KR910008102B1 - 가스정제장치의 정제능력평가방법과 그 장치 - Google Patents

가스정제장치의 정제능력평가방법과 그 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR910008102B1
KR910008102B1 KR1019890002085A KR890002085A KR910008102B1 KR 910008102 B1 KR910008102 B1 KR 910008102B1 KR 1019890002085 A KR1019890002085 A KR 1019890002085A KR 890002085 A KR890002085 A KR 890002085A KR 910008102 B1 KR910008102 B1 KR 910008102B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
gas
capacity
purification device
tank
purifying
Prior art date
Application number
KR1019890002085A
Other languages
English (en)
Other versions
KR890013741A (ko
Inventor
가즈야 모리
도루 와타나베
가츠야 오쿠무라
Original Assignee
가부시키가이샤 도시바
아오이 죠이치
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가부시키가이샤 도시바, 아오이 죠이치 filed Critical 가부시키가이샤 도시바
Publication of KR890013741A publication Critical patent/KR890013741A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR910008102B1 publication Critical patent/KR910008102B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/26Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by measuring rate of loss or gain of fluid, e.g. by pressure-responsive devices, by flow detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N5/00Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid
    • G01N5/02Analysing materials by weighing, e.g. weighing small particles separated from a gas or liquid by absorbing or adsorbing components of a material and determining change of weight of the adsorbent, e.g. determining moisture content

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Separation Of Gases By Adsorption (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

