KR910004581Y1 - 평판소자 검사용 집게 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

평판소자 검사용 집게

도면은 본 고안의 일실시예를 도시하는 측면도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 집게 2, 3 : 집게다리

8, 9 : 받침판 10, 11 : 축

14 : 피검사물 12 : 터미널

12a : 절연성고무 12b : 도전성고무

본 고안은 액정표시소자, 촬상관 등에 형성되는 투명 도전전극을 손상시키지 않고 양부검사할수 있게 구성한 평판소자 검사용 집게에 관한 것이다.

액정표시소자나 촬상관 같은 평판소자는 투명도전전극을 보유하고 있으며, 이 투명도전전극은 사진식각법에 의해 일정한 패턴을 이루고 있다.

상기한 투명도전전극은 평판소자에서 극히 중요한 부분을 차지하는 것이므로 그 양부검사의 부정확은 제품불량에 큰 영향을 주게되고, 또 투명도전전극의 두께는 얇기 때문에 검사에 있어서 손상을 입히지 않는 방법이 요구된다.

종래에는 전극패턴상에 실버페이스트와 같은 도전성페이스트를 도포하여 놓고 측정용 플로브를 접촉시켜 행하거나 또는 플로브의 접촉단에 인듐을 개재시켜서 투명도전전극과 전기적으로 접촉되게 하여 양부를 감식하는 방법을 채택하여 왔다.

그런데 전자의 방법은 도포된 페이스트와 전극패턴 사이에 열패창차가 생겨서 전기적인 접촉이 좋지 않은 상태에서 행해지게 되는 결점이 있다.

또, 후자의 경우는 투명도전전극이 인듐과 접촉하여 손상될 우려가 높으므로 측정에 숙련과 주의를 요하게 되는 단점이 있다.

본 고안의 목적은 상술한 종래의 방법과는 달리 투명도전전극을 손상시키는 일이없이, 또한 검사에 관한 숙련도의 취급상의 주의를 요하지 않고 능률적으로 평판소자의 투명도전전극을 검사할 수 있는 평판소자 검사용 집게를 제공함에 그 목적이 있다.

이에따라 본 고안은 통상의 집게가 보유하는 양 집게다리의 선단에 받침판을 각각 지지하여 놓고, 일측 집게다리에 지지된 받침판상에 피검사물의 투명도전전극패턴과 일치하도록 도전성고무를 다수 배열함과 아울러 인접하는 도전성고무 사이로 절연성고무를 개재시킨 터미널을 형성하고 있음을 특징으로 한다.

이하 본 고안을 첨부도면에 따라 상세히 설명한다.

도면에서 부호(1)은 1쌍의 집게다리(2)(3)로 구성된 집를 지칭한다. 전기한 양 집게다리(2)(3)는 중앙의 죽수부(4)에서 힌지축(5)에 의해 상호 회동 가능하게 연결됨과 동시에 손잡이(6)측으로 탄발스프링(7)이 장치되어 항상 양 집게다리(2)(3)의 선단부에는 각각 받침판(8)(9)이 부착되어 있으며, 이들 받침판(8)(9)도 각각 축(10)(11)에 의해 해당 집게다리(2)(3)의 선단부에서 요동할수 있게 지지되어 있다.

한편, 일측 집계다리(2)의 받침판(8)에는 터미널(12)이 형성되어 있다.

터미널(12)은 통상의 절연고무(12a)에 의해 절연구획된 도전성고무(12b)를 보유하고 있으며, 이 도전성고무(12b)의 배열형태는 사전에 피검사물의 투명도전전극패터(도시생략)과 일치하게 배려된다.

따라서 터미널(12)이 보유하는 도전성고무(12b)의 배열형태는 피측정물의 품종 어느 한가지에 전용될 수 밖에 없다. 검사공정에서 외부전원을 집게(1)의 일측에 접속된 전원선(13)으로부터 집게(1)와 터미널(12)을 경유하여 피측정물(14)로 인가된다. 이를 보다 상세히 설명하면 피측정물(14)은 양 집게다리(2)(3)사이에서 탄발스프링(7)의 탄발력에 의해 클랩프된다.

이 경우, 양 받침판(9)은 축(10)(11)을 중심으로 회동되면서 피측정물(14)의 표리면과 긴밀하게 접촉하며, 여기서 받침판(8)이 보유하는 터미널(12)의 도전성고무(12b)는 피측정물(14)의 상면에 투면도전전극의 패턴과 일치하여 전기적인 접촉을 이루게 된다.

이와같이 한 다음에 전원선(13)은 통하여 외부전원을 인가하면 투명도전전극의 단락부위를 찾아낼수 있게 되는 것이다.

상술한 검사공정에 피측정물(14)이 보유하는 투명도전전극은 유연성을 가진 도전성고무(12b)와 전기적인 접촉을 이루게 되므로 검사에 의해 손상되는 일은 생기지 않게 되고, 또 도전성고무(12b)는 받침판(8)(9)사이에서 피측정물(14)의 판면에 긴밀하게 접촉하여 받침판(8)(9)사이에서 피측정물(14)의 판면에 긴밀하게 접촉하여 검사의 정확도를 보장할수 있다.

Claims (1)

1. 통상의 집게(1)가 보유하는 양 집게다리(2)(3)의 선단에 받침판(8)(9)을 각각 축(10)(11)으로 지지하여 놓고, 일측 집게다리(2)에 지지된 받침판(8)상에 피검사물(14)의 투명도전전극 패턴과 일치하게 도전성고무(12b)를 다수 배열됨과 아울러 인접하는 도전성고무(12b)사이로 절연성고무(12a)를 개재시킨 터미널(12)이 형성되어 있음을 특징으로 하는 평판소자 검사용집게.