운 카운터의 출력 어드레스를 받아 ROM의 어드레스를 지정하기 위한 어드레스 디코더와, ROM 출력과 세그먼트 데이타를 받아 테스팅 모드시 ROM 출력을 출력패드에 출력하는 멀티플렉서를 구비한 것을 특징으로 하는 ROM 데이타 테스트 회로에 관한 것.

Description

롬(ROM;Read Only Memory)데이타 테스트 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 바명의 ROM데이타 테스트 회로 구성도, 제2도는 제1도의 업／다운 카운터의 상세 회로도이다.

Claims (5)

  1. ROM데이타 테스트를 위한 회로장티에 있어서, 테스텡 모드시 상기 ROM출력레 의해 업 또는 다운 카운팅 하여 ROM 어드레스 값을 출력하는 업／다운 카운터와, 상기 업／다운 카운터의 출력 어드레스를 받아 ROM의 어드레스를 지정하기 위한 어드레스 디코더와, ROM 출력과 세그먼트 데이타를 받아 테스팅 모드시 ROM 출력을 출력패드에 출력하는 멀티플랙서를 구비한 것을 특징으로 하는 ROM 데이타 테스트 회로.
  2. 제1항에 있어서, ROM은 시스테에서 사용하는 정생모드에서 시스템 어즈레스를 받아 상기 어드레스 디코더에 전달하기 위해 ROM의 테스트 모드 제어신호로 제어되고 상기 업／다운 카운터 신호를 받는 멀티플랙서를 또한 포함함을 특징으로 하는 ROM 데이타 테스트 회로.
  3. 제1항에 있어서, 테스팅 모드시 단일 명령 사이클내에서 상기 업／다운 카운터에 클럭을 제공하고 정상 동작모드시 시스템 출력을 받아 전달하도록 테스트 보드 제어신호에 의해 상기 두출력을 선택출력하는 멀티플랙서가 또한 포함되는 것을 특징으로 하는 ROM 데이타 테스트 회로.
  4. 제1항에 있어서, 상기 ROM은 사용된 영역과 비사용된 영역을 가지며 사용된 영역만 테스트하도록 업／다운 카운터가 제어됨을 특징으로 하는 ROM 데이타 테스트 회로.
  5. 제1항에 있어서, 테스트 어드레스 검증을 위해서 테스트 어드레스는 세그먼트 데이타를 받는 멀티플렉서에 연결되어 출력하도록 한 것을 특징으로 하는 ROM 데이타 테스트 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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