가스정제장치의 정제능력평가방법과 그 장치
제1도는 가스를 이용한 진공장치의 블록선도이고,
제2도는 진공도와 배기시간과의 관계를 나타낸 그래프이고,
제3도는 배기시간과 가동시간과의 관계를 나타낸 그래프이며,
제4도는 불순물의 농도와 배기시간과의 관계를 나타낸 그래프이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 가스라인 2 : 주배관
3 : 가스정제장치 4 : 공정실
5,6,9,15,17,18 : 밸브 7 : 가스유량조절기
8 : 배기배관 10 : 진공펌프
11 : 보조배관 12 : 보조탱크
13 : 보조펌프 14,16 : 진공계
본 발명은 가스정제장치의 정제능력 평가방법과 그 장치에 관한 것으로, 특히 반도체장치의 제조에 이용되고 있는 게터(Getter)방식의 가스정제장치에 있어서 그 가스정제능력을 평가하는 평가방법 및 그 방법에 사용되는 평가장치에 관한 것이다.
반도체장치의 제조에 사용되는 캐리어가스는 반도체장치의 신뢰성을 높이기 위하여 일반산업용으로 사용되는 가스에 비해서 더욱 높은 순도를 필요로 하고 있다. 예를 들면, 가스 스펏터링(sputtering)기술에 일반적으로 이용되는 아르곤(Ar)가스는 그 순도가 알루미늄배선의 신뢰성에 매우 큰 영향을 미치기 때문에 Ar 가스를 정제하기 위한 정제장치가 통상 이용되고 있는데, 이러한 정제장치의 정제능력을 평가하기 위해서는 종래의 가스실린더에 Ar 가스를 채취하고 이를 가스크로마토그래피 등의 분석수단에 의하여 미량 불순물을 검출해내는 샘플링방법이 일반적으로 이용되어져 왔다.
그러나, 상기와 같이 가스정제장치의 정제능력을 평가하기 위해서는 가스정제장치의 출구측에서 Ar가스와 같은 캐리어 가스를 봄베(bomb)로 채취해야 되고, 특히 N2, O2, H2O 등을 분석하는 샘플링방법에서는 이들 가스를 채취하는데 하루, 분석하는데는 1주일이라는 긴 시간이 소요되므로 말미암아 이에 따른 평가비용이 상승되기 때문에 일반적으로 정지적인 평가가 곤란하였다.
이와 같은 이유로 인하여, 사용자측에서는 스스로 사용기간을 결정할 수 없게 되어 가스정제장치의 제조업체가 표시한 사용기간에만 의존해야 하는 실정이었다. 따라서, 가스라인에서 리이크(leak)가 발생하게 되어 N2, O2, H2O등의 불순물농도가 증대되므로해서 가스정제장치의 기능을 저하시킬 뿐 아니라 계속적으로 사용하게 되면, 이를 이용하여 제조되는 반도체장치에 불순물가스가 혼입됨으로해서 표면박리와 리이크가 발생하는 등 치명적인 결함을 끼치게 되는 문제점이 있었다.
이에, 본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위하여 Ar가스등의 캐리어가스를 정제하는 장치의 정제능력을 단시간에 간편하게 평가할 수 있는 평가방법과 그 방법에 사용되는 평가장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
이하 본 발명을 상세히 설명하면 다음과 같다.
본 발명은, 가스정제장치의 정제능력을 평가하는 방법에 있어서, 가스정제장치의 내부압력을 저하시켜서 밀봉한 후, 상기 가스정제장치내의 압력보다 높은 압력을 유지하고 있으면서 정제시키고자 하는 불순물가스를 저장하고 있는 탱크로부터 불순물가스를 상기 밀봉된 가스정제장치내로 배기시키고, 상기 가스정재 장치 내부로 상기 불순물가스가 배기되는 능력을 측정함으로써 상기 가스정재 장치의 정제능력을 평가하는 것을 그 특징으로 한다.
또한, 상기와 같은 본 발명의 가스정제장치의 정제능력 평가방법에 사용되는 평가장치는 압력을 저하시켜서 밀봉시킬 수 있도록 된 가스정제장치와, 정제시키고자 하는 불순물가스를 상기 가스정제장치의 내부압력보다 높은 압력으로 저장하는 탱크, 그리고 상기 가스정제장치와 탱크를 연통시키는 연통부에 자유롭게 개폐가 가능토록 설치된 밸브 및, 상기 탱크의 내부압력변화를 측정하는 진공계로 이루어져 있다.
이하 본 발명을 첨부된 도면에 의거 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.
첨부도면 제1도는 가스를 이용하는 장치의 블록선도를 나타낸 도면으로서, 즉,봄베인 가스라인(1)에서 제공되는 캐리어가스인 Ar가스가 주배관(2)을 따라 흘러스 가스정제장치(3)을 통과하면서 정제된 후 스펏터링장치인 공정실(4)내로 도입되도록 구성되어 있다. 상기 주배관(2)의 가스라인(1)과 가스정제장치(3)와의 사이에는 밸브(5)가, 가스정제장치(3)와 공정실(4)과의 사이에는 밸브(6) 및 가스유량조절기(7)가 각각 설치되어 있고, 또한 공정실(4)의 배기배관(8)은 밸브(9)에 의해 진공펌프(10)에 접속되어 있다.
그런데, 공정실(4)로 Ar가스등의 캐리어가스를 도입시킬 때에는 상기 주배관(2)의 밸브(5,6)와 가스유량조절기(7) 및, 배기배관(8)의 밸브(9)를 개량시킴과 동시에 진공펌프(10)를 작동시켜서, 가스라인(1)에서부터 가스정제장치(3)를 통과하여 정제된 가스를 공정실(4)로 도입시켜 이 가스에 의한 처리를 실시하고, 동시에 공정실(4)내에서 처리되어진 가스를 외부로 배기시키게 된다.
