KR940002962A - 웨이퍼 건조 방법 - Google Patents

웨이퍼 건조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR940002962A
KR940002962A KR1019920011699A KR920011699A KR940002962A KR 940002962 A KR940002962 A KR 940002962A KR 1019920011699 A KR1019920011699 A KR 1019920011699A KR 920011699 A KR920011699 A KR 920011699A KR 940002962 A KR940002962 A KR 940002962A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
wafer
drying method
water
relates
present
Prior art date
Application number
KR1019920011699A
Other languages
English (en)
Inventor
이현철
김진웅
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019920011699A priority Critical patent/KR940002962A/ko
Publication of KR940002962A publication Critical patent/KR940002962A/ko

Links

Landscapes

  • Drying Of Solid Materials (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 웨이퍼 건조 방법에 관한 것이다.
상기 본 발명은 삼층 감광막 (tri-level-resist) 식각후에 형성되는 하층 감광막(3)을 갖는 웨이퍼 세척 과정에서 형성되는 수막을 제거하는 건조 방법에 있어서, 수용성 유기 용매 (isopropylal-cohol)의 증기를 웨이퍼에 분사시키는 단계를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 건조방법으로, 이러한 건조 방법의 웨이퍼 수막은 최종적으로 수 나노(10-9)미터의 두께로 감소되어 웨이퍼가 청결건조한 상태로 수조에서 나오게 되기 때문에 회전건조의 필요성을 극복할 수 있으며 따라서 삼층 감광막의 하층 감광막을 패턴한 원래의 모습으로 유지할 수 있어 고집적 소자의 건조방식에 유용하게 이용될 수 있는 효과가 있는 웨이퍼 건조 방법에 관한 것이다.

Description

웨이퍼 건조 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 종래의 삼층 감광막 식각 공정도.

Claims (1)

  1. 삼층 감광막(tri-level-resist)식각후에 형성되는 하층 감광막(3)을 갖는 웨이퍼 세척 과정에서 형성되는수지막을 제거하는 건조 방법에 있어서, 수용성 유기 용매(isopropyl alcohol)의 증기를 웨이퍼에 분사시키는 단계를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 웨이퍼 건조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920011699A 1992-07-01 1992-07-01 웨이퍼 건조 방법 KR940002962A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019920011699A KR940002962A (ko) 1992-07-01 1992-07-01 웨이퍼 건조 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019920011699A KR940002962A (ko) 1992-07-01 1992-07-01 웨이퍼 건조 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR940002962A true KR940002962A (ko) 1994-02-19

Family

ID=67296747

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019920011699A KR940002962A (ko) 1992-07-01 1992-07-01 웨이퍼 건조 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR940002962A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970072184A (ko) 포토레지스트박리제 및 반도체집적회로의 제조방법
KR970003459A (ko) 반도체 소자의 비아홀의 형성방법
KR940016476A (ko) 저 전하성 전자 비임 리도그래피
KR970003412A (ko) 반도체 소자의 미세패턴 형성방법
KR940002962A (ko) 웨이퍼 건조 방법
KR900013594A (ko) 세척제와 그를 이용한 세척방법 및 그 세척방법을 사용한 반도체 집적회로 제조방법
KR970077268A (ko) 패턴의 표면 처리 방법
KR980005899A (ko) 포토레지스트의 스트리핑방법
KR970077296A (ko) 알루미늄 박막의 식각 방법
KR970054601A (ko) 반도체 디바이스 제조공정의 금속층 패터닝(Patterning) 방법
KR970077273A (ko) 웨이퍼 세정장비 및 웨이퍼 세정방법
KR970008319A (ko) 반도체 소자의 어드히젼처리방법
KR920015582A (ko) 반도체 장치의 평탄화방법
KR950025953A (ko) 반도체소자의 소자분리막 형성방법
KR910020833A (ko) 옥사이드 마스크에 의한 드라이 에칭 방법
KR970003669A (ko) 금속막 부식 방지를 위한 금속배선 형성 방법
KR940015674A (ko) 폴리실리콘 패턴시 발생되는 폴리머 제거방법
KR980003833A (ko) 반도체장치의 패턴형성방법
KR970052730A (ko) 반도체 장치의 피에스지(psg)막 패턴 형성방법
KR970016752A (ko) 마스크 제조방법
KR950027922A (ko) 반도체 제조용 마스크 제조방법
KR970023783A (ko) 반도체 웨이퍼 건조기
KR930001329A (ko) 디램 제조시 웨이퍼 세정방법
KR970051881A (ko) 반도체 소자의 감광막 도포 방법
KR950012638A (ko) 반도체장치의 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
SUBM Submission of document of abandonment before or after decision of registration