KR920010767A - 플라즈마 식각에 기인한 다결정 실리콘 및 내화성 금속 실리사이드의 측벽중합체 제거방법 - Google Patents
플라즈마 식각에 기인한 다결정 실리콘 및 내화성 금속 실리사이드의 측벽중합체 제거방법 Download PDFInfo
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
Claims (3)
- 고집적 반도체 소자 제조공정중 Cl2계통의 기체 혼합물을 식각 기체로 사용하는 다결정 실리콘 또는 내한성 금속 실리사이드를 플라즈마 식각공정에 의해 식각할시에 식각 측벽에 형성되는 측벽중합체(side wall polymer)를 제거하기 위한 방법에 있어서, F기를 포함하는 혼합가스(fluorine based gas chemistry)를 식각가스원으로 사용하여, 측벽중합체가 건식식각되도록 플라즈마 표면 처리하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 식각에 기인한 다결정 실리콘 및 내화성 금속 실리사이드의 측벽중합체 제거방법.
- 제1항에 있어서, 상기 F기를 포함한 혼합가스는 CHF3, CF4및 C2F6로 혼합된 가스인 것을 특징으로 하는 플라즈마 식각에 기인한 다결정 실리콘 및 내화성 금속 실리사이드의 측벽중합체 제거방법.
- 제1항에 있어서, 상기 F기를 포함한 혼합가스는 O2, Ar 또는 He 등의 희석기체를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 식각에 기인한 다결정 실리콘 및 내화성 금속 실리사이드의 측벽중합체 제거방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (3)
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KR100269308B1 (ko) * | 1997-09-26 | 2000-10-16 | 윤종용 | 반도체장치의hsg실리콘막형성방법 |
KR100311487B1 (ko) * | 1997-12-16 | 2001-11-15 | 김영환 | 산화막식각방법 |
KR100414300B1 (ko) * | 1996-07-02 | 2004-03-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체소자제조방법 |
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1990
- 1990-11-26 KR KR1019900019185A patent/KR930005227B1/ko not_active IP Right Cessation
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KR100269308B1 (ko) * | 1997-09-26 | 2000-10-16 | 윤종용 | 반도체장치의hsg실리콘막형성방법 |
KR100311487B1 (ko) * | 1997-12-16 | 2001-11-15 | 김영환 | 산화막식각방법 |
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