상기 가스정제장치(3)의 배기측에는 주배관(2)에서 분기된 보조배관(11)이 형성되어 있고, 이 보조배관(11)에는 보조탱크(12)가 장착되어 있음과 동시에 보조탱크(12)의 배기측에느 보조펌프(13)가 접속되어 있다. 또, 상기 보조배관(11)의 끝부분에는 전리(電離)진공계인 진공계(14)가 설치되어 있고, 이 진공계(4)와 보조탱크(12)의 사이에는 밸브(15)와 피라니 진공계(Pirani gauge)인 진공계(16)가 각각순서대로 설치되어 있다. 또한, 상기 보조탱크(13)와 보조배관(11)사이, 및 보조배관(11)의 보조펌프(13)와의 접속부 후방에는 각각 밸브(17,18)가 설치되어 있다.
한편, 상기 가스정제장치(3)의 정제능력을 평가하고자 할 때에는 다음의 순서대로 실시하면 된다.
즉, 우선 주배관(2)측의 밸브(5,6)를 잠그고 (이때, 밸브(9)는 열거나 또는 잠가도 좋다.) 보조배관(11)측의 밸브(15,17)을 개방시킴과 동시에 보조펌프(13)를 작동시켜서 가스정제장치(3), 보조탱크(12) 및 그 내부의 배관계로부터 배기시켜줌으로써 내부압력을 1×10-1∼1×10-3Pa정도로 유지시키고, 이때의 진공도를 진공계(14)로 측정한다. 그 다음에, 상기 밸브(15,17)을 잠금과 동시에 밸브(18)를 열어 보조탱크(12)내에 N2가스를 도입시킨 후, 이 보조탱크(12)내의 압력을 상기 가스정제장치(3)의 내부압력보다 높은 100∼1Pa 정도로 유지시키고 진공계(16)을 이용하여 진공도를 측정한다.
그리고, 상기 밸브(18)을 닫고 N2가스를 보조탱크(12)내에 가둔 후, 밸브(15)를 열어 N2가스를 가스정제장치(3)내에 배기시킴으로서 가스 정제장치(3)에 따라 배기된 N2가스를 제거(정제)시키게 된다.
이와 같은 작용에 따라서, N2가스는 보조탱크(12)에서 가스정제장치(3)로 흐르게 되고, 그 결과, 보조탱크(12)내의 압력은 제2도(a)에 나타낸 바와 같이 감소하게 된다. 이러한 배기능력은 가스정제장치(3)의 정제능력을 나타내는 것인 바, 만약 가스정제장치(3)의 정제능력이 저하되게 되면 보조탱크(12)에서 유입된 N2가스를 신속하게 제거시킬 수 없게 때문에 그에 따라 배기능력도 제2도(b)에 나타낸 것처럼 저하되게 된다. 또, 예를 들면 제2도의 그래프(a)와 (b)가 각각 1×10-1Pa와 교차되는 교점간의 시간은 약 1시간정도이다.
또, 상기 검사방법에 따라서 장기간에 걸쳐 가스정제장치(3)의 정제능력을 평가해보면, 제3도와 같은 결과을 얻는다. 즉, 초기에는 정상적인 배기능력을 갖고 있었지만 장기간 사용에 의해 배기능력이 저하되어가는 것을 알 수 있다.
제4도에서는 1×10-1Pa까지의 배기에 요구되는 시간을 대수적으로 표시한 값과, 이 배기능력을 갖고 있던 가스정제장치에서10ppm의 불순물이 첨가된 Ar가스를 정제시켜서 Ar가스를 샘플링방법으로 분석한 값과 의 상관관계를 나타내고 있는 바, 이로부터 알 수 있듯이 배기능력과 정제능력간에는 좋은 상관관계를 갖는다.
또한, 상기 가스정제장치(3)는 일반적으로 지르코늄(Zr), 철(Fe) 및 바나듐(V)의 합금을 400℃ 전후로 가열시켜줌에 따라 N2, O2, H2O, NO, CO 및 CH4등의 불순물가스를 화학반응에 의해 합금내부에 포함되도록 함으로서 제거 및 정제를 실행하는 것이기 때문에 배기능력을 알기 위해서는 N2가스 이외에도 상기와 같은 다른 가스를 도입하여 사용해도 좋다.
한편, 상기 구현예에 있어서는 보조탱크(12) 및 보조펌프(13)등을 이용한 실예를 나타내고 있지만 스펏터링장치의 공정실(4)을 불순물가스가 담겨지는 탱크와 겸용하도록 함과 동시에 N2가스등의 캐리어가스를 유도하는 배관과 접속되게 하고, 또한, 진공펌프(10)의 흡인에 의해 상기 공정실(4)(탱크)내에 N2가스등의 캐리어가스를 도입하도록 해도 좋다. 또, 보조탱크(12)가 가스정제장치(3)에 비해서 매우 작은 경우, 구체적으로 1/1,000 내지 1/10,000정도의 크기라면, 공기를 대기압으로 가두도록 하는 것도 가능하다. 이 경우에 밸브(15)를 열면 가스정제장치(3)내의 압력은 100∼10Pa정도가 된다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 가스정제장치의 정제능력의 측정을 수시간내에 간편하면서도 정확하게 실행할 수 있다.
따라서, 본 발명은 정기적으로 가스정제장치의 정제능력을 평가하고 이 장치의 정제능력이 저하되었다고 평가되었을때는 이를 즉시 교환하도록 하여, 예를 들면 이를 이용하여 제조되는 반도체장치에 불순물가스가 혼입됨으로 인해 야기되는 표면박리와 리이크의 발생등 치명적인 결함이 발생하는 것을 확실하게 방지할 수 있다는 효과가 있다.

Claims (2)

  1. 가스정제장치의 정제능력을 평가하는 방법에 있어서, 가스정제장치의 내부압력을 저하시켜서 밀봉한 후, 상기 가스정제장치내의 압력보다 높은 압력을 유지하고 있으면서 정제시키고자 하는 불순물가스를 저장하고 있는 탱크로부터 불순물가스를 상기 밀봉된 가스정제장치내로 배기시키고, 상기 가스정제 장치내부를 상기 불순물가스가 배기되는 능력을 측정함으로써 상기 가스정제 장치의 정제능력을 평가하는 것을 특징으로 하는 가스정제 장치의 정제능력 평가방법.
  2. 가스정제장치의 정제능력을 평가하는데 사용되는 장치에 있어서, 내부압력을 저하시켜서 밀봉시킬 수 있도록 된 가스정제장치(3)와, 정제시키고자 하는 불순물가스를 상기 가스정제장치(3)의 내부압력보다 높은 압력으로 저장하는 탱크(12), 그리고 상기 가스정제장치(3)와 탱크(12)를 연통시키는 연통부에 자유롭게 개폐가 가능토록 설치된 밸브(15) 및, 상기 탱크(12)의 내부압력변화를 측정하는 진공계(16)로 이루어진 것을 특징으로 하는 가스정제장치의 정제능력 평가장치.
KR1019890002085A 1988-02-22 1989-02-22 가스정제장치의 정제능력평가방법과 그 장치 KR910008102B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63039036A JPH01215343A (ja) 1988-02-22 1988-02-22 ガス精製装置の精製能力評価方法及びその装置
JP63-39036 1988-02-22

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR890013741A KR890013741A (ko) 1989-09-25
KR910008102B1 true KR910008102B1 (ko) 1991-10-07

Family

ID=12541885

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019890002085A KR910008102B1 (ko) 1988-02-22 1989-02-22 가스정제장치의 정제능력평가방법과 그 장치

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4912963A (ko)
EP (1) EP0330175B1 (ko)
JP (1) JPH01215343A (ko)
KR (1) KR910008102B1 (ko)
DE (1) DE68908436T2 (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1237944B (it) * 1990-01-05 1993-06-19 Getters Spa Metodo per determinare la fine della vita utile di un purificatore di gas inerte e relativa apparecchiatura
FR2667937B1 (fr) * 1990-10-15 1995-03-10 Cit Alcatel Detecteur de fuite a gaz traceur.
CN1995940B (zh) * 2006-01-20 2010-08-11 河北第二机械工业有限公司 负压平衡法密封性能检测方法
CN105987986B (zh) * 2015-02-09 2018-07-27 山西亮龙涂料有限公司 用于测试涂覆材料的空气净化能力的设备

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4056967A (en) * 1976-07-16 1977-11-08 General Electric Company Pneumatic system for a gas sensor
JPS57114839A (en) * 1981-01-08 1982-07-16 Mitsubishi Electric Corp Measuring method for purity of gas
JPS57122344A (en) * 1981-01-23 1982-07-30 Toshiba Corp Device for quantitatively measuring amount of automatic gas absorption

Also Published As

Publication number Publication date
DE68908436D1 (de) 1993-09-23
US4912963A (en) 1990-04-03
EP0330175A3 (en) 1990-08-08
EP0330175B1 (en) 1993-08-18
JPH0577452B2 (ko) 1993-10-26
KR890013741A (ko) 1989-09-25
DE68908436T2 (de) 1994-01-05
JPH01215343A (ja) 1989-08-29
EP0330175A2 (en) 1989-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0654319B1 (en) Process for assembling piping or components by TIG welding
KR20020024536A (ko) 희소 가스의 회수 방법 및 장치
US9518904B2 (en) System and method of quantifying impurities mixed within a sample of hydrogen gas
JPH04330914A (ja) 排ガス用気体吸着装置
CN112782264B (zh) 一种用于密闭空间微量有害气体检测及校准的装置及方法
CN109838686A (zh) 一种钢瓶处理系统及其使用方法和应用
KR910008102B1 (ko) 가스정제장치의 정제능력평가방법과 그 장치
CN112944204A (zh) 电子级三氟化氯的收集装置
US4891186A (en) Reactor analysis system
EP0877246A2 (en) In situ monitoring of contaminants in semiconductor processing chambers
US5882378A (en) Method to detect metal impurities in the semiconductor process gases
JP2858143B2 (ja) 濃縮分析方法及びその装置
JPH09329533A (ja) 非加水分解性気体用金属サンプリング方法およびシステム
JP3398899B2 (ja) 外部リーク量計測方法及び計測システム
JP2005331309A (ja) 排気ガス測定装置
US5618996A (en) Metal sampling method and system for non-hydrolyzable gases
JPH10135196A (ja) 真空薄膜堆積装置
CN115359941B (zh) 气体环境控制方法和系统
CN210219313U (zh) 一种钢瓶处理系统
KR20000002427A (ko) 가스크로마토그래피를 이용한 디클로로실란가스 분석장치
JPH05224A (ja) 精製能力計測手段付きガス精製装置
JPS6093936A (ja) リ−クデテクタ
CA1288030C (en) Reactor analysis system
CN211669147U (zh) 多通道低干扰气体质谱分析自动进样装置
JP2002148156A (ja) 金属不純物のサンプリング容器

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20030930

Year of fee payment: 13

LAPS Lapse due to unpaid annual fee